JPS5950636B2 - Band-shaped silicon crystal manufacturing equipment - Google Patents

Band-shaped silicon crystal manufacturing equipment

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JPS5950636B2
JPS5950636B2 JP9058082A JP9058082A JPS5950636B2 JP S5950636 B2 JPS5950636 B2 JP S5950636B2 JP 9058082 A JP9058082 A JP 9058082A JP 9058082 A JP9058082 A JP 9058082A JP S5950636 B2 JPS5950636 B2 JP S5950636B2
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band
crystal
silicon crystal
die
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JP9058082A
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俊幸 沢田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/34Edge-defined film-fed crystal-growth using dies or slits

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、帯状シリコン結晶製造装置の改良に関する。[Detailed description of the invention] [Technical field of invention] TECHNICAL FIELD The present invention relates to an improvement in an apparatus for producing band-shaped silicon crystals.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

帯状シリコン結晶は薄板状であるため、チョクラルスキ
ー法で得られたインゴット状のシリコン結晶とは異なり
、その得られた形状のままで半導体太陽電池の基板とし
て用いられる。
Since the band-shaped silicon crystal is in the form of a thin plate, unlike the ingot-shaped silicon crystal obtained by the Czochralski method, it can be used as a substrate for a semiconductor solar cell in its obtained shape.

従って、例えばチョクラルスキー法で得られるシリコン
結晶を半導体太陽電池の基板として用いるよりも安価に
なるという大きな特徴を有する。
Therefore, it has the great feature that it is cheaper than using, for example, silicon crystal obtained by the Czochralski method as a substrate for a semiconductor solar cell.

帯状シリコン結晶を成長させる炉内の構成の断面図を第
1図に示す。
FIG. 1 shows a cross-sectional view of the interior of the furnace for growing band-shaped silicon crystals.

この第1図は、シリコン融液11を収容する石英ガラス
製ルツボ12にカーボンで作られたスリット (間隙)
を有するキャピラリ・ダイ13 (13a、13b)
(以下単ニグイと言う)をその長辺方向をルツボ1
3の長辺方向に平行に設置した状態を示す。
This figure 1 shows a slit (gap) made of carbon in a quartz glass crucible 12 that houses a silicon melt 11.
Capillary die 13 (13a, 13b) with
(hereinafter referred to as single nigui) with its long side as crucible 1
3 is shown installed parallel to the long side direction.

このダイ13の先端部は鋭く、ナイフェツジ状に加工さ
れており、また、これらのダイ13は支持板14に強く
固定されており、さらに熱遮蔽板15に強く固定されて
いる。
The tips of the dies 13 are sharp and processed into a knife shape, and these dies 13 are strongly fixed to a support plate 14 and further to a heat shield plate 15.

この熱遮蔽板15は融液11の熱輻射が上記ダイ13の
先端に到達することを弱める役割をはなすもので、ダイ
13の先端部を露出させる窓があけられている。
This heat shielding plate 15 serves to weaken the thermal radiation of the melt 11 from reaching the tip of the die 13, and has a window that exposes the tip of the die 13.

ルツボ12は、カーボンで形成されたルツボホルダー1
6内に挿入されている。
The crucible 12 is a crucible holder 1 made of carbon.
It is inserted in 6.

このルツボホルダー16の外側には、一対の板状ノヒー
タ17 (17a、17b)が設けられている。
A pair of plate-shaped heaters 17 (17a, 17b) are provided on the outside of the crucible holder 16.

このヒータ17は上記ダイ13およびルツボホルダー1
6の長手方向に平行に設置され、かつ上下から交互に切
込みが加工されて、これにより電気抵抗値を制御する仕
組みになっている。
This heater 17 is connected to the die 13 and the crucible holder 1.
6 is installed parallel to the longitudinal direction, and cuts are made alternately from the top and bottom, thereby controlling the electrical resistance value.

なお、図中18は帯状シリコン結晶を示している。Note that 18 in the figure indicates a band-shaped silicon crystal.

また、第2図は、前記第1図に示した装置を上方から見
た図であり、19 (19a、19b)はチャンバH
則壁を示している。
Further, FIG. 2 is a view of the apparatus shown in FIG. 1 from above, and 19 (19a, 19b) is a chamber H.
It shows a regular wall.

上記のように構成された帯状シリコン結晶製造装置の石
英ルツボ12に多結晶シリコンを入れ、ヒータ17の温
度を約1500 〔℃)に上昇させる。
Polycrystalline silicon is put into the quartz crucible 12 of the belt-shaped silicon crystal production apparatus constructed as described above, and the temperature of the heater 17 is raised to about 1500 [° C.].

