JPS5932024A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPS5932024A
JPS5932024A JP57141512A JP14151282A JPS5932024A JP S5932024 A JPS5932024 A JP S5932024A JP 57141512 A JP57141512 A JP 57141512A JP 14151282 A JP14151282 A JP 14151282A JP S5932024 A JPS5932024 A JP S5932024A
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JP
Japan
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voltage
level
circuit
power supply
integrated circuit
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Application number
JP57141512A
Other languages
English (en)
Inventor
Mamoru Sugie
杉江 衛
Takashi Toyooka
孝資 豊岡
Hirokazu Aoki
郭和 青木
Kazutoshi Yoshida
和俊 吉田
Shinsaku Chiba
千葉 真作
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H03K17/223Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches

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  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の対象 本発明は、半導体集積回路に関し、特に停電や電源の立
上りが遅いときにも、リセット信号を確実に発生するこ
とができる半導体集積回路に関するものである。
従来技術 磁気バブル・メモリは、高記憶密度、不揮発性、低消費
電力等の種々の利点を有することから、注目されて実用
化が図られている。ところで、磁気バブル・メモリは停
電事故や電源と切6離された場合にも、不揮発性を保持
しなければならない。
しかし、磁気バブル・メモリには、通常バフル・メモリ
・コントローラのようにメモリを制御してこれを駆動す
る電子回路が接続されており、停電時等にこれらのコン
トロール回路が暴走することがあると、バブル・メモリ
の不揮発性は必ずしも保持されない。すなわち、停電に
なると、コントロール回路は電源電圧が一定レベル以下
になったことを検出して、処理を行うが、電源’itt
圧が0ボルトまで低下することなく、途中の電圧から回
復した場合等には、パワーオン・リセット回路が動作せ
ず、コントロール回路は正しい起動ができないことにな
る。
これは、磁気バブル・メモリに限らず、停電時の異常動
作を防止する必要がある装置で、かつシーケンス制御を
行うすべての電子回路に対して生ずる問題である。
例えば、マイクロコンピュータ等の半導体集積回路にお
いては、従来、第11ffl(a)に示すように、電源
1から高抵抗2を介してコンデンサ3に常時光’iQ 
′iQ流を供給し、大刀ビン凸を介して、コンデンサ3
の端子電圧を集積回路10に印加している。
ダイオード4は、コンデンサ3の充電電圧と電源電圧を
同一レベルにするためのものである。集積回路1o内で
は、論理ゲートあるいはシュミット・トリガ6を設け、
印加電圧が一定レベル以下になったとき、リセット信号
(RESET)を発生させて、集積回路10の誤動作を
防止している。
シュミット・トリガ6は、第1図(b)に示すようなS
字曲線(ヒステリシス曲線)で動作する2安定回路であ
って、入力電圧Vが■、に達するまで出力電圧V。は低
レベルVLテあり、入力[IEVがvl  を越えると
出方電圧V。は急激に高レベルVHに転移する。また最
初大刀電圧Vが■1  以上にあると、V2  に至る
までは出力電圧V。は高レベル■、にあり、V2  を
越えると出方電圧V。は急激に低レベルVL に転移す
る。
