JPS59226853A - 鋼材における螢光磁粉探傷方法 - Google Patents
鋼材における螢光磁粉探傷方法Info
- Publication number
- JPS59226853A JPS59226853A JP10125683A JP10125683A JPS59226853A JP S59226853 A JPS59226853 A JP S59226853A JP 10125683 A JP10125683 A JP 10125683A JP 10125683 A JP10125683 A JP 10125683A JP S59226853 A JPS59226853 A JP S59226853A
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- Japan
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- value
- magnetic powder
- flaw
- steel
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、磁化させた鋼材の表面に螢光磁粉を付着さ
せ、その付着させた磁粉から発せられる光の輝度値が、
付着密度の高い傷の箇所と付着密度の低いその他の箇所
とで高低異方ることを利用して、その輝度値を判別する
ことにより上記鋼材に存在する傷を検出するようにした
鋼材における螢光磁粉探傷方法に関するものである。
せ、その付着させた磁粉から発せられる光の輝度値が、
付着密度の高い傷の箇所と付着密度の低いその他の箇所
とで高低異方ることを利用して、その輝度値を判別する
ことにより上記鋼材に存在する傷を検出するようにした
鋼材における螢光磁粉探傷方法に関するものである。
従来よシこの種の検出方法にあっては、上記鋼材の表面
に付着した螢光磁粉から発せられる光の輝度値を測定し
、その輝度値が一定の値よシも高いか低いかを判別する
ことによって傷が存在するか否かを判別している。しか
しながらこのような方法は、鋼材表面に対する螢光磁粉
の付着密度が全体的に高い部分や全体的に低い部分が交
互に存在したシすると、前者の部分では傷が無い場所に
おいても比較的高い輝度値が得られ、後者の部分では傷
のある場所でも比較的低い輝度値が得られる為、前者の
部分では傷が無い場所を傷あシと誤って判断してしまっ
たり、後者の部分では傷のある場所を傷無しと誤って判
断してしまったシする欠点があった。
に付着した螢光磁粉から発せられる光の輝度値を測定し
、その輝度値が一定の値よシも高いか低いかを判別する
ことによって傷が存在するか否かを判別している。しか
しながらこのような方法は、鋼材表面に対する螢光磁粉
の付着密度が全体的に高い部分や全体的に低い部分が交
互に存在したシすると、前者の部分では傷が無い場所に
おいても比較的高い輝度値が得られ、後者の部分では傷
のある場所でも比較的低い輝度値が得られる為、前者の
部分では傷が無い場所を傷あシと誤って判断してしまっ
たり、後者の部分では傷のある場所を傷無しと誤って判
断してしまったシする欠点があった。
そこで本発明は上述の欠点を除くようにしたもので、輝
度値の高低によって傷の有無を判別するものであっても
、上記のような鋼材表面の各部における磁粉の付着密度
の高低に左右されることなく、傷の存在を正確に判別す
ることのできる鋼材における螢光磁粉探傷方法の提供を
目的とする。
度値の高低によって傷の有無を判別するものであっても
、上記のような鋼材表面の各部における磁粉の付着密度
の高低に左右されることなく、傷の存在を正確に判別す
ることのできる鋼材における螢光磁粉探傷方法の提供を
目的とする。
以下本願の実施例を示す図面について説明する。
螢光自動探傷装置をブロックで示す第１図において、１
は周知の磁化装置、２は周知の磁粉散布装置、３は傷検
出装置、４は周知のマーキング装置を夫々示し、傷の検
出が行なわれるべき製材は各装置に対して矢印で示され
る様な順に送られる様になっている。即ち鋼材は磁化装
置１によって周知の如く磁化され、磁粉散布装置によっ
てその鋼材に向けて螢光磁粉が水を媒体として散布され
る。
は周知の磁化装置、２は周知の磁粉散布装置、３は傷検
