JPS5932434B2 - Band-shaped silicon crystal production equipment - Google Patents

Band-shaped silicon crystal production equipment

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JPS5932434B2
JPS5932434B2 JP56145807A JP14580781A JPS5932434B2 JP S5932434 B2 JPS5932434 B2 JP S5932434B2 JP 56145807 A JP56145807 A JP 56145807A JP 14580781 A JP14580781 A JP 14580781A JP S5932434 B2 JPS5932434 B2 JP S5932434B2
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JP
Japan
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die
band
shaped silicon
heat
silicon crystal
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JP56145807A
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Japanese (ja)
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JPS5849690A (en
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俊幸 沢田
直明 真木
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/34Edge-defined film-fed crystal-growth using dies or slits

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、帯状シリコン結晶の製造装置に関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to an apparatus for manufacturing band-shaped silicon crystals.

帯状シリコン結晶は薄板状であるため、チョクラルスキ
ー法で得られたインゴット状のシリコン結晶とは異なり
、その得られた形状のままで半導体太陽電池の基板とし
て用いられる。
Since the band-shaped silicon crystal is in the form of a thin plate, unlike the ingot-shaped silicon crystal obtained by the Czochralski method, it can be used as a substrate for a semiconductor solar cell in its obtained shape.

従って、例えばチョクラルスキー法で得られるシリコン
結晶を半導体太陽電池の基板として用いるよりも安価に
なるという大きな特徴を有する。
Therefore, it has the great feature that it is cheaper than using, for example, silicon crystal obtained by the Czochralski method as a substrate for a semiconductor solar cell.

帯状シリコン結晶を成長させる炉内の構成例の模式図を
第1図に示す。
FIG. 1 shows a schematic diagram of an example of the configuration of a furnace for growing band-shaped silicon crystals.

この第1図は、シリコン融液11を収容する石英ガラス
製ルツボ12にカーボンで作られたスリット(間隙)を
有するキャピラリ・ダイ13(13a、13b)(以下
単にダイと言う)をその長手方向をルツボ12の長手方
向に平行に設置した状態を示す。
FIG. 1 shows a capillary die 13 (13a, 13b) (hereinafter simply referred to as die) having a slit (gap) made of carbon in a quartz glass crucible 12 containing a silicon melt 11 in its longitudinal direction. It shows a state in which the crucible 12 is installed parallel to the longitudinal direction of the crucible 12.

このダイ13の先端部は鋭く、ナイフェツジ状に加工さ
れている。
The tip of this die 13 is sharp and processed into a knife shape.

14は熱遮蔽板であって、これは融液11の熱輻射を上
記ダイ13の先端に到達するのを弱める役割をはだすも
ので、ダイ13の先端部を露出させる窓19があけられ
ている。
Reference numeral 14 denotes a heat shielding plate, which serves to weaken the thermal radiation of the melt 11 from reaching the tip of the die 13. A window 19 is opened to expose the tip of the die 13. There is.

ルツボ12は、カーボンで形成されたルツボホルダー1
5内に挿入されている。
The crucible 12 is a crucible holder 1 made of carbon.
It is inserted in 5.

このルツボホルダー15の外側には、一対の板状の抵抗
加熱ヒータ16(16a。
A pair of plate-shaped resistance heaters 16 (16a) are provided on the outside of the crucible holder 15.

16b)が設けられている。16b) is provided.

このヒータ16は上記ダイ13およびルツボホルダー1
5の長手方向に平行に設置され、かつ上下から交互に切
込み17が加工されてこれにより電気抵抗値を制御する
仕組みになっている。
This heater 16 is connected to the die 13 and the crucible holder 1.
5 is installed in parallel to the longitudinal direction, and cuts 17 are formed alternately from above and below, thereby controlling the electrical resistance value.

18はチャンバー側壁である。18 is a chamber side wall.

上記のように構成された成長装置の石英ルツボ12に多
結晶シリコンを入れ、ヒータ16の温度を約1500℃
に上昇させる。
Polycrystalline silicon is placed in the quartz crucible 12 of the growth apparatus configured as described above, and the temperature of the heater 16 is set to approximately 1500°C.
to rise to.

