JPS5936204A - Detector for image-formation state of picture - Google Patents

Detector for image-formation state of picture

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Publication number
JPS5936204A
JPS5936204A JP14727282A JP14727282A JPS5936204A JP S5936204 A JPS5936204 A JP S5936204A JP 14727282 A JP14727282 A JP 14727282A JP 14727282 A JP14727282 A JP 14727282A JP S5936204 A JPS5936204 A JP S5936204A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
contrast
circuit
light
line sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP14727282A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideo Kajita
梶田 英夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Minolta Co Ltd filed Critical Minolta Co Ltd
Priority to JP14727282A priority Critical patent/JPS5936204A/en
Publication of JPS5936204A publication Critical patent/JPS5936204A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/36Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
    • G02B7/38Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals measured at different points on the optical axis, e.g. focussing on two or more planes and comparing image data

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

PURPOSE:To establish the range where the depth of focusing is approved and to enable the detection of the deviation between an image-formation point and a film plane, by determining the function corresponding to the contrast value in the detection of a photodetecting part and further determining the image- formation point. CONSTITUTION:The transmitted light of a main mirror 1 is totally reflected by an auxiliary mirror 3 and is made incident to a beam splitter 4, by which the light is trisected. The splitter 4 has semitransparent parts 4a, 4b, and a total reflection part 4c, and the energy of the luminous fluxes are equal to each other. A range finding element 5 has three line sensors 5a, 5b, 5c, to which the light of the splitters 4a-4c are respectively inputted. The contrast value Y indicating the sharpness of the photographing light near the image-formation point peaks at the image-formation point and decreases as it moves further from said point. If the entire part of the contrast curve is known, the peak position thereof is known and the peak position, i.e., the image-formation point is determined from the X-coordinates thereof.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は画像の結像状態検知装置に関する。[Detailed description of the invention] Technical field The present invention relates to an image forming state detection device.

従来技術 従来、コントラストすなわち画像の鮮明度を検出するこ
とによって結像点が合焦認定深度内にあるかまたは結像
点が予定焦点面より被写体側の合焦認定深度外にある前
ピントかあるいは結像点が予定焦点面より被写体とは反
対側の合焦認定深度外にある後ピントかを判定する場合
に、結像点と予定焦点面すなわちフィルム面とのずれ量
であるデフォーカス量を検出する手段は存在しなかった
Prior art Conventionally, by detecting the contrast, that is, the sharpness of the image, it is possible to determine whether the imaging point is within the certified depth of focus, or whether the imaging point is in front of the certified depth of focus on the subject side of the intended focal plane, or When determining whether the image is in focus after the imaging point is outside the certified depth of focus on the opposite side of the subject from the intended focal plane, the defocus amount, which is the amount of deviation between the imaging point and the intended focal plane, that is, the film plane, is calculated. There was no way to detect it.

しかるに、コントラスト値が最高値となるレンズの結像
点とフィルム面とのずれ量を量的に検知して、その値に
基いて合焦か前ピントか後ピントかを判断することは容
易となる。
However, it is easy to quantitatively detect the amount of deviation between the lens imaging point and the film surface, where the contrast value is highest, and to judge whether the object is in focus, front focus, or rear focus based on that value. Become.

目的 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目
的は、従来不可能とされていたコントラストの検出によ
って結像点とフィルム面とのずれ量を求める検出装置を
提供することである。
Purpose The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to provide a detection device that determines the amount of deviation between an imaging point and a film surface by detecting contrast, which was conventionally considered impossible. .

要旨 本発明による画像の結像状態検知装置においては、光学
系の予定焦点面1こ近接して複数個の受光部を設け、夫
々の受光部によって検出される画像のコントラスト値に
対応した座標値を演算し、この座標値を有する所定の関
数を求め、この関数のピークの座標値から結像点を求め
ることを特徴とする。
Summary In the image forming state detection device according to the present invention, a plurality of light receiving sections are provided one point near the planned focal plane of the optical system, and coordinate values corresponding to the contrast value of the image detected by each light receiving section are provided. is calculated, a predetermined function having these coordinate values is obtained, and an imaging point is obtained from the coordinate values of the peak of this function.

」も1皿 以下、本発明の一実施例fこつぃて図面にもとづいて説
明する。
An embodiment of the present invention will be described below based on the drawings.

