JPS59228430A - Semiconductor circuit - Google Patents
Semiconductor circuitInfo
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- JPS59228430A JPS59228430A JP58102586A JP10258683A JPS59228430A JP S59228430 A JPS59228430 A JP S59228430A JP 58102586 A JP58102586 A JP 58102586A JP 10258683 A JP10258683 A JP 10258683A JP S59228430 A JPS59228430 A JP S59228430A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、半導体回路技術に適用して特に有効な技術
に関するもので、たとえば、EOLレベルの信号をTT
Lレベルの信号に変換するためのレベル変換回路に関し
、I!!jに半導体集積回路化されるのに適したレベル
変換回路に利用して有効な技術に関するものである。Detailed Description of the Invention [Technical Field] The present invention relates to a technique that is particularly effective when applied to semiconductor circuit technology.
Regarding a level conversion circuit for converting to an L level signal, I! ! The present invention relates to a technique effective for use in a level conversion circuit suitable for being integrated into a semiconductor integrated circuit.
本発明者が検討したところにより、本発明の詳細な説明
する。The present invention will be described in detail based on studies conducted by the inventor.
論理LSI(大規模集積回路)とメモリを組み合わせて
計算機等のシステムを構成する場合、システムを高速化
するために論理LSIを、TTL(トランジスタ・トラ
ンジスタ・ロジック)回路に比べて動作速度の速いEO
L(エミッタ・カップルド・ロジック)回路もしくはO
ML(カレント・モード・ロジック)と呼ばれる論理回
路を用いて構成することがある。When configuring a system such as a computer by combining a logic LSI (large-scale integrated circuit) and memory, the logic LSI is replaced with an EO, which has a faster operating speed than a TTL (transistor-transistor-logic) circuit, in order to speed up the system.
L (emitter coupled logic) circuit or O
It may be configured using a logic circuit called ML (current mode logic).
しかしながら、一般にメモリはTTLレベルの集積回路
であるため、EOL回路からなる論理LSIとTTLレ
ベルのメモリとによってシステムを構成する場合、両者
間にレベル変換回路が必要とされることがわかった。However, since memories are generally TTL level integrated circuits, it has been found that when a system is configured by a logic LSI consisting of an EOL circuit and a TTL level memory, a level conversion circuit is required between the two.
第1図は、このような場合に、−0,9〜−1,7Vの
よりなEOLレベルの信号を+0.3〜3.7■のよう
なTTLレベルの信号に変換するのに使用される本発明
に先だち、本発明者が開発したレベル変換回路の構成例
を示す。しかし、第1図に示すようなレベル変換回路で
は、差動入力回路な構成する差動トランジスタQ、とQ
、のコレクタ抵抗R+ 、R1が+5vのような正の電
源電圧Vccに接続され、定電流用トランジスタQ3の
エミッタ側の抵抗R3が−5,2Vのような負の電源電
圧v0に接続される。そのため、トランジスタQ++Q
2のコレクタとエミッタ間には7V以上の電圧が印加さ
れるおそれがある。Figure 1 shows that in such a case, the EOL level signal of -0.9 to -1.7V is converted to a TTL level signal of +0.3 to 3.7V. 1 shows an example of the configuration of a level conversion circuit developed by the inventor of the present invention prior to the present invention. However, in the level conversion circuit shown in Figure 1, the differential input circuit consists of differential transistors Q and Q.
, are connected to a positive power supply voltage Vcc such as +5V, and a resistor R3 on the emitter side of the constant current transistor Q3 is connected to a negative power supply voltage v0 such as -5.2V. Therefore, transistor Q++Q
There is a possibility that a voltage of 7V or more may be applied between the collector and emitter of No. 2.
しかるに、近年、LSIの高速化がますます要求される
ようになってきており、そのため、第1図に示すような
レベル変換回路も高速化することが望まれる。そこで、
LSIを微細化してトランジスタQ+ 、Q−の素子寸
法を小さくさせろことによってレベル変換の高速化を図
ることが考えられる。However, in recent years, there has been an increasing demand for higher speed LSIs, and therefore it is desired that the level conversion circuit shown in FIG. 1 also be faster. Therefore,
It is conceivable to increase the speed of level conversion by miniaturizing the LSI and reducing the element dimensions of transistors Q+ and Q-.