すると、多結晶シリコンはシリコン融液11となり、そ
してこのシリコン融液11が毛細管現象により、ダイ1
3の先端部まで上昇する。
Then, the polycrystalline silicon becomes a silicon melt 11, and this silicon melt 11 flows through the die 1 due to capillary action.
It rises to the tip of 3.

この上昇したシリコン融液11に上方から種子結晶(図
示せず)を接触させ、次に徐々に引き上げることにより
、帯状シリコン結晶を成長させることができる。
By bringing a seed crystal (not shown) into contact with the rising silicon melt 11 from above and then gradually pulling it up, a band-shaped silicon crystal can be grown.

本発明者は上述した成長装置において、帯状シリコン結
晶を成長させたところ、帯状シリコン結晶の両面にSi
0粒が付着し太陽電池用基板としては、不適当であった
When the present inventor grew a band-shaped silicon crystal using the above-mentioned growth apparatus, Si was deposited on both sides of the band-shaped silicon crystal.
0 particles adhered to the substrate, making it unsuitable as a substrate for solar cells.

また、ダイ13の一方の側に片寄って成長をしたり、十
分な幅の結晶が得られなかったりして、歩留りよ(幅の
広い長い帯状シリコン結晶を成長させることが困難であ
った。
In addition, the growth was biased toward one side of the die 13, and crystals of sufficient width could not be obtained, resulting in poor yield (it was difficult to grow long, wide band-shaped silicon crystals).

そこで、本発明は、帯状シリコン結晶の一方の表面には
、SiC粒付着が少なく、ダイのスリットと同等の断面
形状を有する帯状シリコン結晶を歩留りよ<(80%以
上)成長させることを可能にする帯状シリコン結晶の製
造装置を提供するものである。
Therefore, the present invention makes it possible to grow a band-shaped silicon crystal with a yield rate of 80% or more on one surface of the band-shaped silicon crystal, which has less SiC particles attached and has a cross-sectional shape equivalent to the slit of the die. The present invention provides an apparatus for producing band-shaped silicon crystals.

即ち本発明は、ヒータからの熱を結晶成長に有効に働か
せるように、ダイ固定板上に接してダイの長手方向に平
行に移動可能とした4個の温度調整部材、例えばカーボ
ン板で形成されたブロック(ヒートスクリーンと言う)
をダイの厚み方向の両側に2個ずつ設置することによっ
て、一方の表面には、Si0粒の少い、幅の広い帯状シ
リコン結晶を歩留りよく引き上けることを可能としたも
のである。
That is, the present invention includes four temperature adjusting members, such as carbon plates, which are in contact with the die fixing plate and movable in parallel to the longitudinal direction of the die so that the heat from the heater can be effectively used for crystal growth. block (called a heat screen)
By placing two of these on each side of the die in the thickness direction, it is possible to pull up a wide band-shaped silicon crystal with a small number of Si0 grains on one surface with a high yield.

以下、図面を参照して、本発明の詳細な説明する。Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第2図が本発明の一実施例の装置を示した正面図であり
、第3図は側方向の断面図、第4図はヒートスクリーン
の配置を示す平面図である。
FIG. 2 is a front view showing an apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a lateral sectional view, and FIG. 4 is a plan view showing the arrangement of a heat screen.

これらに図示したようにダイ長手方向に平行に4個のヒ
ートスクリーン22(22a、22b。
As shown in these figures, four heat screens 22 (22a, 22b) are arranged parallel to the longitudinal direction of the die.

22c、22d)が設置されている。22c, 22d) are installed.

ヒートスクリーン22は、いずれもダイ固定板24上に
刻まれた溝に沿って動くことが可能になっている。
Each of the heat screens 22 can move along grooves cut on the die fixing plate 24.

このヒートスクリーン22はヒータ16同様、グラファ
イト製である。
This heat screen 22, like the heater 16, is made of graphite.

これらのヒートスクリーン22はそれぞれ連結治具23
(23a、23b。
These heat screens 22 are connected to connecting jigs 23, respectively.
(23a, 23b.

23c、23d)によりチャンバー側壁を通じて炉の外
部でマイクロメータヘッド(図示してない)に連結され
、ヒートスクリーン22の移動はマイクロメータヘッド
の回転により行なわれ、移動方向はダイ13の長手方向
に平行である。
23c, 23d) are connected to a micrometer head (not shown) outside the furnace through the chamber side wall, and the movement of the heat screen 22 is performed by rotation of the micrometer head, and the direction of movement is parallel to the longitudinal direction of the die 13. It is.