本発明を用いる光学系は、第1図に示すように、1は主
ミラーであり、この主ミラーlは撮影レンズ2を通過し
た光をファインダ尤学系(不図示)へ反射するとともに
一部の光を透過する。この主ミラー1を透過した光は、
副ミラー3で全反射してビームスプリッ14に入射し、
このビームスプリッタ4で3分割される。ビームスプリ
ッタ4は半透過部4a、4b及び全反射部4cを有し、
半透過部4aで入射光束の173を透過するとともに2
//3を反射し、半透過部4bで入射光束の1/2を透
過するとともにl/2を反射すると、3分割された光束
のエネルギーは相等しくなる。5は測距素子であり、第
2図に示すように、この測距素子5は3個のライ埒ンサ
5 a + 5 b H5cを備え、通常ライ、ヘヒン
サ5bがフィルム面と等価な光学位置に設けられ、ライ
ンセンサ5a、5CJ夫々ラインセンサ5bの光軸上前
側すなわち前ピント側及び後側すなわち後ピント側にラ
インセンサ5bと等間隔で設けられる。このラインセン
サ5a+5b、5cは夫々電荷結合素子(CC0)を複
数個配列したものである。測距素子5では、ビームスプ
リッタ4の半透過部4aを透過した光がラインセンサ5
aに入射し、ビームスプリッタ4の半透過部4’bを反
射した光がラインセンサ5bに入射し、ビームスプリッ
タ4の全反射部4cを反射した光がラインセンサ5cに
入射するように構成される。
In the optical system using the present invention, as shown in FIG. Transmits light. The light transmitted through this main mirror 1 is
It is totally reflected by the sub mirror 3 and enters the beam splitter 14,
This beam splitter 4 divides the beam into three parts. The beam splitter 4 has semi-transparent parts 4a, 4b and a total reflection part 4c,
The semi-transparent part 4a transmits 173 of the incident light beam and 2
When //3 is reflected, 1/2 of the incident light beam is transmitted through the semi-transparent portion 4b, and 1/2 is reflected, the energies of the three divided light beams become equal. Reference numeral 5 designates a distance measuring element, and as shown in FIG. The line sensors 5a and 5CJ are provided on the front side, that is, the front focus side, and the rear side, that is, the rear focus side, of the line sensor 5b on the optical axis, respectively, at equal intervals from the line sensor 5b. Each of the line sensors 5a+5b, 5c is an array of a plurality of charge coupled devices (CC0). In the distance measuring element 5, the light transmitted through the semi-transparent part 4a of the beam splitter 4 is transmitted to the line sensor 5.
a, the light reflected by the semi-transparent part 4'b of the beam splitter 4 enters the line sensor 5b, and the light reflected by the total reflection part 4c of the beam splitter 4 enters the line sensor 5c. Ru.

レンズを通過した撮影光の結像点付近の鮮明度を表わす
コントラスト値Yは、第3図に示すように、結像点でピ
ーク値となり、この結像点から遠くなるにしたがって低
下する。
As shown in FIG. 3, the contrast value Y representing the sharpness of the photographing light that has passed through the lens near the image formation point reaches a peak value at the image formation point, and decreases as the distance from this image formation point increases.

ところで、第3図に示すコントラスト曲線は一定の法則
性を持っており、所定の関数に近似できる。すなわち、
第3図に示すコントラスト曲線は結像点の位置及び被写
体の状態によりそのピークの位置やその両側の裾野の広
がりが変化するが、これらの変化は所定の関数における
定数の変化として捉えることができる。従って、コント
ラスト曲線の全体は、上記所定の関数を確定するための
定数を決めるに足る数だけの座標点をこれに対応する数
のラインセンサにより得れば(ラインセンサの配置位置
よりX座標、その測定値よりY座標がそれぞれ得られる
)求めることができる。そしてコントラスト曲線の全体
がわかればそのピークの位置もわかるから、そのX座標
よりピークの位置、すなわち結像点を求めることができ
る。
By the way, the contrast curve shown in FIG. 3 has a certain regularity and can be approximated to a predetermined function. That is,
The contrast curve shown in Figure 3 changes the peak position and the width of the base on both sides depending on the position of the imaging point and the condition of the subject, but these changes can be understood as constant changes in a predetermined function. . Therefore, the entire contrast curve can be obtained by obtaining a sufficient number of coordinate points using a corresponding number of line sensors to determine the constant for determining the above-mentioned predetermined function (from the position of the line sensor, the X coordinate is The Y coordinate can be determined from the measured values. If the entire contrast curve is known, the position of its peak is also known, so the position of the peak, that is, the imaging point, can be found from its X coordinate.

