JPS59218946A - 渦流探傷方法及びこの方法に使用する探傷検出器 - Google Patents
渦流探傷方法及びこの方法に使用する探傷検出器Info
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- JPS59218946A JPS59218946A JP58091381A JP9138183A JPS59218946A JP S59218946 A JPS59218946 A JP S59218946A JP 58091381 A JP58091381 A JP 58091381A JP 9138183 A JP9138183 A JP 9138183A JP S59218946 A JPS59218946 A JP S59218946A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
- G01N27/9053—Compensating for probe to workpiece spacing
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は渦流探傷方法及びこの方法(こ使用する探傷検
出器に係り、特にベローズの如きl&J彪表面表面管、
弯曲管の曲面、或はその他の複雑な三次元的形状になる
被検体の表面を探傷し、その表面及び近傍の欠陥を能率
的且つ高精度に検出するを目的とした渦流探傷方法並び
にその探傷検出器について提供せん表するものである。
出器に係り、特にベローズの如きl&J彪表面表面管、
弯曲管の曲面、或はその他の複雑な三次元的形状になる
被検体の表面を探傷し、その表面及び近傍の欠陥を能率
的且つ高精度に検出するを目的とした渦流探傷方法並び
にその探傷検出器について提供せん表するものである。
誘電性物質の磁性金属祠料に在任するじン重−ル傷や疲
労による亀烈状偏等の諸欠陥を探傷検出するだめの非破
壊検ll¥法の代表例として、渦流探傷法が用いられて
いることは周知である。
労による亀烈状偏等の諸欠陥を探傷検出するだめの非破
壊検ll¥法の代表例として、渦流探傷法が用いられて
いることは周知である。
この検温方法は検出コイルなどの感磁性素子をフローブ
(検出子)として使用し、被検体の表面に走査させて欠
陥の在任を探知する手段であって、づローブにより発生
する磁力線によって被検体に渦電流を誘起させ、被検体
の欠陥の有無や夾雑物等によりその大きさ7位相などが
変化したぁきに生ずる渦電流によって得た情報、即ち検
出コ′イルのインピータンスの変化に伴う出力信号のd
明定値を解析することにより被検体の欠陥部の形状や大
きさ及び/又は傷の深さ等の検出を行う技術である。
(検出子)として使用し、被検体の表面に走査させて欠
陥の在任を探知する手段であって、づローブにより発生
する磁力線によって被検体に渦電流を誘起させ、被検体
の欠陥の有無や夾雑物等によりその大きさ7位相などが
変化したぁきに生ずる渦電流によって得た情報、即ち検
出コ′イルのインピータンスの変化に伴う出力信号のd
明定値を解析することにより被検体の欠陥部の形状や大
きさ及び/又は傷の深さ等の検出を行う技術である。
しかしこの渦流探傷(こ際しては、検出コイルからなる
づ0−プを被検体の検査面に対して満遍無く且つ垂直に
密着させて走査することが肝要であって、若し密着角度
や距mWに変化を生じることがあるき出力信号に多大な
影響を及ぼし、これが不正確な検出結果となって検温効
果を低減してしまうことになる。
づ0−プを被検体の検査面に対して満遍無く且つ垂直に
密着させて走査することが肝要であって、若し密着角度
や距mWに変化を生じることがあるき出力信号に多大な
影響を及ぼし、これが不正確な検出結果となって検温効
果を低減してしまうことになる。
今、仮に被検体が金属平板や真円直管の鋼管。
あるいは丸棒の如きものfあれば検査面とづD−プとの
接触調整は可能で維持できる力催、シかしこれか偏平管
や曲管部を有するような被検体の場合にはづローブ吉被
検体との接触度合が変化し、したがって検出性Viシカ
(不安定となり得る虞れ力くある。