ダイ上部の加熱は、ヒートスクリーン22がない状態の
ときは、ダイ固定板24からの伝導およびヒータ16か
らの輻射によって主に行なわれる。
Heating of the upper part of the die is mainly performed by conduction from the die fixing plate 24 and radiation from the heater 16 when the heat screen 22 is not provided.

ヒートスクリーン22を、ヒータ16からの輻射の一部
をさえぎるように動かして行くと、ダイ上部に達する熱
量が減少し、影になった部分は、相対的に低い温度にす
ることができる。
By moving the heat screen 22 so as to block part of the radiation from the heater 16, the amount of heat reaching the upper part of the die is reduced, and the temperature of the shaded area can be kept relatively low.

ヒートスクリーン22はダイ13の厚み方向の両側に2
個ずつ配置されており、それぞれ独立に動かすことが可
能である。
There are two heat screens 22 on both sides of the die 13 in the thickness direction.
They are arranged one by one and can be moved independently.

ルツボホルダー15は、ルツボ受1台25に支えられて
いる。
The crucible holder 15 is supported by one crucible holder 25.

第2図ではダイ13先端上部に成長した帯状シリコン結
晶26を示しである。
FIG. 2 shows a band-shaped silicon crystal 26 grown above the tip of the die 13. As shown in FIG.

以下、具体的な実験データを説明する。Specific experimental data will be explained below.

使用したダイ130幅は100關であり、4枚のヒート
スクリーン22の配置は、ダイ13の中心で交わる2枚
の鏡面による対称関係になるように動かすことが可能で
ある。
The width of the die 130 used was 100 mm, and the arrangement of the four heat screens 22 could be moved so that the two mirror surfaces intersecting at the center of the die 13 were symmetrical.

ヒートスクリーン22は、ダイ13に対して、十分に離
すことができ、この時、ダイ13の上部に達するヒータ
16からの熱輻射を全く妨げない位置に置(ことができ
る。
The heat screen 22 can be placed at a sufficient distance from the die 13, and at this time, it can be placed in a position that does not at all impede heat radiation from the heater 16 that reaches the top of the die 13.

まず、ダイ13の厚み方向の1方の側の2個のヒートス
クリーン22c 、22dは、熱輻射を遮蔽しない位置
に固定し、他方の側の2個のヒートスクリーン22a
、22bを動かしながら、結晶成長を行った。
First, the two heat screens 22c and 22d on one side in the thickness direction of the die 13 are fixed in a position where they do not block thermal radiation, and the two heat screens 22a on the other side are fixed.
, 22b was moved while crystal growth was performed.

ヒートスクリーン22a 、22bの位置(東ダイ13
の中心からの距離で表わし、位置の再現性は十分あるこ
とが確かめられた。
Position of heat screens 22a and 22b (Todai 13
It was confirmed that there was sufficient reproducibility of the position, expressed as the distance from the center.

第5図は、ダイ13の中心から、2枚のヒートスクリー
ン22a。
FIG. 5 shows two heat screens 22a from the center of the die 13.

22bの先端までの距離をそれぞれXvvrn 、 Y
lnmとしていることを表わした模式図であり、下表は
、とのX、Yの組合せと成長した帯状シリコン表面に付
着したSi0粒の個数、および帯状シリコンの最大幅を
示したものである。
The distance to the tip of 22b is Xvvrn, Y
The table below shows the combination of X and Y, the number of Si0 grains attached to the surface of the grown silicon band, and the maximum width of the silicon band.

この表から明らかなように、ヒートスクリーン22a
、22bを置きダイ13の厚さ方向に温度差を設けたこ
とによって、SiC個数を一方の側(熱遮蔽をしていな
い側)では、約1桁低減させることができた。
As is clear from this table, the heat screen 22a
, 22b and providing a temperature difference in the thickness direction of the die 13, it was possible to reduce the number of SiC by about one order of magnitude on one side (the side without heat shielding).

