JPS59231655A - 出力装置の試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は電子計算機の出力装置あるいは端末制御装置
に接続された出力端末装置等の出力装置を試験する出力
装置の試験装置に関するものである。

〔従来技術〕

従来この種の試験装置としては第１図に示すものがあっ
た。図において％（１）は電子計算機の中央処理装置、
（２）は主記憶装置、（３）はデータや制御信号で構成
されている入出力バス、（旬は出力制御装置、（５）は
出力切替器、（６）社信号ケーブル、（７）　ｔ　（８
）１（９）、（２）は出力装置である。

次に動作について説明する。複数の出力装置（７）〜（
転）を主記憶装置（２）等に内蔵した診断プログラム等
で試験する場合、出力制御装置（４）と出力切替器（５
）により、出力装置（７）〜α０を選択し、正常に動作
するかいなかを試験する。

例えば出力切替器（５）で出力装置（７）を選択した場
合について説明する。主記憶装置（２）等に内蔵した診
断プログラム等により、試験コマンドが入出力バス（３
）を経由して出力制御装置（４）に送出される。

出力制御装置（４）はこれらの試験コマンドを解読し、
出力装置（７）の状態を把握し、出力データや制御信号
を出力装置（７）に送出し正常に動作するかいなかを試
験するら 次に出力切替器（５）により出力装置（７）〜ａＯを順
次選択し１、逐次試験する。

従来の試験装置は出力制御装置１台に接続できる出力装
置は１台しか接続できず、試験時間がＮ台分必要でまた
複数の出力装置を同時に試験するためには、出力装置に
対応した出力制御装置１台数台設けるか、診断プログラ
ムを複数台の出力装置を多重に処理する為の複雑なプロ
グラムを設けることにより多′量のメモリ領域を必要と
するなどの欠点があった。

〔発明の概要〕

この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、出力制御装置と複数の出力装置間
に多重制御装置を設けることにより、診断プログツムも
変更せずに、同時に複数の出力装置ｆ：あたかも一台の
出力装置を試験しているかのように、１台分の試験時間
で処理することができる試験装置を提供することを目的
としてぃ以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。第２図において、（１）は電子計算機の中央処理装
置、（２）は主記憶装置、（３）はデータや制御信号で
構成されている入出力バス、（４）は出方制御装置、（
６）は信号ケーブル、（７）、　（８）？　（９Ｌ　（
ｌりは出力装置、ａηは多重制御装置である。

第３図は上記多重制御装置αηのブロック図であり、（
１００）はデータや制御信号の入力端子、（１１１）は
各出力装置に同時に同一データや制御信号を送出する為
の分、枝回路、（１１２）〜（１１５）は分岐回路の出
力端、（１１６）は各出力装置に対応し、た出力インタ
フェース回路、（１１７）〜（１２０）は各出力装置に
対応した出力端、（１２１）〜（１２４）は各出力装置
よりの制御信号の入力端子、（１２５）は各出力装置に
対応した入力インタフェース回路、（１２６）−（１２
９）　Ｕ入力インタフェース回路（１２５）の出力端、
　（１３０）は各出力装置の機械的動作等によるビジー
信号のバラツキ（ビジー信号：出力装置が動作中である
という意味の信号）が規定された許容範囲に入っている
か、否かを判定する為のビジー信号発生時（ローレベル
ヨリハイレベルになる。）のバラツキ判定基準信号発生
回路、（１３１）は上記バラツキ判定基準信号発生回路
（１３０）と同様にビジー信号、完了時（ハイレベルよ
りローレベルになる。）のバラツキ判定基準信号発生回
路、（１！１２）は上記バラツキ判定基準信号発生回路
（１！１０）の出力端、（１３３）はバラツキ判定基準
信号発生回路（１３１）の出力端、（１３４）はバラツ
キ判定基準信号発生回路（１３０）の出力信号とバラツ
キ基準信号発生回路（１３１）の出力信号のＯＲゲート
、（１３５）はＯＲゲー）　（１３４）の出力端、（１
３６）は各出力装置からのビジー信号が規定の許容範囲
に入っているか否かの判定を行なうビジー信号判定回路
、（１３７）〜（１４０）はビジー信号判定回路（１３
６）の出力端、（１４１）　社ビジー信号判定回路（１
３６）によってビジー信号許容範囲内に入っていない出
力装置忙対応した異常ステータス表示部（１４２）はビ
ジー信号発生時、ビジー信号完了時のバラツキ判定基準
発生回路（１３０）　、　（１３１）の出力信号を基忙
各出力装置（７）〜（１００代表ビジー信号を発生する
代燃・舗ジー信号発生回路、（１４！１）は代表ビジー
信号発生回路（１４２）の出方端、（１４４）は入力端
子（１００）より入力されてくるデータを常に監視して
、例えば印字データ以外のキャリッジリターン等の制御
コー、ドを検出し、ビジー信号発生時、ビジー信号完了
時のバラツキ判定基準発生回路（１５０）、　　（１３
１）の時定数を設定する為の制御コード検出回路、（１
４５）は（１４４）の出力端である。

