JPS59221083A - Driving method of signal output circuit for charge coupled device - Google Patents

Driving method of signal output circuit for charge coupled device

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JPS59221083A
JPS59221083A JP58095570A JP9557083A JPS59221083A JP S59221083 A JPS59221083 A JP S59221083A JP 58095570 A JP58095570 A JP 58095570A JP 9557083 A JP9557083 A JP 9557083A JP S59221083 A JPS59221083 A JP S59221083A
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JP
Japan
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electrode
signal output
charge
gate
precharge
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Pending
Application number
JP58095570A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuaki Takeshita
竹下 光明
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPS59221083A publication Critical patent/JPS59221083A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/30Transforming light or analogous information into electric information

Abstract

PURPOSE:To reduce extremely reset noise and to exract a signal output of high quality out of a CCD circuit by actuating an MOSFET in a saturated area to use it as a precharge gate. CONSTITUTION:A final charge transfer stage 10 of a CCD contains a final charge store electrode 1, an output gate electrode 2, a floating gate electrode 3 and a reset gate electrode 4 which are successively arrayed on the surface of a semiconductor substrate (not shown in the diagram). The signal charge transferred via the charge transfer stages is stored under the electrode 1 and then shifted to a floating gate part under the electrode 3 through an area under the electrode 2. Then the signal charge is led outside through the electrode 3. Then an MOSFETM1 is actuated in a saturated area and used as a precharge gate. Thus the generation of preset noise is prevented and at the same time a potential produced by the precharge operation is stabilized. Thus it is possible to extract a signal output of high quality out of a CCD circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、イメージセンサやメモリ等を形成する電荷結
合素子(CCD : Charge Coupied 
Devi−ce)における信号出力回路の、駆動方法に
関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a charge coupled device (CCD) forming an image sensor, a memory, etc.
The present invention relates to a method of driving a signal output circuit in a device.

〔背景技術とその問題点〕[Background technology and its problems]

従来より、CCDは、半導体基体表面に信号電荷を蓄え
て、上記信号電荷を順次転送するアナログフトレジスク
を動作を基本的に行なう素子として広く知らされており
、遅延線、メモリあるいは光イメージセンサ等を形成す
るのに用いられている。そして、このCCDにて形成し
たイメージセンサ等では、ソースホロワ形のバッファ回
路を多段縦続接続して成る信号出力回路をCCD回路と
同一半導体基体上にMO8電界効果トランジスタ(MO
S  PET : MOS Field Effect
 Transis−tor)  にて形成し、上記CC
D回路の最終電荷転送段に設けたフローティングゲート
部から上記信号出力回路を介して信号電荷の取り出しを
行なうようになっている。また、上記CCD回路の最終
電荷転送段のフローティングケート部には、暗電流の発
生等に基因する不要電荷によって、この部分がチャージ
アップされるのを防止するためにプリチャージ用のMO
S  FETにて形成した所謂ブリチャージゲーI・部
を設けるようにしている。
Conventionally, CCD has been widely known as an element that basically operates as an analog photoresist that stores signal charges on the surface of a semiconductor substrate and sequentially transfers the signal charges, and is used as a delay line, memory, optical image sensor, etc. is used to form. In image sensors formed using this CCD, a signal output circuit consisting of multiple stages of source follower type buffer circuits connected in cascade is mounted on the same semiconductor substrate as the CCD circuit.
SPET: MOS Field Effect
The above CC
Signal charges are taken out from a floating gate provided at the final charge transfer stage of the D circuit via the signal output circuit. In addition, in the floating gate section of the final charge transfer stage of the CCD circuit, a precharge MO is provided to prevent this section from being charged up by unnecessary charges caused by dark current generation, etc.
A so-called precharge gate I section formed of S FET is provided.

