RU2006967C1 - Memory gate - Google Patents

Memory gate Download PDF

Info

Publication number
RU2006967C1
RU2006967C1 SU4918761A RU2006967C1 RU 2006967 C1 RU2006967 C1 RU 2006967C1 SU 4918761 A SU4918761 A SU 4918761A RU 2006967 C1 RU2006967 C1 RU 2006967C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
transistor
collector
transistors
storage
base
Prior art date
Application number
Other languages
Russian (ru)
Inventor
С.С. Коршунов
Г.Б. Лопурко
Original Assignee
Московский институт электронной техники
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский институт электронной техники filed Critical Московский институт электронной техники
Priority to SU4918761 priority Critical patent/RU2006967C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2006967C1 publication Critical patent/RU2006967C1/en

Links

Images

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

FIELD: computer engineering. SUBSTANCE: memory gate has five transistors 1, 2, 8, 9, 10, three resistors 3, 4, 7, two diodes 5, 8. EFFECT: increased functional capabilities. 3 dwg

Description

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к схемам многопортовой оперативной и сверхоперативной биполярной памяти в интегральном исполнении. The invention relates to computing, in particular to circuits of multiport operational and superoperative bipolar memory in integral design.

Цель изобретения - повышение быстродействия и помехоустойчивости и упрощение элемента. The purpose of the invention is improving speed and noise immunity and simplifying the element.

На фиг. 1 представлена электрическая схема предложенного элемента памяти (однопортового); на фиг. 2 - пример двухпортового элемента памяти (в общем случае элемент памяти может содержать несколько портов); на фиг. 3 - временная диаграмма работы элемента памяти во всех основных режимах его работы. In FIG. 1 is an electrical diagram of the proposed memory element (single-port); in FIG. 2 is an example of a two-port memory element (in the general case, a memory element may contain several ports); in FIG. 3 is a time diagram of the operation of the memory element in all the main modes of its operation.

Элемент памяти реализован на биполярных транзисторах n-p-n-структуры. Он содержит первый 1 и второй 2 запоминающие транзисторы, первый 3 и второй 4 нагрузочные резисторы, первый 5 и второй 6 фиксирующие диоды, третий 7 нагрузочный резистор, первый 8 и второй 9 транзисторы связи, транзистор 10 выборки, первую 11 и вторую 12 шины питания, второй 13 и первый 14 входы сигналов выборки, информационный вход-выход 15. The memory element is implemented on bipolar transistors of an n-p-n-structure. It contains the first 1 and second 2 storage transistors, the first 3 and second 4 load resistors, the first 5 and second 6 fixing diodes, the third 7 load resistor, the first 8 and second 9 transistors of communication, transistor 10 of the sample, the first 11 and second 12 power buses , second 13 and first 14 inputs of the sampling signals, information input-output 15.

Рассмотрим принцип работы одного порта элемента памяти. Let's consider the principle of operation of one port of a memory element.

В режиме хранения транзистор 10 не рекомендует ток выборки в триггер на транзисторах 1 и 2, разность потенциалов в котором обеспечивается протеканием тока, задаваемого от шины 12 питания через резистор 7. Шины 11, 12 питания могут быть общими для всего массива элементов памяти в накопителе (допускают произвольное объединение по строкам и столбцам в матрице, включая и одновременное объединение и по строкам, и по столбцам). При коммутации тока выборки элемент памяти может работать в трех основных режимах: режиме считывания, режиме записи "0", режиме записи "1". In the storage mode, transistor 10 does not recommend sampling current to the trigger on transistors 1 and 2, the potential difference in which is ensured by the flow of current set from the power bus 12 through the resistor 7. Power buses 11, 12 can be common to the entire array of memory elements in the drive ( allow arbitrary joining along rows and columns in a matrix, including simultaneous joining along both rows and columns). When switching the sample current, the memory element can operate in three main modes: read mode, write mode "0", write mode "1".

В режиме считывания на вход-выход 15 подается потенциал считывания Uсч. Соотношение потенциалов задается следующим:
Uсч < Uк (1) , где Uк (1) - потенциал логической "1" в триггере элемента памяти. При таком соотношении уровней ток выборки протекает либо через эмиттер транзистора 8, либо через эмиттер транзистора 1, коллектор которого подключен к базе транзистора 8, в зависимости от логического состояния элемента памяти. Если на базе транзистора 8 имеется потенциал логической "1", то ток выборки протекает через открытый транзистор 8, в противном случае через запоминающий транзистор 1, коллектор которого подключен к базе транзистора 8 связи, поддерживая током выборки логическое состояние элемента памяти.
In the read mode, the read potential U cf is supplied to the input-output 15. The potential ratio is set as follows:
U cf <U k (1) , where U k (1) is the potential of the logical "1" in the trigger of a memory element. With this ratio of levels, the sampling current flows either through the emitter of transistor 8, or through the emitter of transistor 1, the collector of which is connected to the base of transistor 8, depending on the logical state of the memory element. If there is a logical “1” potential at the base of transistor 8, then the sampling current flows through an open transistor 8, otherwise through a storage transistor 1, the collector of which is connected to the base of the communication transistor 8, maintaining the logical state of the memory element by the sampling current.