しかし、LSIを微細化してトランジスタQ1゜Q、の
素子寸法を縮小させると、トランジスタの耐圧が低下す
るため、第1図に示すようなレベル変換回路では、トラ
ンジスタQl 、Q2のコレクタ・エミッタ間の耐圧が
不充分となり、7■のような電位差に耐えられなくなる
という問題点かあることか本発明者によって明らかにさ
れた。However, when LSIs are miniaturized and the element dimensions of transistors Q1 and Q2 are reduced, the withstand voltage of the transistors decreases. The inventor of the present invention has clarified that there is a problem in that the withstand voltage is insufficient and it is not possible to withstand a potential difference of 7μ.
本発明の一つの目的は、低耐圧のトランジスタにより高
い電位差を取り扱い得る半導体回路を提供することにあ
る。One object of the present invention is to provide a semiconductor circuit that can handle high potential differences using low-voltage transistors.
本発明の一つの目的は、素子寸法の小さい半導体集積回
路を提供することにある。One object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit with small element dimensions.
本発明の一つの目的は、高速動作の半導体回路を提供す
ることにある。One object of the present invention is to provide a semiconductor circuit that operates at high speed.
本発明の一つの目的は、高速動作のできるレベル変換回
路を提供することにある。One object of the present invention is to provide a level conversion circuit that can operate at high speed.
本発明の一つの目的は、半導体集積回路に適合したレベ
ル変換回路を提供することにある。One object of the present invention is to provide a level conversion circuit suitable for semiconductor integrated circuits.
本発明の一つの目的は、高集積化に適したレベル変換技
術を提供することにある。One object of the present invention is to provide a level conversion technique suitable for high integration.
本発明の一つの目的は、高速論理回路に適した高耐圧回
路技術を提供することにある。One object of the present invention is to provide high-voltage circuit technology suitable for high-speed logic circuits.
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述2よび添付図面からあきらかになるであ
ろう。The above and other objects and novel features of the present invention include:
It will become clear from Description 2 of this specification and the attached drawings.
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.
すなわちこの発明は、差動入力タイプのレベル変換回路
において、例えば差動トランジスタのコレクタと電源電
圧との間にそれぞれ新たなトランジスタを設け℃差動ト
ランジスタと直列に接続し、この追加したトランジスタ
のベースに回路の接地電位のような電源電圧よりも低い
定電圧を印加させておくことによって、差動トランジス
タのコレクタとエミッタ間に印加される電位差を減少さ
せ、これによりて差動トランジスタの素子寸法を減少さ
せて高速化させるのに伴なって差動トランジスタの耐圧
が下がっても破壊されないようにして上記目的を達成す
るものである。That is, the present invention provides a differential input type level conversion circuit in which, for example, a new transistor is provided between the collector of the differential transistor and the power supply voltage, and is connected in series with the differential transistor, and the base of the added transistor is connected in series with the differential transistor. By applying a constant voltage lower than the power supply voltage, such as the ground potential of the circuit, to the circuit, the potential difference applied between the collector and emitter of the differential transistor is reduced, thereby reducing the element size of the differential transistor. The above object is achieved by preventing the differential transistor from being destroyed even if the withstand voltage of the differential transistor decreases as the speed increases.
以下図面を用いてこの発明を具体的に説明する。The present invention will be specifically explained below using the drawings.
第2図は本発明に係るレベル変換回路の一実施例を示す
ものである。図において、QotQtが差動入力回路を
構成する差動トランジスタで、特に制限されないが、こ
の実施例ではトランジスタQoと並列に入力トランジス
タQ12が設けられ、トランジスタQoとQI!のベー
スに入力信号vIn1゜vin2が印刀口される。FIG. 2 shows an embodiment of a level conversion circuit according to the present invention. In the figure, QotQt is a differential transistor forming a differential input circuit, and although not particularly limited, in this embodiment, an input transistor Q12 is provided in parallel with the transistor Qo, and the transistors Qo and QI! The input signals vIn1 and vin2 are applied to the bases of .
