JPS59225360A - 電圧降下検出装置 - Google Patents
電圧降下検出装置Info
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- JPS59225360A JPS59225360A JP10200283A JP10200283A JPS59225360A JP S59225360 A JPS59225360 A JP S59225360A JP 10200283 A JP10200283 A JP 10200283A JP 10200283 A JP10200283 A JP 10200283A JP S59225360 A JPS59225360 A JP S59225360A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、測定信号の電圧があらかじめ設定した検出
電圧以下になったことを検出する電圧降下検出装置に関
するものである。
電圧以下になったことを検出する電圧降下検出装置に関
するものである。
従来この種の装置としては、第１図、第２図に示すもの
があった。第１図において、１はＰＮＰトランジスタ、
２，４は抵抗素子、３はツェナーダイオード、また第２
図において、５は電圧比較器用ＩＣ１６は基準電圧源で
ある。
があった。第１図において、１はＰＮＰトランジスタ、
２，４は抵抗素子、３はツェナーダイオード、また第２
図において、５は電圧比較器用ＩＣ１６は基準電圧源で
ある。
次に動作について説明する。
第１図の装置では、入力測定信号の電圧Ｖｉｌが力電圧
Ｖｏｌは０である。そして入力電圧ＶＨが、ツェナーダ
イオード３のツェナー電圧Ｖｚｌとトランジスタ１がオ
ンになるときのベース、エミッタ間電圧Ｖ ｂｅｌの和
である検出電圧Ｖ ｔｈｌより大きくなると、トランジ
スタ１がオンし出力電圧Ｖｏｌは入力電圧Ｖｉｌからト
ランジスタ１のコレクタ、エミッタ間飽和電圧Ｖｃｅ１
を引いた電圧Ｖｏｈｌとなる。つまり出力電圧Ｖｏｌは
、入力電圧Ｖｉｌが検出電圧Ｖｔｈｌである点を境にし
て、０と電圧ＶｏｈｌＯ間で大きく変化するので、入力
電圧Ｖｉｌが検出電圧Ｖｔｈｌ以下になったことを検出
するのに用いることができる。またこのとき、出力電圧
Ｖｏｌは入力電圧ＶｉｌがＯ≦Ｖｉｌ＜ Ｖｔｈｌ （
７）範囲で０であり、その値は保証される。
Ｖｏｌは０である。そして入力電圧ＶＨが、ツェナーダ
イオード３のツェナー電圧Ｖｚｌとトランジスタ１がオ
ンになるときのベース、エミッタ間電圧Ｖ ｂｅｌの和
である検出電圧Ｖ ｔｈｌより大きくなると、トランジ
スタ１がオンし出力電圧Ｖｏｌは入力電圧Ｖｉｌからト
ランジスタ１のコレクタ、エミッタ間飽和電圧Ｖｃｅ１
を引いた電圧Ｖｏｈｌとなる。つまり出力電圧Ｖｏｌは
、入力電圧Ｖｉｌが検出電圧Ｖｔｈｌである点を境にし
て、０と電圧ＶｏｈｌＯ間で大きく変化するので、入力
電圧Ｖｉｌが検出電圧Ｖｔｈｌ以下になったことを検出
するのに用いることができる。またこのとき、出力電圧
Ｖｏｌは入力電圧ＶｉｌがＯ≦Ｖｉｌ＜ Ｖｔｈｌ （
７）範囲で０であり、その値は保証される。
しかしこの装置では、検出電圧Ｖｔｈｌがダイオため、
検出電圧ｖｔＦｌｘの温度変動も大きくなってしまうと
いう欠点があった。
検出電圧ｖｔＦｌｘの温度変動も大きくなってしまうと
いう欠点があった。
また第２図の装置では、測定信号の入力電圧Ｖｉ２を基
準電圧１１ｊｆ１６の基準電圧Ｖｒ２と電圧比較器用Ｉ
Ｃ５で比較し、その結果を出力とするものである。この
装置では、基準電圧源６と電圧比較器用Ｃ５に温度変動
の小さいものを選べば、検出電圧Ｖｔｂ２の温度変動を
小さくすることができる。
準電圧１１ｊｆ１６の基準電圧Ｖｒ２と電圧比較器用Ｉ
Ｃ５で比較し、その結果を出力とするものである。この
装置では、基準電圧源６と電圧比較器用Ｃ５に温度変動
の小さいものを選べば、検出電圧Ｖｔｂ２の温度変動を
小さくすることができる。
しかしこの第２図の装置では、電圧比較器用ＩＣ５の電
源は、測定信号より供給されているので、その電圧が電
圧比較用ＩＣ５の最低動作電源電圧以下では出力が保証
されないという欠点があった。
源は、測定信号より供給されているので、その電圧が電
