JPS5946656A - 電子写真記録部材の光導電表面上の静電荷制御方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野及び先行技術の説明 本発明は電子写真撮像装置、特に電子写真部材の光導電
表面上の見かけの表面電荷がトーニングの開始時に所定
の値になるように帯電及び露光を制御する方法及び装置
に関するものである。

外面に光導電性表面を有する電子写真部材は直線的に移
動し得るキヤリツジに取付けられたプラテンに固定され
、その光導電表面が帯雷所、像露光所、トーニング（即
ち現像）所及び必要に応じ像転写所を含む複数個の処理
所に通される。帯電所ではコロナ発生装置により光導電
表面が帯電され、次いで露光所に送られる。ここで、帯
電された光導電表面に光パターンが投射され、露光部と
非露光部から成る静電潜像が形成される。次いで、この
潜像が現像（トーニング）される。トーニングの開始時
においては光導電表面の非露光部が所定の見かけの表面
電荷を有することが望ましい。

トーニング処理の開始時における光導電表面の露光部と
非露光部の見かけの表面帯電電圧は一般に （ａ）光導電表面がコロナ装置により最初に帯電された
帯電レベル、 （ｂ）露光の光強度及び持続時間、 （ｃ）初期帯電とトーニング処理の開始時との経過時間
、及び （ｄ）使用する個々の電子写真部材の特性、により決ま
る。光導電表面の特性には個々の暗減衰スロープ及びエ
ージングが含まれる。他の特性も考えられる。

電子写真複写処理の最も重要なファクタはくり返し一定
の像を得ることができることである。米国特許第４０２
５３３９号及び同第４２６９９１９号明細書に開示され
ているような電子写真部材を使用して得られる利点を最
大限に利用するには、プロセスの可変性を低減して、選
択した特定の電子写真部材又は使用する特定の電子写真
装置と無関係に一定の結果を繰返し得られるようにして
オペレータのエラーを低減すると共に製造及び運転コス
トを低減する必要がある。

広範囲の光導電部材の任意の部材に対して最良の帯電及
び露光条件を決定する装置の提供が望まれている。最良
の帯電及び露光条件のダイナミック選択を達成できれば
、装置を広範囲の光導電体特性に適応するものとするこ
とができ、光導電媒体の選択コストを低減し得ると共に
一定の像結果を一層多数回繰返し得ることができる。

発明の概要 従って、本発明は電子写真記録部材の光導電表面上にコ
ロナ発生器により与えられる静電荷を制御する方法を提
供するものであって、当該方法は光導電表面上に静電表
面電荷を与えるステップと、前記帯電された光導電表面
の一部分を光にさらして少なくども部分的に放電した露
光部分を発生させると共に前記光導電表面の他の部分を
遮光して非露光部分を発生させるステップと、同一の光
導電表面上の前記露光部分と非露光部分の電荷の比較結
果を表わす信号を発生するステップと、前記比較信号に
応答して前記コロナ発生器を制御するステップとを具え
ることを特徴とする。

更に、本発明は上記の方法を実施する装置を提供するも
のであって、当該装置は光導電表面を低レベルから高レ
ベルまで順次変化する一連のレベルに帯電する帯電装置
と、前記光導電表面の順次の帯電レベルの一部分を照明
して部分的に放電させて露光部分と非露光部分を発生さ
せる照明装置と、前記光導電表面の露光部分と非露光部
分の順次の電荷レベルの各々の静電荷を検出するセンサ
と、所定の信号を発生する信号発生器と、少くとも前記
検出静電荷信号を前記所定信号と比較して前記検出信号
及び前記所定信号に応じて制御用の比較信号を発生する
比較器を具えたことを特徴とする。

本発明は、更に、上記の方法の実施に使用する、移動光
導電表面上の静電荷を検出する電子計を提供するもので
あって、当該電子計は光導電表面に近接して配置された
有孔外匣と、前記外匣内に前記孔と一致するよう装着さ
れたセンサヘッドと、複数個の等間隔に設けられた孔を
有する回転部材であって、前記孔が前記外匣の孔と一致
すると共に前記センサと光導電表面との間に位置するよ
う前記外匣上に装着された回転部材と、前記回転部材に
結合され、前記回転部材を回転させて前記センサヘッド
を前記回転部材の回転速度と等間隔配列孔の数に関連す
る周波数で光導電表面に交互に結合及び遮断させる駆動
機構と、前記センサヘッドに結合された増幅回路とを具
えることを特徴とする。