従来、上記プリチャージゲ−1・部をなすMO8F、E
Tは、ソース・トレイン間のリークによる電位要化をリ
フレノンユするために通常数十ミリ秒以下の間隔で所定
周期毎にオン状態にされて三極管領域で動作し、上記フ
ローティンフケ−1・部に外部からの一定電圧を印加す
ることによって上記フローティングゲート部のプリチャ
ージを行なうようになっている。
Conventionally, MO8F and E, which form part of the precharge game 1,
The transistor T operates in the triode region by being turned on at predetermined intervals, usually at intervals of several tens of milliseconds or less, in order to relieve the potential increase due to leakage between the source and train. The floating gate section is precharged by applying a constant voltage from the outside.

ところで、このようにMOS  FETの三極管領域の
動作によってフローティンフケ−1・部を周期的にプリ
チャージした場合には、上記プリチャージの周波数で−
Lンd7FエレクI・四ンに相当するリセット雑音が発
生し、このリセット雑音が信号出力回路からの信号出力
に重畳されてしまう。ここで、上記qは電荷素置、Cは
フローティンフケ=1・部の容量、kはボルツマン定数
さらにTは絶対温度である。一般に上記フローティング
ゲート部は002〜01pF’程度の容量Cを有してお
り、50〜l 00 ed  程度のり七ソト雑音が発
生している。
By the way, when the floating strand 1 section is periodically precharged by the operation of the triode region of the MOS FET, -
A reset noise corresponding to L7F electric I/4 is generated, and this reset noise is superimposed on the signal output from the signal output circuit. Here, the above q is a charge element, C is a capacitance of floating dandruff = 1 parts, k is a Boltzmann constant, and T is an absolute temperature. Generally, the floating gate section has a capacitance C of about 002 to 01 pF', and generates noise of about 50 to 100 pF'.

そして、例えばCCDにて形成したエリアイメージセン
サでは通常1水平走査期間l Hあるいはlフレーム走
査期間IF毎に1回のプリチャージが行なわれるので、
上述のりセント雑音は、11(周期でプリチャジを行な
うと画像に横線となって現われ、また、IF周期でプリ
チャージを行なうと面フリッカとして現イっれたり、暗
電流による直流レベルのシェーディングの原因となる。
For example, in an area image sensor formed with a CCD, precharging is normally performed once every horizontal scanning period lH or every frame scanning period IF.
The above-mentioned zero cent noise appears as horizontal lines in the image when precharging is performed at 11 (cycles), and appears as screen flicker when precharging at IF cycles, and is a cause of shading at the DC level due to dark current. becomes.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

そこで、本発明は、上述の如く周期的にプリチャージさ
れるフローティンフケ−1・部を有するCC])回路に
おいて上記プリチャージに伴なうリセット雑音の発生を
防止して、品質の極めて良好な信号出力をCCD回路力
、ら取り出し得るようにすることを目的とするものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, the present invention prevents the generation of reset noise caused by the precharging in a CC circuit having a floating capacitor 1 that is periodically precharged as described above, thereby achieving extremely high quality. The purpose of this is to enable a signal output to be extracted from the CCD circuit power.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明に係る電荷結合素子の信号出力回路の、駆動方法
は、上述の目的を達成するために、最終電荷転送段に設
けたフローティングゲート部を所定の周期でプリチャー
ジする電界効果トランソスクを備えた電荷結合素子の信
号出力回路において、上記電界効果トランジスタを飽和
領域で動作させるプリチャージクロックを上記電界効果
トランジスタのゲートに印加して、上記フローティング
ゲート部に信号電荷が入力される直前に上記電界効果ト
ランジスクにて上記フローティングゲート部のプリチャ
ージを行なうようにしたものである。
In order to achieve the above-mentioned object, a driving method for a signal output circuit of a charge-coupled device according to the present invention includes a field effect transducer that precharges a floating gate section provided at a final charge transfer stage at a predetermined period. In the signal output circuit of the charge-coupled device, a precharge clock for operating the field effect transistor in the saturation region is applied to the gate of the field effect transistor, and the field effect transistor is activated immediately before the signal charge is input to the floating gate section. The floating gate section is precharged by a transistor.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明に係る電荷結合素子における信号出力回路
の、駆動方法の一実施例については第1図および第2図
に従い詳細に説明する。
Hereinafter, an embodiment of a method for driving a signal output circuit in a charge-coupled device according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2.