圧比較用ＩＣ５の最低動作電源電圧以下では出力が保証
されないという欠点があった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、入力電圧が０からその出力が保証
された第１の電圧降下検出器と、検出電圧の温度変動の
小さい第２の電圧降下検出器とを組み合わせ、各検出器
によってそれぞれ独立に入力測定信号の電圧降下を測定
し、各測定結核入力測定信号の電圧が０から出力が保証
され、かつ検出電圧の温度変動の小さい電圧降下検出装
置を提供することを目的としている。
めになされたもので、入力電圧が０からその出力が保証
された第１の電圧降下検出器と、検出電圧の温度変動の
小さい第２の電圧降下検出器とを組み合わせ、各検出器
によってそれぞれ独立に入力測定信号の電圧降下を測定
し、各測定結核入力測定信号の電圧が０から出力が保証
され、かつ検出電圧の温度変動の小さい電圧降下検出装
置を提供することを目的としている。
以下この発明の実施例について説明する。第３図におい
て、１はＰＮＰ トランジスタ、２．４は抵抗素子、３
はツェナーダイオード、５は電圧比較器用ＩＣ５６は基
準電圧源、７は負論理ＯＲ演算素子（検出信号出力手段
）であり、上記ＰＮＰトランジスタ１．抵抗素子２，４
及びツェナーダイオード３によって第１の電圧降下検出
器１０が、また上記電圧比較器ＩＣ５及び基準電圧源６
によって第２の電圧降下検出器２０が構成されている。
て、１はＰＮＰ トランジスタ、２．４は抵抗素子、３
はツェナーダイオード、５は電圧比較器用ＩＣ５６は基
準電圧源、７は負論理ＯＲ演算素子（検出信号出力手段
）であり、上記ＰＮＰトランジスタ１．抵抗素子２，４
及びツェナーダイオード３によって第１の電圧降下検出
器１０が、また上記電圧比較器ＩＣ５及び基準電圧源６
によって第２の電圧降下検出器２０が構成されている。
また、負論理ＯＲ演算素子７は入力測定信号の電圧Ｖｉ
３がＯのときも、別電源から必要な電力が供給されてい
る。またＰＮＰ トランジスタ１及びツェナーダイオー
ド３によって設定される第１の電圧降下検出器１０の検
出電圧Ｖ ｔｈａは、電圧比較器用ＩＣ５の最小動作電
源電圧Ｖ ｏｐｍより高く、また第２の電圧降下検出器
２０の検出電圧ｖｔｈｂは、第１の電圧降下検出器１０
の検出電圧Ｖ ｔｈａより高く設定されている。つまり
、Ｑ＜Ｖｏｐｍ＜Ｖ ｔ、ｈａ ＜ Ｖ ｔｈｂである
。さらに抵抗素子４の値は、ＰＮＰ トランジスタ１が
オフのとき、負論理ＯＲ演・算素子７０入力を負論理で
１”にできるほど十分低い値とする。
３がＯのときも、別電源から必要な電力が供給されてい
る。またＰＮＰ トランジスタ１及びツェナーダイオー
ド３によって設定される第１の電圧降下検出器１０の検
出電圧Ｖ ｔｈａは、電圧比較器用ＩＣ５の最小動作電
源電圧Ｖ ｏｐｍより高く、また第２の電圧降下検出器
２０の検出電圧ｖｔｈｂは、第１の電圧降下検出器１０
の検出電圧Ｖ ｔｈａより高く設定されている。つまり
、Ｑ＜Ｖｏｐｍ＜Ｖ ｔ、ｈａ ＜ Ｖ ｔｈｂである
。さらに抵抗素子４の値は、ＰＮＰ トランジスタ１が
オフのとき、負論理ＯＲ演・算素子７０入力を負論理で
１”にできるほど十分低い値とする。
次に動作について説明する。入力測定信号は第１の電圧
降下検出器１０のＰＮＰ Ｉ−ランジスク１のエミツタ
に入力されており、今、入力信号の電圧Ｖｉ３が０≦Ｖ
ｉ３＜ Ｖ ｔｈａでは第１の電圧降下検出器１０の
ＰＮＰ ｌ−ランジスタ１はオフであり、従って出力Ｖ
ｏａが負論理“１” （第１の検出信号）であるため負
論理ＯＲ演算素子７の出力Ｖｏ３ば負論理“１”となる
。また入力電圧ＶｉＦがＶ ｔｈａ≦Ｖ ｉ３＜ Ｖ
ｔｈｂでは、第２の電圧降下検出器２０の出力Ｖｏｂが
負論理“１” （第２の検出信号）であるため、やはり
負論理ＯＲ演算素子７の出力Ｖｏ３は負論理“１ ″で
ある。そして入力電圧Ｖｉ３が■ｉ３≧ｖ ｔｈｂにな
りはじめて上記出力Ｖｏ３は負論理“０″になる。この
様子を第４図に示す。
降下検出器１０のＰＮＰ Ｉ−ランジスク１のエミツタ
に入力されており、今、入力信号の電圧Ｖｉ３が０≦Ｖ
ｉ３＜ Ｖ ｔｈａでは第１の電圧降下検出器１０の
ＰＮＰ ｌ−ランジスタ１はオフであり、従って出力Ｖ
ｏａが負論理“１” （第１の検出信号）であるため負