出装置、４は周知のマーキング装置を夫々示し、傷の検
出が行なわれるべき製材は各装置に対して矢印で示され
る様な順に送られる様になっている。即ち鋼材は磁化装
置１によって周知の如く磁化され、磁粉散布装置によっ
てその鋼材に向けて螢光磁粉が水を媒体として散布され
る。
その結果、鋼材において傷が存在する部分には漏洩磁束
が生じている為その部分に螢光磁粉が多く付着する。上
記の梯に螢光磁粉を付着させられた鋼材は次に検出装置
３によって傷の検出が行なわれる。そしてその傷の検出
が行なわれたならばマーキング装置４によ−て傷の箇所
にマークが周知の如く付される。尚上記磁粉散布装置２
とし、では水を媒体とする手段以外の任意の手段を利用
することも可能である。
が生じている為その部分に螢光磁粉が多く付着する。上
記の梯に螢光磁粉を付着させられた鋼材は次に検出装置
３によって傷の検出が行なわれる。そしてその傷の検出
が行なわれたならばマーキング装置４によ−て傷の箇所
にマークが周知の如く付される。尚上記磁粉散布装置２
とし、では水を媒体とする手段以外の任意の手段を利用
することも可能である。
次に上記傷検出装置３について第２図乃至第６図を参照
して詳しく説明する。′まず周知の鋼材５において、６
は傷及びその部分に付着した螢光磁粉を示し、その付着
密度は高いものとなっている。
して詳しく説明する。′まず周知の鋼材５において、６
は傷及びその部分に付着した螢光磁粉を示し、その付着
密度は高いものとなっている。
７ａは鋼材５の表面に付着した磁粉子、７ｂは点在する
磁粉を夫々示し、これらは上記部の部分に比べ、付着密
度については低く、また面積的にはずっと広いものとな
っている。次に上記検出装置３において、８は鋼材５の
表面に紫外線を照射する梯にしたブラックライト、１０
は螢光磁粉から発せられる光を検出する様にしたテレビ
カメラ、１１は検出したビデオ信号の中から各水平、垂
直同期信号を取シ出すビデオ信号制御回路、枝はアナロ
グ信号である上記ビデオ信号をＡ／Ｄ変換しディジタル
化する高速のＡ／Ｄ変換回路、比はＡ／Ｄ変換された結
果を記憶する原画像信号記憶回路、１４ 、１４・・・
は夫々カウンタで、各々は夫々相異なる輝度レベルを個
別に加算するように構成しである。１５ハスレツジホー
ルドレベル（以下８Ｈレベルと略記する）を決定する回
路、１０は原画像信号の中から回路１５で設定されたＳ
Ｒレベル以下の信号をカットする比較回路、１７は比較
回路１６による比較の結果を傷信号として記憶する記憶
回路で、これはマーキング装置４に接続されている。
磁粉を夫々示し、これらは上記部の部分に比べ、付着密
度については低く、また面積的にはずっと広いものとな
っている。次に上記検出装置３において、８は鋼材５の
表面に紫外線を照射する梯にしたブラックライト、１０
は螢光磁粉から発せられる光を検出する様にしたテレビ
カメラ、１１は検出したビデオ信号の中から各水平、垂
直同期信号を取シ出すビデオ信号制御回路、枝はアナロ
グ信号である上記ビデオ信号をＡ／Ｄ変換しディジタル
化する高速のＡ／Ｄ変換回路、比はＡ／Ｄ変換された結
果を記憶する原画像信号記憶回路、１４ 、１４・・・
は夫々カウンタで、各々は夫々相異なる輝度レベルを個
別に加算するように構成しである。１５ハスレツジホー
ルドレベル（以下８Ｈレベルと略記する）を決定する回
路、１０は原画像信号の中から回路１５で設定されたＳ
Ｒレベル以下の信号をカットする比較回路、１７は比較
回路１６による比較の結果を傷信号として記憶する記憶
回路で、これはマーキング装置４に接続されている。
上記構成の傷検出装置３にあっては、その装置３が配置
された場所に鋼材５が送られてくるとブラックライト８
から紫外線が鋼材に向は照射される。すると鋼材に付着
している螢光磁粉は、付着密度が高い所では強い螢光を
低い所では弱い螢光を夫々発する。この状態において、
テレビカメラ１０、信号処理回路Ｈ等は、長寸の鋼材５
においてテレビカメラ１０の正］Ｉ１１に到来した部分
の表面を多数の仮想的な小領域に分割すると共に各々の
領域において上記螢光磁粉から発せられる光の輝度値を
測定する。測定された輝度値はＡ／Ｄ変換回路しを経て
記憶回路Ｂに記憶される。各カウンタ１４゜１４・・・
は各々に予め設定されている輝度値（輝度レベル）の信