すると、多結晶シリコンはシリコン融液11となり、こ
のシリコン融液11が毛細管現象により、ダイ13の先
端部まで上昇する。
Then, the polycrystalline silicon becomes a silicon melt 11, and this silicon melt 11 rises to the tip of the die 13 due to capillary action.

この上昇したシリコン融液11に上方から種子結晶(図
示せず)を接触させ、種子結晶を除徐に引き上げること
により、帯状シリコン結晶を成長させることができ。
By bringing a seed crystal (not shown) into contact with the rising silicon melt 11 from above and gradually pulling up the seed crystal, a band-shaped silicon crystal can be grown.

る。Ru.

ところが、この種の装置にあっては結晶の成長速度が遅
いと云う問題がある。
However, this type of apparatus has a problem in that the crystal growth rate is slow.

実際に本発明者が前記第1図に示した装置を用い帯状シ
リコン結晶を成長させたところ、その形状としては幅1
00、〔mm〕、厚さ0. 5 (mm)の結晶が得ら
れたが、引上成長度は、15 〔mm/分〕を超えるこ
とができなかった。
When the present inventor actually grew a band-shaped silicon crystal using the apparatus shown in FIG.
00, [mm], thickness 0. 5 (mm) of crystals were obtained, but the pulling growth rate could not exceed 15 (mm/min).

太陽電池用基板のコストダウンを目指すとき、単位時間
当りの結晶成長量を上げることは重要な手段であり、結
晶拡幅が100 (mm)にも達1した現在、引上成長
速度の増大が要望されている。
When aiming to reduce the cost of solar cell substrates, increasing the amount of crystal growth per unit time is an important means, and now that the crystal width has reached 100 (mm)1, there is a demand for increasing the pulling growth rate. has been done.

一方、結晶の引上成長速度の増大をはかるものとして、
帯状シリコン結晶に直接ガスを吹きつけて冷却、或いは
帯状シリコン結晶を金属ブロック。
On the other hand, as a means of increasing the pulling growth rate of crystals,
Cool the band-shaped silicon crystal by blowing gas directly on it, or place the band-shaped silicon crystal in a metal block.

で冷却し、ダイ上の温度勾配を大きくする手法が試みら
れている。
Attempts have been made to increase the temperature gradient over the die.

しかしながら、前者にあっては冷却温度の制御が極めて
困難であり、また後者にあっては冷却効率が悪い等の問
題があった。
However, in the former case, it is extremely difficult to control the cooling temperature, and in the latter case, there are problems such as poor cooling efficiency.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、帯状シリコン結晶の引上成長速度を上
げて、単位時間当りの結晶成長量を増大させることがで
き、かつ製造歩留りの向上をはかり得る帯状シリコン結
晶製造装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an apparatus for producing a silicon crystal band, which can increase the pulling growth rate of the silicon crystal band, increase the amount of crystal growth per unit time, and improve the manufacturing yield. be.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明の骨子は、ダイ、スリット上の温度勾配をいかに
して大きくし、かつその温度制御性を良くするかと云う
ことにある。
The gist of the present invention is how to increase the temperature gradient on the die and slit and improve the temperature controllability.

ヒータ、シリコン融液等が収納されている熱遮蔽板下の
部分の温度は1500〔℃〕以上になる。
The temperature of the area under the heat shield plate where the heater, silicon melt, etc. are housed is 1500 [°C] or more.

ダイ、スリット上端部ではシリコンは融液である必要が
あり約1420 [’C)以上に保たれねばならない。
At the upper end of the die and slit, the silicon must be in a molten state and must be maintained at a temperature of about 1420 ['C] or higher.

直かつ、ダイ先端上部で大きな温度勾配をとるためには
、熱遮蔽板上へ流れ出る熱を最少限に押えることが必要
である。
In order to obtain a large temperature gradient directly above the die tip, it is necessary to minimize the heat flowing onto the heat shield plate.

しかも、結晶引き上げの制御を行なうためには、固液界
面が見えねばならず、熱遮蔽板をむやみに厚くすること
は許されない。
Moreover, in order to control crystal pulling, the solid-liquid interface must be visible, and it is not permissible to make the heat shield plate unnecessarily thick.