接触調整は可能で維持できる力催、シかしこれか偏平管
や曲管部を有するような被検体の場合にはづローブ吉被
検体との接触度合が変化し、したがって検出性Viシカ
(不安定となり得る虞れ力くある。
殊に今日、探偏の必要性が要求される原子力関係の設備
や各種のフラフトなどにおいては複雑な曲面になる被検
体の検査面が多く、これらに容易に対処し得る探傷法や
検出器が望まれている。
や各種のフラフトなどにおいては複雑な曲面になる被検
体の検査面が多く、これらに容易に対処し得る探傷法や
検出器が望まれている。
そこで近示、探傷検出器の探触面に数個の回1林フロー
プを並列に備えた回転式機(苛になるものや、スフリン
クの弾発によって上下動自任になる数本の針状のづD−
づを同じく並列に設けた検出器を用い、これを被検体の
軸線方向又は円周方向に接触させな力iら定食させて探
傷するようにした方法が試みられている。 しかし前者
の回転式機1Mのものにあっては被検体の検査面が曲面
や緩やかな凹凸状面であっても突出した状態の回転づロ
ーフにより比較的円滑に走査し得るけれども、後考の針
状の〕D−フの賜金には尖端部分が探触面から突出して
いるために平坦面以外は追従できず。
プを並列に備えた回転式機(苛になるものや、スフリン
クの弾発によって上下動自任になる数本の針状のづD−
づを同じく並列に設けた検出器を用い、これを被検体の
軸線方向又は円周方向に接触させな力iら定食させて探
傷するようにした方法が試みられている。 しかし前者
の回転式機1Mのものにあっては被検体の検査面が曲面
や緩やかな凹凸状面であっても突出した状態の回転づロ
ーフにより比較的円滑に走査し得るけれども、後考の針
状の〕D−フの賜金には尖端部分が探触面から突出して
いるために平坦面以外は追従できず。
連続的走査によっては被検体に走査傷を4=Jけること
になり、また両者とも回転づD−プ、針状のづロープを
絶縁拐を介してそれぞれ並列に設けている関係上、各づ
D−プの間には間隔を有しづローフの走査によって残余
するこれらの間隔内にはづ0−づは通過し得ないことに
なるので被検体の検査面を制御無く探偏することは不可
能となり、且つまた曲率の小さい曲面や複雑形状の三次
元的検査面に対しても利用できないのみならず、リフト
オフ(被検体の検査面とづローフLの接触不艮の状態)
の発生を防止するような考慮はなされていないため、探
傷結果に信頼性が得られないなど欠点が多々ある。
になり、また両者とも回転づD−プ、針状のづロープを
絶縁拐を介してそれぞれ並列に設けている関係上、各づ
D−プの間には間隔を有しづローフの走査によって残余
するこれらの間隔内にはづ0−づは通過し得ないことに
なるので被検体の検査面を制御無く探偏することは不可
能となり、且つまた曲率の小さい曲面や複雑形状の三次
元的検査面に対しても利用できないのみならず、リフト
オフ(被検体の検査面とづローフLの接触不艮の状態)
の発生を防止するような考慮はなされていないため、探
傷結果に信頼性が得られないなど欠点が多々ある。
初でそこで本発明においては叙上の諸種欠点を克服する
手段として、被検体か真円直管の鋼管はもとより、これ
の弯曲管、断面波形(こなるべI]−ズの如営凹凸状曲
面等、これらの検査面を探偏するに始り、該各織面の形
状に即した同一曲面(こな面 る探触、奇形成した4i傷検出器の本体部を絶縁性材質
の塩化しニルやメチルメタクリレート(アクリル)4の
印可諸恰樹脂で射出成形して各検査面に対して完全に密
着し得るようになし、前記探触面の走査方向と直交する
方向の中央部(こおいて、検査面の巾に対応する載面に
五りづD−づを探触面と面一(こ露出なるよう埋設固定
して構成した探傷検出器を用い、被検体の検査面(こ対
するリフトオフの発生とそれによる影r(ゝを抑1トす
しながら検出器を密着走立させて419遍無く迅速且つ
hヒ率的でf14頓性の高い探傷を行なはんとする也の
であって、U下図面に示した実施例(こ依拠して本発明
による探傷方法上探傷検出器の構成を説明する。
手段として、被検体か真円直管の鋼管はもとより、これ
の弯曲管、断面波形(こなるべI]−ズの如営凹凸状曲
面等、これらの検査面を探偏するに始り、該各織面の形