В режиме записи "0" на вход-выход 15 подается потенциал записи "0". Соотношение потенциалов задается следующим:
Uзп (о) ≅Uк(1) - UБК нас, где UБК нас - напряжение на коллекторном переходе транзистора 8 связи в режиме насыщения с нулевым коллектором током. При этом, если на базе транзистора 8 в начальный момент времени был потенциал Uк (1), то ток выборки протекает через базу насыщенного транзистора 8, понижая потенциал логической "1". Как только потенциал базы транзистора 8 опустится ниже потенциала Uк (о), происходит динамическое переключение тока в триггер через эмиттер транзистора 1, коллектор которого подключен к базе транзистора 8. В противном случае ток Iвыб протекает через эмиттер транзистора 1, сохраняя логическое состояние элемента памяти. Таким образом, существенно уменьшается время насыщенной работы транзистора 8.
In the recording mode “0”, the recording potential “0” is applied to the input-output 15. The potential ratio is set as follows:
U zp (o) ≅U k ( 1) - U BC us , where U BC us is the voltage at the collector junction of the communication transistor 8 in saturation mode with a zero current collector. Moreover, if the base of the transistor 8 at the initial time was the potential U to (1) , then the sampling current flows through the base of the saturated transistor 8, lowering the potential of the logical "1". As soon as the base potential of transistor 8 drops below the potential U k (o) , the current is switched dynamically to the trigger through the emitter of transistor 1, the collector of which is connected to the base of transistor 8. Otherwise, the current I select flows through the emitter of transistor 1, preserving the logical state of the element memory. Thus, the time of saturated operation of the transistor 8 is significantly reduced.

В режиме записи "1" на вход-выход 15 подается потенциал записи "1", величина которого определяется соотношением
Uзп (1) > Uк (1), тогда ток Iвыб коммутируется в транзистор 9, устанавливая на коллекторе этого транзистора потенциал Uк (о), что соответствует единичному состоянию триггера элемента памяти. Таким образом, вход-выход 15 является универсальным одношинным портом записи считывания. Универсальность элемента памяти достигается тем, что каждый порт позволяет проводить как запись, так и считывание информации, используя только одну шину управления портом.
In the recording mode "1" to the input-output 15 is fed to the recording potential "1", the value of which is determined by the ratio
U Зп (1) > U к (1) , then the current I select is switched to the transistor 9, setting the potential U к (о) on the collector of this transistor, which corresponds to the single state of the trigger of the memory element. Thus, input-output 15 is a universal single-bus read write port. The versatility of the memory element is achieved by the fact that each port allows both writing and reading information using only one port control bus.

Технико-экономическая эффективность использования заявляемого элемента памяти подтверждается его моделированием на ЭВМ, которое показало значительное повышение быстродействия (время записи уменьшилось примерно в 5 раз) при улучшении помехоустойчивости и уменьшении числа управляющих шин, а также моделированием на его основе электрической схемы восьмипортового ОЗУ статического типа и моделированием ее на ЭВМ, которое показало, что количество управляющих шин в заявляемом элементе памяти меньше и соответственно уменьшается число формирователей по строкам или столбцам накопителя, площадь элемента памяти сокращается на 15% . (56) Валиев К. А. , Орликовский А. А. Полупроводниковые интегральные схемы памяти на биполярных транзисторных структурах. М. : Советское радио, с. 95, рис. 4.12а.  The technical and economic efficiency of using the inventive memory element is confirmed by its computer simulation, which showed a significant increase in speed (recording time decreased by about 5 times) while improving noise immunity and reducing the number of control buses, as well as modeling on its basis an eight-port RAM static circuit type and modeling it on a computer, which showed that the number of control buses in the inventive memory element is less and the number of forms is correspondingly reduced rovateley by rows or columns drive, the memory cell area is reduced by 15%. (56) Valiev K.A., Orlikovsky A.A. Semiconductor integrated circuit memory on bipolar transistor structures. M.: Soviet radio, p. 95, fig. 4.12a.