実施例列の説明 以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。

本発明は、簡単に説明すると、電子写真装置において、
トーニングの開始時に光導電表面の露光部と非露光部の
見かけの表面電荷が所定の値になるように帯電及び露光
を制御する方法及び装置を提供するものである。これに
より、電子写真部材の光導電表面上に形成された静電線
像をトーニング又は現像する瞬時にフルレンジの最適な
電荷レベルを得ることができる。電子写真部材は直線的
に移動し得るキャリッジに固定されたプラテンに装着さ
れる。キャリッジはホーム位置から帯電、露光、トーニ
ング及び必要に応じ転写及びクリーニング用のそれぞれ
の処理所を通る通路に沿って順次走行するよう取付けら
れる。キャリブレーション中に最適コロナレベル及び最
適露光レベルを設定して、実際の電子写真複写処理中の
帯電処理及び露光処理を使用する個々の電子写真部材の
光導電表面の帯電特性に応じて制御する。

第１及び２図は本発明による静電界検出装置の一例を示
し、１０はその全体を、１２はその外匣を示ず。円板１
４を駆動モータ１８に結合されたシャフト１６に固着し
て検出器１０の一つの面に対向配置する。円板１４はそ
の中心軸を中心にその周縁部に沿って同心円に等間隔に
配列された複数個の孔２４を有する。第１図に示す例で
は１５個の等間隔配列孔を有する。これら孔の数と電力
線の交流周波数とは所定の関係にして交流ハムの。

悪影響を低減するのが好適である。これら孔の最適な数
は次式により定めることができる。

ＮＡ＝６０Ｆｃ／Ｓ ここで、 Ｆｃ＝チョップ周波数 Ｆｐ＝電力線の交流周波数 ＮＡ＝孔の数 ＮＦｐ＝電力線の交流周波数のＮ（整数）倍Ｓ＝円板回
転速度（Ｒ．Ｐ．Ｍ．） 従って、１５個の孔の揚台、６０Ｈｚの電力、６００ｒ
ｐｍの回転速度においてチョップ周波数はＦｃ＝１５０
Ｈｚになり、交流電力の第２高調波（１２０Ｈｚ）及び
第３高調波（１８０Ｈｚ）の中間になる。センサ電極２
０を外匣１２に形成した孔２６に近接して外匣１２内に
配置する。このセンサ電極は第２図に２２で示す増幅回
路に電気的に接続する。円板１４に形成された孔２４は
外匣１２の孔２６と位置が一致するようにする。円板１
４がモータ１８で回転されると、電極２０は交互に遮蔽
及び露出される。円板１４は例えば６００ｒｐｍの速度
で回転させてチョップ周波数を６０Ｈｚの高調波周波数
からずれた１５０Ｈｚにすることができる。電極２０は
平頭ねじとして設けるのが便利であり、ぞの頭２１には
金又は銀をメッキするのが好適である。電極２０の頭２
１の大きさは円板１４の孔の大きさに略々等しくする。

円板１４の回転により電極２０と光導電表面２８の静電
界との間の容量結合が交互に発生及び遮断され、電極２
０に交流信号が誘起される。この電極２０は光導電表面
２８に近接配置する。この電極２０上に誘起された交流
信号は増幅器２２に供給される。

この増幅器２２の有効な一例を第３図に示す。

本例ではこの増幅器２２は主として２個の演算増幅器３
２，３４から成る。演算増幅器３２，３４は限流抵抗３
６，３８を経て＋１５ボルトの電源４０に接続されると
共に限流抵抗４２，４４を経て−１５ボルトの電源４６
に接続される。演算増幅器３２，３４はＲＣＡ　Ｔｙｐ
ｅ　ＣＡ　３１４０Ｅのような電界効果トランジスタを
具えるものとすることができる。下記のようなバイアス
抵抗，バイパスコンデンザ及び結合コンデンサも設ける
。

抵抗３６，３８，４２，４４，４８　１００オーム抵抗
６０　　　　　　　　　　　　　１．５キロオーム抵抗
６２　　　　　　　　　　　２２メガオーム抵抗６４，
６６　　　　　　　　２２キロオーム抵抗６８　　　　
　　　　　　２７０キロオーム抵抗７０　　　　　　　
　　　　３．９メガオームコンデンサ５０，５２，５８
　　１０マイクロファラッドコンデンサ５４，５６　　
　　４７０ナノファラッド可変抵抗７２　　　　　　　
　１００キロオーム上記の例は一例であって、多くの変
更を加えて同一の結果を達成することもできる。