論理ＯＲ演算素子７の出力Ｖｏ３ば負論理“１”となる
。また入力電圧ＶｉＦがＶ ｔｈａ≦Ｖ ｉ３＜ Ｖ
ｔｈｂでは、第２の電圧降下検出器２０の出力Ｖｏｂが
負論理“１” （第２の検出信号）であるため、やはり
負論理ＯＲ演算素子７の出力Ｖｏ３は負論理“１ ″で
ある。そして入力電圧Ｖｉ３が■ｉ３≧ｖ ｔｈｂにな
りはじめて上記出力Ｖｏ３は負論理“０″になる。この
様子を第４図に示す。
このように、本実施例の電圧降下検出装置では、その出
力Ｖｏ３は第１の電圧降下検出器１０によっ入力測定信
号の電圧Ｖｉ３が０からその出力が保証用ＩＣ５と定電
圧源６の温度変動を小さくしてその検出電圧ｖ ｔｈｂ
の温度変動を小さくすることが可能となり、広範囲に、
わたって精度の良い電圧降下の検出を行なうことができ
る。
力Ｖｏ３は第１の電圧降下検出器１０によっ入力測定信
号の電圧Ｖｉ３が０からその出力が保証用ＩＣ５と定電
圧源６の温度変動を小さくしてその検出電圧ｖ ｔｈｂ
の温度変動を小さくすることが可能となり、広範囲に、
わたって精度の良い電圧降下の検出を行なうことができ
る。
なお上記実施例では、検出信号出力手段として専用の論
理演算素子を用いたが、第５図のように電圧比較器用Ｉ
Ｃ５ａの出力をオープンコレクタ出力とし、これとＰＮ
Ｐ ｌ−ランジスタ１のコレクタとをワイプドＯＲ接続
することによっても実現できる。ここで第５図において
、８は過電流防止用の抵抗素子、９はツェナーダイオー
ド３のもれ電流によりトランジスタ１がオンしてしまう
のを防ぐための抵抗素子、Ｖｉ５． Ｖｏ５ばそれぞ
れ入力電圧、出力電圧である。
理演算素子を用いたが、第５図のように電圧比較器用Ｉ
Ｃ５ａの出力をオープンコレクタ出力とし、これとＰＮ
Ｐ ｌ−ランジスタ１のコレクタとをワイプドＯＲ接続
することによっても実現できる。ここで第５図において
、８は過電流防止用の抵抗素子、９はツェナーダイオー
ド３のもれ電流によりトランジスタ１がオンしてしまう
のを防ぐための抵抗素子、Ｖｉ５． Ｖｏ５ばそれぞ
れ入力電圧、出力電圧である。
また上記実施例では電圧比較器用ＩＣ５ａの基準電圧源
として専用のものを用いているが、第６図のようにツェ
ナーダイオードのカソード電圧を基準電圧源として用い
ることもできる。なお第６図において、抵抗素子１１．
１２は入力測定信号の電圧４Ｖｉ６をツェナーダイオー
ドのツェナー電圧に合せるための電圧分割用の抵抗素子
である。
として専用のものを用いているが、第６図のようにツェ
ナーダイオードのカソード電圧を基準電圧源として用い
ることもできる。なお第６図において、抵抗素子１１．
１２は入力測定信号の電圧４Ｖｉ６をツェナーダイオー
ドのツェナー電圧に合せるための電圧分割用の抵抗素子
である。
またＶ６６は出力電圧である。・
さらに第６図の装置を変形し、第７図のように抵抗素子
２を直列接続された抵抗素子２ａ、２ｂに置き換え、電
圧比較器用ＩＣ５ａの基準電圧をそれらの中間接続点か
らとるようにすることもできる。この場合、ＰＮＰ ）
ランジスタ１のベース。
２を直列接続された抵抗素子２ａ、２ｂに置き換え、電
圧比較器用ＩＣ５ａの基準電圧をそれらの中間接続点か
らとるようにすることもできる。この場合、ＰＮＰ ）
ランジスタ１のベース。
エミッタ間電圧Ｖｂｅ１が負の温度係数を持っているの
で、ツェナーダイオード３のツェナー電圧■ｚ８も負の
温度係数のものを用い、抵抗素子２ａ。
で、ツェナーダイオード３のツェナー電圧■ｚ８も負の
温度係数のものを用い、抵抗素子２ａ。
２ｂの値を適当に選ぶことにより、その中間接続点の電
圧Ｖｒ８の温度変動を最小にすることが可能占ゝ となる。な〜Ｖｉ７． Ｖｏ７はそれぞれ入力電圧、
出力電圧である。
圧Ｖｒ８の温度変動を最小にすることが可能占ゝ となる。な〜Ｖｉ７． Ｖｏ７はそれぞれ入力電圧、
出力電圧である。
さらに、以上の説明では入力測定信号の電圧が正の場合
について説明してきたが、各素子の極性を逆にすること
により、負の電圧の測定信号でも使用できる。第８図は
第６図の装置を負電圧測定用に変形したもので、ＰＮＰ
トランジスタ１をＮＰＮＩ−ランジスタ１ａに変更し
、ツェナーダイオード３の極性を逆に接続し、電圧比較
器用ＩＣをＰＮＰ ）ランジスクのオーブンコレクタ出