第1図は本発明を適用したCCDの信号出力回路の構成
を示す回路図であり、第2図は上記信号出力回路の動作
を説明するためのタイムチャートである。
FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of a CCD signal output circuit to which the present invention is applied, and FIG. 2 is a time chart for explaining the operation of the signal output circuit.

この実施例において、CCDの最終電荷転送段10は、
図示しない半導体基体表面に順次に配列形成した最終電
荷蓄積電極1、出力ゲート電極2、フローティングゲー
ト電極3およびリセットゲート電極4を備え、図示しな
い前段の電荷転送段を介して転送されて来た信号電荷を
上記最終電荷蓄積電極1下に蓄積し、この信号電荷を上
記出力ケート電極2下の領域を通じてフローティングゲ
ート電極3下のフローティンフケ−1・部に移して上記
フローティンフケ−!・電極3から導出するようになっ
ている。
In this embodiment, the final charge transfer stage 10 of the CCD is:
A final charge storage electrode 1, an output gate electrode 2, a floating gate electrode 3, and a reset gate electrode 4 are arranged in sequence on the surface of a semiconductor substrate (not shown), and signals transferred via a previous charge transfer stage (not shown). Electric charges are accumulated under the final charge storage electrode 1, and the signal charges are transferred to the floating gate 1 section under the floating gate electrode 3 through the region under the output gate electrode 2, and the signal charges are transferred to the floating gate 1 section under the floating gate electrode 3. - It is designed to be derived from electrode 3.

ここで、上記出力ゲート電極2は、最終電荷蓄積電極1
に印加される転送りロック96cKがフローティングゲ
ート電極3にカップリングされるのを防止するためのも
のであって、上記転送りロック960にのローレベルよ
りも少し高く一定の直流電圧VOGが印加されている。
Here, the output gate electrode 2 is the final charge storage electrode 1.
This is to prevent the transfer lock 96cK applied to the floating gate electrode 3 from being coupled to the floating gate electrode 3, and a constant DC voltage VOG slightly higher than the low level is applied to the transfer lock 960. ing.

また、上記リセットゲート号電荷を除去するためのもの
であって、上記転送りロック96CKに同期したリセッ
トクロックダ□が印加されている。上記転送りロック9
6cKおよQ・リセットクロックOR は、各立上りの
タイミングが一致しており、第2図に示すように転送り
ロツクグ。Kのデューテ比が2:lでリセットクロック
9611のデューテ比が1=1になっている。
Further, a reset clock signal □, which is for removing the reset gate charge and is synchronized with the transfer lock 96CK, is applied. Transfer lock 9 above
6cK and Q/reset clock OR have the same rising timing and transfer lock as shown in FIG. The duty ratio of K is 2:l, and the duty ratio of reset clock 9611 is 1=1.

そして、この実施例において、上記最終電荷転送段10
のフローティングゲート電極3から導出される信号電荷
を出力信号■。utとして信号出力端子30から出力す
るための信号出力回路260は、9個のMO8PET 
Ml、 M2  、・・・、MOから成り、上記フロー
ティング炉−1・電極3に第1のMO8FETM+ の
ソースと第2のMO8FETM2のゲートが接続されて
いる。
In this embodiment, the final charge transfer stage 10
The signal charge derived from the floating gate electrode 3 is output as the signal ■. The signal output circuit 260 for outputting from the signal output terminal 30 as ut includes nine MO8PET
The source of the first MO8FETM+ and the gate of the second MO8FETM2 are connected to the floating furnace-1/electrode 3.