号が記憶回路邦にどれだけの数だけ記憶されているかを
カウントする。即ち、各々に予め設定されている輝度値
と同じ輝度値の小領域がいくつあるかを夫々個別にカウ
ントする。カウンタ１４ 、１４・・・がそのようなカ
ウントを行なってしまうと、ＳＲレベル決定回路】５は
それらからの信号を受けて、それらを相対的に低い輝度
値のグループと相対的に高い輝度値とに分類する。
された場所に鋼材５が送られてくるとブラックライト８
から紫外線が鋼材に向は照射される。すると鋼材に付着
している螢光磁粉は、付着密度が高い所では強い螢光を
低い所では弱い螢光を夫々発する。この状態において、
テレビカメラ１０、信号処理回路Ｈ等は、長寸の鋼材５
においてテレビカメラ１０の正］Ｉ１１に到来した部分
の表面を多数の仮想的な小領域に分割すると共に各々の
領域において上記螢光磁粉から発せられる光の輝度値を
測定する。測定された輝度値はＡ／Ｄ変換回路しを経て
記憶回路Ｂに記憶される。各カウンタ１４゜１４・・・
は各々に予め設定されている輝度値（輝度レベル）の信
号が記憶回路邦にどれだけの数だけ記憶されているかを
カウントする。即ち、各々に予め設定されている輝度値
と同じ輝度値の小領域がいくつあるかを夫々個別にカウ
ントする。カウンタ１４ 、１４・・・がそのようなカ
ウントを行なってしまうと、ＳＲレベル決定回路】５は
それらからの信号を受けて、それらを相対的に低い輝度
値のグループと相対的に高い輝度値とに分類する。
この分類の場合、相対的に低い輝度値のグループにはカ
ウント数の多いカウンタ１４が分類され、高い輝度値の
グループにはカウント数の少ないカウンタ１４が分類さ
れる。更に上記Ｓ■レベル決決定回路上上記相対的に低
い輝度値のグループと相対的に高い輝度値のグループと
の境界付近の輝度値を基準値即ち８Ｈレベルとして検出
する。すると比較回路ｉｅは回路Ｂに記憶されている多
数の輝度値と上記Ｓ■レベルとを比較し、８Ｈレベルよ
りも高い輝度値となっている小領域を傷の存在する小領
域と判別して、それに対応する信号を記憶回路１７に記
憶させる。記憶回路１７に記憶された信号はマーキング
装置４に伝えられ、銀材５がそのマーキング装置４の置
かれた場所に到達した時に、そのマーキング装置４によ
って上記検出された傷に正確に対応する位置に傷の位置
を示す為のマーキングが行なわれる。
ウント数の多いカウンタ１４が分類され、高い輝度値の
グループにはカウント数の少ないカウンタ１４が分類さ
れる。更に上記Ｓ■レベル決決定回路上上記相対的に低
い輝度値のグループと相対的に高い輝度値のグループと
の境界付近の輝度値を基準値即ち８Ｈレベルとして検出
する。すると比較回路ｉｅは回路Ｂに記憶されている多
数の輝度値と上記Ｓ■レベルとを比較し、８Ｈレベルよ
りも高い輝度値となっている小領域を傷の存在する小領
域と判別して、それに対応する信号を記憶回路１７に記
憶させる。記憶回路１７に記憶された信号はマーキング
装置４に伝えられ、銀材５がそのマーキング装置４の置
かれた場所に到達した時に、そのマーキング装置４によ
って上記検出された傷に正確に対応する位置に傷の位置
を示す為のマーキングが行なわれる。
次に上記テレビカメラ１０及び回路ｎ乃至１７による信
号の処理操作について更に説明すれば次の通シである。
号の処理操作について更に説明すれば次の通シである。
即ち、テレビカメラ１０からのビデオ信号をビデオ信号
処理回路１１によって第５図に示すように、水平（ロ）
、垂直（至）方向を各々多数に、−例として２ｊ乙に分
割し、２ｊ乙×２５６の画素４（小領域）を生成する。
処理回路１１によって第５図に示すように、水平（ロ）
、垂直（至）方向を各々多数に、−例として２ｊ乙に分
割し、２ｊ乙×２５６の画素４（小領域）を生成する。
さらに、Ａ／Ｄ変換回路νにて各画素の輝度レベル（輝
度値）を決定し、Ｈ，Ｖ位置に対応させて配列した記憶
回路詔にそのレベルを記憶させる。カウンタ１４ 、１
４・・・は多数のｙＲ度分解レベルの個数、−例として
、２３１゜たけ配置され、各カウンタ１４は輝度レベル
θ、へコ、・・・、 ２３；！；に対応づけられている
。そしてカウンタ１４は原画像信号記憶回路Ｕに記憶さ
れたすべての画素の輝度レベルを読み取シカウントして
いく。全画素の輝度レベルのカウントが終了したのち、