状に即した同一曲面(こな面 る探触、奇形成した4i傷検出器の本体部を絶縁性材質
の塩化しニルやメチルメタクリレート(アクリル)4の
印可諸恰樹脂で射出成形して各検査面に対して完全に密
着し得るようになし、前記探触面の走査方向と直交する
方向の中央部(こおいて、検査面の巾に対応する載面に
五りづD−づを探触面と面一(こ露出なるよう埋設固定
して構成した探傷検出器を用い、被検体の検査面(こ対
するリフトオフの発生とそれによる影r(ゝを抑1トす
しながら検出器を密着走立させて419遍無く迅速且つ
hヒ率的でf14頓性の高い探傷を行なはんとする也の
であって、U下図面に示した実施例(こ依拠して本発明
による探傷方法上探傷検出器の構成を説明する。
本発明の基本的原理は、渦流探傷において探(易検出器
のリフトオフの発生を可及的防止すると共部 に欠陥ρ検出温れを生じることがなり・よう探偏し、欠
陥部において検圧コイルのイン已−タンスの変化によフ
て発生する不平衡1遣圧による欠陥信号とリフトオフに
起因するリフトオフ1.1号を適確(、こ入力し、これ
をチーター解析によって/J<陥部の位@や太きさ、波
労度、Dはリフトオフの発生の右前等を正確且つLヒ率
vJi=検出するととく二上って爾後の@修工程や晶質
管理の効祷二を計ろうとする也のであり9図面の第1図
乃至8図に於て、Aは渦流探傷器、Bはベタトルを表示
するX・Yレコーダー、CはX−Y信号を記録するタイ
乙チ’l’−トレコーターであって1wは被検体で、w
l、w2は表面形状の異る検査面であり、P及びRはそ
れら検査面に存在するしンホール傷と亀烈状偏を表わし
た欠陥部である。
のリフトオフの発生を可及的防止すると共部 に欠陥ρ検出温れを生じることがなり・よう探偏し、欠
陥部において検圧コイルのイン已−タンスの変化によフ
て発生する不平衡1遣圧による欠陥信号とリフトオフに
起因するリフトオフ1.1号を適確(、こ入力し、これ
をチーター解析によって/J<陥部の位@や太きさ、波
労度、Dはリフトオフの発生の右前等を正確且つLヒ率
vJi=検出するととく二上って爾後の@修工程や晶質
管理の効祷二を計ろうとする也のであり9図面の第1図
乃至8図に於て、Aは渦流探傷器、Bはベタトルを表示
するX・Yレコーダー、CはX−Y信号を記録するタイ
乙チ’l’−トレコーターであって1wは被検体で、w
l、w2は表面形状の異る検査面であり、P及びRはそ
れら検査面に存在するしンホール傷と亀烈状偏を表わし
た欠陥部である。
そして工は探傷検出器で、工aはその本体部を示し、l
bは探触面で、2及び3は該探触面に面a 3a −になるよう埋設して設けた検出コイ−亡菱−ら構成さ
れているづローフ(検出子)である。
bは探触面で、2及び3は該探触面に面a 3a −になるよう埋設して設けた検出コイ−亡菱−ら構成さ
れているづローフ(検出子)である。
第1図のフロック構成図に示すように、渦流探傷器Aは
これに接続された探傷検出器1を励磁させる交流発振器
を4iIiえ、また検出器からの出力信号、即ちリフト
オフに伴う信号及び疲労欠陥信号を同時に入力して同期
検波により信号処理を行ない、これらを弁別回路によっ
てX(・YレコーダーB及びタイ乙チ?−トレコータ一
〇(こ伝達するもので、X・Yレコーダーは検出器によ
って検知されたリフトオ〕や欠陥信号等に基いてY軸と
Y軸に分別して夫々ベクトル表示をするものであり。
これに接続された探傷検出器1を励磁させる交流発振器
を4iIiえ、また検出器からの出力信号、即ちリフト
オフに伴う信号及び疲労欠陥信号を同時に入力して同期
検波により信号処理を行ない、これらを弁別回路によっ
てX(・YレコーダーB及びタイ乙チ?−トレコータ一
〇(こ伝達するもので、X・Yレコーダーは検出器によ
って検知されたリフトオ〕や欠陥信号等に基いてY軸と
Y軸に分別して夫々ベクトル表示をするものであり。
またタイ乙チ↑−トレコーターは前記X・Yし]−ター
と併行してX・Yそれぞれの信号をタイムチi’−トに
記録するよう構成されている。
と併行してX・Yそれぞれの信号をタイムチi’−トに
記録するよう構成されている。
探傷検出器1はその本体部上aが電気絶縁性が高く磁性
を有さない例えば、垣化じ=ルやメチルメタクリレート