また、ヒートスクリーン22a。22bを適当な位置に
配置することによって、ダイ13の長手方向の温度分布
を補正する効果も得られ、帯状シリコン結晶の拡幅に寄
与した。
Also, a heat screen 22a. By arranging 22b at an appropriate position, the effect of correcting the temperature distribution in the longitudinal direction of the die 13 was also obtained, contributing to widening of the band-shaped silicon crystal.

しかしながら、幅1001mのダイに対して、約777
r111L以上に拡幅することが困難であった。
However, for a die with a width of 1001 m, approximately 777
It was difficult to widen the width beyond r111L.

そこで、ダイを挟んで反対側に離して固定してあった2
枚のヒートスクリーン22c 、22dもダイ13に近
付けてX二431Lm、Y=51關の位置におき、以前
から、使用していたヒートスクリーン22a。
Therefore, the die was fixed on the opposite side with two
The heat screens 22c and 22d were also placed close to the die 13 at the position of X2431Lm, Y=51, and the heat screen 22a that had been used previously.

22bは、X=26mm、Y二38關の位置に置いた時
、幅100mmのダイに対して最大限度の幅97關の帯
状シリコンを成長させることができた。
22b was able to grow a silicon band with a maximum width of 97 mm on a die with a width of 100 mm when placed at a position of X = 26 mm and Y2 38 mm.

この時のSiC個数は、少い側で約0.09個/dであ
った。
The number of SiC at this time was about 0.09 pieces/d on the small side.

次に、本実施例装置を用いて製造した帯状シリコン結晶
と従来の装置で製造した結晶とを用いて、太陽電池を作
成し、その性能比較を行った。
Next, a solar cell was created using a band-shaped silicon crystal manufactured using the apparatus of this embodiment and a crystal manufactured using a conventional apparatus, and their performances were compared.

前者の結晶は、SiC粒付着の少い側の面にpn設合を
作り受光面とした。
In the former crystal, a pn junction was formed on the side to which less SiC grains were attached, and this was used as a light-receiving surface.

その結果、太陽電池変換効率で比較して、前者の方が後
者より、約30〜50係優れていることが判明した。
As a result, it was found that the former was superior to the latter by about 30 to 50 times in terms of solar cell conversion efficiency.

また、厚手の帯状シリコン結晶(〜Q、 8*yn )
には、従来、厚みを2分する不規則粒界が、時おり見ら
れたが、ダイの厚み方向に温度差を設けた本実施例装置
によって、この不規則粒界は消失し、結晶性の向上も確
認された。
In addition, thick band-shaped silicon crystal (~Q, 8*yn)
Conventionally, irregular grain boundaries that bisect the thickness were occasionally observed, but with the device of this embodiment, which created a temperature difference in the thickness direction of the die, these irregular grain boundaries disappeared and the crystallinity improved. An improvement was also confirmed.

特に高速引上げを行う場合、良結晶性を維持する必要が
あり、本実施例装置は有効に機能することが考えられる
In particular, when high-speed pulling is performed, it is necessary to maintain good crystallinity, and the apparatus of this embodiment is considered to function effectively.

以上、説明したように、本発明によれば、ダイ上部に、
ヒータからの熱輻射を制御する4個の温度調整部材を設
置することにより、ダイの厚み方向に温度勾配を設定す
ることが可能となり、帯状シリコン結晶に付着するSi
C粒を、太陽電池の変換効率改善に不可欠である、一方
の面において、著しく低下させることができた。
As explained above, according to the present invention, at the top of the die,
By installing four temperature adjustment members that control heat radiation from the heater, it is possible to set a temperature gradient in the thickness direction of the die, and the Si attached to the band-shaped silicon crystal can be
In one aspect, C grains, which are essential for improving the conversion efficiency of solar cells, were able to be significantly reduced.

また、ダイの幅方向の温度分布の補正にも効果があり、
幅の広い結晶を成長させることもできるようになった。
It is also effective in correcting the temperature distribution in the width direction of the die.
It is now possible to grow wide crystals.

同様の効果を補助ヒータを用いて電気的に行う場合に比
べて、新たな電源部が不要の上に、制御機構が比較的簡
単であるために、成長装置が小型化できる利点もある。
Compared to the case where the same effect is achieved electrically using an auxiliary heater, there is an advantage that a new power source is not required and the control mechanism is relatively simple, so that the growth apparatus can be made smaller.

