JPS5935503B2 - 走査電子顕微鏡等における試料移動装置 - Google Patents

走査電子顕微鏡等における試料移動装置

Info

Publication number
JPS5935503B2
JPS5935503B2 JP11149078A JP11149078A JPS5935503B2 JP S5935503 B2 JPS5935503 B2 JP S5935503B2 JP 11149078 A JP11149078 A JP 11149078A JP 11149078 A JP11149078 A JP 11149078A JP S5935503 B2 JPS5935503 B2 JP S5935503B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
holder
center
rotation
sample stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP11149078A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5537783A (en
Inventor
義範 鷹羽
洋一 渋木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Denshi KK filed Critical Nihon Denshi KK
Priority to JP11149078A priority Critical patent/JPS5935503B2/ja
Publication of JPS5537783A publication Critical patent/JPS5537783A/ja
Publication of JPS5935503B2 publication Critical patent/JPS5935503B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は特に走査電子顕微鏡に使用して有効な試料移動
装置に関する。
近時、電子ビーム露光装置等により試料上に露光された
パターンの状態を検査する手段として走査電子顕微鏡が
使用されている。
この場合パターンが露光される試料は非常に大きい(例
えば3〜4インチφ)ため、走査電子顕微鏡の試料移動
装置においては観察範囲の広いものが要求される。
この要求を満足させるために、保持体の上に移動可能に
取り付けられた試料ステージの移動範囲を大きくするこ
とが考えられる。
ところが、例えば試料の半径がUであるとすると、略こ
の全域を観察するためには試料を少なくとも距離Uだげ
移動できなければならないが、そのためには試料室側壁
から少なくとも2Uだげ離れた保持体上の位置を中心と
して試料ステージを移動させるためのレールを設けなけ
ればならず、前述したような大型試料に対しては試料室
が大型にならざるを得ない。
そこで従来においては、試料室を大型化することなく試
料の観察範囲をできるだけ広くするために、水平移動機
構内に回転機構を組込むことが行なわれている。
この場合回転機構の回転中心は試料の中心に一致させる
のが普通であり、そのため試料を回転することによる試
料の観察範囲は第1図a中二点鎖線aで示すように水平
移動による四角形の移動範囲すの外接円となり、その結
果水平移動による観察範囲すに比べて斜線で示す領域が
増大するにとどまり、さほどの観察範囲の拡大を期待す
ることができない。
尚、同図中1は試料、0は試料10回転中心(又は試料
中心)である。
ところで観察範囲の大巾な増大をはかるために、回転機
構の回転中心を第1図す中αで示すように試料中心Oか
ら距離δずら(偏心)して装填することが考えられる。
この場合における最大の観察範囲は同図中三点鎖線Cで
示すように回転中心αと水平移動による観察範囲の端a
′とを結ぶ距離Rを半径と−←た円となる。
しかし乍ら斯様な装置においては試料1に回転を与えた
際試料全体が偏心した状態で回転するため、試料10角
1′が同図中四点鎖線dで示すように非常に大きな円軌
跡を描くため、それだけ広いスペースを必要とし、試料
室が大型化する欠点を有している。
本発明は斯様な欠点を解決することを目的とするもので
、以下図面に基づき詳説する。
第2図は本発明の一実施例を示す平面断面図、第3図は
第2図のA−A断面図であり、2は試料室側壁である。
3は該側壁2に移動可能に貫通して取付けられた保持体
で、該保持体はその軸心が電子線光軸2と直交するよう
に配置されている。
該保持体の一端(真空側)には板状の突出部3aが設け
てあり、又他端(大気中)には雄ネジ部4が形成しであ
る。
5a、5bは前記突出部3a上に積重ねて配置された試
料ステージで、一方の試料ステージ5aはアリ6aを介
して前記突出部3a表面に形成されたアリ溝6b内に移
動可能に嵌合されており、又他方の試料ステージ5bは
アリアaを介して試料ステージ5a表面に形成されたア
リ溝7b内に移動可能に嵌合されている。
前記一方のアリ溝6bはY軸と平行に形成してあり、又
他方のアリ溝7bはアリ溝6bと直交する方向、つまり
Y軸と平行に形成されている。
前記試料ステージ5b表面の略中央部分には穴8が形成
してあり、該穴内には回転台9に設けた軸10が回転可
能に挿入されている。
該回転台9には試料11を保持した試料ホルダー12が
着脱可能に装填されており、又該回転台9の回転中心(
軸10の中心)0は試料11の中心と一致している。
更に該回転台9の外周にはウオーム歯車13が形成して
あり、該ウオーム歯車にはウオーム14が噛合っている
該ウオームは軸受15a、15bを介して試料ステージ
5bに回転可能に保持された軸16に固定されている。
該軸16は2つの自在継手17a及び17bを介して前
記保持体3に回転可能に保持された回転軸18に連結さ
れており、該回転軸18の他端は大気中に取出されて嫡
子19が設けである。
尚前記自在継手17aと17bとの間の軸は図示はしな
いが2重構造に構成され、回転軸18の回転がそのまま
軸16に伝達されると共に回転軸18と軸16との相対
的な移動を吸収できるように構成されている。
20は前記保持体3に螺合されたネジ棒で、該ネジ棒は
その軸心がY軸と平行になるように配置されており、そ
の一端は前記試料ステージ5bの側壁に当接され、又他