上記第2のMO8FETM2は、第3のMO8FETM
3  を負荷として入力側ソースホロワを構成しており
、そのソースと上記第3のMO8FETM3 のドレイ
ンとの接続点が結合コンデンサC1を介して第4のM 
OS  F E T M4のソースと第6のMO8FE
TM6 のゲートに接続されている。
The second MO8FETM2 is the third MO8FETM
3 constitutes an input-side source follower as a load, and the connection point between the source and the drain of the third MO8FETM3 is connected to the fourth MO8FETM3 through a coupling capacitor C1.
OS FET M4 source and 6th MO8FE
Connected to the gate of TM6.

また、上記第6のM OS F E T Msは、第5
のMOS F E T Msを負荷としてインパークを
構成しており、そのドレインと上記第5のMO8FET
M5 のソースとの接続点が結合コンデンサC2を介し
て第8のM OS  F E T M sのゲートに接
続されている。そして、上記第8のMO8FETMaは
、第9のMO8FETM9を負荷として出力側ソースホ
ロワを構成しており、そのソースと上記第9のMO8F
E’l”Msのトレインとの接続点が信号出力端子30
に接続されている。
Further, the sixth MOS FET Ms is the fifth MOS FET Ms.
Impark is configured with the MOS FET Ms as a load, and its drain and the fifth MO8FET
A connection point with the source of M5 is connected to the gate of the eighth MOS FETMS via a coupling capacitor C2. The eighth MO8FETMa constitutes an output side source follower with the ninth MO8FETM9 as a load, and the source and the ninth MO8FET
The connection point with the train of E'l"Ms is the signal output terminal 30
It is connected to the.

なお、上記第2.第5および第8のMO8I”ETM2
  、 Ms  、 Ml ハ、6 F レイ7 ニ’
h 動電圧VI)Dが印加されている。また、上記第3
.第6および第9のMO8FET M3 、 Ms、 
MOは、各ソースに駆動電圧Vssが印加されている。
In addition, the above 2. 5th and 8th MO8I”ETM2
, Ms, Ml Ha, 6 F Ray 7 Ni'
h A dynamic voltage VI)D is applied. In addition, the third
.. 6th and 9th MO8FET M3, Ms,
A drive voltage Vss is applied to each source of the MO.

そして、上記第3および第9のMO8FET M3. 
MOは、各ゲートに一定のゲート電圧VGGIが印加さ
れており、定電流源として働くようになっている。また
、上記第5のMO8FETM5は、そのゲートに一定の
ゲート電圧VGG2が印加されており、定電流源として
働くようになっている。
And the third and ninth MO8FET M3.
A constant gate voltage VGGI is applied to each gate of the MO, so that it functions as a constant current source. Furthermore, the fifth MO8FETM5 has a constant gate voltage VGG2 applied to its gate, so that it functions as a constant current source.

また、上記第1.第4 オ、、t:ヒg 70)MO8
FE’rMr  、 M4. M7 は、それぞれプリ
チャージゲートとして働くもので、各ドレインにプリチ
ャージ電圧Vp が印加されている。そして、上記第1
および第7のMO8FET Ml 、M7は、各ゲート
に第1のプリチャージクロックク1、が印加され、才た
、上記第4のMO8FET M4は、そのゲートに上記
第1のプリチャージクロックlp1と同位相の第2のプ
リチャージクロック96P2が印加されている。
Also, the above 1. 4th O,, t: Hig 70) MO8
FE'rMr, M4. Each of M7 functions as a precharge gate, and a precharge voltage Vp is applied to each drain. And the above first
And the seventh MO8FET Ml, M7 has the first precharge clock lp1 applied to each gate, and the fourth MO8FET M4 has the same gate as the first precharge clock lp1 applied to its gate. A second precharge clock 96P2 of phase is applied.

