JPS59222751A - 穀物の水分測定方法およびその装置 - Google Patents

穀物の水分測定方法およびその装置

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JPS59222751A
JPS59222751A JP9867083A JP9867083A JPS59222751A JP S59222751 A JPS59222751 A JP S59222751A JP 9867083 A JP9867083 A JP 9867083A JP 9867083 A JP9867083 A JP 9867083A JP S59222751 A JPS59222751 A JP S59222751A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
grain
moisture
value
grains
electrical resistance
Prior art date
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Pending
Application number
JP9867083A
Other languages
English (en)
Inventor
Aijiro Kaneko
金子 愛次郎
Toshio Hayashi
俊男 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kaneko Agricultural Machinery Co Ltd
Original Assignee
Kaneko Agricultural Machinery Co Ltd
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Publication date
Application filed by Kaneko Agricultural Machinery Co Ltd filed Critical Kaneko Agricultural Machinery Co Ltd
Priority to JP9867083A priority Critical patent/JPS59222751A/ja
Publication of JPS59222751A publication Critical patent/JPS59222751A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/02Food
    • G01N33/10Starch-containing substances, e.g. dough
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/048Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance for determining moisture content of the material

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、試料として抽出した複数の穀粒を圧砕してそ
の電気抵抗乞検出することにより、穀物の水分を正確に
測定する方法およびその装置に関する。
乾燥機により穀物を乾燥するにあたっては、乾燥開始時
、乾燥中および乾燥終了時における穀物の水分を正確に
測定し、これに基いて適正な乾燥制御2行う必要がある
ので、従来、このための穀物の水分測定装置としては、
例えば試料穀粒乞圧砕してその電気抵抗を検出する電気
抵抗式の水分自動測定装置は本出願前例えば特公昭49
−16305号公報に記載されて公知である。
ところで、上記従来公知の穀物の水分測定装置は、測定
試料として抽出した複数の穀粒(例えは10粒程度)を
一対の電極間に挾んで圧砕し、電極間の電気抵抗値を検
出するので、各穀粒の抵抗を並列接続した状態の合成抵
抗値が検出されるこことになる。そして、その結果とし
て、たまたま試料穀粒に一粒でも高水分のものが含まれ
ていると、常に正確な平均水分値よりも高い水分値が測
定されるので、試料穀粒数乞如何に増加しても、測定精
度を向上させることができないのが実状であった。
そこで、本発明は、上記従来公知の電気抵抗式の水分測
定装置における欠点乞解消して測定精度を向上させ、平
均水分値を正確に測定することができる穀物の水分測定
方法およびその装置を得ることビ目的とするものである
本発明は前記に鑑み、上記目的乞達成させるため、特に
その方法乞、水分測定試料として複数の穀粒を抽出し、
これら抽出された穀粒の電気抵抗値乞−粒乃至工程ずつ
、もしくは−粒をさらに細分化して各別に測定すると共
に、各別に測定された電気抵抗値をそれぞれ水分値に換
算して試料の測定個数で平均した平均水分表示回路し、
この平均水分表示回路するとと乞特徴とする穀物の水分
測定方法とし、またその方法を実施する装置の構成7、
水分測定試料として抽出された複数の穀粒乞各粒ごとに
圧砕して各別に電気抵抗ン検出する電極と、該各電極間
の電気抵抗乞順次測定する切換回路と、各別に測定され
た電気抵抗値乞それぞれ水分値に換算して測定個数で平
均した平均水分値を算出する測定回路と、該測定回路の
測定結果乞表示する平均水分表示回路によって構成した
ことを特徴とする穀物の水分測定装置としたものであっ
て、かかる方法および装置によれば、抽出された試料穀
粒ゲー粒乃至工程ずつ、もしくは−粒乞さらに細分化し
て各別に電気抵抗値乞検出したうえ、それをそれぞれ水
分値に換算して測定個数で平均するので、抽出された試
料穀粒にたまたま一粒ないしは極(少数の高水分のもの
が含まれていても、常に穀物の平均水分値を正確に測定
することができる効果を奏する。
以下に本発明に係る穀物の水分測定方法を便用した穀物
の水分測定試料乞、添附図面に示された好適な一実施例
について説明する。
第1図において、1は電気絶縁体で構成された一試料穀
粒の受皿であって、該受皿1には試料穀粒を一粒ずつ載
置する電極群2が設けられている。
電極群2の各N極2aI + 2a、、・・・・・・・
・・2anの上端には穀粒ゲー粒乃至工程ずつ受止める
凹部が形成されており、電捧群2の各電極2a+ + 
1222・・・・・・・・・ 2an上には押圧電極3