また、差動トランジスタQ、のベースには入力i号vi
nのロウレベルとハイレベルのほぼ中間ルヘルノ基準電
圧vref、カ、ロジックシュレツショールドとして印
加されることにより、レベル変換と同時に論理動作も行
なえるようにされている。Moreover, the input i signal vi is connected to the base of the differential transistor Q.
By applying the Luherno reference voltage vref, which is approximately intermediate between the low level and the high level of n, as a logic threshold, it is possible to perform logic operations simultaneously with level conversion.
上記差動トランジスタQ、IとQ10の共通エミッタと
電源電圧■。Eとの間には、第1図のものと同じように
、定電流用トランジスタQ、と抵抗R8とが接続されて
いる。トランジスタQ3はベースに一定の基準電圧Vr
ef2が印加されることにより定電流源として動作され
る。Common emitter and power supply voltage of the above differential transistors Q, I and Q10. A constant current transistor Q and a resistor R8 are connected between the constant current transistor Q and the resistor R8, as in the case of FIG. Transistor Q3 has a constant reference voltage Vr at its base.
By applying ef2, it operates as a constant current source.
また、この実施例では、上記差動トランジスタQoとQ
2のコレクタと抵抗R+ −R4との間にそれぞれ別個
のトランジスタQ4とQ、J とが設けられ、トランジ
スタQ+++ Q+tと直列に接続されている。そし
て、このトランジスタQoとQ+tのベースには、回路
の接地電位のような電源電圧■、。よりも低い一足の電
圧が印加されている。Further, in this embodiment, the differential transistors Qo and Q
Separate transistors Q4 and Q, J are provided between the collectors of 2 and the resistors R+-R4, respectively, and are connected in series with the transistors Q+++Q+t. At the bases of these transistors Qo and Q+t, there is a power supply voltage (2), such as the ground potential of the circuit. A voltage of one foot lower than that is applied.
そのため、例えば、電源電圧Vccが+5■であるとす
ると、トランジスタQ4 とQ、のエミッタ電圧はその
ベース電位たる接地電位(0■)よりもベース・エミッ
タ間電圧0.7v分だけ低い一07Vにされるためコレ
クタとエミッタ間にはトランジスタQ、とQ2のオフ時
に最大で5.7■程度の電圧が印加されるにすぎない。Therefore, for example, if the power supply voltage Vcc is +5■, the emitter voltage of transistors Q4 and Q is -07V, which is lower than the ground potential (0■), which is the base potential, by the base-emitter voltage of 0.7V. Therefore, a maximum voltage of about 5.7 cm is applied between the collector and emitter when transistors Q and Q2 are off.
一方、差動トランジスタQ++については、コレクタ電
圧は上記のごと<−0,7Vであり、またエミッタ電圧
は、ベースに印加される入力信号の振幅を例えば−0,
8〜−1,6vとすると、それよりもベース・エミッタ
間電圧0.7V分だけ低い−1,5〜−2,3■程度に
される。そのため、差動トランジスタQnのコレクタと
エミッタ間には、最大で−1,6V程度の電圧が印加さ
れるにすぎない。On the other hand, for the differential transistor Q++, the collector voltage is <-0.7V as mentioned above, and the emitter voltage is -0.
If the voltage is set to 8 to -1.6V, then the base-emitter voltage is lowered by 0.7V to about -1.5 to -2.3V. Therefore, a maximum voltage of only about -1.6 V is applied between the collector and emitter of the differential transistor Qn.
また、差動トランジスタQ、については、ベースに入力
信号v1nのハイレベルとロウレベルのほぼ中間の−1
,2〜−1,3■のような基準電圧■ref1が印加さ
れるとすると、コレクタ電圧は一〇、7Vでありエミッ
タ電圧は基準電圧■ref1よりも70分だけ低い−1
,9〜−2,OVにされるため、コレクタとエミッタ間
には−1,2〜−1,3■の電圧が印加されるにすぎな
い。Also, for the differential transistor Q, the base is -1, which is approximately halfway between the high level and low level of the input signal v1n.