モータ１８はスイッチ７４を介して交流電源７６に接続
する。

センサ電極２０により供給される低レベルの測定交流信
号は演算増幅器３２の入力端子に供給される。この増幅
器３２の出力端子は可変抵抗７２に接続され、その出力
の一部分が演算増幅器３４の入力端子に供給され、更に
増幅される。この演算増幅器３４の出力８０は測定静電
界信号として後述する制御論理装置に供給される。

第４図は本発明による制御方法を図解したものであり、
第６図はこの方法の種々のステップのタイミングを示す
ものである。

第１図のステップ１はプラテン８２がホーム位置にある
状態を示す。コロナ発装置５４はブラトン８２に装着さ
れた電子写部材の光導電表面２８に対し図示の位置にあ
る。コロナ帯電装置８４は光導電表面２８がこの帯電装
置を横切って移動する際にこの光導電表面に表面電荷を
付与する。測定電極２０及び増幅器２２は光導電表面２
８に近接して位置する。増幅器２２の出力８０は光導電
表面２８の見かけの表面電荷に比例する信号である。光
導電表面２８の１区分はバッフル板８８により露光ラン
プ８６の照明光から遮光される。

プラテン８２は第４図に示すように一定の速度で左から
右へと移動する。ステップ２は左から右への移動中にコ
ロナ帯電装置８４が光導電表面２８に電荷を付与するプ
ロセスを示す。コロナ出力レベルは表面２８の移動と同
期して一連のレベルに変化させる。第６図に、瞬時Ｔ０
において最低レベルで始まり、等しいステップで瞬時Ｔ
５において最高レベルまで増大し、次いで瞬時Ｔ７から
からＴ１１まで等しいステップで減少する階段状パター
ンのコロナレベ出力を示す。第４図のステップ２は第６
図のチャートに瞬時Ｔ０からＴ１２の間に示してある。

瞬時Ｔ０において、コロナ発生装置８４は移動する光導
電表面２８の前縁に作用する。瞬時Ｔ６において、コロ
ナ発生装置８４は表面２８の中心部に作用する。瞬時Ｔ
１２において、コロナ発生装置８４は移動する光導電表
面２８の後縁に作用し、光導電表面２８はコロナ発生装
置を通り過すぎる。

第４図のステップ３においては、プラテン８２が方向転
換して右から左へと移動する。第４図のステップ３は第
６図には瞬時Ｔ１２から瞬時Ｔ２４の間に示してある。

コロナ出力レベルは第４図のステップ２で示す光導電表
面２８の移動中と同一の一連のレベルに変化させる。こ
の“往復”帯電処理は表面２８上に階段状又は傾斜状の
比較的一定且つ均等な一連の帯電レベルを付与する作用
をする。

第４図のステップ４はプラテン８２がホーム位置に戻っ
た状態を示す。次いで、プラテン８２をバッフル板８８
の上に動かして光導電表面２８の所定部分（第４図のス
テップ５に示すようにその半分）を光から遮蔽する。バ
ッフル板８８は光導電表面２８のバッフル２８の右側に
位置する部分を露光ランプ８６の照明光から遮蔽する作
用をする。第４図のステップ５は第６図のチャートには
瞬時Ｔ２５からＴ２６の間に示してある。瞬時Ｔ２５に
おいて露光ランプ８６を点灯して所定の時間所定の強度
の光を発生させる。露光ランプ８６は瞬時Ｔ２６におい
て消灯する。瞬時Ｔ２５からＴ２６までの実効露光期間
は数秒とするのが代表的である。瞬時Ｔ２５における露
光期間の開始時は瞬時Ｔ２４における帯電処理の終了後
数秒から約２０秒の範囲内とするのが代表的である。

瞬時Ｔ２５からＴ２６までの間、露光ランプ８６は一定
強度の照明光を発生してこの期間中に光導電表面２８の
露光区域を均等に放電させる。

光導電表面の露光区域は区域ＫＡとして表わし、非露光
区域は区域ＫＢとして表わしてある。

次に、プラテン８２はステップ６に示すように左から右
方向へ静電界測定電極２０の右側の位置へと移動する。

この移動開始は電子写真装置の通常の動作における帯電
処理の終了からトーニング処理の開始までの時間に等し
い時間だけ遅らせる。

この瞬時Ｔ２４から瞬時Ｔ２７（静電界検出装置１０の
駆動瞬時）までの遅延時間は一般に３０〜５０秒の範囲
である。

第６図のチャートは、光導電表面２８が電極２０を横切
って移動する際に静電界検出装置又は電子計１０が瞬時
Ｔ２７から瞬時Ｔ２８まで駆動されることを示す。プラ
テン位置エンコーダ１１０は移動するプラテン８２の各
位置を測定増幅された信号８０と同期して制御論理装置
１００に供給する。電極２０からの測定信号出力８０を
第６図に露光区域ＫＡと非露光区域ＫＢに対して示す。