ここで、上記第1および第2のプリチャージクロック+
2’p+、96pzは、第2図に示すように互いに位相
が一致しており、且つ上述のリセットクロック〆Rのパ
ルス幅τ0内に含まれるようなパルス幅τ■・を有し、
」二記第1.第4および第7のM OSF E T M
l、 M4  、 M7を飽和領域で動作させる電位(
Jl、Toに設定されている。
Here, the first and second precharge clocks +
2'p+ and 96pz are in phase with each other as shown in FIG. 2, and have a pulse width τ■ that is included within the pulse width τ0 of the above-mentioned reset clock 〆R,
"Second Book 1. 4th and 7th M OSF E TM
The potential for operating l, M4, and M7 in the saturation region (
It is set to Jl and To.

この実施例において、上記第1のMO8FETM、は、
上述のリセットパルスフ](によってCCDの最終電荷
転送段10のフローティング炉−1・部の信号電荷が除
去された後に、次の信号電荷が上記フローティング炉−
1・部に移されて来るまでの間に第1のプリチャージク
ロック96P□にて飽和領域で動作されることにより上
記フローティングゲート部をプリチャージして、上記フ
ローティングケート部に次の信号電荷が移されて来る直
前にオフ動作状態となる。上記第1のMO8FETM。
In this example, the first MO8FETM is:
After the signal charges in the floating furnace section 1 of the final charge transfer stage 10 of the CCD are removed by the above reset pulse, the next signal charges are transferred to the floating furnace section 1 of the final charge transfer stage 10 of the CCD.
The floating gate section is precharged by operating in the saturation region with the first precharge clock 96P□ until the signal charge is transferred to the first section, and the next signal charge is transferred to the floating gate section. It enters the OFF operating state immediately before being transferred. The first MO8FETM described above.

のソースに接続されたフローティング炉−1・電極3下
のフローティングケート部の電位は、上記第1のMO8
FETM+によるプリチャージの動作により該MO8F
ETM+の最小ポテンンヤルによって決定され、且つ、
この動作と上記MO8I”EFM、のソース領域ζこ定
常的に発生ずる暗電流■d  によりプリチャージ動作
の繰返し時間tに略比例した量の電荷が蓄積されること
によって安定化される。
The potential of the floating furnace-1 under the electrode 3 connected to the source of the first MO8 is
Due to the precharge operation by FETM+, the MO8F
determined by the minimum potential of ETM+, and
Due to this operation and the dark current d constantly generated in the source region ζ of the MO8I''EFM, an amount of charge approximately proportional to the repetition time t of the precharge operation is accumulated, thereby stabilizing the charge.

そして、飽和領域で動作する第1のMO8T”ETM、
  のソース領域に発生する暗電流■dによる電荷量は
、上記ソース領域の面積をSとして、■d゛t−8/q
となり、上記プリチャージ動作によって、Ia−t 奪
)q  elJ のリセット雑音を生ずることになる。
and a first MO8T”ETM operating in the saturation region,
The amount of charge due to the dark current ■d generated in the source region is calculated as ■d゛t-8/q, where S is the area of the source region.
Therefore, the above precharge operation generates a reset noise of Ia-t (Ia-t) qelJ.

ここで、一般的にMO8FETのソース領域に生ずる暗
電流Idは]〜10 nA/cm程度であり、またソー
ス領域の面積Sは300〜600μm′程度であるから
、例えばCCDにて形成したエリアイメージセンザにお
いて電荷転送周期(70n(8))で上述のプリチャー
ジ動作を行なうようにすれば003〜o2ee程度にリ
セット雑音を削減することができ、またIH毎にプリチ
ャージ動作を行なう場合でも1〜5el程度にまでリセ
ット雑音を抑えることができる。
Here, in general, the dark current Id generated in the source region of MO8FET is about ~10 nA/cm, and the area S of the source region is about 300 to 600 μm'. If the sensor performs the precharge operation at the charge transfer period (70n(8)), the reset noise can be reduced to about 003 to o2ee, and even if the precharge operation is performed every IH, Reset noise can be suppressed to about 5 el.