本発明はこのような点に着目し、ルツボ内に収容され加
熱溶融されたシリコン融液にスリットを有するキャピラ
リ、ダイの一端を浸漬し、このキャピラリ、ダイのスリ
ットを介して上昇したシリコン融液に種子結晶を接触さ
せ、この種子結晶を引き上げることにより帯状シリコン
結晶を成長形成せしめる帯状シリコン結晶製造装置にお
いて、前記ルツボの上部に設けられた熱遮蔽板上に前記
キャピラリ、ダイの上端近傍に凸部を有する受板を配置
すると共に、この受板上に前記シリコン融液の固液界面
より上方部を冷却するガス冷却ブロックを配置するよう
にしたものである。
The present invention focuses on such points, and one end of a capillary and a die having a slit is immersed in a heated and melted silicon melt housed in a crucible, and the silicon melt rises through the slit of the capillary and die. In an apparatus for producing band-shaped silicon crystals, which grows and forms band-shaped silicon crystals by bringing a seed crystal into contact with a seed crystal and pulling up the seed crystal, the capillary is placed on a heat shielding plate provided at the top of the crucible, and a protrusion near the upper end of the die is formed. A receiving plate having a section is disposed, and a gas cooling block for cooling a portion above the solid-liquid interface of the silicon melt is disposed on the receiving plate.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、熱遮蔽板の下部の高温部に対しては保
温効果があるために、従来以上の加熱電力は不要である
According to the present invention, since there is a heat retention effect on the high-temperature portion at the bottom of the heat shielding plate, no more heating power than before is required.

しかも、ガスを受板上のダイ先端近傍の凸部方向に吹く
ので、帯状シリコン結晶のより近傍までも冷却効果が発
揮される。
Moreover, since the gas is blown in the direction of the protrusion near the tip of the die on the receiving plate, the cooling effect can be exerted even closer to the band-shaped silicon crystal.

この結果、従来、15 (mm/分〕以上に上がらなか
った引上成長速度が30 Cmm/分〕に達し、単位時
間当りの結晶成長量を大幅に上げることが可能となった
As a result, the pulling growth rate, which conventionally could not exceed 15 mm/min, reached 30 cm/min, making it possible to significantly increase the amount of crystal growth per unit time.

また、帯状シリコン結晶に冷却ガスを直接吹きつけるの
ではなく、上記凸部を有する受板により結晶冷却に供さ
れる冷却ガスの流量および方向を規制しているので、温
度制御が比較的容易であり、均一性良い冷却が可能であ
る。
In addition, rather than directly blowing cooling gas onto the band-shaped silicon crystal, the flow rate and direction of the cooling gas used for crystal cooling is regulated by the receiving plate having the convex portion, making temperature control relatively easy. This allows for highly uniform cooling.

したがって、製造歩留りの向上をもはかり得る。Therefore, manufacturing yield can also be improved.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第3図は本発明の一実施例に係わる帯状シリコン結晶製
造装置を示す概略断面図であり、第4図は上記装置を上
方から見た平面図である。
FIG. 3 is a schematic sectional view showing a band-shaped silicon crystal manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a plan view of the apparatus as viewed from above.

なお、第1図および第2図と同一部分には同一符号を付
して、その詳しい説明は省略する。
Note that the same parts as in FIGS. 1 and 2 are given the same reference numerals, and detailed explanation thereof will be omitted.

この実施例が従来装置と異なる点は、前記熱遮蔽板15
の上に受板20を置き、この受板20の上にガス冷却ブ
ロック21 (21a、21b)を配設したことにあ
る。
This embodiment differs from the conventional device in that the heat shield plate 15
A receiving plate 20 is placed on the receiving plate 20, and a gas cooling block 21 (21a, 21b) is arranged on this receiving plate 20.

冷却ブロック21には、水冷パイプ22(22a、22
b)が溶接されている。
The cooling block 21 includes water cooling pipes 22 (22a, 22
b) is welded.

受板20は厚さ3 (mm)のカーボン材からなり、
ダイ先端部に近接した部分は、ダイのティパ一部に平行
に成形された凸部となっており、ダイ先端壁面との距離
は約1. 5 (mm〕である。
The receiving plate 20 is made of carbon material with a thickness of 3 (mm),
The part close to the die tip is a convex part formed parallel to a part of the tipper of the die, and the distance from the die tip wall surface is about 1. 5 (mm).

この凸部は、ダイ先端部と同じ高さになるように成形さ
れている。
This convex portion is formed to have the same height as the die tip.

ガス冷却ブロック21は、肉厚2 Cmm)のステンレ
スで作られており、一方の面は、斜め下方に25個の噴
出口23 (23a、23b)が加工され、対向する
面には、ガスを導入するためのパイプ24 (24a
、24b)が付設されてν・る。
The gas cooling block 21 is made of stainless steel with a wall thickness of 2 cm, and one side has 25 jet ports 23 (23a, 23b) diagonally downward, and the opposite side has a gas outlet. Pipe 24 (24a
, 24b) are attached to ν·ru.