, 2 to -1, 3■, the collector voltage is 10.7V and the emitter voltage is -1 which is 70 minutes lower than the reference voltage ref1.
,9 to -2,OV, only a voltage of -1,2 to -1,3■ is applied between the collector and emitter.
このように、上記実施例では、差動トランジスタQ++
e Q+t+ Q2はもちろん新たなトランジスタQ−
= Qa についても、コレクタとエミッタ間には5
.7以上の電圧が印加されない。そのため、第1図の回
路に比べてトランジスタの耐圧を低くすることができる
ので、トランジスタQn*Q+t+Q、の素子寸法を小
さくしてレベル変換動作を高速化させることができるよ
うになる。In this way, in the above embodiment, the differential transistor Q++
e Q+t+ Q2 is of course a new transistor Q-
= Regarding Qa, there is also 5 between the collector and emitter.
.. No voltage of 7 or higher is applied. Therefore, the withstand voltage of the transistor can be lowered compared to the circuit shown in FIG. 1, so the element size of the transistor Qn*Q+t+Q can be reduced to speed up the level conversion operation.
しかも、この場合、差動トランジスタQ+z(Lのコレ
クタと抵抗R,,R2との間に新たにトランジスタQ4
とQ、が介挿されていても、トランジスタQ4 とQ、
はベースに接地電位が印加され、常にオン状態にさせら
れている。そのため、回路的には、トランジスタQ4
とQ、がないのと同じであり、実施例の回路はトランジ
スタQ4 とQ。Furthermore, in this case, a new transistor Q4 is added between the collector of the differential transistor Q+z (L and the resistors R, , R2).
Even if transistors Q and Q are inserted, transistors Q4 and Q,
The ground potential is applied to the base, and it is always turned on. Therefore, from a circuit perspective, transistor Q4
This is the same as not having transistors Q4 and Q, and the circuit of the embodiment has transistors Q4 and Q.
かないものと同じような論理動作をし、かつ動作速度も
遅くされることはない。It has the same logical operation as a temporary one, and its operation speed is not slowed down.
従って、入力信号vin1.vtn2がともにロウレベ
ルにされると、トランジスタQot Ql!はカットオ
フされ、差動トランジスタQ、に電流が流されて出力V
。U、は抵抗R7の電圧降下により2〜3Vのようなロ
ウレベルにされる。しかるに、入力信号vin1もしく
はvin2の少なくとも一方が)・イレベルにされると
、そのトランジスタ(Ql、もしくはQ+t)がオンさ
れて抵抗R7に電流が流され、トランジスタQ、はカッ
トオフされる。そのため、出力V。utは電源電圧■c
cに近い+5Vのようなレベルにされる。Therefore, input signal vin1. When both vtn2 are brought to low level, the transistor Qot Ql! is cut off, current flows through the differential transistor Q, and the output V
. U, is set to a low level of 2 to 3 V due to the voltage drop across the resistor R7. However, when at least one of the input signals vin1 and vin2 is brought to the high level, the transistor (Ql or Q+t) is turned on, current flows through the resistor R7, and the transistor Q is cut off. Therefore, the output V. ut is the power supply voltage ■c
It is set to a level such as +5V, which is close to c.
この場合、出力V。utのロウレベルは、抵抗R3の抵
抗値によって決定され、実施例においては、トランジス
タQ、を飽和させない範囲まで下げることができ、出力
V。U、としては−0,5■程度まで下げることが可能
である。In this case, the output V. The low level of ut is determined by the resistance value of the resistor R3, and in the embodiment, it can be lowered to a range that does not saturate the transistor Q, and the output V. It is possible to lower U to about -0.5 .