したがって、第1図(c)に示すように、投入された電
源電圧VがVl  に達したとき、出力電圧V。
を高レベルVHの電圧とし、また電源電圧Vが異常に低
下して■2  に達したとき出方電圧v0  を低レベ
ルVLの電圧にし、それぞれリセット信号を発生するこ
とができる。
しかし)第1図(a)のリセット信号発生回路では、入
力電圧として高抵抗2とコンデンサ凸からなるCR遅延
回路で電源1の電圧の立上りまたは立下りを遅らせた信
号を用いているため、電源投入時の電源の立上りがCR
時定数よりも遅い場合、あるいは電源の異常低下による
立下りがCR時定数よりも遅い場合、入力ピン5におけ
るレベルが電i17!電圧に等しいため、それが受信a
m埋回路の閾値レベルに達したときには、すでに集積回
路lo内の論理り路は正常動作をしておらず、リセット
信号を正常に発生できなくなっていることが多い。
一方、従来の論理回路では、電源電圧が異常に低下した
とき、または電源と切り離されたとき、その直前の論理
回路の状態を記憶しておき、正常電圧回復時に、その記
憶しておいた論理状態に応じて論理動作を開始させる回
路が提案されている(特開昭50−119534号公報
参照)。 この回路は、第2図(a)に示すように、電
源1の電圧が異常に低下すると、電圧検出部23により
検出し、常時動作中のリレー24をオフにしてコンデン
サ3を接地より切り離す。これにより、コンデンサ3の
蓄積電荷が高抵抗21を介して徐々に放電するので異常
電圧になる直前の電荷を長時間にわたり保持することが
できる。
@2図(b)のt源電圧Vが示すように、一定電圧■R
以上の正常電圧になると、検出部23はリレー24をオ
ンにすると同時に、パルス発生器7を起動して単一パル
ス25を発生させ、インバータ8によりアンド・ゲート
9を閉じる。これにより論理回路への入力信号INは阻
止され、電源電圧が異常に低下する直前の人力信M I
 Nによる′Iri荷電圧が高抵抗21を介して増幅器
22に加えられ、出力される。第2図(a)の回路では
、電源の立上り。
立下りが遅い場合にも正確な時刻にリレー24とパルス
発生器7を駆動できるが、リレー24.接点24′の部
品を集積回路内に組込むことは難かしい。
発明の目的 本発明の目的は、このような従来の問題を改善するため
、集積回路内部の論理回路が正常動作できないような電
源電圧に対して、常にリセット信号を発生して、その誤
動作を防止できる半導体集積回路を提供することにある
本発明の半導体集lIJM路は、電源に抵抗を介してf
9 ffされたコンデンサの端子電圧を、電源電圧レベ
ルとして入力ピンに加える半導体集積回路に4.3いて
、入力された電源電圧レベルをあらかじめ定めた値だけ
シフトするレベル・シフト回路を設け、該レベル・シフ
ト回路の出力が論理回路の閾Mf、レベル以下になった
ことを検出して、集積回路内部または外部に対しリセッ
ト信号を発生することに!′15徴がある。
発明の実施例 第3図は、本発明の実施例を示す半導体集積回路の構成
図および動作波形図である。
第3図(a)に示す集積回路10’においては、入力ピ
ン5を介して入力される信号に対して、レベル・シフト
[回路(11,12,13)、インバータ (14゜1
5、16)、およびシュミット・トリガ(17〜20)
によりリセット信号(RESET)を発生ずる。
本発明は、集積回路10′内のレベル・シフト回路で入
力信号のレベルをシフトすることにより、電源電圧の立
上りの遅れ、立下りの遅れを補償し、立上り、立下りに
対して一定時′間だけ早目に閾値レベルに到達さぜるよ
うにするものである。すなわち、△Vだけシフトするこ
とにより、集積回路10’の電源電圧が△■だけ高くて
内部論理回路がまだ正常動作している状態で、入力リセ
ット信号レベルの変化を検知させることかできるので、
集積回路l○円内外論理回路のリセットを正常に実施す
ることが可能となる。
第3図(a)の集積回路10’において、11はソース
・フォロアを構成するnMO8)ランジスタであり、1
2.13はそれぞれ入力信号をシフトするためのhto
sダイオードである。nMO3)ランジスタの閾値電圧
を■  とすると、nMo5Hn トランジスタ11,12.13からなる回路によって、
入力信号は3VTHユだけレベル・シフトされる。nM
O8)ランジスタは、抵抗とともにインバータを形成し
ており、一定電圧入力に対して電源電圧が変化した場合