従って、本発明装置は幅の広い、結晶性の良好な帯状シ
リコン結晶を歩留りよく、しかもより安価に製造するこ
とが可能となり、太陽電池の低コスト化に太き(寄与す
る。
Therefore, the apparatus of the present invention makes it possible to produce wide band-shaped silicon crystals with good crystallinity at a high yield and at a lower cost, thereby significantly contributing to cost reduction of solar cells.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、帯状シリコン結晶を成長させる従来の装置を
示す炉内平面の模式図、第2図と第3図は、第1図の装
置にヒートスクリーンを組み込んだ本発明の一実施例の
炉内正面図と側方向からの断面図、第4図は、同じくヒ
ートスクリーンの配置を示す平面図、第5図はヒートス
クリーンの位置の定め方を示す図である。 11・・・・・・シリコン融液、12・・・・・・石英
ガラス製ルツボ、13a、13b・・・・・・ダイ、1
4・・・・・・熱遮蔽板、15・・・・・・ルツボホル
ダー、16a、16b・・・・・・抵抗加熱ヒータ、1
7・・・・・・切込み、18・・・・・・チャンバー側
壁、19・・・・・・窓、22a 、22b 。 22c 、22d・・・・・・ヒートスクリーン(温度
調整部材)、23a 、23b 、23c 、23d−
−−−−一連結治具、24・・・・・・ダイ固定板、2
5・・・・・・ルツボ受は台、26・・・・・・帯状シ
リコン結晶。
FIG. 1 is a schematic plan view of the inside of a furnace showing a conventional apparatus for growing band-shaped silicon crystals, and FIGS. 2 and 3 show an embodiment of the present invention in which a heat screen is incorporated into the apparatus of FIG. 1. A front view of the inside of the furnace and a sectional view from the side, FIG. 4 is a plan view showing the arrangement of the heat screen, and FIG. 5 is a diagram showing how to determine the position of the heat screen. 11... Silicon melt, 12... Quartz glass crucible, 13a, 13b... Die, 1
4... Heat shielding plate, 15... Crucible holder, 16a, 16b... Resistance heater, 1
7...notch, 18...chamber side wall, 19...window, 22a, 22b. 22c, 22d...Heat screen (temperature adjustment member), 23a, 23b, 23c, 23d-
-----Series tying jig, 24...Die fixing plate, 2
5... Crucible support is a stand, 26... Band-shaped silicon crystal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 ヒータにより融解したシリコン融液な収納したルツ
ボにスリットを有するキャピラリ・ダイを配し、前記ス
リットを介して上昇した融液に種子結晶を接触させ、こ
の種子結晶を引上げることにより帯状シリコン結晶を引
上げる抵抗加熱型引上げ装置において、前記ルツボ上部
に前記ダイを固定する固定板および一定空間を設けて更
に上に前記ダイの先端部が露出する窓を有する熱遮蔽板
を有し、前記ダイ固定板上に接して前記ダイの長手方向
に平行に移動可能としヒータからの輻射熱の一部をさえ
ぎる4個のヒートスクリーンを前記ダイの厚み方向の両
側に2個ずつ配置したことを特徴とする帯状シリコン結
晶の製造装置。 2 ヒートスクリーンはカーボン製ブロックである特許
請求の範囲第1項記載の帯状シリコン結晶の製造装置。
[Scope of Claims] 1. A capillary die having a slit is arranged in a crucible containing silicon melt melted by a heater, a seed crystal is brought into contact with the melt rising through the slit, and the seed crystal is pulled. In a resistance heating type pulling device for pulling a band-shaped silicon crystal by lifting the crucible, a fixing plate for fixing the die above the crucible and a heat shielding plate having a fixed space and a window above which the tip of the die is exposed. four heat screens, two of which are arranged on each side of the die in the thickness direction, which are in contact with the die fixing plate and movable in parallel to the longitudinal direction of the die, and which block part of the radiant heat from the heater. An apparatus for producing band-shaped silicon crystals, which is characterized by: 2. The apparatus for manufacturing a band-shaped silicon crystal according to claim 1, wherein the heat screen is a carbon block.
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