以上が本発明の原理であるが、本発明の実施例では、所
定の関数を確定するための定数を求めるに際し次のよう
な手段によっている。すなわち、実験によれば、第3図
のコントラスト曲線は、Y座標の逆数をとってグラフ化
すると、放物線によく近似できることがわかった。放物
線の一般式における定数は3つであるから、この場合3
つのラインセンサを設ければ、その位置と測定値の逆数
より関数を求めることができ、構成が簡単になる。
The above is the principle of the present invention, but in the embodiment of the present invention, the following means are used to obtain constants for determining a predetermined function. That is, according to experiments, it has been found that the contrast curve shown in FIG. 3 can be well approximated to a parabola when graphed by taking the reciprocal of the Y coordinate. There are three constants in the general formula for a parabola, so in this case 3
If one line sensor is provided, a function can be obtained from the position and the reciprocal of the measured value, which simplifies the configuration.

第4図は上記に従い3つのラインセンサを設けたもので
、いま、測距素子に入射する撮影光の結像点カラインセ
ンサ5aとラインセンサ5bとの間にある場合には、ラ
インセンサ5at5b+5Cで観測されるコーントラス
ト値を夫々YA。
In FIG. 4, three line sensors are provided according to the above, and if the image forming point of the photographing light incident on the distance measuring element is between the line sensor 5a and the line sensor 5b, the line sensor 5at5b+5C Cone trust values observed in YA respectively.

YB、Yc とすると、第5図に示すように、コントラ
ストfifYを縦軸、ラインセンサを通過する光軸の距
IsXを横軸で夫々表わし、且つ、ラインセンサ5bの
位置を原点にとると、コントラスト曲線のピークはライ
ンセンサ5aとラインセンサ5bとの間に生じ、さらに
、ラインセンサ5aの位置でのコントラスト曲線の値が
YAとなり、ラインセンサ5bの位置すなわちY軸上の
コントラスト曲線の値がY13となり、ラインセンサ5
cの位置でのコントラスト曲線の値がYcとなる。
Assuming that YB and Yc, as shown in FIG. 5, the vertical axis represents the contrast fifY, and the horizontal axis represents the distance IsX of the optical axis passing through the line sensor, and if the position of the line sensor 5b is taken as the origin, then The peak of the contrast curve occurs between the line sensor 5a and the line sensor 5b, and the value of the contrast curve at the position of the line sensor 5a is YA, and the value of the contrast curve at the position of the line sensor 5b, that is, on the Y axis, is Y13, line sensor 5
The value of the contrast curve at position c is Yc.

次に、第6図ζこ示すように、コントラスト値Yの逆数
y=l/Yを縦軸に、フィルム面スなワチラインセンサ
5bの位置を原点としてラインセンf5aの位置を−X
o  及びラインセンサ5Cの位置をXoとする光軸距
離Xを横軸とするグラフ上にラインセンサ5a15b1
5Cのコントラスト値Y A 、 Y B、 Y cの
夫々の逆数y A=l/YA IVB=1/YB、γc
=1/Yc をプロットすると、こノ点γA・VB・V
Cを含む放物線を描くことができる。しかるに、放物線
は上記のように3点の座標値で決定されるから、3個の
ラインセンサのコントラスト値の夫々の逆数からコント
ラスト曲線に対応した放物線が決定されることになる。
Next, as shown in FIG. 6, the vertical axis is the reciprocal of the contrast value Y, y=l/Y, and the position of the line sensor f5a is -X with the position of the line sensor 5b on the film surface as the origin.
The line sensor 5a15b1 is plotted on a graph whose horizontal axis is the optical axis distance X, where the position of the line sensor 5C is Xo.
5C contrast value YA, YB, reciprocal of Yc A=l/YA IVB=1/YB, γc
= 1/Yc, this point γA・VB・V
A parabola containing C can be drawn. However, since the parabola is determined by the coordinate values of the three points as described above, the parabola corresponding to the contrast curve is determined from the reciprocals of the contrast values of the three line sensors.