に、閾値電圧の変化によって論理が逆転することを防止
している。15.16は0MO8)ランジスタでインバ
ータを形成しており、このインバータへの入力は、電源
電圧またはグランド・レベルになっているので、電源′
1;L圧の変化によりCMOSインバータ15,16の
し′J値電圧が変化しても、その論理出力が変化するこ
と&才ない。
17〜20は、0MO8)ランジスタでシュミット・ト
リガを形成しており、17.18力)らなるインバータ
の入力に19.20からなるインノ(−夕の出力から正
帰還を行うことによって2つの安定状態を得る。
いま、電源電圧の立下り時間がCRで決定される時定数
より大きい場合、入カヒ゛ン5での信号レベルは電源電
圧に等しい。電源電圧な■。。、nMOSトランジスタ
の閾値電圧を■T□。とすると、レベル・シフトされて
3■THn だけ低下した電圧が次段のnMO8)ラン
ジスタを起動できる限界では、次式が成立する。
■c c−3VTHn ”” ■THn       
・・・・・(1)すなわち、VCQ−4VTあの時点で
信号変化が検出される。通常のCMO8回路は、PMO
8)ランジスタの閾値電圧をVTHP  として、■o
o≧VT□ユ+V  で動作する。VTHP = Vア
Hnであるため、HP プロセスの変動による偏差を考慮に入れても、信号変化
を検出できるV。。−4V工、□ゎのレベルでは論理回
路は正常動作している。
第3図(a)では、入力信号のレベル・シフト回路にM
OSダイオードを使用しているので、回路電流を減らす
ことができ、低消費電力化に有効である。また、シュミ
ット・トリガの前段のCMO8回路のさらに前段に、n
MOSインノ々−夕を設置しているので、電源電圧の変
化に伴なうCMOS回路の閾値変化による論理出力の逆
転を防止することができる。
第3図(b)において、シュミット・トリガ(17〜2
0)の閾値電圧が■1.■2  のとき、電源電圧がV
のように変化して、それがCR時定数より大きい場合に
は、入力ピン5に入力される電圧はVとなる。もし、レ
ベル・シフト回路(11,12,13)を設置しないと
きには、電源電圧の立上り時、■の値がVo  となる
時刻t、にシュミット・トリガのPMO8)ランジスタ
がオンとなり、また電源電圧の立下り詩、vの値がV2
  となる時刻tb  にシュミット・トリガのnMO
sトランジスタがオンとなり、いずれもリセット信号(
RESET)をグ1z生ずる。
第3図に示すように、レベル・シフト回路(11゜12
.13)がiEされているときには、nMo5インバー
タ14のゲートに加わる電圧はv8  となる。電源電
圧の立上り時、V の値が■1  となる時刻与 に0
MO8)ランジスタ(15,16)の出力がハイレベル
となり、シュミット・トリガのPMO8)ランジスタが
オンとなる。また、電源電圧の立下り時、V の値が■
 となる時刻tE2 に0MO8)ランジスタ(15,16)の出力がローレ
ベル(アース電位)となり、シュミット・トリガのnM
O8)ランジスタがオンとなる。すなわち、第3図(1
))から明らかなように、電源の立上り、立下りがCR
時定数よりも遅い場合でも、集積回路の論理回路が正常
動作するに十分な高い電圧のときに、シュミット・トリ
ガを動作させるので、確実にリセット信号を発生するこ
とができる。
発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、入力信号なレベル
・シフトすることにより、集積回路内の論理回路が正常
動作可能な電源電圧のときに、リセット信号を発生でき
るので、停電や電源の遅い立上りに対する集積回路の誤
動作を有効に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のリセット信号発生回路の構成と動作説明
図、第2図は従来の論理状態記憶回路の構成と動作説明
し4、第3図は本発明の実施例を示すリセット信号発生
回路の構成と動作説明図である。 1:電源、2:高抵抗、3:コンデンサ、4=ダイオー
ド、5:入力ビン、6:シュミット・トリガ、11.1
4 : nMo S )ランジスタ、12゜13:nM
O3)ランジスタによるダイオード、15.16 : 
0MO8) ラ>ジスタ、17〜20:0MO8)ラン
ジスタによるシュミット・トリガ〇第1図 (a) (b)                  (C)A 144− 第   2   図 (a、) O□

