JPS5929805B2 - スケルプの温度分布測定装置 - Google Patents

スケルプの温度分布測定装置

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JPS5929805B2
JPS5929805B2 JP51052180A JP5218076A JPS5929805B2 JP S5929805 B2 JPS5929805 B2 JP S5929805B2 JP 51052180 A JP51052180 A JP 51052180A JP 5218076 A JP5218076 A JP 5218076A JP S5929805 B2 JPS5929805 B2 JP S5929805B2
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JP
Japan
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temperature
skelp
photodiode array
temperature detector
squelp
Prior art date
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Expired
Application number
JP51052180A
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English (en)
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JPS52135782A (en
Inventor
三郎 仕幸
康示 武井
誠一 渡辺
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0022Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/48Thermography; Techniques using wholly visual means

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、鍛接管製造工程におけるスケルプの温度を非
接触で連続的に測定する装置に関する。
鍛接管製造工程において、鍛接直前のスケルプ(特にエ
ッジ部)の温度は、適正値より高過ぎたわ、或いは突合
せるスケルプエツジ間で温度差がある場合、いわゆるビ
ード、ケーブ等の溶接不良が発生し、又、低過ぎると鍛
接不能となわ、品質に及ぼす影響が大きく、従来から加
熱炉出口において光高偏計等によつてスケルプエツジ温
度を測定し、スケルプの速度や加熱炉の燃料流量の調整
などを行ない出来る限カスケルプエツジ温度を一定に保
持するよう努力がなされてきた。しかしながら、加熱炉
出口におけるスケルプは、キヤンバー、耳波の影響によ
り、蛇行する場合が多く、光高偏計の視野からしばしば
はずれていた。
この対策として、測定位置をスケルプエツジ面から中央
に寄せたわ、或いは、特公昭41−10085に記載さ
れているごとくスケルプエツジ位置を連続的にフォトセ
ル等を用いて検出し、温度検出器をスケルプエツジに追
従させる方法が用いられてきたが、前者は鍛接品質に最
も重要な因子であるスケルプエツジ温度が不明確となシ
、後者は追従のおくれ更には追従装置の故障等でしばし
ば使用不能に陥いつていた。本発明は上記の問題点を解
決し、スケルプエツジのみならずスケルプの巾方向全域
の温度を連続的に安定して、精度良く測定するための装
置を提供するものである。
すなわち、本発明の装置は、補正後の特許請求の範囲に
記載されたとおわの装置である。
つぎに本発明の構成を第1図〜第6図に示す実施例によ
つて説明する。
第1図において、スケルプ加熱炉1で鍛接に適した温度
に加熱されたスケルプ2は成形ロール3に導かれ、その
後、鍛接ロール4を経て鍛接管5となヤ矢印の方向に進
行する。
このような従来の鍛接管製造工程において、スケルプ加
熱炉1と成形ロール3の間においてスケルプ2の上部に
温度検出器10を設置し、スケルプ2から放射する光を
温度検出器10により電気信号に変換して温度指示計2
1によ勺、スケルプの巾方向の温度分布を測定せしめる
ようにしたものである。
つぎに温度検出器の具体的な内容を第2図により説明す
る。
第2図において、加熱され走行するスケルプ2を結像用
光学系11によシ視野14の如く覗くよう温度検出器1
0を設置する。
温度検出器10には、光学系11の他に、自走式フオト
ダイオードアレイ32、駆動回路31、増幅器33、サ
ンプルアンドホールド回路34、クロツクパルス発生回
路30が設けられておシ、結像用光学系11を介して自
走式フオトダイオードアレイ32上に投写されたスケル
プ像の光の強弱を電気信号に変換し適宜増幅して、温度
指示計21にパルス信号としてとb出す。さらに具体的
な内容を第3図に示すプロツク図によシ説明する。
図において32はフオトダイオードアレイであう、これ
には第5図に示す如く多数の単位フオトダイオード素子
が一直線上に集積配置され、それらの各出力端子は電子
スイツチを介して一つの出力線に接続されている。
これらの電子スイツチは単位フオトダイオードと同様に
集積配置されており、フオトダイオード駆動回路31で
順次に付勢されて各単位フオトダイオードの電気出力を
順次出力する。フオトダイオードアレイ32の各単位ダ
イオードは駆動回路31でその出力端か選択されるとき
に、定電圧源で充電され充電電流による負荷抵抗の電圧
降下か出力カリードを介して増幅器33に供給される。
この場合、スケルプからの輻射温度か高いときに障壁は
低く、充電電圧は低く、逆に輻射温度が低いと充電電圧
は高く保たれ、結果として再充電電流は、輻射温度が高
