JPS5937467B2 - タテンドウジケイソクホウホウ - Google Patents
タテンドウジケイソクホウホウInfo
- Publication number
- JPS5937467B2 JPS5937467B2 JP50131127A JP13112775A JPS5937467B2 JP S5937467 B2 JPS5937467 B2 JP S5937467B2 JP 50131127 A JP50131127 A JP 50131127A JP 13112775 A JP13112775 A JP 13112775A JP S5937467 B2 JPS5937467 B2 JP S5937467B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- point
- time
- data
- measurement point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は温度等の多点同時計測方法の改良に関する。
多くの分野で温度、圧力、ひずみ、振動等種々の現象ば
計測され、またその多点同時計測が要求される場合が多
い。
計測され、またその多点同時計測が要求される場合が多
い。
ところが、これらの現象はほとんどの場合例えば第１図
に示すごとく複雑に変動している。
に示すごとく複雑に変動している。
そこでこの変動現象の中央値を得たい場合、一般に計測
精度を高める方法として第１図に斜線で示すＴ時間計測
積分方法が採られる。しかし、測定点数が多くなりしか
も同時刻計測が要求されると、この積分方法では第５図
に示すように測定点数（ｎ）×測定時間（Ｔ）＝ｎＴの
計測時間を要し人力番号１と入力番号ｎでは測定時刻が
異なシ同時性が失われることになる。また同時性を重視
して計測時間ｎＴを短くすると、１測定点における計測
時間Ｔが極端に短くなり積分計測値の精度が悪くなる、
他に、積分方法とデータホールド方法とを組合わせ走査
する方法も考えられるが、その費用は極めて割高となる
。そこで本発明は、多点計測に高速スキャナを用いて各
測定点からの入力を繰返し走査し、各測定点ごとに得ら
れた繰返し回数分の取得データを平均して中央値を得る
方法を提供するもので、これフによシ高精度の多点同時
計測が可能となる。
精度を高める方法として第１図に斜線で示すＴ時間計測
積分方法が採られる。しかし、測定点数が多くなりしか
も同時刻計測が要求されると、この積分方法では第５図
に示すように測定点数（ｎ）×測定時間（Ｔ）＝ｎＴの
計測時間を要し人力番号１と入力番号ｎでは測定時刻が
異なシ同時性が失われることになる。また同時性を重視
して計測時間ｎＴを短くすると、１測定点における計測
時間Ｔが極端に短くなり積分計測値の精度が悪くなる、
他に、積分方法とデータホールド方法とを組合わせ走査
する方法も考えられるが、その費用は極めて割高となる
。そこで本発明は、多点計測に高速スキャナを用いて各
測定点からの入力を繰返し走査し、各測定点ごとに得ら
れた繰返し回数分の取得データを平均して中央値を得る
方法を提供するもので、これフによシ高精度の多点同時
計測が可能となる。
以下、基本的例につき図面に従い本発明方法の詳細を説
明する。第２図において、制御回路１に計測指示を与え
ると高速スキャナ２は指示された各測定点からの入力を
指示された回数だけ繰返して走査し、その出力はその都
度それぞれ増幅器３を経てＡ−Ｄ変換器４によシデイジ
メル変換されてミニコンその他で構成されたデータ収録
装置５内の各測定点に対応したデータエリアに夫々収録
される。
明する。第２図において、制御回路１に計測指示を与え
ると高速スキャナ２は指示された各測定点からの入力を
指示された回数だけ繰返して走査し、その出力はその都
度それぞれ増幅器３を経てＡ−Ｄ変換器４によシデイジ
メル変換されてミニコンその他で構成されたデータ収録
装置５内の各測定点に対応したデータエリアに夫々収録
される。
データ収録装置５は第６図に示すように各測定点からの
取得データをあらかじめ定めてあるデータエリアに順次
収録し、指示された走査回数終了後各測定点ごとに取得
データの平均を求める処理が行われる。
取得データをあらかじめ定めてあるデータエリアに順次
収録し、指示された走査回数終了後各測定点ごとに取得
データの平均を求める処理が行われる。
さらに詳しく述べると、第３図はｎ個の測定点につき高
速スキャナで同時計測をｍ回繰返した場合のタイムチャ
ートを示し、第１回目の走査において第１の測定点から
はＨ０７の入力信号を採取し第２の測定点からはＨ２１
の信号を採取し、そして第ｎの測定点からはＨｎｌの信
号を得てそれぞれ所定のデータエリアに収録し、次いで
第２回目の走査が行われる。
速スキャナで同時計測をｍ回繰返した場合のタイムチャ
ートを示し、第１回目の走査において第１の測定点から
はＨ０７の入力信号を採取し第２の測定点からはＨ２１
の信号を採取し、そして第ｎの測定点からはＨｎｌの信
号を得てそれぞれ所定のデータエリアに収録し、次いで
第２回目の走査が行われる。
そして第１回目の走査と同じようにＨ１２９Ｈ２２９゜
゜゜゜゜゜Ｈｎ２のデータを得る。このような走査がｍ
回繰返され、データ収録装置５内の第１のデータエリア
にはＨ１４、Ｈ１２・・・・・・Ｈｌｍが収録され、第
２のデータエリアにはＨ２１Ｈ２２・・・・・・Ｈ２ｍ
）そして第ｎのデータエリアにはＨｎｌ，Ｈｎ２・・・