このガス冷却フ七ツク21の受板20と反対側の面には
、水を循環させるための水冷パイプ22が溶接されてお
り、この水冷パイプ22およびガス導入パイプ24は、
チャンバH則壁19内側で連結され、取りはずしが容易
にできる構造になっている。
A water-cooling pipe 22 for circulating water is welded to the opposite side of the gas-cooling hook 21 from the receiving plate 20, and the water-cooling pipe 22 and the gas introduction pipe 24 are
They are connected inside the chamber H-shaped wall 19 and have a structure that allows for easy removal.

このように構成された装置を用い熱遮蔽板15の上部冷
却機構にArガスを20[1/分〕、冷却水を5 〔1
/分〕で流して、ダイ直上部の温度測定を行った。
Using the device configured as described above, Ar gas was supplied to the upper cooling mechanism of the heat shield plate 15 at a rate of 20 [1/min], and cooling water was supplied at a rate of 5 [1/min].
/minute] and the temperature was measured directly above the die.

熱電対として白金−白金・ロジウム13〔%〕を用いた
結果、ダイ直上雰囲気温度は、約900〔℃〕であった
As a result of using platinum-platinum-rhodium 13 [%] as a thermocouple, the ambient temperature directly above the die was about 900 [°C].

これは、熱遮蔽板15の上部冷却機構を付ける以前の同
位置での測定値約1200〔℃〕より、大幅に低い温度
である。
This temperature is significantly lower than the measured value of about 1200 [° C.] at the same position before the upper cooling mechanism of the heat shield plate 15 was installed.

従って、引上成長速度の上昇が期待される。Therefore, an increase in the pulling growth rate is expected.

次に、種子結晶をダイ上端部シリコン融液に接触させ、
帯状シリコン結晶を成長させた。
Next, the seed crystal is brought into contact with the silicon melt at the upper end of the die,
A band-shaped silicon crystal was grown.

このとき、種子対は時点の電力は、種子自身がより冷却
されたために、幾分余分に必要であったが、定常状態に
なった時点では従来以上の電力は不要であった。
At this time, the seed pair needed a little more power because the seeds themselves were cooled down more, but when the steady state was reached, no more power than before was needed.

引上成長速度は、幅100 (mm、l、厚さ0. 5
(mm)の帯状シリコン結晶で最高34 (mm/m/
分速し、定常的に30 (mm/m/分速能であった。
The pulling growth rate is as follows: Width 100 (mm, l, thickness 0.5
(mm) band-shaped silicon crystal up to 34 (mm/m/
The speed was constantly 30 mm/m/min.

これは、引上成長速度において従来より約2.3倍上が
ったことになり、従って単位時間当りの結晶成長量もこ
の分だけ増加させることができた。
This means that the pulling growth rate has increased by about 2.3 times compared to the conventional method, and therefore, the amount of crystal growth per unit time can also be increased by this amount.

温度勾配がより急峻になったために、温度の変動による
固化の発生確率はより小さくなり、成長の制御はより楽
になった。
Because the temperature gradient was steeper, the probability of solidification occurring due to temperature fluctuations was smaller, and growth was easier to control.

また、熱遮蔽板15の上部冷却機構を設置したことによ
る帯状シリコンの基板としての性能低下は見られなかっ
た。
Moreover, no deterioration in the performance of the silicon strip as a substrate due to the installation of the upper cooling mechanism of the heat shield plate 15 was observed.

帯状シリコン結晶は、主に太陽電池用に開発されたもの
であり、°ある程度の品質向上が実現された現在、その
コストダウンを目指すことは必然的な方向であり、引上
成長速度の改善が期待されている。
Band-shaped silicon crystals were mainly developed for use in solar cells, and now that a certain degree of quality improvement has been achieved, it is inevitable to aim for cost reduction, and improvement of the pulling growth rate is also necessary. It is expected.

従って、本実施例は、省資源、省エネルギーの利益とも
併わせて、広範囲の応用が期待される。
Therefore, this embodiment is expected to have a wide range of applications in addition to the benefits of resource saving and energy saving.

なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above.

例えば、前記熱遮蔽板上に置く受板は、カーボン材以外
の耐熱性があり、シリコン蒸気に対して不活性であり、
かつ放射率のより小さいモリブチ゛ンでもよい。
For example, the receiving plate placed on the heat shielding plate is made of a material other than carbon that is heat resistant and is inert to silicon vapor,
In addition, molybutton, which has a lower emissivity, may also be used.

また、前記受板は1枚である必要はなく、保温性の点か
ら2枚以上重ねて用いるようにしてもよい。
Further, the number of the receiving plates does not need to be one, and two or more may be used in a stacked manner from the viewpoint of heat retention.