得られる測定信号８０は、区域ＫＡにおいて露光のため
に小勾配の階段状前縁を有すると共に区域ＫＢにおいて
大勾配の階段状後縁を有し、露光及び非露光部の見かけ
の表面電荷レベルを表わす階段状三角波形を有するもの
となる。

第７図は測定信号８０を光伝導表面２８に関連して示し
たものである。露光区域ＫＡと非露光区域ＫＢは、光導
電表面２８がコロナ発生装置を横切って移動する際に順
次与えられるコロナレベル出力に対応して変化する電荷
の帯を有するものとして示してある。斜線帯領域２９は
光導電表面２８の下方まで延長して測定信号８０のステ
ップ状変化と光導電表面２８の電荷の帯とを関連づけて
ある。実際にはこれら電荷の帯は図示の明確な階段変化
よりももっとなめらかな変化を示す。

第６図のチャートの「非露光部の一致」と表わした行に
は測定信号８０とメモリ内にストアされている非露光区
域ＫＢに対する所定の見かけの電荷レベルとの一致レベ
ルを示してある。「露光部の一致」と表わした行には上
述の一致レベルに対応するコロナ出力レベルと関連する
露光区域ＫＢにおける測定信号８０を示してある。

電子写真装置の通常の複写動作においてはコロナ発生装
置８４は一致レベルに対応するコロナレベル出力が発生
するよう制御される。露光区域ＫＡにおける関連する測
定信号は露光ランプ８６を露光ランプ特性に応じて制御
して光導電表面２８の露光区域の見かけの表面電荷を所
定の値にするのに使用される。

第４図のステップ７は露光ランプ８６が光導電表面２８
を照明して表面２８えお完全に放電させることを示す。

ステップ８及び９は電子写真装置の通常の複写動作を示
す。ステップ８ではプラテン８２が左から右へとコロナ
発生装置８４を横切って移動する。ステップ９はプラテ
ンがコロナ発生装置を横切って右から左へと移動し往復
帯電処理を終了してコロナ発生装置の左側に位置した状
態を示す。電子計のような検出装置１０により光導電表
面上の見かけの表面電荷を測定する。この初期電荷測定
はトーニング処理の開始時における電荷レベルに較べて
重要でない。しかし、初期電荷測定は光導電表面２８の
使用能力がつきる時点を決定するのに使用することがで
きる。

次に、本発明による制御論理装置１００を示す第５図に
ついて説明する。増幅された測定信号８０はアナログ−
デジタル（Ａ／Ｄ）変換器１０２に供給される。Ａ／Ｄ
変換器１１２は２進ワード（通常６ビット）の形のデジ
タル検出電荷信号１０３を発生する。２進ワード信号１
０３はランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）１０４のデー
タ入力端に供給される。第４図のステップ５に示すよう
な光導電表面の露光区域及び非露光区域に対応する制御
信号ＫＡ、ＫＢをモード制御装置１０６に供給する。モ
ード制御装置１０６はランダムアクセスメモリの最上位
ビット（ＭＳＢ）に結合する。

プラテン８２の移動はタコメータ等の位置検出器１１０
により符号化する。プラテン位置エンコーダ１１０はプ
ラテン移動パルス発生器１１２の入力端子に結合する。

プラテン移動パルス発生器１１２はプラテン２８の移動
に相当するパルス列を発生する。例えば、パルス発生器
１１２により発生された各パルスはプラテン８２の１０
分の１インチの移動に相当するものとすることができる
。プラテン移動パルス発生器１１２の出力はメモリアド
レスカウンタ１０８のクロック入力端子に結合する。メ
モリアドレスカウンタ１０８のリセットラインはモード
制御装置１０６に接続する。短かいスパイク状のリセッ
トパルスが区域ＫＡ、ＫＢの始点において発生してカウ
ンタ１０８を零にリセットする。ＲＡＭ１０４のＭＳＢ
入力端子に結合したモード制御装置１０６の出力は例え
ば光導電表面２８の露光区域ＫＡに対しては２進の低値
とし、非露光区域ＫＢに対しては２進の高値とすること
ができる。モード制御装置１０６からＲＡＭ１０４のＭ
ＳＢ入力端子への入力１０７はＲＡＭ１０４内の２種類
のファイルのアドレッシングを行なう。メモリアドレス
カウンタ１０８はＲＡＭ１０４のアドレス入力端子に結
合し、これによりＲＡＭ１０４の他のアドレスラインを
走査する。