次に動作について、上記第２図、第３図およθ第６図の
回路における各部の波形図とタイムチャートを示す第４
図を用いて説明する。先ず主記憶装置（２）等に内蔵さ
れている診断プログラム（被診断装置等が正常に動作す
るかいなかを多数の項目にわたって試験するプログラム
等をいう。）より試験コマンドが入出力バス（３）を経
由して出力制御装置（４）に送出される。出方制御装置
（４）では試験コマンドを解読し、出方データや制御信
号を発生させ多重制御装置ａ℃に送出する。

多重制御装置ａカはこの信号を複数の出力装置（７）〜
（１０に同時に送出する。複数の出方装置（７）〜α呻
はこの信号を掴持に受信し動作に入る。複数の出ヵ装置
（７）〜αＯは各々に動作に入ったという意味のビジー
信号を各々、多重制御装置α力に送出してくる。

多重制御装置α→では各々のビジー信号が規定内に入っ
ているかを判定し、異常なビジー信号は異常ステータス
表示部（１４１）へ表示すると共に出力制御装置（４）
からの次の制御信号を受信してもその異常ステータスに
対応した出力装置忙対しては分岐回路（１１１）でゲー
トし出力をしない。

またビジー信号が規定内に入っている出力装置からのビ
ジー信号は代表ビジー信号を出力制御装置（４）へ送出
する。各々の出力装置からのビジー信号を各々に出力制
御装置（４）へ送出するとそれに対応した複雑なプログ
ラム処理を必要とするが、本発明の様に代表ビジー信号
で出力制御装置（４）へ送出すると、複数の出力装置（
７）〜（１０でも診断プログラムからみると、あたかも
１台の出力装置を試験するのと何ら変らないことになる
。

さらに第３図の多重制御装置αすのブロック図、第４図
の波形とタイムチャートにより詳しく説明する。出力、
制御装置（４）より送出されてくるデータ（第４図の人
波形）や制御信号（第４図のＢ波形）は入力端子（１０
０）に入力され、分岐回路（１１１）で各々の出力装置
に同時に送出する為に分岐される。

分岐された人波形やＢ波形は分岐回路（１１１）の出力
端（１１２）〜（１１５）を通り出力インタフェース回
路（１１６）を経て、出力インタフェース回路（１１６
）の出力端子（１１７）−（１２０）へ送出し、各りの
出力装置（７）〜（１０へ同時に同一データ人波形と同
一制御信号Ｂ波形が送出される。分岐回路（１１１）の
出力端子（１１２）は出力インタフェース回路（１１６
）の出力端子（１１７）と出力装置（７）に対応してい
る。同様に分岐回路（１１１）の出力端子（１１３）〜
（１１５）は出力インタフェース回路（１１＜Ｓ）の出
力端子（１１８）−（１２０）と出力装置（８）〜αＱ
に対応している。同時に同一のデータ人波形と同一制御
信号Ｂ波形を受信した複数の出力装置（７）〜αりは同
時に動作を開始するが、個々の出力装置の個有のメカニ
ズムに伴ない第４図に示す様にそれぞれの出力装置（７
）〜αＱのビジー信号Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆが異なったタイミ
ングで多重制御装置（１１（Ｑ：ヌカ端子（１２１）−
（１２４）に送出されてくる。

説明上、出力装置（７）〜ａ１のビジー信号をＣ，Ｄ。

Ｅ、　　Ｆに対応して説明する。尚出力装置の故障等で
ビジー信号Ｆを送出しなかったと仮定する。入力端子（
１２１）−（１２４）に送出されてきたビジー信号Ｃ，
Ｄ、Ｅ、Ｆは入力インタフェース回路（１２，５）に入
力する。入力インタフェース回路（１２５）の出力端（
１２６）〜（１２９）を経て、ビジー信号発生時のバラ
ツキ判定基準発生回路（１３０）に入力する。

ビジー信号Ｃ，Ｄ、　　Ｅ、　　Ｆのどれかがビジー（
ハイレベル）になった時点より（第４図ではビジー信号
Ｅ）ビジー信号発生時のバラツキ判定基準発生回路（１
３０）が制御コード検出回路（１４４）の出力信号と論
理条件をとりビジー信号発生時のバラツキ判定基準時間
Ｔｓ（波形Ｇ）を発生する。（このビジー信号発生時の
バラツキ判定基準時間Ｔ、は印字データと制御コードの
場合では異なる。）ビジー信号発生時のバラツキ判定基
準発生回路（１３０）の出力端（１６２）の波形Ｇｔｉ
ＯＲゲー）　（１３４）を経”〔、ビジー信号判定回路
（１３６）にて波形Ｇの立下り（波形がハイレベルより
ローレベルに変化）時点でローレベルであるビジー信号
Ｆをとらえビジー信号判定回路（１３，！Ｓ）の出力端
（１４０）　Ｋローレベルの波形ｌを送出する。