端は大気中に取出されて嫡子21が設けである。
尚該ネジ棒20と試料ステージ5bとの係合を常に維持
するために、保持体3と試料ステージ5bとの間に引張
バネ31が張架しである。
22は前記試料ステージ5b上に形成されたラックで、
該ラックはその長手方向がY軸と平行になるように配設
されており、又該ラックにはピニオン23が噛合ってい
る。
該ピニオン23は軸受24を介して試料ステージ5aに
回転可能に保持された軸25に固定されている。
該軸25は2つの自在継手26a及び25bを介して前
記保持体3に回転可能に保持された回転軸27に連結さ
れており、該回転軸27は大気中に取出されて嫡子28
が設けである。
尚、前記自在継手26aと26bとの;間の軸は前述し
た自在継手17a、17bと同様に2重軸に構成されて
いる。
29は前記保持体3に形成した雄ネジ部4に螺合された
回転体で、該回転体の側面は圧力差によって前記試料室
側壁2に当接している。
30a及び30bは前記保持体30回転を阻止するため
のキー及びキー溝である。
而して今、嫡子21を操作してネジ棒20を回転すると
該ネジ棒が第2図中左右に移動するため、試料ステージ
5aが同方向つまりX軸方向に移動する。
このとき試料ステージ5a上には試料ステージ5b、回
転台9及び試料ホルダー12を介して試料11が載置さ
れているため、試料11はX軸方向に移動する。
次に嫡子28を操作して回転軸21を回転させるとピニ
オン23が回転スルタめ、ラック22を介して試料ステ
ージ5bが試料ステージ5aに対して第2図中上下方向
に移動、つまり試料11がY軸方向に移動する。
従って嫡子21及び28を任意に操作することにより試
料11は任意方向に移動する。
一方嫡子19を操作して回転軸18を回転させると軸1
6及びウオーム14を介してウオーム歯車13が回転す
るため、試料11が試料中心(軸10)0を軸心にして
回転する。
更に回転体29を回転させると保持体3がX軸方向に移
動するため、回転中心(試料中心)0をX方向に試料ス
テージ5a、5bによる移動とは別個に移動させること
ができる。
以上の様な構成となせば、試料の回転軸と試料の中心と
一致させた状態で移動させることができるので、第1図
すで述べた欠点を解決することができる。
以下その理由を第4図に基づき詳説する。即ち観察範囲
の拡大をはかるために第1図すで述べたように回転中心
Oを距離δずらず、つまり回転体29を操作して回転中
心を0からαの位置まで移動させた場合、試料1全体が
点線eで示すように移動するため、試料中心と回転中心
とはずれることがない。
従ってこの状態忙おいて嫡子19を操作して試料を回転
させた場合、試料の角1′は円fで示すように偏心して
回転することなく試料中心を軸心として回転するため、
回転中心と試料中心とを偏心させた装置に比べて略同図
中斜線で示す部分だけスペースを狭(することができる
又、単に試料ステージの移動距離を大きくする場合に比
較すると、試料ステージが例えば1/2・Uだげしか移
動できなく、従って試料側壁から3/2・Uだげ離れた
保持体上の位置を中心として試料ステージを移動させる
ためのレールが設けられている場合にも、保持体を1/
2・Uだげ側壁から外側(大気側)に向けて移動できる
ようにしてお(ことにより、半径Uの試料の全域を観察
することができる。
従って、大型の試料を観察するための試料室を比較的小
型にすることができる。
尚前述の説明は本発明の例示であり、実施にあたっては
幾多の変形が考えられる。
例えば前述の説明では試料ステージを保持した保持体は
X軸方向に移動させるように構成したが、Y軸或いはY
軸及びY軸の両方向に移動するように構成してもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図a及びbは従来例を説明するための図、第2図は
本発明の一実施例を示す平面断面図、第3図は第2図の
A−A断面図、第4図は本発明の詳細な説明するための
図である。 ; 第2図及び第3図において、2は試料室側壁、3
は保持体、4は雄ネジ部、5a及び5bは試料ステージ
、8は穴、9は回転台、11は試料、12は試料ホルダ
ー、13はウオーム歯車、14はウオーム、15a、1
5b及び24は軸受、16及び25は軸、lra、17
b、26a及び26bは自在継手、18及び27は回転
軸、19゜21及び28は嫡子、22はラック、23は
ピニオン、29は回転体、31はスプリングである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 試料室側壁に光軸と垂直になるように挿入されて取
    り付けられた保持体と、該保持体の長手方向に一致した
    X方向及び該X方向及び光軸に垂直なY方向に移動可能
    なように該保持体に取り付けられた試料ステージと、該
    試料ステージに対してその回転中心を固定して取り付け
    られた回転台とを具備した装置におい又、該保持体のX
    方向の移動をガイドすると共に該保持体のX方向を軸と
    する回転を阻止するための手段と、該保持体の大気側に
    取り出された部分に設けられた回転体とを具備し、該回
    転体の回転量に応じ又該保持体が該X方向に移動するよ
    うに構成されていることを特徴とする走査電子顕微鏡等
    における試料移動装置。
JP11149078A 1978-09-11 1978-09-11 走査電子顕微鏡等における試料移動装置 Expired JPS5935503B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11149078A JPS5935503B2 (ja) 1978-09-11 1978-09-11 走査電子顕微鏡等における試料移動装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11149078A JPS5935503B2 (ja) 1978-09-11 1978-09-11 走査電子顕微鏡等における試料移動装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5537783A JPS5537783A (en) 1980-03-15
JPS5935503B2 true JPS5935503B2 (ja) 1984-08-29