いときに大きく、輻射温度か低いときに小さくなる。そ
の為、増幅器33に供給される信号は輻射温度に比例し
た波高値を有するパルス波となる。フオトダイオードア
レイ駆動回路31はクロツクパルス発生回路30の出力
パルスで附勢され、そのパルス周期に同期して、各単位
フオトダイオードの電気出力を順次増幅器33に供給す
る。
増幅器33は隔時的にしかも順次送られてくる各単位フ
オトダイオードの出力電圧を増幅してそれらを順次に、
サンプルアンドホールド回路34に供給する。該サンブ
ルアンドホールド回路34はパルス状に送られてくる各
信号電圧レベルを一定期間(クロツクパルスの周期すな
わち一単位フオトダイオードの割シ当て時間)そのレベ
ルに維持する回路である。サンプルアンドホールド回路
34の出力はデイスプレイ部(温度指示計21)のY軸
に供給される。即ち、フオトダイオードアレイ32が第
3図の矢印の方向に,駆動されているとすると、デイス
プレイ部(温度指示計21)には第4図のごとき温度分
布パターンがえがかれることになる。
第4図においてA部は走査開始点、B部及びC部はスケ
ルプの両端部位置、D部は走査終了点で、A,B,C,
Dの各部は第3図に示すA,B,C,Dの各点と対応す
る。フオトダイオードアレイ32は、第5図に示すごと
く、多数の単位フオトダイオード12をシリコンチツプ
15土に並べて、集積配置したものであり、単位フオト
ダイオード12の全長l′か第2図に示す如く光学系1
1を介して視野14の全長lに相当するように設けられ
ている。この結果、スケルプ2の巾方向全域の温度分布
を、前述したごとくパルス信号として、温度指示計21
に指示せしめる。又サンブルアンドホールド回路34と
温度指示計21の間に適宜信号処理回路を設けデジタル
信号をアナログ信号に変換すれば、温度分布曲線か簡単
に求められる。又、フオトダイオードアレイ駆動回路3
1の応答速度は非常に早く、例えば本実施例に用いたレ
チコン社製のイメージセンサは、応答速度か最高10M
Hzであるため、走行中のスケルブにおいても、停止状
態とほぼ同様に温度検出を行うことかできる。第2図の
温度検出器10の光学系11はレンズ及びフイルタ一等
によつて構成され、レンズ及びフイルタ一等のくもb防
止の為、光学系11の先端はエアーパージすることか望
ましい。本発明はスケルプの巾方向全域の温度分布を測
定するのみならず、スケルプの両端部近傍の温度分布を
測定したい場合は第6図に示す如く、スケルプ2の両端
部近傍位置に温度検出器101,102を設け、温度検
出器101,102に温度指示計211,212を各々
接続することによう可能である。
また、スケルプの片端部近傍のみの温度分布を測定した
い場合は第6図に示す温度検出器101または102と
温度指示計211または212とを単独に用いることに
よつて可能である。
以上詳述したごとく本発明によればスケルプの端部近傍
の渦度分布はもちろんのこと、スケルプの巾方向全域の
温度分布が精度よく測定できるため加熱炉の燃焼制御精
度の向上がはかられ、安定した鍛接を行うことができ、
鍛接衝合部の品質が大巾に向土でき、更に従来の如く、
温度検出器を移動させる必要がなくなV)昨業能率が向
上する。
また、本発明の装置と加熱炉燃焼制御装置とを組合わせ
ることによりスケルプ温度の自動制御も可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の1実施例を示す概略説明図、第2図
は、本発明による温度検出器の構成図、第3図は、本発
明装置のプロツク図、第4図は、温度指示計の温度分布
の1例を示す図、第5図は、フオトダイオードアレイ受
光面を示す図、第6図は、本発明の他の実施例を示す概
略説明図である。 1:スケルプ加熱炉、2:スケルプ、10,101,1
02:温度検出器、11:光学系、21,211,21
2:温度指示計、30:クロツクパルス発生回路、31
:フオトダイオードアレイ駆動回路、32:フオトダイ
オードアレイ、33:増幅器、34:サンプルアンドホ
ールド回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 鍛接管の製造工程において、加熱炉で加熱されたス
    ケルプの巾方向の像を検出する温度検出器と、該温度検
    出器の出力信号を表示する温度指示計とからなり、前記
    温度検出器は、結像用光学系によりスケルプ像の光が投
    射される自走式フォトダイオードアレイと、クロックパ
    ルス発生回路の出力パルスで附勢され、そのパルス周期
    に同期してフォトダイオードの電気出力を増幅器に供給
    するフォトダイオードアレイ駆動回路と、増幅器から供
    給されるパルス状の信号電圧レベルを一定期間所定のレ
    ベルに維持するサンプルアンドホールド回路とを具備す
    ることを特徴とするスケルプの温度分布測定装置。
JP51052180A 1976-05-10 1976-05-10 スケルプの温度分布測定装置 Expired JPS5929805B2 (ja)

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JPS52135782A JPS52135782A (en) 1977-11-14
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JPS571933A (en) * 1980-06-05 1982-01-07 Nippon Steel Corp Measuring apparatus for temperature distribution
JPS58191938A (ja) * 1982-05-06 1983-11-09 Chino Works Ltd 光学的測定装置

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