Claims (1)

ЭЛЕМЕНТ ПАМЯТИ, содержащий первый и второй запоминающие n - p - n-транзисторы, эмиттеры которых объединены, а коллекторы соединены с первыми выводами первого и второго нагрузочных резисторов, подключенными к базам соответственно второго и первого запоминающих n - p - n-транзисторов, вторые выводы нагрузочных резисторов подключены к первой шине питания, первый и второй n - p - n-транзисторы связи и n - p - n-транзистор выборки, база и эмиттер которого являются соответственно первым и вторым входами сигналов выборки элемента, а коллектор подключен к эмиттерам первого и второго n - p - n-транзисторов связи, база первого n - p - n-транзистора связи соединена с коллектором первого запоминающего n - p - n-транзистора, а коллектор первого n - p - n-транзистора связи является информационным входом-выходом элемента, отличающийся тем, что, с целью повышения быстродействия и помехоустойчивости и упрощения элемента, он содержит фиксирующие диоды, коллектор второго n - p - n-транзистора связи подключен к базе первого запоминающего n - p - n-транзистора, который содержит дополнительный эмиттер, подключенный к коллектору n - p - n-транзистора выборки, база второго n - p - n-транзистора связи подключена к информационному входу-выходу элемента, аноды фиксирующих диодов соединены с первой шиной питания, а катоды - с базами соответственно второго и первого запоминающих n - p - n-транзисторов, и третий нагрузочный резистор, выводы которого соединены соответственно с эмиттером второго запоминающего n - p - n-транзистора и второй шиной питания.  MEMORY ELEMENT, containing the first and second storage n - p - n-transistors, the emitters of which are combined, and the collectors are connected to the first terminals of the first and second load resistors connected to the bases of the second and first storage n - p - n-transistors, respectively, the second conclusions load resistors are connected to the first power bus, the first and second n - p - n-transistors of communication and n - p - n-transistor of sampling, the base and emitter of which are respectively the first and second inputs of the sample signals of the element, and the collector is connected to em tters of the first and second n - p - n-transistors, the base of the first n - p - n-transistor is connected to the collector of the first storage n - p - n-transistor, and the collector of the first n - p - n-transistor is an information input -output of an element, characterized in that, in order to increase the speed and noise immunity and simplify the element, it contains fixing diodes, the collector of the second n - p - n-transistor is connected to the base of the first storage n - p - n-transistor, which contains an additional emitter connected to the collector a shout of an n - p - n transistor, the base of the second n - p - n transistor is connected to the information input / output of the element, the anodes of the fixing diodes are connected to the first power bus, and the cathodes are connected to the bases of the second and first memory n - p, respectively - n-transistors, and a third load resistor, the terminals of which are connected respectively to the emitter of the second storage n - p - n-transistor and the second power bus.
SU4918761 1991-03-13 1991-03-13 Memory gate RU2006967C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4918761 RU2006967C1 (en) 1991-03-13 1991-03-13 Memory gate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4918761 RU2006967C1 (en) 1991-03-13 1991-03-13 Memory gate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2006967C1 true RU2006967C1 (en) 1994-01-30

Family

ID=21564813

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4918761 RU2006967C1 (en) 1991-03-13 1991-03-13 Memory gate

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2006967C1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2693331C1 (en) * 2018-02-07 2019-07-02 Акционерное общество "МЦСТ" Reading port

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2693331C1 (en) * 2018-02-07 2019-07-02 Акционерное общество "МЦСТ" Reading port

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6161198B2 (en)
JPS59101924A (en) Set/reset latch circuit
JPS6228516B2 (en)
EP0023792B1 (en) Semiconductor memory device including integrated injection logic memory cells
JPH0512895A (en) Semiconductor storage
US4168539A (en) Memory system with row clamping arrangement
US4066915A (en) Memory circuit
US3636377A (en) Bipolar semiconductor random access memory
US4031413A (en) Memory circuit
RU2006967C1 (en) Memory gate
JPH026159B2 (en)
US3821719A (en) Semiconductor memory
US4398268A (en) Semiconductor integrated circuit device
US4138739A (en) Schottky bipolar two-port random-access memory
JPS63205890A (en) Semiconductor memory device
US4456979A (en) Static semiconductor memory device
JP2548737B2 (en) Driver circuit
US4922411A (en) Memory cell circuit with supplemental current
JPS6334793A (en) Semiconductor storage device
US3478319A (en) Multiemitter-follower circuits
JPH09320276A (en) Sense amplifier circuit
JP2515020B2 (en) Gallium arsenide semiconductor integrated circuit
JPH0247037B2 (en)
JP2515021B2 (en) Gallium arsenide semiconductor integrated circuit
SU1092561A1 (en) Versions of memory access device