なお、上記第1図に示した信号出力回路20において、
入力段のソースホロワを構成している各MO8ElうT
 M2. Ms、インパークを構成している谷へ408
  FET Ms 、 M6 、および出力段のソース
ホロワを構成している各MOS  F ET Ms 。
Note that in the signal output circuit 20 shown in FIG. 1 above,
Each MO8El which constitutes the source follower of the input stage
M2. Ms, 408 to the valley that makes up Inpark.
FET Ms, M6, and each MOS FET Ms forming the source follower of the output stage.

Ms は、表面チャンネルMO8てなく埋込チャ′を低
下さぜることかできる。この場合、FETの敷居値VT
1.Iがデブレソンヨンになった分(−△■111:i
常6〜10■)だけ各ノースホロワやインパークの出力
バイアスレベルが高くなり、各結合コンデンサC1,C
2によるバイアスシフトを安定に行なう必要がある。そ
こで、上記信号出力回路20では、第4および第7のM
 OS  F J・Ji” M4 。
Ms can be used to lower the surface channel MO8 as well as the buried chamfer. In this case, the threshold value VT of the FET
1. As I became Debresung Yong (-△■111:i
The output bias level of each north follower and impark becomes higher by 6~10■), and each coupling capacitor C1, C
It is necessary to stably perform the bias shift by 2. Therefore, in the signal output circuit 20, the fourth and seventh M
OS F J. Ji” M4.

M7 にて、上述の第1のMs8  ]=N号’l’ 
M+ と同様なプリチャージ動作を行なうようにして、
上記バイアスの安定化を図るとともに低雑音化を図るよ
うにしである。ここで、一般にCCDにおける信号出力
回路ては、インバータを省略した構成や、ソースホロワ
を三段以上に亘って縦続接続した構成や、サンプルボー
ルド回路を組み込むようにした構成等が採用されること
がある。
In M7, the above-mentioned first Ms8 ]=N 'l'
By performing a precharge operation similar to M+,
This is intended to stabilize the bias and reduce noise. Generally, the signal output circuit in a CCD may employ a configuration in which an inverter is omitted, a configuration in which three or more stages of source followers are connected in cascade, or a configuration in which a sample bold circuit is incorporated. .