・・・Ｈｎｍが収録される。なお第６図は第１の測定点
における信号の変化状況と取得データの関係を示したも
ので、Ｈｌｌ，Ｈｌ２９Ｈｌ３ｌＯ９゜Ｈｌｎｌは走査
回次番号１Ｆ２９３■■３ｍにおけるこの現象に対する
取得データで、データ収録装置５内の第１のデータエリ
アに収録されている。そして、次式によ９処理を行い第
１測定点における平均取得データとする。平均取得デー
タ＝（Ｈｌｌ＋Ｈｌ２＋Ｈｌ３＋・・・・・・＋Ｈｌｍ
）／ｍこのようにして、各測定点についての平均取得デ
ータがデータ収録装置５内の各データエリアに中央値と
して収録される。
゜゜゜゜゜Ｈｎ２のデータを得る。このような走査がｍ
回繰返され、データ収録装置５内の第１のデータエリア
にはＨ１４、Ｈ１２・・・・・・Ｈｌｍが収録され、第
２のデータエリアにはＨ２１Ｈ２２・・・・・・Ｈ２ｍ
）そして第ｎのデータエリアにはＨｎｌ，Ｈｎ２・・・
・・・Ｈｎｍが収録される。なお第６図は第１の測定点
における信号の変化状況と取得データの関係を示したも
ので、Ｈｌｌ，Ｈｌ２９Ｈｌ３ｌＯ９゜Ｈｌｎｌは走査
回次番号１Ｆ２９３■■３ｍにおけるこの現象に対する
取得データで、データ収録装置５内の第１のデータエリ
アに収録されている。そして、次式によ９処理を行い第
１測定点における平均取得データとする。平均取得デー
タ＝（Ｈｌｌ＋Ｈｌ２＋Ｈｌ３＋・・・・・・＋Ｈｌｍ
）／ｍこのようにして、各測定点についての平均取得デ
ータがデータ収録装置５内の各データエリアに中央値と
して収録される。
以上から明らかなように、本発明の多点同時計測方法に
は次の顕著な効果がある。
は次の顕著な効果がある。
（１）同時性が高い。
１測点について見るとき、１回の走査時間を極めて短く
できるので、走査と次の走査との間に空隙時間ができる
。
できるので、走査と次の走査との間に空隙時間ができる
。
この空隙時間の中に他の入力の計測時間を挿入するので
全測定点に対する全計測時間Ｔｍは従米の積分方式にお
ける１測定点に要した計測時間Ｔとほぼ等しくなリ、各
取得データの同時性は極めて高くなる。（２）計測精度
が高い。
全測定点に対する全計測時間Ｔｍは従米の積分方式にお
ける１測定点に要した計測時間Ｔとほぼ等しくなリ、各
取得データの同時性は極めて高くなる。（２）計測精度
が高い。
データ取得の方法としてアナログ→デイジタル変換の際
、従米は第１図のごとき積分型が採られているが、本発
明方法は第６図から判かるように区分求積型ともいうべ
きで、区分数の増加すなわち走査の繰返し回数を増加す
ることによリ積分方式と同程度に計測稍度を高めること
ができる。そしてここで注目するべきことは、ある測定
点からの入力に大きな時間的変化があつた場合、従米の
積分方法による取得データは時間差のため同時計測デー
タとしては不適当であるが、本発明方法ではある時間帯
全体からの平均データであるため同時計測データとして
の稍度が高い。
、従米は第１図のごとき積分型が採られているが、本発
明方法は第６図から判かるように区分求積型ともいうべ
きで、区分数の増加すなわち走査の繰返し回数を増加す
ることによリ積分方式と同程度に計測稍度を高めること
ができる。そしてここで注目するべきことは、ある測定
点からの入力に大きな時間的変化があつた場合、従米の
積分方法による取得データは時間差のため同時計測デー
タとしては不適当であるが、本発明方法ではある時間帯
全体からの平均データであるため同時計測データとして
の稍度が高い。
，しかも、従来の積分方法と同一の時間内でこの精度の
高い同時計測を実施することが可能である。（３）計測
システムとしての機能が高い。
高い同時計測を実施することが可能である。（３）計測
システムとしての機能が高い。
多点計測システムとしてミニコン等の制御下におくこと
・により、ソフトウエアで取扱えるので、計測条件、測
定点数、測定対象等に応じた設定が容易でぁ９、計測シ
ステムとしての機能が高められる。次に、第４図は本発
明方法を適用した排水拡散試験用測温装置の構成図であ
る。
・により、ソフトウエアで取扱えるので、計測条件、測
定点数、測定対象等に応じた設定が容易でぁ９、計測シ
ステムとしての機能が高められる。次に、第４図は本発
明方法を適用した排水拡散試験用測温装置の構成図であ
る。
測点数 ・・・・・・１１２チヤンネル測定温度 ・
・・・・・５〜４５℃ 滞査温度 ・・・・・・６ｍｓ／＋ヤンネル（水銀リレ
拭）測定確度 ・・・・・・０．１℃？下ＣＰＵ・・・
・・・ミニコン Ｔ／Ｖコンバータ・・・温度電圧変換器 インターフエイス・・・ミニコンとの接続器１／０ ・
・・・・・入出力装置この測温装置は３〜５分周期で刻
々に変化する温度状態を計測するもので、１１２チヤン
ネルの多数の測定点について同時計測が要求されている
。
・・・・・５〜４５℃ 滞査温度 ・・・・・・６ｍｓ／＋ヤンネル（水銀リレ
拭）測定確度 ・・・・・・０．１℃？下ＣＰＵ・・・
・・・ミニコン Ｔ／Ｖコンバータ・・・温度電圧変換器 インターフエイス・・・ミニコンとの接続器１／０ ・
・・・・・入出力装置この測温装置は３〜５分周期で刻
々に変化する温度状態を計測するもので、１１２チヤン
ネルの多数の測定点について同時計測が要求されている
。
同時性としては測定点側の状況により２〜１０ｓｅｃ程
度が許容されるので、その状況に応じて走査回数を設定
し、測定効果を十分に上げている。本発明の同時性を説
明するために従来の積分方式と比較して計測時間を試算