力のもの５ｂに変更し、さらにその電源を第５図のもの
とは逆に接続しである。このような変更により第８図の
装置では、測定信号の電圧Ｖｉ８と出力電圧Ｖｏ８とが
負電圧である点を除き、第６図の装置と同等の機能を得
ることができる。
について説明してきたが、各素子の極性を逆にすること
により、負の電圧の測定信号でも使用できる。第８図は
第６図の装置を負電圧測定用に変形したもので、ＰＮＰ
トランジスタ１をＮＰＮＩ−ランジスタ１ａに変更し
、ツェナーダイオード３の極性を逆に接続し、電圧比較
器用ＩＣをＰＮＰ ）ランジスクのオーブンコレクタ出
力のもの５ｂに変更し、さらにその電源を第５図のもの
とは逆に接続しである。このような変更により第８図の
装置では、測定信号の電圧Ｖｉ８と出力電圧Ｖｏ８とが
負電圧である点を除き、第６図の装置と同等の機能を得
ることができる。
以上のように、この発明によれば、入力電圧が０からそ
の出力が保証されている第１の電圧降下検出器と、それ
よりも検出電圧の温度変動が小さい第２の電圧降下検出
器とを用い、各電圧降下検出器の出力の論理和をとって
検出信号出力としたので、電源電圧が０からその出力が
保証され、かつ検出電圧の温度変動の小さい、広範囲に
わたって精度の良い電圧降下検出装置を得ることができ
る効果がある。
の出力が保証されている第１の電圧降下検出器と、それ
よりも検出電圧の温度変動が小さい第２の電圧降下検出
器とを用い、各電圧降下検出器の出力の論理和をとって
検出信号出力としたので、電源電圧が０からその出力が
保証され、かつ検出電圧の温度変動の小さい、広範囲に
わたって精度の良い電圧降下検出装置を得ることができ
る効果がある。
第１図、第２図は従来の電圧降下検出装置の構成図、第
３図はこの発明の叢十分実施例による電圧降下検出装置
の構成図、第４図はこの発明の動作原理の説明図、第５
図、第６図、第７図はそれぞれ第３図の装置の変形例を
示す図、第８図は第６図の装置の変形例を示す図である
。 １・ ＰＮＰＩ−ランジスク、２，２ａ、２ｂ、４゜８
．９，１１．１２・・・抵抗素子、３・・・ツェナーダ
イオード、７・・・負論理ＯＲ演算素子（検出信号出力
手段）、１０・・・第１の電圧降下検出器、２０・・・
第２の電圧降下検出器。 なお図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第１図 第２図 第３図 ン 第４図 諏 ｖｏｐｍ ｖｔｈａ ｖｔｈｂ ｖｉ ３第５
図 第６図 第７図 第８図 手続補正書（自発） ２ 発明の名称 電圧降下検出装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 代表者片山仁へ部 ４、代理人 図面（第５図、第６図、第７図、及び第８図）６、補正
の内容 （１）第５図、第６図、第７図、及び第８図を別紙第５
図 第６図
３図はこの発明の叢十分実施例による電圧降下検出装置
の構成図、第４図はこの発明の動作原理の説明図、第５
図、第６図、第７図はそれぞれ第３図の装置の変形例を
示す図、第８図は第６図の装置の変形例を示す図である
。 １・ ＰＮＰＩ−ランジスク、２，２ａ、２ｂ、４゜８
．９，１１．１２・・・抵抗素子、３・・・ツェナーダ
イオード、７・・・負論理ＯＲ演算素子（検出信号出力
手段）、１０・・・第１の電圧降下検出器、２０・・・
第２の電圧降下検出器。 なお図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第１図 第２図 第３図 ン 第４図 諏 ｖｏｐｍ ｖｔｈａ ｖｔｈｂ ｖｉ ３第５
図 第６図 第７図 第８図 手続補正書（自発） ２ 発明の名称 電圧降下検出装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 代表者片山仁へ部 ４、代理人 図面（第５図、第６図、第７図、及び第８図）６、補正
の内容 （１）第５図、第６図、第７図、及び第８図を別紙第５
図 第６図
Claims (4)
- （１）入力測定信号の電圧があらかじめ設定した検出電
圧以下になった時その出力を変化させて上記入力電圧の
降下を検出する電圧降下検出装置において、入力電圧が
０からその出力が保証されており第１の検出電圧を有し