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上述の実施例の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、Ms8  FETを飽和領域で動作させてプリチャ
ージゲ−1・とじて働かせるようζこしたことによって
、従来の3極管領域の動作で生じた↓、/Ck’r” 
 のリセツー・雑音を除去して、極めて小さなリセット
雑音にすることができ、しかもプリチャージ動作による
電位を安定化することができ、所期の目的を十分に達成
することができる。
As is clear from the description of the embodiments described above, according to the present invention, by operating the Ms8 FET in the saturation region and working as a precharge gate 1, the operation in the conventional triode region is improved. Arose ↓, /Ck'r"
The reset noise can be removed to make the reset noise extremely small, and the potential due to the precharge operation can be stabilized, so that the intended purpose can be fully achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明を適用したC CI)の信号出力回路の
一実施例の構成を示す回路図である。第2図ハ」1記実
施例の動作を説明するためのタイムヂャートである。 1・・・・・・・・・・・・最終電荷蓄積電極3・・・
・・・・・・・・・フローティンクゲ−1・電極10・
・・・・・・・・ CCDの最終電荷転送段20・・・
・・・・・・信号出力回路 30・・・・・・・・・信号出力端子 M+・・・・・・・・・プリチャージ用のへ408 1
”E’I”特許出願人 ソニー株式会社 代理人 弁理士 小 池   晃 同    1) 利  榮  − 手続補正書(自発) 昭和58年11 月8 口 特許庁長官 若 杉 和 夫  殿 1、事件の表示 昭和58年 特許願第95570  号2、発明の名称 事イ′1との関係    特ir出願人住 所東京部品
用区北品用6丁目7番35号氏名(218)ソニー株式
会社 (211″) 代表者  大 賀 典 雄4、代理人 〒105 住 所 東京都港区虎ノ門二丁目6番4号第11森ビル
IIIPL置(508)8266 (代)自     
 発 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の(閘、および図面。 7、補正の内容 C7−1) 明細書の第2頁第13行目の記載「・・・・設けた」と
「フローティングゲート部・・・・」との間ニ「フロー
ティングディフュージョン部もしくは」を加入する。 C7−2) 明細書の第2頁第16行目から同頁第17行目に亘る記
載「フローティングゲート部((は・・・・不要電荷に
よって、」ヲ次の通り補正する。 「フローティングゲート部は極めて容量が小さい為帯電
した物体との接触やスパイク的な電源電圧の変動やホッ
トエレクトロンの注入等によって、」 (7−3) 明細書の第8頁第14行目の記載「定電流源」を「抵抗
」と訂正する。 (7−4) 明細書の、JIO頁第7行目の記載「・・・・決定され
、」と「且つ、・・・・」との間に[ドレイン電圧に依
存することなく」全加入する。 C7−5) 添付図面の第2図を別紙の通り補正する。
FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of an embodiment of a CCI signal output circuit to which the present invention is applied. FIG. 2C is a time chart for explaining the operation of the first embodiment. 1...Final charge storage electrode 3...
・・・・・・Floating game 1・Electrode 10・
......Final charge transfer stage 20 of CCD...
......Signal output circuit 30...Signal output terminal M+......For precharging 408 1
"E'I" Patent Applicant Sony Corporation Agent Patent Attorney Kodo Koike 1) Toshiei - Procedural Amendment (Spontaneous) November 8, 1980 Commissioner of the Japan Patent Office Kazuo Wakasugi 1, Indication of the Case 1981 Patent Application No. 95570 2, Relationship with Title of Invention A'1 Special IR Applicant Address 6-7-35, Kitashinyo, Tokyo Parts Store Name (218) Sony Corporation (211'') Representative: Norio Ohga 4, Agent: 105 Address: 11 Mori Building IIIPL, 2-6-4 Toranomon, Minato-ku, Tokyo (508) 8266
No. 6, "Detailed Description of the Invention" of the specification subject to amendment (locks and drawings. 7. Contents of amendment C7-1) Statement on page 2, line 13 of the specification: "... Add "floating diffusion section or..." between "floating gate section..." and "floating gate section...". C7-2) The statement “Floating gate portion ((due to unnecessary charge)” from page 2, line 16 to line 17 of page 2 of the specification is corrected as follows. (7-3) The description on page 8, line 14 of the specification states, ``Constant current (7-4) In the specification, on the 7th line of the JIO page, between the statements "...determined," and "and..." C7-5) Correct Figure 2 of the attached drawings as shown in the attached sheet.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 最終電荷転送段に設けたフローティンフケ−1・部を所
定の周期でプリチャージする電界効果トランジスタを備
えた電荷結合素子の信号出力回路において、上記電界効
果トランジスタを飽和領域で動作させるプリチャージク
ロックを上記電界効果i・ランシスクのゲートに印加し
て、上記フローティンフケ−1・部に信号電荷か入力さ
れる直前に上記電界効果トランジスタにて上記フローテ
ィングケート部のプリチャージを行なうようにしたこと
を特徴とする電荷結合素子における信号出力回路の、駆
動方法。
In a signal output circuit of a charge-coupled device equipped with a field effect transistor that precharges a floating capacitor 1 provided in the final charge transfer stage at a predetermined period, a precharge clock that operates the field effect transistor in a saturation region is used. is applied to the gate of the field effect i-rancisk so that the field effect transistor precharges the floating gate section immediately before a signal charge is input to the floating gate section 1. A method for driving a signal output circuit in a charge-coupled device, characterized by:
JP58095570A 1983-05-30 1983-05-30 Driving method of signal output circuit for charge coupled device Pending JPS59221083A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5250824A (en) * 1990-08-29 1993-10-05 California Institute Of Technology Ultra low-noise charge coupled device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5250824A (en) * 1990-08-29 1993-10-05 California Institute Of Technology Ultra low-noise charge coupled device

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