出力端（１４０）のローレベルの波形■は異常ステータ
ス表示部（１４１）の出力装置（１０に対応した異常ス
テータス表示’ｆ−ＯＮにする。

同時に分岐回路（１１１）内で出力端（１１５）をロー
レベルにし、出力装＠αＱへのデータや制御信号轄送出
しない様にする。また波形ＧのＴ！（ビジー信号発生時
の規定時間）内に入っているビジー信号Ｃ，Ｄ、Ｅはビ
ジー信号判定回路（１３６）で正常動作と゛みなされ、
分岐回路（１１１）の出力ゲートも開放され、次のデー
タや制御信号ケ受信時そ１ぞれの出力端（１１２）−（
１１５）に送出する。

同様にビジー信号完了時（ビジー信号の立下り）もビジ
ー信号Ｃ，Ｄ、Ｂ、Ｆのどれかがハイレベルからローレ
ベルに立下ったときビジー信号完了時のバラツキ判定基
準発生回路（１３１）が動作し、波形Ｈの時間Ｔｘ　　
１４ジ一完了時の規定時間）ｔ−出力端（１３３）に送
出する。波形ＨのＴ：の立下り（ハイレベルよりローレ
ベルになる）時点でローレベルになっていないビジー信
号が出力端（１２６）（１２９）にあればビジー信号判
定回路（１３６）にて論理判定され、異常ステータス表
示部ｃ１４１）へ送出され、出力装置（７）〜（１０に
対応した表示部をＯＮにする。

各々の出力装置（７）〜（２）のビジー信号Ｃ，Ｄ、Ｅ
。

Ｆの代表ビジー信号を波形ＧのＴ、の立下りから、波形
ＨのＴ！の立下りまでを代表ビジー信号発生回路（１４
２）で論理操作をし、波形Ｊを出力端子（１４３）へ送
出する。

出力制御装置（４）は代表ビジー信号（波形Ｊ）を受信
し、論理操作し、次のデータや制御信号を多重制御装＠
（ロ）へ送出して（る。

この様に逐次診断プログラムの試験コマンドを出力制御
装［（４）で解読し出力データや制御信号を発生させ多
重制御装置αυで複数の出力装置（７）〜（ト）へ同時
に同一データや制御信号を送出し、複数の出力装置（７
）〜（ト）からのビジー信号等が規定内に入っている龜
二責論理判断し、正常なビジー信号の代表ビジー信号を
出力制御装置に送出してくることＫより複数の出力装置
（７）〜αＱに対して複数の出力制御装置を必要とせず
複数の出力装置（７）〜叫を同時に試験できるので１台
の試験時間に短縮できる等の特徴がある。

なお、上記実施例で紘診断プログラムによる出力装置の
試験装置等について示したが同時出力装置（例えば複数
のプリンタへの同時印字）であってもよく、上記実施例
と同様の効果を奏する。

〔発明の効果〕

以上のようＫとの発明によればデータや制御信号を複数
の出力装置に同時に送出し動作させると共に上記複数の
ビジー信号が規定内に入っているかを論理判断し正常な
ビジー信号を本体側へ多重制御装置により返送するよう
に構成したので、既存の診断プログラムを流用でき高価
な装置を多数使用することなくかつ試験時間が短縮され
る等効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図ｕＥＪの試験装置を示すブロック図、第２図はこ
の発明の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図に
示す多重制御装置の一実施例を示すブロック図、第４図
は第３図における信号波形とタイムチャート図、第５図
はこの発明の他の実施例を示すブロック図である。 図忙おいて、（１）は中央処理装置、（２）は主記憶装
置、（４）は出力制御装置、（ハ）は多重制御装置％（
７）〜（１１は出力装置である。なお図中同一符号は同
一または相当部分を示す。 代理人　大岩増雄 特許庁長官殿 １．事件の表示　　　特願昭　５８−１０６０４４号２
、発明の名称 出力装置の試験装置 ；３．補正をする者 代表者片＋、Ｉ＋仁八部 明へ１１Ｉ書の「発明の詳細な説明」のＳ。 ＆　補正の内容 （ＩＪ明細書第５頁第１６行の「一台」を「１台」と補
正テる。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 本体に接続された複数の出力装置を上記本体に内蔵され
   た診断プログラムの試験コマンドを解読し、この解読し
   たデータや制御信号を上記複数の出力装置に送出し試験
   するものにおいて、上記データや制御信号を上記複数の
   出力装置に同時に送ｆｆ１Ｌ、動作させると共に上記複
   数の出力装置からの複数のビジー信号が規定内に入って
   いるかを論理判断し正常なビジー信号の代表ビジー信号
   を上記本体側へ返送する多重制御装置を設けたことを特
   徴とする出力装置の試験装置。