メモリアドレスカウンタ１０８は最上位ビット−１（Ｍ
ＳＢ−１）信号を発生し、コンプリメンタ回路１１４に
供給する。コンプリメンタ回路１１４は、ＭＳＢ−１に
等価な２進ワードの有効ビットのアクティブ状態が発生
ずるときにこの回路を通る２進ワードの相対的極性を反
転する。

コンプリメンタ回路１１４は階段状傾斜波発生器１１６
に結合する。コンプリメンタ回路１１４は階段状傾斜波
発生器１１６をアドレスし、発生器１１６はプラテン８
２の両方向の移動中における区域ＫＡ、ＫＢに対する第
６図に示すコロナレベル出力に対応してカウントアップ
、カウントダウン、カウントアップ及びカウントダウン
する。

キャリプレーションモード中、階段状傾斜波発生器１１
６はスイッチ１３２を経てコロナレベル制御装置１３０
に結合され、コロナ発生装置８４により所定の一連のコ
ロナ出力レベルが発生される。

ＲＡＭ１０４の出力端子１０５は一致検出器１１８のＤ
Ａ入力端子に結合される。一致検出器１１８は２進比較
器とするのが有利である。モード制御装置１０６の出力
はインバータ１１９を経て一致検出器１１８のＥＮ入力
端子に供給する。

一致検出器１１８のＤＢ入力端子はトーニング処理の開
始時における所望の見かけの表面電荷に等しい所定の２
進ワード１２０に結合する。２進ワード１２０は手動ス
イッチから、或は別のデジタルシステムのデータバスか
ら供給することができる。一致検出器１１８のＡ＝Ｂ出
力端子はラッチ回路１２２のクロック入力端子に結合す
る。一致検出器１１８のＤＡ入力がＤ８入力に等しいと
き、検出器１１８のＡ＝Ｂ出力がラッチ１２２をクロッ
クし、ラッチ１２２はそのときＲＡＭ１０４をアドレス
しているワードの瞬時カウント状態をラッチする。

ラッチ１２２の出力端子はデジタル−アナログ（Ｄ／Ａ
）変換器１２４の入力端子及び一致検出器１２６のＤＢ
入力端子に結合する。Ｄ／Ａ変換器１２４はデジタル一
致ワードに対応するアナログ信号１２８を発生する。こ
のアナログ信号１２８は、スイッチ１３２が本発明によ
るキャリプレーション処理の終了後に複写動作位置に切
換えられたときコロナレベル制御装置１３０に供給され
、この装置を制御する。

メモリ１０４内の第２ファイルイ位置に順次ストアされ
た露光区域ＫＡに対応する測定信号８０は一致検出器１
２６においてそのアドレスが当該検出器のＤＢ入力端子
に供給されているラッチ１２２の出力と比較される。検
出器１２６の一致出力Ａ＝Ｂはラッチ１２２にストアさ
れているアドレスで決まるコロナレベル出力に対応する
露光区域ＫＡにおける測定電荷信号を■定する。一致検
出器１２６のＡ＝Ｂ出力はラッチ１３４のクロック入力
端子に供給し、露光区域ＫＡにおける関連する測定電荷
信号値をラッチする。ラッチ１３４のラッチ出力はメモ
リ１３６の最下位ビット（ＬＳＢ）入力端子に供給する
。メモリ１３６はプログラマブル読取専用メモリ（ＰＲ
ＯＭ）とすることができる。

ラッチ１３４にラッチされた露光放電された信号値は露
光区域に対する所定の又は所望の見かけの表面電荷電位
より一般に高い。メモリ１３６はデジタルランプ制御装
置１３８及びタイムドスイッチ制御装置１４０に結合す
る。メモリ１３６はデジタルランプ制御装置１３８及び
タイムドスイッチ制御装置１４０に供給する制御ワード
を決定するのに使用される予定の値のルックアップテー
ブルとし機能する。オペレータ光量レベル調整装置１４
２はメモリ１３６の最上位ビット（ＭＳＢ）入力端子に
結合して光量レベルの手動調整を可能にする。

