JPS5940202A - 偏波面保存光フアイバを用いた歪計 - Google Patents
偏波面保存光フアイバを用いた歪計Info
- Publication number
- JPS5940202A JPS5940202A JP15103582A JP15103582A JPS5940202A JP S5940202 A JPS5940202 A JP S5940202A JP 15103582 A JP15103582 A JP 15103582A JP 15103582 A JP15103582 A JP 15103582A JP S5940202 A JPS5940202 A JP S5940202A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polarization
- optical fiber
- light
- strain
- beam splitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
- G01B11/18—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge using photoelastic elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は偏波面保存光ファイバを用いた歪計に関するも
のである。
のである。
光ファイバを用いた歪計としては従来２本の単一モード
光ファイバを用いそのうちの１本に歪を加え、２本の単
一モード光ファイバの出射光による干渉縞の移動により
加えられた歪を測定しようとする方式も提案されている
。
光ファイバを用いそのうちの１本に歪を加え、２本の単
一モード光ファイバの出射光による干渉縞の移動により
加えられた歪を測定しようとする方式も提案されている
。
しかしながら干渉縞を精度よく作るためには波長オーダ
の製造精度が要求される。例えば波長が０．８５μｍの
光源を用いれば何らかの理由にＪ、り設定ファイバ０．
８５μ而ズレれば干渉縞は１箇ズレテしまい大ぎな誤差
となる。従って許容精度が１μｍ以下の耐環境性が必要
となりこれは非常に厳しい。さらに干渉縞の移動を見る
ためには画像処理しなければならず、かなり複雑なもの
になる。
の製造精度が要求される。例えば波長が０．８５μｍの
光源を用いれば何らかの理由にＪ、り設定ファイバ０．
８５μ而ズレれば干渉縞は１箇ズレテしまい大ぎな誤差
となる。従って許容精度が１μｍ以下の耐環境性が必要
となりこれは非常に厳しい。さらに干渉縞の移動を見る
ためには画像処理しなければならず、かなり複雑なもの
になる。
またこの他の光ファイバを用いたものとしては、加えら
れた歪により光ファイバに生じるマイクロベント損を測
定するものがあるが、これは外乱、光源の出力変動がす
ぐ誤差となってしまうので微小歪の測定は不可能になる
。
れた歪により光ファイバに生じるマイクロベント損を測
定するものがあるが、これは外乱、光源の出力変動がす
ぐ誤差となってしまうので微小歪の測定は不可能になる
。
本発明の目的は前記した従来技術の欠点を解消し、高精
度で安定な歪計を提供することにある。
度で安定な歪計を提供することにある。
すなわち本発明の要旨は、光ファイバとして偏波面保存
光ファイバを用い歪が加えられたことにより生じる位相
変化量を測定することにある。
光ファイバを用い歪が加えられたことにより生じる位相
変化量を測定することにある。
本発明の構成を、一実施例を示す図面を参照して具体的
に説明する。
に説明する。
第１図において、光源１から出た光は偏光板２にＪ：り
直線偏光が取り出され、ざらにλ／４板３により分波用
偏光ビームスプリッタ４の光軸に対して４５°顛【ノら
れ入射される。分波用偏光ビームスプリッタ４によって
同相の直線偏光が測定用偏波面保存光ファイバ５と参照
用偏波面保存光ファイバ５′に供給され、合波用偏光ビ
ームスプリッタ／ｌ−により再び合成される。
直線偏光が取り出され、ざらにλ／４板３により分波用
偏光ビームスプリッタ４の光軸に対して４５°顛【ノら
れ入射される。分波用偏光ビームスプリッタ４によって
同相の直線偏光が測定用偏波面保存光ファイバ５と参照
用偏波面保存光ファイバ５′に供給され、合波用偏光ビ
ームスプリッタ／ｌ−により再び合成される。
ここで測定用偏波面保存光ファイバ５は小ループを形成
して折り返されており、弾性板６により挾み込み固定さ
れている。
して折り返されており、弾性板６により挾み込み固定さ
れている。
このように構成すれば、合波用偏光ビームスプリッタ４
′により合成された光の２成分は同相なので光出力も直
線偏光となる。
′により合成された光の２成分は同相なので光出力も直
線偏光となる。
ところが弾性板６の一部に歪７が印加されると弾性板６
と測定用偏波面保存光ファイバ５がしなり、位相が変化
するので出力光は、楕円偏光となる。
と測定用偏波面保存光ファイバ５がしなり、位相が変化
するので出力光は、楕円偏光となる。
この楕円偏光を受光器８で受光し、位相変化間検出装置
９より位相変化を検出し印加布を求める。
９より位相変化を検出し印加布を求める。
なお、第２図に示すように位相変調器１０により位相変
調をか【プ、歪印加する変調信号の変化量を測定しても
よく、第３図に示すように周波数変調器１１を挿入して
歪印加による周波数シフトをビート周波数として測定し
てもよい。１２はハーフミラ−である。