Ｓ■レベル設定回路１５はカウント結果を検出し、第６
図に示す輝度レベルのヒストグラムを求める。即ち、各
輝度レベルのところに全画素のうちの何％の画素が夫々
分布しているかを求める。そして回路Ｌ５は更に、その
ヒストグラムから、分布が急変している輝度レベル（即
ち、相対的に低い輝度レベルでしかもそのような輝度レ
ベルとなっている画素の数が多い輝度レベルの範囲と、
相対的に高い輝度レベルでしかもそのような輝度レベル
となっている画素の数が著しく少ない輝度レベルの範囲
との境界のレベル）を８ＨレベルＤとして決定する。比
較回路１６は、第５図に示される如く、原画像信号記憶
回路１３に記憶されている各画素の輝度レベル（イ）と
上記８ＨレベルＤとの比較をおこない、８ＨレベルＤ以
下のレベルの画素は７０′として、またＳＩＪレベルＤ
以上のレベルの画素はその棟まのレベルを、原画像信号
記憶回路用と全く同様の■、■位置に対応配列された傷
信号記憶回路１７に結果を記憶させる。（以上の動作は
マイクロコンピュータによって極めて容易に実現できる
。） 以上のようにして行なう傷の判別は、順次テレビカメラ
エ０の正面に送られてくる銅材５各部分部分について夫
々行なわれる。即ちそれらの部分部分ニオいてＳ■レベ
ルが決定され、それに基づいて傷の判別が行なわれる。
度値）を決定し、Ｈ，Ｖ位置に対応させて配列した記憶
回路詔にそのレベルを記憶させる。カウンタ１４ 、１
４・・・は多数のｙＲ度分解レベルの個数、−例として
、２３１゜たけ配置され、各カウンタ１４は輝度レベル
θ、へコ、・・・、 ２３；！；に対応づけられている
。そしてカウンタ１４は原画像信号記憶回路Ｕに記憶さ
れたすべての画素の輝度レベルを読み取シカウントして
いく。全画素の輝度レベルのカウントが終了したのち、
Ｓ■レベル設定回路１５はカウント結果を検出し、第６
図に示す輝度レベルのヒストグラムを求める。即ち、各
輝度レベルのところに全画素のうちの何％の画素が夫々
分布しているかを求める。そして回路Ｌ５は更に、その
ヒストグラムから、分布が急変している輝度レベル（即
ち、相対的に低い輝度レベルでしかもそのような輝度レ
ベルとなっている画素の数が多い輝度レベルの範囲と、
相対的に高い輝度レベルでしかもそのような輝度レベル
となっている画素の数が著しく少ない輝度レベルの範囲
との境界のレベル）を８ＨレベルＤとして決定する。比
較回路１６は、第５図に示される如く、原画像信号記憶
回路１３に記憶されている各画素の輝度レベル（イ）と
上記８ＨレベルＤとの比較をおこない、８ＨレベルＤ以
下のレベルの画素は７０′として、またＳＩＪレベルＤ
以上のレベルの画素はその棟まのレベルを、原画像信号
記憶回路用と全く同様の■、■位置に対応配列された傷
信号記憶回路１７に結果を記憶させる。（以上の動作は
マイクロコンピュータによって極めて容易に実現できる
。） 以上のようにして行なう傷の判別は、順次テレビカメラ
エ０の正面に送られてくる銅材５各部分部分について夫
々行なわれる。即ちそれらの部分部分ニオいてＳ■レベ
ルが決定され、それに基づいて傷の判別が行なわれる。
その結果、上記部分部分毎に夫々螢光磁粉の付着密度が
高かったり低かったりして、それら各部から発せられる
光の輝度値（回路１３に記憶される輝度レベル）が第弘
図（ロ）あるいは（ハ）で示される如く高かったシある
いは低かったシしても、各々に応じてＳ■レベルが夫々
Ｕ。
高かったり低かったりして、それら各部から発せられる
光の輝度値（回路１３に記憶される輝度レベル）が第弘
図（ロ）あるいは（ハ）で示される如く高かったシある
いは低かったシしても、各々に応じてＳ■レベルが夫々
Ｕ。
Ｄ′で示されるように設定される結果、背景雑音（磁粉
雫７ａや点在磁粉など螢光磁粉の付着密度の低いものか
ら得られる信号）は背景雑音として切シ捨て、傷信号（
傷即ち螢光磁粉の付着密度の高いものから得られる信号
）は傷信号として得ることができる。これにより、傷の
存在を正確に判別することができる。
雫７ａや点在磁粉など螢光磁粉の付着密度の低いものか
ら得られる信号）は背景雑音として切シ捨て、傷信号（
傷即ち螢光磁粉の付着密度の高いものから得られる信号
）は傷信号として得ることができる。これにより、傷の
存在を正確に判別することができる。
尚上記付着密度が高かったり低かったりする原因として