メモリ１３６にはデジタルランプ制御装置１３８により
露光ランプ８６に供給される電力の変化に対する露光ラ
ンプ８６の非直線特性をストアする。

メモリ１３６には光導電本感度に対する露光ランプの色
温度及び露光ランプ８６に供給される電圧の変化に対す
るランプの非直線出力の変化のような重要なファクタに
対する補償データを入れることもできる。露光ランプ８
６の特性の記述に基づいて露光ランプ８６の強度及びラ
ンプ８６の点灯時間の適正な制御を行なうことができる
。

制御論理装置１００は下記の素子を含むことができる。

Ａ／Ｄ変換器１０２　　　　　　ＡＤ５７１ＪＤ（アナ
ログデバイス社）メモリ１０４　　　　　　　　　９３
４２２（フェアチャイルド社）一致検出器１１８，１２
６　　　ＣＤ４０６３（ＲＣＡ等）ラッチ１２２，１３
４　　　　　ＣＤ４５０８ＢＥ（ＲＣＡ等）Ｄ／Ａ変換
器１１０，１２４階段状傾斜波発生器１１６　　ＡＤ７
５２３ＪＮ（アナログデバイス社）メモリ１３６　　　
　　　　　　ＨＭ７６０２（ハリスセミコンダクタ）メ
モリアドレスカウンタ１０８　ＣＤ４０４ＢＥ（ＲＣＡ
等）コンプリメンタ１１４　　　　　ＣＤ４０７０ＢＥ
（ＲＣＡ等）上述の例は一例であって本発明はこれに限
定されるものでなく多くの変形や変更が可能であること
勿論である。

本発明の実施においては、完全に露光した透明なフィル
ムをキャリブレーションサイクル中光路内に挿入してフ
ィルム基板の残留濃度を補償することができる。光導電
表面２８は光測定装置として作用する。

要するに、本発明の方法及び装置は、電子写真装置の通
常の複写動作において光導電表面上の像パターンに応じ
た露光部及び非露光部の電荷レベルがトーニング開始時
に所望の値になるように帯電及び露光を制御するもので
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明により電荷検出装置の斜視図、第２図は
第１図の装置の部構造を示す図、第３図は第１図の装置
の増幅値とモータ回路の一例の回路図、 第４図は本発明による制御方法を説明するための■図、 第５図は本発明による制御論理回路のブロック図、 第６図は本発明装置の動作説明用タイミングチャート、 第７図は第４図に示す光導電表面の拡大詳細線図である
。 １０・・・電荷検出装置　　　１２・・・外匣１４・・
・円板　　　　　　　１６・・・シャフト１８・・・モ
ータ　　　　　　２０・・・センサ電極２２・・・増幅
器　　　　　　２４　・・・孔２６・・・孔　　　　　
　　　２８・・・光導電表面３２〜７０・・・増幅回路
　　７４，７６・・・モータ回路８０・・・測定電荷信
号　　　８４・・・コロナ発生装置８６・・・露光ラン
プ　　　　８８・・・バッフル板１００・・・制御論理
装置　　１１０・・・プラテン位置エンコーダＫＡ・・
・露光区域　　　　　ＫＢ・・・非露光区域１０２・・
・Ａ／Ｄ変換器　　１０４・・・ランダムアクセスメモ
リ１０６・・・モード制御装置　１０８・・・メモリア
ドレスカウンタ１１２・・・プラテン移動パルス発生器
　１１４・・・コンプリメンタ１１６・・・階段状傾斜
波発生器　１１８・・・一致検出器１２０・・・見かけ
の表面電荷プリセットレベル１２２・・・ラッチ　　　
　　１２４・・・Ｄ／Ａ変換器１２６・・・一致検出器
　　　１３０・・・コロナレベル制御装置１３２・・・
スイッチ　　　　１３４・・・ラッチ１３６・・・読取
専用メモリ　１３８・・・デジタルランプ制御装置１４
０・・・タイムドスイッチ　１４２・・・オペレータ光
量調整装置。 特許出願人　クールター・システムズ・コーポレーショ
ン代理人弁理士　杉　　村　　暁　　秀 同　　弁理士　杉　　村　　興　　作