調をか【プ、歪印加する変調信号の変化量を測定しても
よく、第３図に示すように周波数変調器１１を挿入して
歪印加による周波数シフトをビート周波数として測定し
てもよい。１２はハーフミラ−である。
以上説明したような本発明の歪計でありば次のような顕
著な効果を奏する。
著な効果を奏する。
（１）偏波面保存光ファイバを用いることにより外乱や
光源の不安定性に影響されにくく安定で高精度である。
光源の不安定性に影響されにくく安定で高精度である。
（２）位相情報をハワーの強弱で計測していることによ
り耐環境性が良好である。
り耐環境性が良好である。
第１図、第２図及び第３図はそれぞれ本発明歪計の異な
る実施例を示す説明図である。 １：光源、２：偏光板、３：λ／２板、３− ／Ｉ：偏光ビームスプリッタ、 ５：偏波面保存光ファイバ、６：弾性板、７：歪、８：
受光部、９コ位相変化帛測定計、 １０：位相変調器、１１：周波数変調器、７２：ハーフ
ミラ−。 ４− 革 １ 図 第３磨
る実施例を示す説明図である。 １：光源、２：偏光板、３：λ／２板、３− ／Ｉ：偏光ビームスプリッタ、 ５：偏波面保存光ファイバ、６：弾性板、７：歪、８：
受光部、９コ位相変化帛測定計、 １０：位相変調器、１１：周波数変調器、７２：ハーフ
ミラ−。 ４− 革 １ 図 第３磨
Claims (1)
- 直線偏光を偏光ビームスプリッタ４の光学軸に対し４５
°の方位に入射させるための光源１と、前記偏光ビーム
スプリッタ４により分離された偏光のうち一方の偏光が
入射される折返し部分を有する測定用偏波面保存光ファ
イバ５と、他方の偏光が入射される参照用偏波面保存光
ファイバ５−と、前記測定用偏波面保存光ファイバ５を
挾む弾性板６と、前記測定用偏波面保存光ファイバ５と
参照用偏波面保存光ファイバ５−とから出射した雨漏光
を合波した後位相変化量を測定するための位相変化量測
定計９とを有することを特徴とする偏波面保存光ファイ
バを用いた歪計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15103582A JPS5940202A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 偏波面保存光フアイバを用いた歪計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15103582A JPS5940202A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 偏波面保存光フアイバを用いた歪計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5940202A true JPS5940202A (ja) | 1984-03-05 |
Family
ID=15509872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15103582A Pending JPS5940202A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 偏波面保存光フアイバを用いた歪計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5940202A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0267381A2 (de) * | 1986-11-10 | 1988-05-18 | Felten & Guilleaume Energietechnik AG | Einrichtung und Verwendung eines Lichtwellenleiter-Sensors für die Messung minimaler Dehnungen |
| FR2620218A1 (fr) * | 1987-09-04 | 1989-03-10 | Dubois Deborde Hubert | Procede de mesure d'une grandeur associee a une contrainte-deformation par l'intermediaire de fibres optiques |
-
1982
- 1982-08-31 JP JP15103582A patent/JPS5940202A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0267381A2 (de) * | 1986-11-10 | 1988-05-18 | Felten & Guilleaume Energietechnik AG | Einrichtung und Verwendung eines Lichtwellenleiter-Sensors für die Messung minimaler Dehnungen |
| FR2620218A1 (fr) * | 1987-09-04 | 1989-03-10 | Dubois Deborde Hubert | Procede de mesure d'une grandeur associee a une contrainte-deformation par l'intermediaire de fibres optiques |
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