JPS5936205B2 - キヨリケイソウチ - Google Patents

キヨリケイソウチ

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JPS5936205B2
JPS5936205B2 JP15723475A JP15723475A JPS5936205B2 JP S5936205 B2 JPS5936205 B2 JP S5936205B2 JP 15723475 A JP15723475 A JP 15723475A JP 15723475 A JP15723475 A JP 15723475A JP S5936205 B2 JPS5936205 B2 JP S5936205B2
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JP
Japan
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light receiving
light
distance
receiving elements
light source
Prior art date
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Expired
Application number
JP15723475A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5282264A (en
Inventor
務 細野
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Fujinon Corp
Original Assignee
Fuji Photo Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Photo Optical Co Ltd filed Critical Fuji Photo Optical Co Ltd
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Publication of JPS5282264A publication Critical patent/JPS5282264A/ja
Publication of JPS5936205B2 publication Critical patent/JPS5936205B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は距離計装置に関し、特に対象物に点光源を照射
しその反射光を異なった距離にて測光し、それぞれの測
光値の変化分の比を求めることにより対象物までの距離
を測定するようになした距離計装置に関する。
従来、カメラ等の光学装置において、最良の品質の写真
映像等を得るために焦点調節、シャッター速度調節及び
絞り調節等の自動化の開発が為されてきた。
例えば現在市場に出回っているシャッター速度及び絞り
を被写界輝度に応じて自動的に調節する自動露出カメラ
等である。
しかるに焦点調節のみは、対象物の不確定性のために、
全ての対象物に対して高精度であり、かつ市場を満足で
きるような自動化の開発は今だ為されていない。
例えば対象物を点光源で照射し、撮影者の意志を被写界
上で示し、この点光源の照射像の受光素子への入射角を
測定することによって対象物までの距離を測定する距離
計装置等が知られている。
しかしながら上記従来の装置は入射角を調節する等の機
械的可動部分が多く装置が大きくなるとともに応答性が
遅くなる欠点がある。
従って本発明は上記欠点を解決するために新しい測定原
理を導入し、自動焦点調節を容易にする距離計装置を提
供することを目的とする。
本発明の特徴とするところは指向される対象物を照射す
る光源装置を有する距離計装置において、前記対象物よ
りの反射光を測光しかつ前記対象物よりみて等測的に略
同一光軸上に第1及び第2の受光素子を所定の間隔をも
って配設し、前記光源装置の照射による前記第1及び第
2の受光素子の出力の変化の比を求めることにより、前
記第1及び第2の受光素子から前記対象物までの距離を
測定するようになしたことである。
さらに本発明の特徴とするところは前記距離計装置にお
いて、前記第1及び第2の受光素子の出力の変化を各々
対数変換して、その対数変換された各々の出力の差を求
めることにより、前記第1及び第2の受光素子から前記
対象物までの距離を測定するようになしたことである。
以下、本発明を添付図面の望ましい一実施例に基づいて
詳述する。
第1図は本発明装置の測定原理を説明するための図であ
る。
1は対象物2を照射するための光源であり例えばストロ
ボ光源及びレーザー光源等で受光素子3及び4で応答で
きる波長領域及び周波数以内であれば全ての光源が使用
できる。
3は第1受光素子を示し、4は対象物2からみて等測的
に略同−光軸上に前記受光素子3から所定間隔dをもっ
て配設された第2受光素子である。
ここで第1受光素子3に入射する対象物2からの反射光
が第2受光素子4に阻止されずに入射しなければならな
いが、この点は例えばハーフミラ−を用いて反射光を2
方向に分割するとか、各々の受光素子3及び4の光軸を
わずかにずらせる等によって達成される。
また後述する所より明らかなように各々の受光素子3及
び4の間隔は長いほど精度が良くなるが、この点は例え
は反射光をミラー又はプリズムによって多数回反射させ
、等測的に光路を長くすることによって達成される。
以上の構成によっていかに第1受光素子3から対象物2
までの距離Xが測定出来るかを説明する6まず光源1か
らの光線は対象物2に照射され、その照射光は対象物2
のp点の反射率kに対応して反射する。
したがって反射物2から各々の受光素子3及び4に入射
する光線の対象物2上の点pの輝度Bは光源1の輝度B
、光源1から対象物2までの距離X及び前記反射率にの
関数となる。
そこで各々の受光素子3及び4で受光する外界に存在す
る定常的な光による照度をそれぞれり、。
及びL20とし、各々の受光素子3及び4で受光する照
度をそれぞれLl及びL2とすると、光源1の発光中に
於ける各々の受光素子3及び4上での照度は、 となる。
したがって各々の受光素子上で受ける反射光による照度
の変化分は ここで各々の受光素子3及び4の照度の変化分の比を求
めると 吉なり、光源1の輝度、対象物2の反射率及び光源から
対象物までの距離によって変化する対象物2上の輝度B
の項がなくなり第1受光素子3から対象物までの距離X
及び各々の受光素子間の距離dだけの関数となる。
したがって式(5)をXについて解くと ここで△L2〉△L1 x>dであるからとなり、
各々の受光素子間の距離dを決め、各々の受光素子面に