Family

ID=14562580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11149078A Expired JPS5935503B2 (ja) 1978-09-11 1978-09-11 走査電子顕微鏡等における試料移動装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5935503B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5875747A (ja) * 1981-10-30 1983-05-07 Shimadzu Corp 荷電粒子線を用いた分析装置における試料装置
JPS6254926A (ja) * 1985-09-04 1987-03-10 Nippon Mining Co Ltd ゴニオメ−タ

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5537783A (en) 1980-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000021345A (ja) 走査型電子顕微鏡
JPH05225937A (ja) 材料試料を粒子−光学的に検査して処理する装置
JPS5935503B2 (ja) 走査電子顕微鏡等における試料移動装置
JP4826584B2 (ja) 並進旋回2自由度ステージ装置およびこれを用いた3自由度ステージ装置
JPS59146145A (ja) 試料移動装置
JPS583586B2 (ja) 走査形電子顕微鏡
JPH0413904A (ja) 走査型トンネル顕微鏡
JP2015208780A (ja) レーザ加工方法およびレーザ加工装置
US2440067A (en) Manipulator
JPS59196549A (ja) 電子線装置等用試料装置
JP2001004005A (ja) 多自由度機構
JP4037596B2 (ja) 荷電粒子ビーム装置
JP2001256912A (ja) 試料ホルダおよびそれが使用された試料移動装置並びに電子顕微鏡
JP3256895B2 (ja) 直動機構を持つ処理容器を備えた処理装置
JP3313530B2 (ja) ステージ移動機構
JPS606995Y2 (ja) 走査電子顕微鏡の試料装置
JPS6336925Y2 (ja)
JPS59214150A (ja) 電子線装置等用試料装置
JPS5952513B2 (ja) 走査形電子顕微鏡の試料微動装置
JPS5824009B2 (ja) 電子線露光装置
JPH0322846Y2 (ja)
JPS60130042A (ja) 大型試料用微動装置
JP2002319365A (ja) ステージ及びfib試料作成装置
JPH0227488Y2 (ja)
JP2018174118A (ja) 荷電粒子ビーム装置