等の熱可塑性樹脂で射出成形され、欠陥検出能力を高め
るために検出コイルが検査面に対して巣直に常に密着し
た状態で走査できるようにすることが望ましい。
を有さない例えば、垣化じ=ルやメチルメタクリレート
等の熱可塑性樹脂で射出成形され、欠陥検出能力を高め
るために検出コイルが検査面に対して巣直に常に密着し
た状態で走査できるようにすることが望ましい。
そこで本発朗においては、当該検出器1の形状は被検体
Wの検査面νJ1に対してリフトオフの発生を防止し、
リフトオフによる影響(不正確な出力信号等)を可及的
抑制する必要上、検宜面の形状に即した同一形状の探触
面1bを有する本体部1aを樹脂により射出成形する。
Wの検査面νJ1に対してリフトオフの発生を防止し、
リフトオフによる影響(不正確な出力信号等)を可及的
抑制する必要上、検宜面の形状に即した同一形状の探触
面1bを有する本体部1aを樹脂により射出成形する。
図面もこ照して換言すれば、今、被検体Wであるベロー
ズの波形凹凸状の曲面の内、凹状曲面の谷部を検査面W
lとして探傷する場合、探触面1bの走査方向上直交す
る短手方向が該凹状曲面内に合致する凸状の曲面になり
、また走査する長手方向は検査面W1の円周と同一曲率
になる凹状の弯曲面(こ形成されると共に安定が保持さ
れる程度の長さを有し、且つ該検査面の谷部を完全に埋
没し得る肉厚に形成せられている。
ズの波形凹凸状の曲面の内、凹状曲面の谷部を検査面W
lとして探傷する場合、探触面1bの走査方向上直交す
る短手方向が該凹状曲面内に合致する凸状の曲面になり
、また走査する長手方向は検査面W1の円周と同一曲率
になる凹状の弯曲面(こ形成されると共に安定が保持さ
れる程度の長さを有し、且つ該検査面の谷部を完全に埋
没し得る肉厚に形成せられている。
つまり、斯様な形状のJIA1′、触面1bは被検体の
両側立ち上り壁面をも含む検査面ν11に河して完全に
埋没するようにして密着し得る也のであり、該検査面の
谷部に沿って周方向に円滑に走査させることができる。
両側立ち上り壁面をも含む検査面ν11に河して完全に
埋没するようにして密着し得る也のであり、該検査面の
谷部に沿って周方向に円滑に走査させることができる。
そこでこの探触面よりの走査する長手方向と直交する短
手方向の中央部において、検査面W、の巾に対応する載
面に互り探触面とそ°の露出先端面が面一になるづD−
プ2又は3を設ける。 即ち。
手方向の中央部において、検査面W、の巾に対応する載
面に互り探触面とそ°の露出先端面が面一になるづD−
プ2又は3を設ける。 即ち。
第4図のように検出コイル2aを数回偏平円状を呈する
ループ状に捲回したものをづローブ2表して前記探触面
1bの所定位置に埋設固定させる。
ループ状に捲回したものをづローブ2表して前記探触面
1bの所定位置に埋設固定させる。
或は第7図の如く、第8図の単体にてその構造を示す鉄
心3bの周囲全体に検出コイル3aを指袋して構成した
小型のフローツ3を複数個用い、前記聞様に探触面1b
の所定位置に、検出器の走査(こおいて各プ0−プ間に
間隙の軌跡を生じさせないよう分散配置して全てを探触
面と面一になるよう埋設固定する。 とれは各単体のづ
0−ブ3によってそれぞれの検出範囲を分担させ、ひい
ては複数個の全体で検査面の全域範囲を走査するように
構成したものである。
心3bの周囲全体に検出コイル3aを指袋して構成した
小型のフローツ3を複数個用い、前記聞様に探触面1b
の所定位置に、検出器の走査(こおいて各プ0−プ間に
間隙の軌跡を生じさせないよう分散配置して全てを探触
面と面一になるよう埋設固定する。 とれは各単体のづ
0−ブ3によってそれぞれの検出範囲を分担させ、ひい
ては複数個の全体で検査面の全域範囲を走査するように
構成したものである。
このように埋設固定された各プローブ2,3は、その先
端面が探触面よりから突出することなく同一面に支持さ
れているものであるから、探触面1bを検査面W1に密
着させたときには、該各づ〇−プ2.3も共に密着して
検査面との開に1!Pツフを生じることばなく、またフ
ローラ2及び3とも検出コイル2a、3aを多数捲きに
しであるので検出感度は高い。
