JPS5927072B2 - 像増強管用入力面 - Google Patents

像増強管用入力面

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JPS5927072B2
JPS5927072B2 JP1717977A JP1717977A JPS5927072B2 JP S5927072 B2 JPS5927072 B2 JP S5927072B2 JP 1717977 A JP1717977 A JP 1717977A JP 1717977 A JP1717977 A JP 1717977A JP S5927072 B2 JPS5927072 B2 JP S5927072B2
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JP
Japan
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substrate
phosphor layer
input surface
periphery
center
Prior art date
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Expired
Application number
JP1717977A
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English (en)
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JPS53102664A (en
Inventor
富也 薗田
浩志 鷲田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はX線等の放射線像を可視像に変換する像増強管
の入力面の改良に関する。
X線などの高エネルギー放射線を光に変換してより明る
い可視像を得る像増強管は放射線による像を光電子像に
変換する入力面と、入力面から放射された光電子像を可
視像に変換する出力面を備えている。
通常入力面は放射線像を透過しやすい基板として例えば
アルミニウムを用い、この基板上に放射線によって効率
よく発光するアルカリハライド螢光体層を蒸着によって
形成し、さらにこの螢光体層上にこの螢光体の発光に減
応する物質例えばアンチモン−セシウムからなる光電面
によって構成されている。
このような像増強管は画面の全域にわたって明るさく輝
度)が一様で、かつ解像度も中央部と同様全域にわたっ
て良いことが要求される。
しかしながら従来上述の課題を充分満足に解決した入力
面はない。
それは像増強管の特性に由来するものと入力面の特に螢
光体層の特性に由来する。
即ち、例えば輝度の場合、放射線源は十分に小さく(点
源とみなせる)、像増強管との距離も1メートル内外で
ある。
したがって像増強管に入射した放射線の強度は中央部に
くらべて周辺部の方が小さい。
さらに光電面から放出された光電子も中央部にくらべ周
辺部から放出されたものは斜方向から入射するだめ単位
面積当りの発光強度が弱いので出力面の発光が弱い。
これらの理由により螢光体層の厚ざが均一で光電子放射
能が同じであっても明るさは中央部に対し周辺部では約
70%しか得られない。
解像度についても被写体を透過し入力面に入射した放射
線像は中央部より周辺部で画像の密度が粗であり、さら
に螢光体層では透過距離が中央部より周辺部で長くなり
光像の拡散も大きい。
光電面から放出された光電子も周辺部から放出されたも
のは強い偏向を受けると共に飛程距離も長いので出力面
での結像も中央部にくらべて甘くなる。
これらの理由により例えば螢光体層の厚ざが均一で中央
部の解像度が28 Ap/cmの入力面でも周辺部では
251p/crrL〜221p/cInしか得られない
入力面で輝度の均一性を向上きせるために周辺部の螢光
体層の膜厚を増加すると周辺部の解像度が更に減少する
し、周辺の解像度を向上きせるために周辺部の螢光体層
の膜厚を減らすと輝度の不均衡がさらに進行するという
矛盾を有する。
本発明は従来上述の理由でできなかった解像度の低下を
ともなわずに明るきの均一性を向上させた像増強管用入
力面の改良に関する。
第1図は本発明を例えばX線像から光像に変換するX線
螢光増倍管に適用したものである0すなわちX線螢光増
倍管はガラスよりなる外囲器1とこのガラス外囲器1内
に配設された入力面2、出力面3、集束電極4、加速電