おける照度の変化分の比△L1/△L2を求めると、式
(7)により第1受光素子3から対象物2までの距離X
が求まるのである。
もちろん光源1によって対象物2上に照射される面積は
少さいほど式(7)の精度が高いことは言うまでもない
ことである。
さらに受光素子に入射する定常光が等測的に零のときは
受光素子の出力の比が出力の変化分の比に対応すること
も言うまでもない。
以上説明したように光源1の対象物2による反射光を測
光し、等測的に略同−光軸上に所定の間隔で配設された
第1及び第2の受光素子3及び4の出力の変化分の比を
求めることによって、対象物2までの距離Xが何らの補
正なしに、高精度、小型及び安価に距離計装置が提供で
きるのである。
ここでさらに電気的に受光素子の出力の変化分の比を求
める一例として対数変換して差を求める方法が考えられ
るので、この場合の実施例を第2図に示すブロック図に
て以下に説明する。
第2図において、3及び4は前記第1及び第2受光素子
であり、この各々の受光素子3及び4の出力はフィルタ
ー回路5及び6を介して対数変換回路7及び8に入力さ
れ、対数変換された後減算回路9によって減算される。
この減算出力は光源1の照射時間によって変化するので
、この減算出力の最大値又は最小値を記憶保持する記憶
回路10に入力され、その記憶回路の出力によって表示
及び制御回路11で対象物までの距離を表示及び制御、
例えばフォーカシングレンズが移動制御されるのである
ここで対数変換回路7及び8と減算回路9によって前記
受光素子3及び4の出力の変化分の比の対数を示す回路
を構成する。
以上の構成による第1受光素子3から対象物2までの距
離Xの測定動作を説明する。
まず光源1が対象物2に照射していない場合、第1及び
第2受光素子3及び4は外界の定常的な光が照射されて
いる。
しかしフィルター回路5及び6によって低周波がカット
されるために対数変換回路7及び8には前記受光素子3
及び4の出力は入力されない。
ここで光源1によって対象物2に点照射した場合、前記
受光素子3及び4の出力は光源照射による前記受光素子
3及び4上の照度の変化に応じて変化する。
したがってこの変化分のみがフィルター回路5及び6を
通って対数変換回路7及び8に入力される。
この対数変換回路7及び8のそれぞれの出力は減算回路
9によって差を求められる。
このことを式で示すと、式(5)の両辺の対数をとった
式と等しくなる。
すなわちしたがって となり、この式(9)によって第1受光素子3から対象
物2までの距離Xが求まるのである。
ここで式(7)、式(9)からも明らかなように各々の
受光素子3及び4間の距離dは大きいほど精度がでるし
、光源1は対象物2に点光源を生じ・させるためである
から、対象物自体に点光源がある場合には光源1は必要
ないことは言うまでもないことである。
したがって対象物から、ある一点の光のみを測光できる
ならばまた光源1は全く必要なくなるのである。
以上説明したように本発明装置によれば照射する光源の
輝度及び対象物の反射率によって変化する項が全くなく
なるため、非常に精度よく、あらゆる対象物に対して、
受光素子から対象物までの距離が測定でき、機械的可動
部分もないために応答性が早く、小型化出来、特に本発
明装置をカメラ等の光学装置に付加して例えば自動焦点
調節を簡単に行なえ、従来にない高性能な距離計装置が
提供できるのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の測定原理を説明するための図であ
り第2図は本発明装置の望ましい実施例を示すブロック
図である。 1・・・・・・光源、2・・・・・・対象物、3・・・
・・・第1受光素子、4・・・・・・第2受光素子、5
及び6・・・・・・フィルター回路、7及び8・・・・
・・対数変換回路、9・・・・・・減算回路、10・・
・・・・記憶回路、11・・・・・・表示及び制御回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 指向される対象物を照射する光源装置を有する距離
    計装置において、前記対象物よりの反射光を測光しかつ
    前記対象物よりみて等測的に略同一光軸上に第1及び第
    2の受光素子を所定の間隔をもって配設し、前記光源装
    置の照射による前記第1及び第2の受光素子の出力の変
    化の比を求めることにより、前記第1及び第2の受光素
    子から前記対象物までの距離を測定するようになしたこ
    とを特徴とする距離計装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の距離計装置において、
    前記第1及び第2の受光素子の出力の変化を各々対数変
    換して、その対数変換された各々の出力の差を求めるこ
    とにより、前記第1及び第2の受光素子から前記対象物
    までの距離を測定するようになしたことを特徴とする距
    離計装置。
JP15723475A 1975-12-27 1975-12-27 キヨリケイソウチ Expired JPS5936205B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15723475A JPS5936205B2 (ja) 1975-12-27 1975-12-27 キヨリケイソウチ

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JP15723475A JPS5936205B2 (ja) 1975-12-27 1975-12-27 キヨリケイソウチ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5282264A JPS5282264A (en) 1977-07-09
JPS5936205B2 true JPS5936205B2 (ja) 1984-09-03

Family

ID=15645159

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JP15723475A Expired JPS5936205B2 (ja) 1975-12-27 1975-12-27 キヨリケイソウチ

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Families Citing this family (9)

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JPS5282264A (en) 1977-07-09

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