差動対トランジスタとコレクタに縦続接続された抵抗と
の間に、そのベースを接地したトランジスタを縦続接続
することによって、差動対トランジスタのエミッターコ
レクタ間に加わる電圧を小さくすることができ、低耐圧
のトランジスタによって、高い電位差を取り扱う回路を
構成することができる。By connecting a transistor whose base is grounded in cascade between the differential pair transistor and a resistor connected in cascade to the collector, the voltage applied between the emitter and collector of the differential pair transistor can be reduced, resulting in a low breakdown voltage. With these transistors, it is possible to construct a circuit that can handle high potential differences.
素子寸法を縮小した半導体集積回路により、上記の如き
回路を構成すれば、高集積でかつ大きな電位差を扱う回
路を構成することができる。By constructing a circuit such as the one described above using a semiconductor integrated circuit with reduced element dimensions, it is possible to construct a circuit that is highly integrated and can handle a large potential difference.
また、素子寸法を縮小することによって、高速動作の可
能な半導体集積回路を提供することができる。Further, by reducing the element dimensions, a semiconductor integrated circuit capable of high-speed operation can be provided.
差動入力タイプのレベル変換回路において、一対の差動
トランジスタと回路の一方の電源電圧との間にそれぞれ
別個のトランジスタを設けて直列に接続させ、この新た
なトランジスタの制御用端子(ベース)には上記電源電
圧よりも低い一定の電圧を印加させるようにしたので、
差動トランジスタの端子間に印加される電圧が減少され
、これによってレベル変換回路を構成するトランジスタ
の素子寸法を縮小して回路を高速化させた結果、差動ト
ランジスタの耐圧が低下されても、耐圧以上の電圧が印
加されることがなくなって素子の破壊が防止される。そ
の結果、レベル変換回路を含むLSIの微細化による高
速素子性能を生かした回路が実現できるという効果があ
る。In a differential input type level conversion circuit, separate transistors are connected in series between a pair of differential transistors and one power supply voltage of the circuit, and the control terminal (base) of this new transistor is Since we applied a constant voltage lower than the above power supply voltage,
The voltage applied between the terminals of the differential transistor is reduced, which reduces the element dimensions of the transistors that make up the level conversion circuit and increases the speed of the circuit. Even if the withstand voltage of the differential transistor is reduced, A voltage higher than the withstand voltage is not applied, and the element is prevented from being destroyed. As a result, a circuit that takes advantage of high-speed element performance due to miniaturization of LSI including a level conversion circuit can be realized.
以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづき
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the above Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.
たとえば、上記レベル変換回路は、第3図に示すように
入力バッファ回路Aと、EOLレベルの内部ロジック部
Bと、このロジック部Bの出力信号の’DT、L、レベ
ルに変換して出力する出力回路0とからなる例えばメモ
リドライバのようなインターフェース用LSIに適用す
ることができる。For example, as shown in FIG. 3, the level conversion circuit converts the input buffer circuit A, the internal logic section B at the EOL level, and the output signal of the logic section B into 'DT, L, and output levels. The present invention can be applied to an interface LSI such as a memory driver, which includes an output circuit 0.
なお、上記のようなインターフェース用LSIにこの発
明を適用した場合、出力回路部にはメモリ素子のような
接続される側の回路の特性に合わせてそれぞれ出力特性
の異なる複数の出力回路を設け、上記のようなレベル変
換回路をこれらの複数の出力回路の前段に一つだけ設け
て共用させるようにすることができる。Note that when the present invention is applied to the above-mentioned interface LSI, the output circuit section is provided with a plurality of output circuits each having different output characteristics in accordance with the characteristics of the circuit to be connected, such as a memory element. Only one level conversion circuit as described above can be provided in front of these plurality of output circuits so that they can be shared.
また、上記インターフェース用LSIには、メモリ素子
等を駆動してそこから出力さtたTTLレベルの信号を
再びEOLレベルに変換する回路を同−LSI内に設け
るようにすることも可能である。Further, it is also possible to provide the above-mentioned interface LSI with a circuit that drives a memory element or the like and converts a TTL level signal outputted therefrom back to an EOL level.