端面が探触面よりから突出することなく同一面に支持さ
れているものであるから、探触面1bを検査面W1に密
着させたときには、該各づ〇−プ2.3も共に密着して
検査面との開に1!Pツフを生じることばなく、またフ
ローラ2及び3とも検出コイル2a、3aを多数捲きに
しであるので検出感度は高い。
またこれら検出コイルは、一般的には被検体に対する渦
電流発生用の励磁コイルと、欠陥部検知用の検出コイル
の二種類を複捲]イルとして用いる場合左、同一コイル
により励磁上検出を同時に行なう単捲コイルとしての用
い方があるが、しかし何れも被検体に発生する渦電流は
検出コイルの各捲線と同一方向に流れ、被検体の欠陥部
によるイン已−タンスの変化を検知することには変りは
ないので1本発明の検出器にあっては上記のいずれかに
限定するものではなくいずれであってもよい。
電流発生用の励磁コイルと、欠陥部検知用の検出コイル
の二種類を複捲]イルとして用いる場合左、同一コイル
により励磁上検出を同時に行なう単捲コイルとしての用
い方があるが、しかし何れも被検体に発生する渦電流は
検出コイルの各捲線と同一方向に流れ、被検体の欠陥部
によるイン已−タンスの変化を検知することには変りは
ないので1本発明の検出器にあっては上記のいずれかに
限定するものではなくいずれであってもよい。
つぎに前記++lI]形態のづ叶づ2,3とも、被検体
の検査面に対して垂直になるよう埋設固定することが肝
要であり、第4図のループ状づロープ2の形体の場合に
は予めづロープ2を構成する検出コイル2aを検出器本
体部上aを成形する金型士’17ピテイ内に挿入して行
なうインサート成形法によって容易に射出成形すること
が可能であるが。
の検査面に対して垂直になるよう埋設固定することが肝
要であり、第4図のループ状づロープ2の形体の場合に
は予めづロープ2を構成する検出コイル2aを検出器本
体部上aを成形する金型士’17ピテイ内に挿入して行
なうインサート成形法によって容易に射出成形すること
が可能であるが。
第7図の分散配置式の袷数個の小型づD−プ3を以って
構成される形態の場合には1本体部上aを成形したのち
所定部に必要数の孔を穿設し、これに小型の単体づロー
プ3を挿入着するようにすればよい。 しかし所要数の
づ0−プを予め分散配置した状態に仮止めしたものを、
前記ルーフ状プ0−ブの場合の如くインサート成形する
ようにすれば検出器の製作には困難性はない。
構成される形態の場合には1本体部上aを成形したのち
所定部に必要数の孔を穿設し、これに小型の単体づロー
プ3を挿入着するようにすればよい。 しかし所要数の
づ0−プを予め分散配置した状態に仮止めしたものを、
前記ルーフ状プ0−ブの場合の如くインサート成形する
ようにすれば検出器の製作には困難性はない。
第7図においては複数個のフローラを各閉1接するフロ
ーラとそれぞれ交互にずらして二列に整タリ配置した状
態のものを示したが、このフローラの数は検査面の巾に
より決定され、そして配置手段は、検出器上を検査面W
+4こ1分って走査させたとき(こ探触面1aの各づロ
ープ間に間隙の軌跡が残らなければ不規則状に配置した
ものであってもよく、さらにまったく不規則状態に配置
し、検出器の向きを正逆反転させて二〜三度に互り走査
させ。
ーラとそれぞれ交互にずらして二列に整タリ配置した状
態のものを示したが、このフローラの数は検査面の巾に
より決定され、そして配置手段は、検出器上を検査面W
+4こ1分って走査させたとき(こ探触面1aの各づロ
ープ間に間隙の軌跡が残らなければ不規則状に配置した
ものであってもよく、さらにまったく不規則状態に配置
し、検出器の向きを正逆反転させて二〜三度に互り走査
させ。
その結果におり・て探傷漏れがないように構成しである
ものであればづO−プの数や配置方法について限定する
ものではない。
ものであればづO−プの数や配置方法について限定する
ものではない。
火に第9図及び10図について説明する。
これらの実施例は前記した被検体WのべD−ズにおいて
、その波形凹凸状の凸状曲面、所謂山部を検査面W2と
した場合、これに使用する探傷検出器1°を示している
。 この検出器1°は探触面1b’が…J記した凸状曲