この様lこして、コントラスト曲線に対応した放物線が
決定されると、この放物線の頂点の座標を計算によって
求めることができるので、コントラスト曲線のピークの
位置すなわち結像点が求められる。
Once the parabola corresponding to the contrast curve has been determined in this way, the coordinates of the apex of this parabola can be calculated, so that the position of the peak of the contrast curve, that is, the imaging point can be determined.

この結像点とフィルム面との距離を算出することによっ
て、結像点が前ピントかまたは合焦認定深度の範囲内か
あるいは後ピントがを判断することができる。
By calculating the distance between this imaging point and the film surface, it can be determined whether the imaging point is in front focus, within the range of the certified depth of focus, or in rear focus.

いま、ラインセンサのコントラスト値の逆数から決定さ
れた放物線の式を Y=aX  −4−bx−)−c −・・・−・・−(
1)とすると、ラインセンサ5a+5b+5cの座標(
−Xo、O)、(0,0)、(Xo、O)におけるγA
Now, the formula of the parabola determined from the reciprocal of the contrast value of the line sensor is Y=aX −4−bx−)−c −・・・−・・−(
1), the coordinates of line sensor 5a+5b+5c (
-Xo, O), (0,0), γA at (Xo, O)
.

yBlyCの値は、 yA=aX2o−bXo十C凹・・(2]y B= C
・・・・・・・・・(3)yc=ax  +bxo+C
−−−−・・・・・(4)となり、この(2) 、 (
3) 、 (4)式から(1)式の右辺の係数a、b、
cを求めると、 2 x 。
The value of yBlyC is yA=aX2o-bXo0C concave...(2]yB=C
・・・・・・・・・(3)yc=ax+bxo+C
−−−−・・・・・・(4), and this (2), (
3) From equation (4), coefficients a, b, on the right side of equation (1),
Find c: 2 x.

C= yB         ・・・・・・・・・(7
)この(5) 、 (6) 、 (7)式から放物線の
頂点の座標(x、y)を求めると、 2a  2γB  ”A−yC となる。
C= yB ・・・・・・・・・(7
) When the coordinates (x, y) of the apex of the parabola are determined from equations (5), (6), and (7), it becomes 2a 2γB ''A-yC.

この放物線の頂点の座標を表わす式から、合焦認定深度
が次式のように定められる。すなわち、ラインセンサ5
bがフィルム面と一致する場合Iことなる。ここで、ε
は所定の定数である。また、フィルム面がラインセンサ
5bから距離δだけ離れている場合には、δだけ座標移
動して、のときを合焦とし、 かつγ4くVCのときを後ピントとする。
From the equation representing the coordinates of the apex of this parabola, the depth of focus is determined as follows. That is, line sensor 5
If b coincides with the film plane, I is different. Here, ε
is a predetermined constant. Further, when the film surface is separated from the line sensor 5b by a distance δ, the coordinates are moved by δ to be in focus, and the rear focus is to be γ4+VC.

次に、上述の演算を行なって合焦、前ピントあるいは後
ヒントを判定するための回路lこつぃて説明する。
Next, a circuit for performing the above-mentioned calculations and determining focus, front focus, or rear hint will be explained in detail.

第7図に示すように、ラインセンサ5ae5be5Cに
コントラスト演算回路6a#6bt6Cが夫々接続され
る。このコントラスト演算回路5a。
As shown in FIG. 7, contrast calculation circuits 6a#6bt6C are connected to the line sensors 5ae5be5C, respectively. This contrast calculation circuit 5a.

6b*6cでは、ライセンサsa*sb+scで△ 夫々観測されたコントラスト値の逆数YA−’!B。6b*6c, licensor sa*sb+sc △ The reciprocal of each observed contrast value YA-'! B.

γ。を演算する。このコントラスト演算回路は、第8図
に示すように、例えば、ラインセンサ5aを形成する電
荷結合素子の配列の隣接する電荷結合素子間の起電力の
差を1ビツトディレィ回路aを介して減算回路すで算出
し、その出力を2乗回路Cで2乗し、さらに、積分回路
dで全ての電荷結合素子間の起電力差の2乗随を積分し
てコントラスト値YAを算出した後、逆数回路eでyA
=1/YAを算出する。
γ. Calculate. As shown in FIG. 8, this contrast calculation circuit is, for example, a circuit that subtracts the difference in electromotive force between adjacent charge-coupled devices in an array of charge-coupled devices forming the line sensor 5a via a 1-bit delay circuit a. The output is squared by a square circuit C, and the contrast value YA is calculated by integrating the squared product of the electromotive force difference between all charge-coupled devices by an integrating circuit d. e in yA
Calculate =1/YA.