さらに、前記ガス冷却ブロックの材質はステンレスに限
らず上記のモリブチ゛ンでも差し支えなく、ガス流を効
果的に流すためにブロック内部に仕切りを設けること、
ガス導入バイア°を複数にすること或いはガス噴出口の
径、数、方向等を適宜変化させることも可能である。
Furthermore, the material of the gas cooling block is not limited to stainless steel, but may also be the above-mentioned molybutton, and a partition may be provided inside the block to allow the gas to flow effectively;
It is also possible to provide a plurality of gas introduction vias or to change the diameter, number, direction, etc. of the gas ejection ports as appropriate.

ただし、コストや加工制度等を考えるとき、前述の実施
例材料はより良い組合せである。
However, when considering cost, processing system, etc., the above-mentioned example materials are a better combination.

その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形し
て実施することができる。
In addition, various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の帯状シリコン結晶製造装置を示す概略断
面図、第2図は上記従来装置を上方からみた平面図、第
3図は本発明の一実施例を示す概略断面図、第4図は上
記実施例装置を上方から見た平面図である。 11・・・シリコン融液、12・・・ルツボ、13・・
・キャピラリ・ダイ、15・・・熱遮蔽板、17a、1
7b・・・ヒータ、20・・・受板、21a、21b・
・・ガス冷却ブロック、22a、22b・・・水冷パイ
プ、23a、23b・・・ガス噴出口、24a、24b
−・・ガス導入バイア。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a conventional belt-shaped silicon crystal production apparatus, FIG. 2 is a plan view of the conventional apparatus seen from above, FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 2 is a plan view of the above-mentioned embodiment device viewed from above. 11... Silicon melt, 12... Crucible, 13...
・Capillary die, 15... Heat shield plate, 17a, 1
7b... Heater, 20... Receiving plate, 21a, 21b.
...Gas cooling block, 22a, 22b...Water cooling pipe, 23a, 23b...Gas outlet, 24a, 24b
−・Gas introduction via.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 ルツボ内に収容され加熱溶融されたシリコン融液に
スリットを有するキャピラリ・ダイの一端を浸漬し、こ
のキャピラリ・ダイのスリットを介して上昇したシリコ
ン融液に種子結晶を接触させ、この種子結晶を引き上げ
ることにより帯状シリコン結晶を成長形成せしめる帯状
シリコン結晶製造装置において、前記ルツボの上部に設
けられた熱遮蔽板上に前記キャピラリ・ダイの上端近傍
に凸部を有する受板を配置すると共に、この受板上にガ
ス冷却ブロックを配置してなり、上記ガス冷却ブロック
は前記シリコン融液の固液界面より上方部を冷却するも
のであることを特徴とする帯状シリコン結晶製造装置。 2 前記ガス冷却ブロックは、その周面に冷却水の循環
パイプを取着されたものであることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の帯状シリコン結晶製造装置。 3 前記受板は、カーボン或いはモリブデンからなるも
のであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
帯状シリコン結晶製造装置。 4 前記ガス冷却ブロックは、ステンレス或いはモリブ
チ゛ンからなり、前記受板面に対し斜め下方に吹き出す
ガス噴出口を有するものであることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の帯状シリコン結晶製造装置。
[Claims] 1. One end of a capillary die having a slit is immersed in a heated and melted silicon melt housed in a crucible, and a seed crystal is placed in the silicon melt rising through the slit of the capillary die. In an apparatus for producing a band-shaped silicon crystal in which a band-shaped silicon crystal is grown and formed by bringing the seed crystal into contact with the seed crystal and pulling up the seed crystal, a receiver having a convex portion near the upper end of the capillary die is provided on a heat shielding plate provided on the upper part of the crucible. A band-shaped silicon crystal comprising a plate and a gas cooling block disposed on the receiving plate, the gas cooling block cooling a portion above the solid-liquid interface of the silicon melt. Manufacturing equipment. 2. The belt-shaped silicon crystal manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the gas cooling block has a cooling water circulation pipe attached to its peripheral surface. 3. The belt-shaped silicon crystal manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the receiving plate is made of carbon or molybdenum. 4. The belt-shaped silicon crystal manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the gas cooling block is made of stainless steel or molybutton and has a gas outlet that blows out diagonally downward with respect to the receiving plate surface. .
JP9058082A 1982-05-28 1982-05-28 Band-shaped silicon crystal manufacturing equipment Expired JPS5950636B2 (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6232743U (en) * 1985-08-09 1987-02-26
JPH0261543U (en) * 1988-10-25 1990-05-08
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