なお、上記実施例では、差動トランジスタQ1.。Note that in the above embodiment, the differential transistors Q1. .
Q、と抵抗R,、R,との間に直列接続されたトランジ
スタQ4とQ、のベースに接地電位を印加させているが
、これに限定されるものではなく、電源電圧■ccより
も低い他の定電圧があればそれを使用することができる
。A ground potential is applied to the bases of transistors Q4 and Q, which are connected in series between Q and resistors R, R, but is not limited to this, and is lower than the power supply voltage ■cc. You can use any other constant voltage if you have one.
また、実施例はバイポーラトランジスタにより構成され
たレベル変換回路について説明したが、この発明はMO
SFETからなるレベル変換回路にも応用することがで
きる。Furthermore, although the embodiment has described a level conversion circuit configured with bipolar transistors, this invention
It can also be applied to a level conversion circuit made of SFET.
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるECL回路における
レベル変換回路に適用した場合について説明したが、そ
れに限定されるものではなく、たとえば、EOL回路そ
の他の論理回路などに適用できる。In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to a level conversion circuit in an ECL circuit, which is the background field of application, but the invention is not limited thereto. It can be applied to logic circuits, etc.
本発明は、少なくとも、低耐圧のトランジスタで高電位
差すべてを扱う回路に適用できる。The present invention can be applied at least to a circuit that handles all high potential differences using low-voltage transistors.
第1図は本発明に先だち本発明者が開発した差動入力タ
イプのレベル変換回路の構成例を示す回路図、
第2図は本発明に係るレベル変換回路の一実施例を示す
回路図、
第3図は本発明のレベル変換回路を含むインターフェー
ス用LSIの構成例を示すブロック図である。
Qn*Qt・・・差動トランジスタ、Q3・・・定電流
用トランジスタ、Q4 * Qs・・・トランジスタ
、R,、R,・・・抵抗、vin・・・入力電圧、vo
ut ・・・出力電圧。
第 1 図
1rEt (−6,2’F)
第 2 図
万E
第 3 図FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration example of a differential input type level conversion circuit developed by the present inventor prior to the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of a level conversion circuit according to the present invention, FIG. 3 is a block diagram showing a configuration example of an interface LSI including the level conversion circuit of the present invention. Qn*Qt...differential transistor, Q3...constant current transistor, Q4*Qs...transistor, R,, R,...resistance, vin...input voltage, vo
ut...Output voltage. Figure 1 1rEt (-6,2'F) Figure 2 1000E Figure 3
Claims (1)
えたレベル変換回路であって、上記差動トランジスタと
回路の一万の電源電圧端子との間にそれぞれ別個のトラ
ンジスタが直列に接続され、該トランジスタの制御用端
子には上記電源電圧よりも低い一定の電圧が印カロされ
るようにされてなる半導体回路。1. A level converter circuit equipped with a differential input circuit having a pair of differential transistors, wherein separate transistors are connected in series between the differential transistors and the 10,000 power supply voltage terminals of the circuit, A semiconductor circuit in which a constant voltage lower than the power supply voltage is applied to a control terminal of the transistor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58102586A JPS59228430A (en) | 1983-06-10 | 1983-06-10 | Semiconductor circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58102586A JPS59228430A (en) | 1983-06-10 | 1983-06-10 | Semiconductor circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59228430A true JPS59228430A (en) | 1984-12-21 |
Family
ID=14331332
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58102586A Pending JPS59228430A (en) | 1983-06-10 | 1983-06-10 | Semiconductor circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59228430A (en) |
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WO1989001262A2 (en) * | 1987-07-29 | 1989-02-09 | Fujitsu Limited | High-speed electronic circuit having a cascode configuration |
US5510745A (en) * | 1987-07-29 | 1996-04-23 | Fujitsu Limited | High-speed electronic circuit having a cascode configuration |
WO2009131215A1 (en) * | 2008-04-25 | 2009-10-29 | 日本電気株式会社 | Driver circuit |
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1983
- 1983-06-10 JP JP58102586A patent/JPS59228430A/en active Pending
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