が上下動自在に対設されている。
そして、上記電極群2および押圧電極3によって、複数
の穀粒乞各粒ごとに圧砕して各別に宙、気抵抗Z検出す
る電極4が構成されている。5は切換回路であって、該
切換回路5は前記電極群2の各電極2al 、 2a2
・・・・・・・・・2anを順次切換えて測定回路6に
接続するものであり、該測定回路6は、各電極2a、 
、 2a2・・・・・・・・・2anごとに測定した電
気抵抗乞それぞれ水分値に換算して測定個数で平均した
平均水分値を算出するものである。7は測定回路6の測
定結果ン表示する平均水分表示回路である。なお、上記
切換回路5は、例えばアナログスイッチやリレー等で構
成されたものである。
次にその作用について説明する。
前記の如く構成された装置において、穀物の水分を測定
するには、水分測定のための試料として所要数の穀粒を
抽出する。そして、この抽出された試料穀粒aI+ a
2・・・・・・・・・an Y受皿1上に移せば、電極
群2の各電極2a+ 12a2・・・・・・・・・2a
n上に一粒乃至工程ずつ受止められた状態となる。そこ
で、押圧電極3ケ下降させて試料穀粒a、+ a2・・
・・・・・・・Hnヶ押圧すれば、これらは各電極2a
、  、 2a2・・・・・・・・・2an上で圧砕さ
れ、各電極:2a112a2・・・・・・・・・2an
 のそれぞれと押圧電極3間に挾持される。そして、測
定回路6には、切換回路5によって各電極2 al *
 2a2・・・・・・・・・2anが順次接続されるの
で、該測定回路6においては一粒乃至工程ずつの電気抵
抗値が検出され、かつそれぞれの水分値に換算されたう
え測定個数による平均水分値が算出される。測定回路6
における測定結果、すなわち平均水分値は平均水分表示
回路71C表示される。
今、叙上の如き平均水分値測定作用を具体例によって説
明すれは、抽出された試料穀粒は10粒であり、そのう
ち9粒の水分値は12%、1粒の水分値は16%であっ
たとする。また、第2図は穀粒の電気抵抗f崗n’)と
水分値(至)との関係を示すものである。
前記方法により検出された水分値12%および水分値1
6%の電気抵抗値は、第2図からそれぞれ10Mnおよ
び0.1MΩである。そして、試料穀粒】0粒の各抵抗
値から換算された水分値開乞測定個数で平均した平均水
分値W開は、 0.12 X 9 + 0.16 W=−x100=0.12X100 0 = 12.4(%)・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・聞・
・・・・■となり、この平均水分値(至)が平均水分表
示回路7に表示される。
ところで、試料穀粒10粒の計算による平均水分値W開
は上記0式と同じ式で求められるから、測定された平均
水分値Wと計算によって求めた平均水分値Wは等しく、
平均水分値が高い精度で測定できることがわかる。
因みに、従来の方法によって平均水分値を測定すると、
試料穀粒10粒の並列合成抵抗値R(Mn)は、 で求められる。ここにR,、R,・・・・・・・・・R
,lllは試料穀粒10粒のそれぞれの抵抗ifmAn
’rQある。
上記0式より、R,、R,は10Mn、R5oは0.1
MΩであるから、R,、R,の並列合成抵抗値は1.1
1Mnであり、 の式が成り立つ。そして、1粒当りの平均抵抗値は1(
Mn)であるから、その値は0.9174MΩとなり、
0 この抵抗値によって第2図から水分値Vdw求めれば、
平均水分値として13.4% が得られる。しかし、こ
の測定値は割算によって得られた平均水分値12.4%
に対l−で1%も高(、従来の方法によれば、試料穀粒
中に1粒でも高水分値のものが含まれている場合には、
測定水分値は実際の水分値より常に高い値を示し、測定
M反が著しく低(なる。
これに対して、本発明の方法によれば、たとえ試料中に
高水分のものが含まれていても、測定誤差がほとんど生
ぜず、きわめて高い精度で平均水分表示回路することが
できる。なお、本発明の方法では、試料穀粒の数乞増す
ほど、また試料穀粒7さらに細分化することによって、
一層側定精度を向上させろことが可能である。
【図面の簡単な説明】 図面は本発明装置の一実施例を示すものであって、第1
図は装置の構成説明図、第2図は穀粒の電気抵抗値と水
分値との関係図である。 2・・・電極群、2a、 、 2a2・・・・・・・・
・2an・・・その各電極、3・・・押圧電極、4・・
・上記電極群2および押圧電極3によって構成された各
校ごとに電気抵抗を検出する電極、5・・・切換回路、
6・・・測定回路、7・・・岬均水分表示回路 特許出願人 金子農機株式会社 第1図 貴

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)水分測定試料として複数の穀粒乞抽出し、これら
    抽出された穀粒の電気抵抗値Z−粒乃至工程ずつ、もし
    くは−粒乞さらに細分化して各別に測定すると共に、各
    別に測定された電気抵抗値をそれぞれ水分値に換算して
    試料の測定個数で平均した平均水分値を算出し、この平
    均水分値を表示すること′?:%徴とする穀物の水分測
    定方法。
  2. (2)水分測定試料として抽出された複数の穀粒乞各粒
    ごとに圧砕して各別に電気抵抗を検出する電極と、該各
    電極間の電気抵抗を順次測定する切換回路と、各別に測
    定された電気抵抗値をそれぞれ水分値に換算して測定個
    数で平均した平均水分値を算出する測定回路と、該測定
    回路の測定結果を表示する平均水分表示回路によって構
    成したこと乞特徴とする穀物の水分測定装置。
JP9867083A 1983-06-02 1983-06-02 穀物の水分測定方法およびその装置 Pending JPS59222751A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5735651B2 (ja) * 1973-07-18 1982-07-30

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5735651B2 (ja) * 1973-07-18 1982-07-30

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