すると次の通９である。（１）従来の積分方法では、１
測定点における計測時間Ｔを１０秒とすると、１１２点
の計測に要する時間は測定点数（ｎ）×計測時間（Ｔ）
＝ＮＴ＝１１２点×１０秒＝１１２０８Ｚ１９分となる
。
度が許容されるので、その状況に応じて走査回数を設定
し、測定効果を十分に上げている。本発明の同時性を説
明するために従来の積分方式と比較して計測時間を試算
すると次の通９である。（１）従来の積分方法では、１
測定点における計測時間Ｔを１０秒とすると、１１２点
の計測に要する時間は測定点数（ｎ）×計測時間（Ｔ）
＝ＮＴ＝１１２点×１０秒＝１１２０８Ｚ１９分となる
。
このため第１測定点と第ｎ測定点とは１９分近くの時間
的ずれが生じることとなり同時性あリとはいえない。（
２）本発明の方法では、全計測時間（Ｔｍ）を１０秒と
すれば、高速スキヤナで１走査に要する時間は６〔Ｍｓ
〕であるから、であり、１４回の走査を行うことが可能
となり、１４個の取得データから平均取得データを求め
ればよいことになる。
的ずれが生じることとなり同時性あリとはいえない。（
２）本発明の方法では、全計測時間（Ｔｍ）を１０秒と
すれば、高速スキヤナで１走査に要する時間は６〔Ｍｓ
〕であるから、であり、１４回の走査を行うことが可能
となり、１４個の取得データから平均取得データを求め
ればよいことになる。
そして、この取得データの個数は実用的に十分なサンプ
リング数である。
リング数である。
第１図は変動現象の中央値を得る場合における従来の積
分方法の説明図、第２図は本発明方法の基本的具体例の
構成図、第３図は第２図の構成におけるタイムチヤート
、第４図は本発明方法を適用した多点測温装置例の構成
図、第５図は従米の積分方式におけるタイムチヤート、
第６図は被測定信号の変化状況と本発明の取得データの
関係図である。
分方法の説明図、第２図は本発明方法の基本的具体例の
構成図、第３図は第２図の構成におけるタイムチヤート
、第４図は本発明方法を適用した多点測温装置例の構成
図、第５図は従米の積分方式におけるタイムチヤート、
第６図は被測定信号の変化状況と本発明の取得データの
関係図である。
Claims (1)
- １ 多点計測装置において、高速スキャナを使用し各計
測時点ごとに多数測定点からの入力を繰返し走査し、各
測定点からの取得データをあらかじめ定めてあるデータ
エリアに順次収納しておき、指定回数走査後に各測定点
ごとに取得データを平均し中央値とすることを特徴とし
た多点同時計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50131127A JPS5937467B2 (ja) | 1975-10-31 | 1975-10-31 | タテンドウジケイソクホウホウ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50131127A JPS5937467B2 (ja) | 1975-10-31 | 1975-10-31 | タテンドウジケイソクホウホウ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5255670A JPS5255670A (en) | 1977-05-07 |
| JPS5937467B2 true JPS5937467B2 (ja) | 1984-09-10 |
Family
ID=15050604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50131127A Expired JPS5937467B2 (ja) | 1975-10-31 | 1975-10-31 | タテンドウジケイソクホウホウ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5937467B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5733330A (en) * | 1980-08-06 | 1982-02-23 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Ultrasonic measurement system |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3087487A (en) * | 1961-03-17 | 1963-04-30 | Mnemotron Corp | Computer of average response transients |
-
1975
- 1975-10-31 JP JP50131127A patent/JPS5937467B2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3087487A (en) * | 1961-03-17 | 1963-04-30 | Mnemotron Corp | Computer of average response transients |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5255670A (en) | 1977-05-07 |
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