面になるものと全く逆の形状をしている。 即ち、検査
面W2か凸状曲面の山部を呈しているものであるから当
然この面に即した凹状曲面の探触面1b’に形成されて
おり、長手方向はいうまでもなく当該検査面の曲率と同
一の弯曲面に形成され、探傷のために走査するときには
図面のように探触面より’が検査面W2上に跨乗した状
態表なる。
、その波形凹凸状の凸状曲面、所謂山部を検査面W2と
した場合、これに使用する探傷検出器1°を示している
。 この検出器1°は探触面1b’が…J記した凸状曲
面になるものと全く逆の形状をしている。 即ち、検査
面W2か凸状曲面の山部を呈しているものであるから当
然この面に即した凹状曲面の探触面1b’に形成されて
おり、長手方向はいうまでもなく当該検査面の曲率と同
一の弯曲面に形成され、探傷のために走査するときには
図面のように探触面より’が検査面W2上に跨乗した状
態表なる。
更に第11図及び12図は同径になる直管又は弯曲管等
の鋼管表面を検査面w3にシて探傷する方法について示
している。
の鋼管表面を検査面w3にシて探傷する方法について示
している。
この探傷検出器1”は被検体W゛か真円の同径管である
から、走査する長手方向は管軸に沿うよう水゛ 平であ
って、短手方向にこの被検体W゛の円周曲率に合致する
凹状曲面になる探触面1b”′を形成する。
から、走査する長手方向は管軸に沿うよう水゛ 平であ
って、短手方向にこの被検体W゛の円周曲率に合致する
凹状曲面になる探触面1b”′を形成する。
本発明に使用する以上の探傷検出器1.1’、l”は被
検体w、w’の検査面Wj 、 k/z、 W3に密着
する探触面:Lb、lb’、lbでそれぞれの検査面に
即した曲面等の形状に形成せられていて、これらの面の
中央部において走査方向と直交する方向に設けたづロー
ブ2,3が検査面に対する探触面の密着と朴会って同時
に完全密着することになっている。
検体w、w’の検査面Wj 、 k/z、 W3に密着
する探触面:Lb、lb’、lbでそれぞれの検査面に
即した曲面等の形状に形成せられていて、これらの面の
中央部において走査方向と直交する方向に設けたづロー
ブ2,3が検査面に対する探触面の密着と朴会って同時
に完全密着することになっている。
しかし被検体W、炉には移動及び回転を与えることなく
検出器1,1腎、1”を検査面wl 、 W2. W3
に対し手動旋回させたり水平移動(第11.12図の場
合)させる走査によって探傷するものであって、検出器
の追随効果はすぐれていて極力リフトオフを生じないよ
うに操11−シ得るけれども9手の動揺や押っ付は圧力
(密着力)の変動等により走査中の何処かにおいてづo
−1にリフトオフを発生させてしまう虞れは免れ得ない
もの2考えられる。
検出器1,1腎、1”を検査面wl 、 W2. W3
に対し手動旋回させたり水平移動(第11.12図の場
合)させる走査によって探傷するものであって、検出器
の追随効果はすぐれていて極力リフトオフを生じないよ
うに操11−シ得るけれども9手の動揺や押っ付は圧力
(密着力)の変動等により走査中の何処かにおいてづo
−1にリフトオフを発生させてしまう虞れは免れ得ない
もの2考えられる。
9麦」2
籾でそこで1本発明の探傷方法について述べれば、第1
図乃至3図及び第5.6図に小す検査面wl、つまり被
検体νJであるへU−ズの凹状曲面では ある谷部を探傷するに7.先づ検出器1を該検査面内に
嵌入する如くして密着させる。 そして渦流探傷器Aの
図示していない発振器によってづローづ2,3の検出コ
イル2a、3aを励磁させると被検体W ’jJ−戯1
6シて渦電流を誘起する。 そこで第3図及び6図(こ
示す矢印の周方向に検出器1を旋回走査させ所要の範囲
を探傷する。
図乃至3図及び第5.6図に小す検査面wl、つまり被
検体νJであるへU−ズの凹状曲面では ある谷部を探傷するに7.先づ検出器1を該検査面内に
嵌入する如くして密着させる。 そして渦流探傷器Aの
図示していない発振器によってづローづ2,3の検出コ
イル2a、3aを励磁させると被検体W ’jJ−戯1
6シて渦電流を誘起する。 そこで第3図及び6図(こ