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 α)電源電圧に抵抗を介して接続されたコンデンサの端
    子電圧が、’fQ源電圧電圧レベル検出用力信号として
    入力ビンに加えられる半導体集積回路において、上記入
    力ビンに加えられた入力信号レベルをあらかじめ定めた
    レベルだけシフトするレベル・シフト9回路を設け、該
    レベル・シフト回路の出力が論理回路の閾値レベル以下
    になったことを検出して集積回路内部または外部に対し
    、リセット信号を発生することを特徴とする半導体集積
    回路。 ■前記レベル・シフト回路としてMOSダイオードを使
    用することを特徴とする特許請求の範囲第1項記哉の半
    導体集積回路。 ■)前記レベル・シフト回路には、その前段に高抵抗を
    負荷とするnMO8)ランジスタ回路からなるインバー
    タを接続することを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の半導体集積回路。
JP57141512A 1982-08-13 1982-08-13 半導体集積回路 Pending JPS5932024A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61155928U (ja) * 1985-03-20 1986-09-27
JPS6398213A (ja) * 1986-10-15 1988-04-28 Toshiba Corp パワ−オンリセツト回路
JPH0284938U (ja) * 1988-12-15 1990-07-03

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4687954A (en) * 1984-03-06 1987-08-18 Kabushiki Kaisha Toshiba CMOS hysteresis circuit with enable switch or natural transistor
US4716323A (en) * 1985-04-27 1987-12-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Power voltage drop detecting circuit
US4717840A (en) * 1986-03-14 1988-01-05 Western Digital Corporation Voltage level sensing power-up reset circuit
JPS63233560A (ja) * 1987-03-23 1988-09-29 Toshiba Corp 入力保護回路を備えた半導体集積回路
US4874965A (en) * 1987-11-30 1989-10-17 Sgs Microelettronica S.P.A. Circuital device for the power-on reset of digital integrated circuits in MOS technology
US5345422A (en) * 1990-07-31 1994-09-06 Texas Instruments Incorporated Power up detection circuit
US5111067A (en) * 1991-04-29 1992-05-05 Intel Corporation Power up reset circuit
US5243233A (en) * 1992-09-24 1993-09-07 Altera Corporation Power on reset circuit having operational voltage trip point
US5543741A (en) * 1994-12-30 1996-08-06 Mitel Corporation Reset circuit for generating reset pulse over an interval of reduced voltage supply
US5801561A (en) * 1995-05-01 1998-09-01 Intel Corporation Power-on initializing circuit
US5929672A (en) * 1995-06-16 1999-07-27 Rohm Co., Ltd. Power on reset circuit and one chip microcomputer using same
US5942925A (en) * 1997-09-30 1999-08-24 Siemens Aktiengesellschaft Power-on detection and enabling circuit with very fast detection of power-off
US5912571A (en) * 1997-10-09 1999-06-15 Mosel Vitelic Corporation Using the internal supply voltage ramp rate to prevent premature enabling of a device during power-up
US6147542A (en) * 1997-11-17 2000-11-14 Texas Instruments Incorporated Galvanic isolation for inputs with a pull-up
US6259285B1 (en) * 1997-12-05 2001-07-10 Intel Corporation Method and apparatus for detecting supply power loss
US6107847A (en) * 1997-12-30 2000-08-22 Rambus Inc. Zero power reset circuit for low voltage CMOS circuits
US6191626B1 (en) * 1998-08-17 2001-02-20 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for compensating input threshold variations on input buffers
US6160428A (en) * 1998-12-10 2000-12-12 National Semiconductor Corporation Universal on-chip initialization circuit
US6673171B2 (en) * 2000-09-01 2004-01-06 United States Steel Corporation Medium carbon steel sheet and strip having enhanced uniform elongation and method for production thereof
US6819539B1 (en) 2001-08-20 2004-11-16 Cypress Semiconductor Corp. Method for circuit recovery from overstress conditions
US7142400B1 (en) 2002-03-27 2006-11-28 Cypress Semiconductor Corp. Method and apparatus for recovery from power supply transient stress conditions
KR100554840B1 (ko) * 2003-11-13 2006-03-03 주식회사 하이닉스반도체 파워 업 신호 발생 회로
CN105811941B (zh) * 2016-04-08 2017-05-17 厦门新页微电子技术有限公司 一种上电复位电路
CN110297514B (zh) * 2018-03-22 2020-12-01 华邦电子股份有限公司 电源开启重置电路

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5722254U (ja) * 1980-07-15 1982-02-04
JPS5847927B2 (ja) * 1978-02-21 1983-10-25 川崎重工業株式会社 オ−トバイ用燃料タンクの製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5931083B2 (ja) * 1975-09-19 1984-07-31 セイコーエプソン株式会社 半導体集積回路
US4140930A (en) * 1976-07-30 1979-02-20 Sharp Kabushiki Kaisha Voltage detection circuit composed of at least two MOS transistors
JPS5951177B2 (ja) * 1977-03-12 1984-12-12 日本電気株式会社 オ−トクリア信号発生回路
GB2020437B (en) * 1978-04-14 1982-08-04 Seiko Instr & Electronics Voltage detecting circuit
US4296338A (en) * 1979-05-01 1981-10-20 Motorola, Inc. Power on and low voltage reset circuit
US4300065A (en) * 1979-07-02 1981-11-10 Motorola, Inc. Power on reset circuit
US4405871A (en) * 1980-05-01 1983-09-20 National Semiconductor Corporation CMOS Reset circuit
US4385245A (en) * 1981-06-01 1983-05-24 Motorola, Inc. MOS Power-on reset circuit
CA1202091A (en) * 1981-10-14 1986-03-18 Sinichi Masuda Reset pulse generator
US4520418A (en) * 1983-04-25 1985-05-28 Susi Roger E Reset circuit

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5847927B2 (ja) * 1978-02-21 1983-10-25 川崎重工業株式会社 オ−トバイ用燃料タンクの製造方法
JPS5722254U (ja) * 1980-07-15 1982-02-04

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61155928U (ja) * 1985-03-20 1986-09-27
JPS6398213A (ja) * 1986-10-15 1988-04-28 Toshiba Corp パワ−オンリセツト回路
JPH0284938U (ja) * 1988-12-15 1990-07-03

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US4607178A (en) 1986-08-19

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