7.8.9は減算回路であり、減算回路7ではコントラ
スト演算回路6aから出力されるγよとコントラスト演
算回路6bから出力されるYBとの減算が行なわれて、
γよ一γBが出力される。
7.8.9 is a subtraction circuit, and the subtraction circuit 7 performs subtraction between γ output from the contrast calculation circuit 6a and YB output from the contrast calculation circuit 6b.
γ + γB is output.

また、減算回路8ではコントラスト演算回路6Cから出
力されるVCとコントラスト演算回路6bから出力され
るy との減算が行なわれてy。−YBが出力される。
Further, in the subtraction circuit 8, subtraction is performed between VC output from the contrast calculation circuit 6C and y output from the contrast calculation circuit 6b. -YB is output.

さらに、減算回路9ではコントラスト演算回路6aから
出力されるYAとコントラスト演算回路6Cから出力さ
れるy。との減算が行なわれてγ□−γ。が出力される
Further, in the subtraction circuit 9, YA outputted from the contrast calculation circuit 6a and y outputted from the contrast calculation circuit 6C. Subtraction is performed and γ□−γ. is output.

10は加算回路であり、この加算回路10では減算回路
7から出力されるyA−yB  と減算回路8から出力
されるy。−yB との加算が行なわれて2yB−yA
−γ。が出力される。11は絶対値回路であり、この絶
対値回路11では加算回路10が出力され、さらに、こ
の絶対値回路11の出力は増、幅回路12で6倍されて
12VB  VA  )’C1εが出力される。この増
幅回路12では、可変抵抗12aを調整す石ことによっ
て合焦認定深度範囲を変化させることができ、被写体輝
度分布、被写体空間周波数、使用レンズの開放F値及び
焦点距離の影響を受けずにこの可変抵抗12aの抵抗値
の直線的な変化に合焦認定深度範囲の変化が一対一に対
応する。
10 is an adder circuit, and in this adder circuit 10, yA-yB outputted from the subtraction circuit 7 and y outputted from the subtraction circuit 8. -yB is added to 2yB-yA
−γ. is output. 11 is an absolute value circuit, and this absolute value circuit 11 outputs an adder circuit 10, and furthermore, the output of this absolute value circuit 11 is multiplied by 6 in an amplification/width circuit 12, and 12VB VA )'C1ε is outputted. . In this amplifier circuit 12, the depth of focus range can be changed by adjusting the variable resistor 12a, without being affected by the subject brightness distribution, subject spatial frequency, aperture F value and focal length of the lens used. A linear change in the resistance value of the variable resistor 12a corresponds one-to-one to a change in the focus recognition depth range.

増幅回路13では、加算回路lOの出力を6倍して(2
YB  YA Yo)δを出力する。フィルム面とライ
ンセンサ5bとの間の距離であるδは、フィルム面がラ
インセンサ5bより被写体側にあるとき正となり、ライ
ンセンサ5bがフィルム面より被写体側(こあるとき負
となる。スイッチ14は、δが正であるときには端子1
4a側に閉じられ、δが負であるときには端子14b側
に閉じられる。増幅回路13の出力である(2γB  
)’A−y()δ は、δが正であるとそのままスイッ
チ14を介して後述の加算回路15へ出力され、δが負
であると反転回路16で符号が反転されてスイッチ14
を介して加算回路15へ出力される。
In the amplifier circuit 13, the output of the adder circuit lO is multiplied by 6 (2
YB YA Yo) δ is output. The distance δ between the film surface and the line sensor 5b is positive when the film surface is closer to the object than the line sensor 5b, and negative when the line sensor 5b is closer to the object than the film surface.Switch 14 is terminal 1 when δ is positive.
4a side, and when δ is negative, it is closed to the terminal 14b side. This is the output of the amplifier circuit 13 (2γB
)'A-y()δ is output as it is to the adder circuit 15, which will be described later, via the switch 14 if δ is positive; if δ is negative, the sign is inverted by the inverting circuit 16 and the signal is output to the switch 14.
The signal is output to the adder circuit 15 via.