極5等よりなる。
X線6が被写体7に照射され、被写体7のX線吸収能に
より変調されたX線像が外囲器1を透過し、入力面2の
螢光体層9で光を発する。
この光は中間層薄膜10を透過し光電面11から光電子
12を放出する。
光電子12は集束電極5により加速されて出力面3上に
入力面で得られた光像より数千借間るい光像を再現する
本実施例において入力面2は第2図に示すような構造を
有する。
すなわち基板21とこの基板21の一表面に形成された
多数のモザイク構造22(図において2点鎖線で示す位
置より上部の基板構造)を区画する微細な溝部23と、
前記モザイク構造面上に蒸着されこの面にほぼ垂直方向
に延びた沃化セシウム等からなる螢光体層24の結晶と
、この螢光体層24上に蒸着きれた例えばアルミナより
なる中間層薄膜25を介して形成された光電面26とか
らなる。
前記螢光体層24は溝部23によって区画されるモザイ
ク構造22間の空隙27によってそれぞれ光学的に独立
した螢光体ブロック28を有する。
前記入力面は基板21の溝部23からひきつがれて螢光
体層24中に形成された空隙2Tによって螢光体ブロッ
ク28を区画し、螢光体ブロック28内で発光した光は
ブロック内で反射を繰返し光電面側へ取り出される(光
誘導効果)。
その結果螢光体層24での光の拡散が減少し、高い解像
度を有する入力面が得られる。
解像度の良否は螢光体層24内に形成される空隙27の
消長によって左右される。
空隙27が途中で消滅しないで完全に表面層まで残ると
表面層までそれぞれ独立した螢光体ブロックが形成され
、プらにその上面に光電面26が形成されても円滑な光
電子放出が行われないという致命的な欠点となる。
本実施例の入力面は前記構造に加えて螢光体層の厚さが
中央から周辺部にかけて漸次増加してゆき最外周の螢光
体層が最も厚い。
例えば9インチの大きさの入力面で中央部の螢光体層の
厚きは150ミクロンで周辺部の厚さは220ミクロン
を示した。
このような入力面ではX線螢光増倍管に適用した場合間
るきの比ば1:0.95で略均−な明るきのものが得ら
れる。
第3図に本実施例の入力面の螢光体層の膜厚分布とこの
入力面を使用して作られたX線螢光増倍管での輝度の分
布を示す。
周辺部の螢光体層の厚烙が増加したことによっておこる
解像度の低下は基板の表面に形成された溝部の巾を中央
部より広くして、溝部からひきつがれて螢光体層内に存
在する空隙を表面層近くまで残すことによって向上ζせ
中央部との平衡をはかつている。
螢光体層内に形成きれる空隙の消長は基板の表面に形成
する溝部の巾によって制御することができる。
例えば螢光体層の厚さが150ミクロンでは基板の溝巾
が3〜6ミクロンの場合401p/cIrLの解像度が
入力面の中心部で得られる。
7ミクロン以上になると空隙が螢光体層の表面にまで到
達し、空隙によって隔絶された螢光体の表面層が生じ、
その結果当該部分からの円滑な光電子放出が不可能とな
る欠点が生じてくる。
螢光体層の厚きが220ミクロンでは溝巾6〜9ミクロ
ンで38A’p/crfLの解像度が入力面の中心部で
得られる。
3〜5ミクロンでは301p/(mの解像度しか得られ
ない。
従って螢光体層の厚さを変えて輝度の均一化をはかった
場合解像度は基板に形成する溝巾を中心部から周辺部に
かけて広くしてゆかねばならない。
第4図に基板の溝巾の変化と得られる解像度の変化を示
す。
以下に本発明の入力面の作成方法の一実施例について第
5図を参照して説明するO 厚さ0.5 mm、直径が240mmのX線螢光増倍管
用入力面のアルミニウム基板を脱脂し、表面層を苛性ソ
ーダでエツチングして清浄したのち陽極酸化を行う。
陽極酸化は3%蓚酸溶液中で前記基板31を陽極にし、
前記基板31の凹面側と近接対向はせて配置した外径2
60mm、内径200 mrn。
厚を1mrnのアルミニウム板を陰極として約2時間4
Aの通電を行う。
次いで沸騰水中で2時開封孔処理を行なう○この基板に
250℃以上で加熱処理を行なうと基板表面に微細な溝
32が形成される。
基板31に形成きれた溝32巾は陽極酸化によって形成
された酸化物層の膜厚に関係し、厚い部分で広く薄い部
分で挾い。
陽極酸化時に基板31の凹面側をアルミニウム板陰極と
対向させるので、電流密度は周辺部で犬きく、中央部で
小さく、基板31に形成きれる酸化物層は周辺部で厚く
、中央部で薄くなる。
従って基板31に形成きれた溝幅32は中央部で約4ミ
クロン、周辺部で6ミクロンであり、周辺部で広くなっ
