JPS592511Y2 - 光線式検知器のテスタ−回路 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は防犯用検知器、自動点滅器等の光線式検知器の
テスター回路に関するものであって、テスターを接続し
た時、動作レベルを高く維持し、余裕度をチェックする
と共に、受支レベルも測定できるようにしたものを提供
することを目的とするものである。

図中、１は発振器、２は投光部、３は受光素子、４は増
巾器、５は検波器、６は第１のトランジスタ、７は負荷
、８はこの負荷７を駆動するための第２のトランジスタ
、Ｒ１は第１のトランジスタ６のコレクタと電源との間
に介挿した抵抗、Ｒ２は第１のトランジスタ６のコレク
タと第２のトランジスタ８のベースとの間に介挿した抵
抗、９はステタ一端子、Ｒ３はテスタ一端子９と直列に
接続され抵抗Ｒ２を介して第２のトランジスタ８のベー
スに接続された抵抗、１０はテスターである。

上記テスター１０の内部抵抗は抵抗Ｒ３に比し、小さい
ものである。

又第２のトランジスタ８のベース・エミッタ間の抵抗は
抵抗Ｒ２に比し極めて小となるもので省略して考えられ
る。

従って、このような構成によれば第１のトランジスタ６
が半導通となっているときそのインピーダンスをＺとす
ればテスター１０を接続しない場合のａ点の電位Ｖａ１
は次式で示すようになる。

次に、テスタ一端子９にテスター１０を接続するとａ点
の電位Ｖａ２は次式で示すようになる。

但し、テスター１０の内部抵抗を２１とし、Ｒ３〉Ｚｌ
とする。

上式よりテスター１０を接続することにより、第２のト
ランジスタ８のベース抵抗が低くなるので■ａ２〈Ｖａ
ｌ となる。

従って、第２のトランジスタ８のベース電位は低い方に
引っばられる。

テスター１０を接続した状態でトランジスタ８が導通し
、負荷７に通電させるならば、テスター１０をはずした
場合はトランジスタ８はより深く導通状態になる。

第２図は通常時とテスターによる測定時とにおける信号
レベルと第１のトランジスタ６の出力との関係を示す特
性図である。

この図において、測定時においても動作レベル以上の信
号レベルによって第２のトランジスタ８が導通状態とな
り、負荷７に通電される。

即ち、上述した本考案によれば、負荷を制御するトラン
ジスタのベース回路にテスターの内部インピーダンスに
比し極めて高い抵抗値を有する抵抗を介挿したため、種
々の内部抵抗のテスターを用いても動作レベルを高く維
持し、余裕度をもって受光レベルを測定できる新規な光
線式検知器のテスター回路を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示す回路図、第２図はその
特性図で゛ある。 ２・・・・・・投光部、３・・・・・・受光素子、６・
・・・・・第１のトランジスタ、７・・・・・・負荷、
８・・・・・・第２のトランジスタ、９・・・・・・テ
スタ一端子、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３・・・・・・抵抗。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 光を受光素子によって受光し、この受光素子の出力によ
   って光の有・無を検知するための光線式検知器において
   、上記受光素子の出力を負荷を制御するためのトランジ
   スタのベースに印加するようになし、このトランジスタ
   のベースとアースとの間にテスターの内部インピーダン
   スに比し極めて高い抵抗値を有する抵抗とテスタ一端子
   との直列回路を接続して構成したことを特徴とする光線
   式検知器のテスター回路。