17は増幅回路であり、この増幅回路17では減算回路
9の出力をX。培して(yA−γ。)Xoを出力する。
17 is an amplifier circuit, and this amplifier circuit 17 converts the output of the subtraction circuit 9 into X. (yA-γ.) and outputs Xo.

この(yA−yo)Xoは加算回路15に入力され、こ
の加算回路15において、(yA−yo)X と上述の
増幅回路13の出力である(2γお一〇 yA−yc)δ とのスイッチ14の選択による加算マ
タハ減算が行なわれ、(yA−yo)xo±(2γB−
VA−VC)δが出力される。スイッチ14によって選
択される増幅回路17の出力と増幅回路13の出力との
加算または減算は上述の座標移動に相当する。18は絶
対値回路であり、この絶対値回路18では、加算回路1
5の出力の絶対値化が行な力される。
This (yA-yo) Addition and subtraction are performed by selecting 14, and (yA-yo)xo±(2γB-
VA-VC) δ is output. Addition or subtraction between the output of the amplifier circuit 17 and the output of the amplifier circuit 13 selected by the switch 14 corresponds to the coordinate movement described above. 18 is an absolute value circuit, and in this absolute value circuit 18, the adder circuit 1
5 is converted into an absolute value.

19は比較器であり、この比較器19では、上納像点が
合焦認定深度の内側にあるか外側にある深度内にあると
き’Low”となり、このとき、インバータ20の出力
が’High”  になって、この信号が電流制限抵抗
R2を介して発光ダイオードD2に入力され、この発光
ダイオードD2を発光させる。発光ダイオードD2によ
って、第9図に示すファインダF上の合焦表示部21に
合焦であることか表示される。また、比較器19の出力
は+(γA−VC)Xo±(2yB−yA−VC)δl
>1zyB−γ6−γ。1εのとき、すなわち、結像点
が合焦認定深度の外側にあるとき’High”になる。
Reference numeral 19 denotes a comparator, and this comparator 19 becomes 'Low' when the upper image point is within or outside the certified focus depth, and at this time, the output of the inverter 20 becomes 'High'. This signal is input to the light emitting diode D2 via the current limiting resistor R2, causing the light emitting diode D2 to emit light. The light emitting diode D2 indicates that the object is in focus on the focus display section 21 on the finder F shown in FIG. Also, the output of the comparator 19 is +(γA-VC)Xo±(2yB-yA-VC)δl
>1zyB-γ6-γ. 1ε, that is, when the imaging point is outside the certified focus depth, it becomes 'High'.

この場合、前ピントであると、γい〉yo で減算回路
9の出力がゞHigh”レベルとなり、アンド回路22
の出力が’High”  になり、この信号が電流制限
抵抗に1を介して発光ダイオードDi Jこ久カされ、
発光ダイオードD□を発光させる。発光ダイオードD□
によって、第9図に示すファインダF上の合焦表示部2
1に前ピントであることが表示される。さらに、結像点
が合焦認定深度の外側にあって比較器19の出力が’H
igh”であるときに、後ピントの場合にはyA<y。
In this case, if the front is in focus, the output of the subtraction circuit 9 becomes ``High'' level at γ〉yo, and the AND circuit 22
The output of becomes 'High', and this signal is passed through the current limiting resistor to the light emitting diode DiJ for a short time.
The light emitting diode D□ is made to emit light. Light emitting diode D□
Accordingly, the focus display section 2 on the finder F shown in FIG.
1 indicates that the front focus is on. Furthermore, if the imaging point is outside the certified focus depth, the output of the comparator 19 is 'H'.
In the case of rear focus, yA<y.

で減算回路9の出力がゞLow ”レベルとなり、イン
バータ23の出力が’High”になってアンド回路2
4の出力がゞHigh”になり、この信号が電流制限抵
抗R3を介して発光ダイオードD3に入力され、発光ダ
イオードD3を発光させる。発光ダイオードD3によっ
て、第9図に示すファインダF上の合焦表承部21に後
ピントであることが表示される。
The output of the subtraction circuit 9 becomes ``Low'' level, and the output of the inverter 23 becomes ``High'', and the AND circuit 2
4 becomes ``High'', and this signal is input to the light emitting diode D3 via the current limiting resistor R3, causing the light emitting diode D3 to emit light. Rear focus is displayed on the display portion 21.

