JPS59230141A - ケイ素の分析法 - Google Patents

ケイ素の分析法

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Publication number
JPS59230141A
JPS59230141A JP10516283A JP10516283A JPS59230141A JP S59230141 A JPS59230141 A JP S59230141A JP 10516283 A JP10516283 A JP 10516283A JP 10516283 A JP10516283 A JP 10516283A JP S59230141 A JPS59230141 A JP S59230141A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicon
sample
plasma emission
oily
emulsified
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10516283A
Other languages
English (en)
Inventor
Sawako Hayashi
林 佐和子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP10516283A priority Critical patent/JPS59230141A/ja
Publication of JPS59230141A publication Critical patent/JPS59230141A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/73Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using plasma burners or torches

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、プラズマ発光分析法によって、油状試X−1
中のケイ素を定量する分析法に関するものである。
イノ’L末例の構成とその問題点 従来、各種の油状物質中にンランカッグリング剤などの
ケイ素を含む化合物が添加されている試4!’l中のケ
イ素を分析する場合、試料を硫酸及び硝酸をIl+いて
分IW Lだ後、フッ酸を加えて酸化物となった二酸化
ケイ素fr:m IQ!4 L、プラズマ発光分析θ、
でり−イ素を定:11シていた。しかし、この方法では
、試料の分解に24〜48時間程度と長時間を要し、ま
た測定時にフッ酸をマスキングするためにホウ酸を加え
なければならないため、ケイ素の測定値がばらつくなど
という欠点があった。
発明の目的 本発明は、このような従来の問題点を除き、油状試料中
に含まれるケイ素を簡単、迅速に精度よく定量する方法
を提供するものである0発明の構成 本発明は、油状物質にケイ素を含む化合物久添加されて
いる試料を、少量のアルコールで溶解した後、水を加え
、さらに界面活性剤を加えて、振とう機又はホモジナイ
ザーでエマルジョン化した溶0.を用いて、プラズマ発
光分析法でケイ素を定量するものである。
実施例の説明 が添加された試料中のケイ素(ケイ素含有率0.1重悄
゛チ)を分析する場合について説明する。
試ず一1訴液にj、試料約100mgを50mβメスフ
ラスコに正確にはかりとう、エチルアルコール10m5
を正確に加えて的菫後、界面活性剤としてラウリル硫酸
すトリウムを0・1重量%の濃度となる」:うに加え、
水で定容とし、1分間よく振とうしたものをホモジナイ
ザーに移し、5分間かけて均一なエマルジョンにした0 一ノハゾラズマ発光分析法で測定する際の標準化合成試
わ1m液は、50mβメスフラスコにケイ素を含−4−
ない鉱物油約100mgをはかりとり、試イ′1俗液の
」J、“1合と1r11様に、エチルアルコール及びラ
ウリル硫酸ナトリウム溶液を加え、ケイ素標準水浴液を
冷加し、回様な操作を行なった溶液を用い/c。
以−4二のようにして調製した溶液を用いて、プラズマ
発光分析法でケイ素を定率した結果、0.092申:1
:係であった。1r11−試オ′−1を従来法で分析し
た結1!、&;l: O・0.97 「fi(47’(
係であり、両分析法の値はよく一致し/c。
r[た、分析所要lri間は、従来法では1試料にっき
24〜48時間であったが、不法では1時間であり、大
幅に短縮できた。
以上の実施例において、試料採取量及びlr’、−面活
性剤濃度を変化させた場合の分析値への影響について検
討した結果を、第1図及び第2図に示す。
第1図より、試料採取量が増加するに従って分析値は減
少する傾向にあり、標準偏差値の低い100mgを採取
することにした。寸だ第2図より、界面活性剤濃度は、
0.5重量係以上では分析値に影響を与えないことがわ
かったので、測定の際に乃える影響を少なくするために
Q・1重量%とした。
不法で用いる¥?−面活性剤は、ケイ素を含丑ないもの
であればどのようなものでもよく、例えば、オクチル硫
酸すトリウムなどのような他のアルコ発明の効果 以上のように、本発明は油状の試料に、少−¥のアルコ
ール、水及び4面活性剤を添加したものをエマルジョン
化し、その溶液をプラズマ発光分析θ、で測′111す
ることによって、試料中のケイ素を簡(i’7、小体に
精度よ〈定t、lできるという効果がある。
このh法は、油状試イ4に初めから含まれ、あるいiJ
、添加さ71.たケイ素以外の元素、例えば鉄、銅。
゛−ノクールなどの定)、:にも応用できる。
【図面の簡単な説明】
Iシゝ、1図及び第2図はそれぞれ本発明の実施例に、
(7・いで、試f’l採1jvf−,i:及び1ljL
而活性面濃度のケイ紫外411++“1にシ・1する影
響を示す図である。 代理人の氏名 −jr川用士 中 尾 敏 男 はが1
名第1図 試料採水4(、、、。 @2図 界面律粧利儂5(z。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ケイ素を含む油状試料にアルコールと水及び界面活性剤
    を力11えてエマルゾョン化した試料溶液中のり゛イ素
    を、プラズマ発光分析法によって定量することを’I!
    j 徴とするケイ素の分析法0
JP10516283A 1983-06-13 1983-06-13 ケイ素の分析法 Pending JPS59230141A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05149881A (ja) * 1991-11-28 1993-06-15 Mitsubishi Petrochem Co Ltd 高周波プラズマを用いた分析方法
JP2005017250A (ja) * 2003-06-30 2005-01-20 Horiba Ltd Icp分析方法
JP2007108156A (ja) * 2005-09-14 2007-04-26 Mitsui Chemical Analysis & Consulting Service Inc 有機珪素化合物中の珪素の定量方法
JP2018063242A (ja) * 2016-10-07 2018-04-19 アークレイ株式会社 プラズマ分光分析方法、及び非ターゲットに由来するプラズマ発光の抑制剤

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