は次のようなものがある。
は次のようなものがある。
（１）Ｗｉ材表面の性状の違い。
（２）散布装置によって散布される磁粉の濃度の違い。
（３）ブラックライトからの紫外線の強さの違い。
（４）断面が角の籠利に対し上方から磁粉溶製をふりか
ける場合において、上側に位置する面であるか下側に位
置する面であるかの違い。
ける場合において、上側に位置する面であるか下側に位
置する面であるかの違い。
以上のようにこの発明にあっては、
（イ）鋼材５の表面においてそこに存在する傷６が視認
し難いものであっても、それを検出しようとする場合、
銅材５を磁化させることによって、上記傷６の部分とそ
れ以外の部分とでは螢光磁粉の付着密度を夫々高低に異
ならしめ、傷６の部分からは強い光によって高い輝度値
を、その他の部分からはそれよシも弱い光によって低い
輝度値を得るようにすることができて上記視認し難い傷
を上記輝度値の高低によって容易に判別できる効果があ
る。
し難いものであっても、それを検出しようとする場合、
銅材５を磁化させることによって、上記傷６の部分とそ
れ以外の部分とでは螢光磁粉の付着密度を夫々高低に異
ならしめ、傷６の部分からは強い光によって高い輝度値
を、その他の部分からはそれよシも弱い光によって低い
輝度値を得るようにすることができて上記視認し難い傷
を上記輝度値の高低によって容易に判別できる効果があ
る。
（ロ）しかも上記傷の判別の場合、予め鋼材５に付着さ
れられた螢光磁粉の密度が全体的に濃くて全体的に高い
輝度値が得られる部分や、あるいは反対に密度が全体的
に薄くて全体的に低い輝度値が得られる部分が交互にあ
ったシする場合など、単に輝度値が所定の値よシも高い
か低いかだけの判断では傷かどうかの判別を行ない難い
状況下にあっても１本発明は上記輝度値の測定に当って
はｈ材の一部の表面を多数の小領域に分けて各々の小領
域の輝度値を測定し、それらの小領域の各々の輝度値の
うち、相対的に低い輝度値のグループと、相対的に高い
輝度値のグループとに分類し、しかもその分類に当フて
は相対的に低い輝度値の小領域の数が著しく多くて、相
対的に高い輝度値の小領域の数が著しく少なくなるよう
に分類し、上記相対的に低い輝度値のグループと、高い
輝度値のグループとの境界付近の輝度値を基準値として
傷の存在を判別するようにしたものであるから、上記の
ような状況に左右されることなく傷の存在を正確に判別
できる効果がある。
れられた螢光磁粉の密度が全体的に濃くて全体的に高い
輝度値が得られる部分や、あるいは反対に密度が全体的
に薄くて全体的に低い輝度値が得られる部分が交互にあ
ったシする場合など、単に輝度値が所定の値よシも高い
か低いかだけの判断では傷かどうかの判別を行ない難い
状況下にあっても１本発明は上記輝度値の測定に当って
はｈ材の一部の表面を多数の小領域に分けて各々の小領
域の輝度値を測定し、それらの小領域の各々の輝度値の
うち、相対的に低い輝度値のグループと、相対的に高い
輝度値のグループとに分類し、しかもその分類に当フて
は相対的に低い輝度値の小領域の数が著しく多くて、相
対的に高い輝度値の小領域の数が著しく少なくなるよう
に分類し、上記相対的に低い輝度値のグループと、高い
輝度値のグループとの境界付近の輝度値を基準値として
傷の存在を判別するようにしたものであるから、上記の
ような状況に左右されることなく傷の存在を正確に判別
できる効果がある。
図面は本願の実施例を示すもので、第１図は螢光自動探
傷装置のブロック図、第２図は傷検出装置のブロック図
、第３図は鋼材の斜視図、第を図ハ輝度レベルとスレッ
シホールドレベルとの関係を示す図、第！；図は鋼材表
面の仮想的な分割の様子を示す図、第３図は輝度レベル
の分布の一例を示す図。 ５・・・鋼材、６・・・傷。 第２図 第３図 第５図 ｉ６ 図
傷装置のブロック図、第２図は傷検出装置のブロック図
、第３図は鋼材の斜視図、第を図ハ輝度レベルとスレッ
シホールドレベルとの関係を示す図、第！；図は鋼材表
面の仮想的な分割の様子を示す図、第３図は輝度レベル
の分布の一例を示す図。 ５・・・鋼材、６・・・傷。 第２図 第３図 第５図 ｉ６ 図
Claims (1)
- 鋼材に対しそれを磁化させる工程と、その鋼材に螢光磁
粉を付着させる工程を施して、鋼材の表面において傷の