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、電子写真記録部材にコロナ発生装置により与えられ
   る静電荷を制御するに当り、光導電表面上に静電表面電
   荷を付与するステップと、この帯電された光導電表面の
   一部分を光にさらして少くとも部分的に放電した露光部
   分を発生させると共に前記光導電表面の他の部分を遮光
   して非露光部分を発生させるステップと、同一の光導電
   表面上の前記露光部分及び非露光部分の比軟結果を表わ
   す信号を発生するステップと、前記比較信号に応答して
   前記コロナ発生器を制御するステップとを具えることを
   特徴とする電子写真記録部材の光導電表面上の静電荷制
   御方法。 ２、特許請求の範囲１記載の方法において、予め決めら
   れた所定の信号を発生し、前記露光部分及び非露光部分
   の各々の静電荷を測定し、且つ該静電荷信号を前記予定
   の信号と比較して比較信号を発生し、この比較信号をコ
   ロナ発生装置に供給してこれを制御することを特徴とす
   る電子写真記録部材の光導電表面上の静電荷制御方法。 ３、特許請求の範囲１記載の方法において、光導電表面
   は低レベルから高レベルまで順次変化する一連のレベル
   に帯電し、前記露光部分と非露光部分は該光導電表面の
   順次の帯電レベルの一部分を照明して発生させ、該光導
   電表面の露光部分と非露光部分の順次の帯電レベルの各
   々の静電荷を測定し、且つ予め決められた所定の信号を
   発生させ、前記各測定静電荷信号をこの所定の信号と比
   較して前記比較信号を発生させることを特徴とする電子
   写真記録部材の光導電表面上の静電荷制御方法。 ４、特許請求の範囲１，２又は３記載の方法において、
   光導電表面に電荷を与えるステップは光導電表面とコロ
   ナ発生装置を相対的に移動させると共にコロナ発生装置
   のコロナレベル出力を前記移動に関連して所定のシーケ
   ンスで制御する手段を含むことを特徴とする電子写真記
   録部材の光導電表面上の静電荷制御方法。 ５、特許請求の範囲１，２又は３記載の方法において、
   光導電表面に電荷を与えるステップは光導電表面とコロ
   ナ発生装置を相対的に移動させると共にコロナ発生装置
   のコロナレベル出力を前記移動に関連して所定のシーケ
   ンスで制御する手段を含み、このコロナレベル出力の所
   定のシーケンスは階段状パターンであることを特徴とす
   る電子写真記録部材の光導電表面上の静電荷制御方法。 ６、特許請求の範囲１、２又は３記載の方法において、
   前記露光部分を発生ずるステップは前記非露光部分を照
   明光から遮蔽する手段を含むことを特徴とする電子写真
   記録部材の光導電表面上の静電荷制御方法。 ７、特許請求の範囲１〜４の何れかに記載の方法におい
   て、静電荷を測定するステップは光導電表面を検出装量
   を横切って移動させる手段を含むことを特徴とする電子
   写真記録部材の光導表面上の静電荷制御方法。 ８、特許請求の範囲２又は３記載の方法において、前記
   所定の信号を発生するステップは予め決められた所定の
   電荷レベルを表わす信号及び露光ランプの特性を表わす
   信号を発生する手段を含むことを特徴とする電子写真記
   録部材の光導電表面上の静電荷制御方法。 ９、特許請求の範囲１〜６の何れかに記載の方法におい
   て、前記比較信号は、露光ランプの強度を制御するのに
   使用することを特徴とする電子写真記録部材の光導電表
   面上の静電荷制御方法。 １０、特許請求の範囲１〜６の何れかに記載の方法にお
   いて、前記比較信号は露光ランプの動作持続時間の制御
   に使用することを特徴とする電子写真記録部材の光導電
   表面上の静電荷制御方法。 １１、特許請求の範囲１〜１０の何れかに記載の方法に
   おいて、前記帯電及び部分放電サイクルにより傾斜波状
   の表面電圧を与えることを特徴とする電子写真記録部材
   の光導電表面上の静電荷制御方法。 １２、特許請求の範囲１〜１１の何れかに記載の方法に
   おいて、光導電表面の平均表面電圧は使用する光導電表
   面の選択と無関係であることを特徴とする電子写真記録
   部材の光導電表面上の静電荷制御方法。 １３、露光を露光ランプで行ない、表面電荷を電子計で
   測定するようにした特許請求の範囲１記載の方法におい
   て、光導電表面はコロナ発生装置露光ランプ及び電子計
   と対向するよう位置させ、光導電表面を前記コロナ発生
   器を横切って移動させ、光導電表面に付与される電荷電
   位、従って前記コロナ発生器のコロナレベル出力を光導