上記入力電圧を受けて該入力電圧が第１の検出電圧以下
になった時第１の検出信号を出力する第１の電圧降下検
出器と、上記第１の検出電圧の温度変動よりも温度変動
が小さくしかも上記第１の検出電圧よりも高く設定され
た第２の検出電圧を有し最小動作電源電圧が上記第１の
検出電圧より低く上記入力電圧を受けて該入力電圧が上
記第２の検出電圧以下になった時第２の検出信号を出力
する第２の電圧降下検出器と、上記第１又は第２の検出
信号を受けたとき上記入力電圧が上記第２の検出電圧よ
り降下し、たことを示す検出信号を出力する検出信号出
力手段とを備え、」二記両電圧降下検出器は上記入力測
定信号をその電源としていることを特徴とする電圧降下
検出装置。 - （２）上記第１の電圧降下検出器が、エミッタに上記入
力測定信号が入力されるＰ’ＮＰＩ−ランジスタと、一
方の端子が上記ＰＮＰ ｌ−ラシジスタのベースに接続
された１又は直列接続された２以上の抵抗素子からなる
抵抗体と、カソードが上記抵抗体の他方の端子に接続さ
れアノードが接地されたツェナーダイオードとを有する
ものであり、上記第１の検出電圧が上記ＰＮＰトランジ
スタのペース、エミッタ間電圧と上記ツェナーダイオー
ドのツェナー電圧との和であることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の電圧降下検出装置。 - （３）上記第２の電圧降下検出器が、上記人力測定信号
の電圧をその電源電圧とし該入力電圧に応じた電圧と上
記第２の検出電圧とを比較する電圧比較器からなるもの
であり、上記第２の検出電圧が、上記第１の電圧降下検
出器のツェナーダイオードのカソード又は直列接続され
た２以上の抵抗素子のいずれかの中間接続点の電圧で卆
÷寺！あることを特徴とする特許請求の範囲第２項廿桔
記載の電圧降下検出装置。 - （４）上記検出信号出力手段として、上記第２の電圧降
下検出器の電圧比較器用ＩＣのオーブンコレクタ出力と
上記第１の電圧降下検出器のＰＮＰトランジスタのコレ
クタとのワイアドオア接続を用いたことを特徴とする特
許請求の範囲第３項記載の電圧降下検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10200283A JPS59225360A (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 電圧降下検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10200283A JPS59225360A (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 電圧降下検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59225360A true JPS59225360A (ja) | 1984-12-18 |
Family
ID=14315585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10200283A Pending JPS59225360A (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 電圧降下検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59225360A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019184333A (ja) * | 2018-04-05 | 2019-10-24 | ローム株式会社 | 電源電圧監視回路 |
-
1983
- 1983-06-06 JP JP10200283A patent/JPS59225360A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019184333A (ja) * | 2018-04-05 | 2019-10-24 | ローム株式会社 | 電源電圧監視回路 |
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