存在する部分にはその他の部分に比べて螢光磁粉を密に
付着させ、然る後、鋼材の表面の各部においてそこに付
着した螢光磁粉から発せられる光の輝度値を測定し、そ
の輝度値の高低によって傷の存在を判別するようにして
いる方法において、上記輝度値の測定に当っては鋼材の
一部の表面を多数の小領域に分けて各々の小領域の輝度
値を測定し、それらの小領域の各々の輝度値のうち、相
対的に低い輝度値のグループと、相対的に高い輝度値の
グループとに分類し、しかもその分類に当っては相対的
に低い輝度値の小領域の数が著しく多くて、相対的に高
い輝度値の小領域の数が著しく少なくなるように分類し
、上記相対的に低い輝度値のグループと、高い輝度値の
グループとの境界付近の輝度値を基準値として傷の存在
を判別するようにしたことを鋼材における螢光磁粉探傷
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10125683A JPS59226853A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 鋼材における螢光磁粉探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10125683A JPS59226853A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 鋼材における螢光磁粉探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59226853A true JPS59226853A (ja) | 1984-12-20 |
Family
ID=14295828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10125683A Pending JPS59226853A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 鋼材における螢光磁粉探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59226853A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5003831A (en) * | 1989-03-10 | 1991-04-02 | Isotopenforschung Dr. Sauerwein Gmbh | Process for monitoring a device for automatically detecting and evaluating surface cracks |
| JPH0479250U (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-10 | ||
| EP0563897A1 (en) * | 1992-03-30 | 1993-10-06 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Defect inspection system |
| WO1996013719A1 (de) * | 1994-10-30 | 1996-05-09 | Tiede Gmbh & Co., Rissprüfanlagen | Automatische fehlererkennungsanlage für rissprüfung |
| CN102183578A (zh) * | 2010-07-26 | 2011-09-14 | 北京聚龙科技发展有限公司 | 一种轮对荧光磁粉探伤机 |
| CN104034797A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-09-10 | 成都高普石油工程技术有限公司 | 用于钻杆无损检测的工艺 |
-
1983
- 1983-06-07 JP JP10125683A patent/JPS59226853A/ja active Pending
Cited By (7)
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