効果 以上説明したように、本発明をこおいては、複数個の受
光部によって検出されるコントラスト値に対応した座標
値からこの座標値を有する関数を求め、この関数から結
像点を求めてこの結像点とフィルム面とのずれ量にもと
づいて合焦かどうかの判断を行なうようにしたから、合
焦認定深度範囲が被写体輝度分布、被写体の空間周波数
、使用レンズの開放F値及び焦点距離の影響を受けず不
用意に変化しない。また、予定焦点向とフィルム面とを
必ずしも一致させる必要がなく、予定焦点向とフィルム
面とのずれ量だけ演算処理によって座標移動させればよ
く、したがって、受光素子の配置上有利となる。
Effects As explained above, in the present invention, a function having the coordinate value is determined from the coordinate value corresponding to the contrast value detected by a plurality of light receiving sections, and an imaging point is determined from this function. Since we have decided whether to focus or not based on the amount of deviation between this imaging point and the film surface, the depth range for which the focus is certified depends on the brightness distribution of the subject, the spatial frequency of the subject, the aperture f-number of the lens used, and the focal point. It is not affected by distance and does not change carelessly. Further, it is not necessary to make the planned focal direction and the film plane coincide, and it is sufficient to move the coordinates by the amount of deviation between the planned focal direction and the film plane by arithmetic processing, which is advantageous in terms of arrangement of the light receiving element.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明を用いる光学系を示す光学線図、第2図
は第1図の測距素子の平面図、第3図はコントラスト曲
線を示すグラフ、第4図はラインセンサと撮影光との関
係を示す説明図、第5図はラインセンサの位置とコント
ラスト値との関係を示すグラフ、第6図はラインセンサ
のコントラスト値に対応した関数を示すグラフ、第7図
は本発明の一実施例を示す回路図、第8図は第7図の部
分回路図、第9図はファインダの合焦表示部を示す説明
図である。 l・・・主ミラー、  2・・・撮影レンズ、  3・
・・副ミラー、  4・・・ビームスプリッタ、 5・
・・測距素子、5a、5b、5c・・・ラインセンサ、
  Y A、t Y B 。 Yc・・・コントラスト値。 特許出願人 ミノルタカメラ株式会社 代理人弁理士青山 葆外2名 第1図 第3図 25 第4図 第5図 第6図
Fig. 1 is an optical line diagram showing an optical system using the present invention, Fig. 2 is a plan view of the ranging element shown in Fig. 1, Fig. 3 is a graph showing a contrast curve, and Fig. 4 is a line sensor and photographing light. 5 is a graph showing the relationship between the position of the line sensor and the contrast value, FIG. 6 is a graph showing the function corresponding to the contrast value of the line sensor, and FIG. 7 is a graph showing the relationship between the line sensor position and the contrast value. FIG. 8 is a circuit diagram showing one embodiment, FIG. 8 is a partial circuit diagram of FIG. 7, and FIG. 9 is an explanatory diagram showing a focus display section of the finder. l...Main mirror, 2...Photographing lens, 3.
...Secondary mirror, 4...Beam splitter, 5.
... Distance measuring element, 5a, 5b, 5c... Line sensor,
Y A, t Y B. Yc...contrast value. Patent Applicant: Minolta Camera Co., Ltd. Patent Attorney Aoyama, 2 persons Figure 1 Figure 3 Figure 25 Figure 4 Figure 5 Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)光学系の予定焦点面に近接して複数個の受光部を
設け、夫々の受光% jcよって検出される画像のコン
トラスト値に対応した座標値を演算し、この座標値を有
する所定の関数を求め、この関数のピークの座標値から
結像点を求めることを特徴とする画像の結像状態検知装
置。
(1) A plurality of light receiving sections are provided close to the planned focal plane of the optical system, and a coordinate value corresponding to the contrast value of the image detected by each light reception % jc is calculated, and a predetermined point having this coordinate value is calculated. An imaging state detection device for an image, characterized in that a function is determined and an imaging point is determined from the coordinate values of the peaks of this function.
JP14727282A 1982-08-24 1982-08-24 Detector for image-formation state of picture Pending JPS5936204A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57191508A (en) * 1981-05-22 1982-11-25 Showa Electric Wire & Cable Co Ltd Measuring method for coating thickness by ultrasonic wave

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57191508A (en) * 1981-05-22 1982-11-25 Showa Electric Wire & Cable Co Ltd Measuring method for coating thickness by ultrasonic wave

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