   電表面の移動に関連して所定の順序で制御し、次いで光
   導電表面を前記露光ランプの上方に位置させると共に、
   光導電表面の選択した所定部分をその照明光から遮蔽し
   て露光部分と非露光部分を発生させ、前記露光ランプを
   所定の期間動作させて光導電表面の前記露光部分を光照
   射し、次いで光導電表面を前記電子計を横切って移動さ
   せ、光導電表向の前記移動に関連して帯電された光導電
   表面上の電荷を測定して測定電荷信号出力を発生させ、
   更に前記測定電荷信号をメモリにストアし、前記測定信
   号を前記予定の順序のコロナレベル出力と関係づけ、光
   導電表面の前記非露光部分の測定電荷信号を所定の記憶
   信号と比較して第１制御用の比較信号を発生させると共
   に、この比較信号と前記露光部分に対する所定の信号と
   を比軟して第２制御用の第２比較信号を発生させること
   を特徴とする電子写真記録部材の光導電表面上の静電荷
   制御方法。 １４、特許請求の範囲１１記載の方法において、光導電
   表面とコロナ発生装置を相対的に少くとも１回往復運動
   させることを特徴とする電子写真記録部材の光導電表面
   上の静電荷制御方法。 １５、特許請求の範囲１１記載の方法において、光導電
   表面上の電荷を測定する前に時間遅延を与えることを特
   徴とする電子写真記録部材の光導電表面上の静電荷制御
   方法。 １６、電子写真記録部材の光導電表面上の表面電荷を制
   御する装置であって、光導電表面を低１レベルから高レ
   ベルに順次変化する一連のレベルに帯電する帯電装置と
   、前記光導電表面の順次の帯電レベルの一部分を照明し
   て部分的に放電させて露光部分と非露光部分を発生させ
   る照明装置と、前記光導電表面の露光部分と非露光部分
   の順次の電荷レベルの各々の静電荷を検出するセンサと
   、所定の信号を発生ずる信号発生器と、少くとも前記検
   出静電荷信号を前記所定信号と比較して前記検出信号及
   び前記所定信号に応じて制御用の比較信号を発生ずる比
   較器を具えたことを特徴とする電子写真記録部材の光導
   電表面上の表面電荷制御装置。 １７、電子写真記録部材をその光導電表面が露出するよ
   う固定するプラテンと、光導電表面を移動させる駆動装
   置と、光導電表面を帯電する帯電装置と、光導電表面を
   光エネルギーパターンに露光して該パターンの潜像を形
   成する露光装置を具える電子写真装置において、移動す
   る光導電表面上の静電荷を検出する電子計を設け、該電
   子計は Ａ．光導電表面に近接して位置する孔を有する外匣と、 Ｂ．前記外匣内に前記孔と一致する位置に配置されたセ
   ンサヘッドと、 Ｃ．複数個の等間隔に設りられた孔を有する回転部材で
   あって、これら孔が前記外匣の孔と一致すると共に前記
   センサヘッドと光導電表面との間に位置するよう前記外
   匣上に装着された回転部材と、 Ｄ．前記回転部材に結合され、前記回転部材を回転させ
   て前記センサヘッドを前記回転部材の回転速度と前記等
   間隔配列孔の数に関連する周波数で光導電表面と交互に
   結合及び遮断させる駆動機溝と、 Ｅ．前記センサヘッドに結合された増幅回路と を具えたことを特徴とする電子写真装置。 １８、特許請求の範囲１７記載の装置において、前記周
   波数は電力線の交流周波数の高周波周波数からずらせた
   ことを特徴とする電子写真装置。 １９、特許請求の範囲１７記載の装置において、前記セ
   ンサヘッドは制御タスク用の信号を発生することを特徴
   とする電子写真装置。 ２０、移動する光導電表面上の表面電荷を検出する電子
   計であって、 Ａ．光導電表面に近接して位置する孔を有する外匣と、 Ｂ．前記外匣内に前記孔と一致する位置に配置されたセ
   ンサヘッドと、 Ｃ．複数個の等間隔に設けられた孔を有する回転部材で
   あって、これら孔が前記外匣の孔と一致すると共に前記
   センサヘッドと光導電表面との間に位置するよう前記外
   匣上に装着された回転部材と、 Ｄ．前記回転部材と結合され、前記回転部材を回転させ
   て前記センサヘッドを前記回転部材の回転速度と前記等
   間隔配列孔の数に関連する周波数で光導電表面と交互に
   結合及び遮断させる駆動機構と、 Ｅ．前記センサヘッドに結合された増幅回路とを具えた
   ことを特徴とする電子計。 ２１、特許請求の範囲２０記載の電子計において、前記
   周波数は電力線の支流周波数の高調波周波数からずらせ
   たことを特徴とする電子計。 ２２、特許請求の範囲２０記載の電子計において、前記
   センサヘッドは制御タスク用の信号を発生することを特
   徴とする電子計。