ている。
さらに前記基板31表面は溝32によって隔絶された一
辺が30〜100ミクロンのモザイク構造33が形成さ
れている。
次に真空中で前記処理を終了した基板31表面に沃化セ
シウム螢光体を蒸着する。
前記処理を終了した基板31の表面を下方に向けて基台
41の上に設置し、基台41は真空槽基板35を経て外
部から駆動させ回転する。
基板31の上部には基板加熱用発熱体36が配設されペ
ルジャー37の頂部に固定きれている。
基板31の下方にタンタルを加工して形成したボート3
8に沃化セシウム39を充填した蒸発源を対向して設置
する。
ボート38の上部には熱遮蔽板40があり、ボート38
は予め求められている輝度が均一になる螢光体層34の
膜厚分布が得られる位置へ設置きれる。
真空槽を排気し、圧力が106Torr台で蒸着を開始
する。
基台4と基板31を20RPMの速度で回転させながら
基板温度を90℃に保持する。
次いでボート38を加熱して沃化セシウム39を5〜1
0ミクロン/分の蒸着速度に制御しながら基板31上に
螢光体層34を形成する。
螢光体層34の厚きは中央部が最もうすく150ミクロ
ンで次第に厚くなり最外周では210ミクロンである。
このような条件で形成された螢光体層34は基板31の
モザイク構造面33に直径が1〜4ミクロンの柱状結晶
が成長し、基板31の溝32の部分から形成きれる空隙
42によって柱状結晶の束からなる螢光体ブロック43
が基板31から略垂直方向に形成きれている。
さらに螢光体層34表面に従来と同様の方法で中間層と
光電面を形成したX線螢光増倍管に適用した結果間るき
の比は中心部1に対し周辺部で0.95を示し全面にわ
たって殆んど均一であった。
解像度は中央部で40 lp/Cr1l、周辺部で37
〜401p/Cmが得られ全面にわたる均一性は良好で
ある。
以上述べたように本発明は基板表面に微細な溝によって
モザイク構造を形成し、このモザイク面上にアルカリハ
ライドからなる螢光体を中央部から周辺部にかけて厚く
して輝度の均一化をはかり、さらに周辺部の螢光体層を
厚くしたことによって起る解像度の低下は基板表面に形
成した溝巾を中央部から周辺部にかけて漸次広くしてい
って基板の溝から引きつがれて螢光体層内に形成される
空隙を中央部より周辺部で漸次長く保持源せて光誘導効
果を中央部より周辺部で良くし解像度も略全面にわたっ
て良好な入力面を提供するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のX線螢光増倍管を示す概略
断面図、第2図は本発明に係る入力面の一部を示す断面
図、第3図は本発明に係る入力面の螢光体層厚さ分布と
輝度特性、第4図は本発明に係る入力面の基板表面の溝
巾の分布と解像度特性、第5図は本発明に係る入力面の
製造工程を説明するだめの蒸着装置の概略図である。 2・・・・・・入力面、9,24,34・・・・・・螢
光体層、10.25・・・・・・中間層、If、26・
・・・・・光電面、21.31・・・・・・基板、22
,33・・・・・・基板のモザイク構造、23,32・
・・・・・基板の溝部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 基板と、この基板の表面に形成される多数のモザイ
    クを区画する微細な溝と、前記モザイク構造面上に蒸着
    されたアルカリハライドからなる螢光体層と、この螢光
    体層に直接又は中間層薄膜を介して形成された光電面と
    を有する像増強管用入力面において、前記基板に形成き
    れた溝巾は基板の中央部から周辺部にかけて漸次広くな
    り前記螢光体層の厚ざは基板中央部から周辺部にかけて
    漸次厚くなることを特徴とする像増強管用入力面。
JP1717977A 1977-02-21 1977-02-21 像増強管用入力面 Expired JPS5927072B2 (ja)

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JPS53102664A JPS53102664A (en) 1978-09-07
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JP2514952B2 (ja) * 1987-03-13 1996-07-10 株式会社東芝 X線イメ−ジ管

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