示す矢印の周方向に検出器1を旋回走査させ所要の範囲
を探傷する。
この場合、フロープカユ第1図中に表゛わしたようなポ
ンチ傷Pや亀烈状偏R等の欠陥部(こ接触すると、フロ
ーラを構成する検出コイル2a、3aの負荷は減りされ
不平衡電圧となって出力1語号はインピータシスの変化
によy:J増加し、検出器1から探潟器Aの信号処理部
(こ欠陥1語号として伝達される。
ンチ傷Pや亀烈状偏R等の欠陥部(こ接触すると、フロ
ーラを構成する検出コイル2a、3aの負荷は減りされ
不平衡電圧となって出力1語号はインピータシスの変化
によy:J増加し、検出器1から探潟器Aの信号処理部
(こ欠陥1語号として伝達される。
この際複数個の小型づロープからなる検出器にあっては
、渦流探傷器Aの入力に対し電子的に切換えるかまたは
並クリに接続され、これらづ叶づの内いずれか1個の単
体において欠陥1d号が出力された場合でも欠陥部の検
出を行ない探傷器Aの出力に表示されるようになってい
る。
、渦流探傷器Aの入力に対し電子的に切換えるかまたは
並クリに接続され、これらづ叶づの内いずれか1個の単
体において欠陥1d号が出力された場合でも欠陥部の検
出を行ない探傷器Aの出力に表示されるようになってい
る。
また、づローフの検査面(こ対する密着不撓、即ちリフ
トオフが生じたと音には探傷不能きなるから、これが経
過時間と共にリフトオフ信号として前記欠陥信号2併行
に伝達される。
トオフが生じたと音には探傷不能きなるから、これが経
過時間と共にリフトオフ信号として前記欠陥信号2併行
に伝達される。
探傷器Aは検出器上より検出されたこれら信号を同期検
波による信号処理によってチーター解析を行ない、欠陥
信号及びリフトオフ信号をそれぞれ弁別回路によってχ
・Yレコーダ−Bに伝達し当該レコーダーによって表わ
されるX軸とY軸に両信号をベクトル表示として波形図
に記録するものである。 またこれと同時にタイ乙チ1
’−1−レコーター〇には経過時間が同じく波形図とし
てタイ乙テr−ト記録される。
波による信号処理によってチーター解析を行ない、欠陥
信号及びリフトオフ信号をそれぞれ弁別回路によってχ
・Yレコーダ−Bに伝達し当該レコーダーによって表わ
されるX軸とY軸に両信号をベクトル表示として波形図
に記録するものである。 またこれと同時にタイ乙チ1
’−1−レコーター〇には経過時間が同じく波形図とし
てタイ乙テr−ト記録される。
したがってこれら表示と記録によって被検体に存在する
傷の種類や疲労度、又はその進行度、あるいはリフトオ
フの有無等が明確に判別される特徴があり、爾後の処理
が速やかになされ品質管理において極めて有効である。
傷の種類や疲労度、又はその進行度、あるいはリフトオ
フの有無等が明確に判別される特徴があり、爾後の処理
が速やかになされ品質管理において極めて有効である。
本発明によれば、被検体の欠陥検出はもとより、局部的
な材質の変化なども併せて判明される特徴があるので、
検出結果は極めて信頼性があり。
な材質の変化なども併せて判明される特徴があるので、
検出結果は極めて信頼性があり。
目視では発見し難い欠陥部の位置づけが正確に得られる
効果があり、且っ又プラント等における既設配管の被検
体に対しても極めて容易に探傷でき保守検査が迅速にで
きる。
効果があり、且っ又プラント等における既設配管の被検
体に対しても極めて容易に探傷でき保守検査が迅速にで
きる。
したがって9本発明は検出器のリフトオフと欠陥部の信
号によるインじ−ダンスの変化について着実に確認する
ことによって検出結果に暴く欠陥部の形態判断を精細適
確に行なうことが可能であり、且つ判別結果の精度は高
く極めて能率的な探傷効果が得られる特徴がある。
号によるインじ−ダンスの変化について着実に確認する
ことによって検出結果に暴く欠陥部の形態判断を精細適
確に行なうことが可能であり、且つ判別結果の精度は高
く極めて能率的な探傷効果が得られる特徴がある。
のって被検体の検査面に即した形状の検出器を成形して
使用するのみで従来方法に比し飛躍的に探傷精度を向上
させることができる。
使用するのみで従来方法に比し飛躍的に探傷精度を向上
させることができる。
猶、第13図及び14図の波形図は1本発明者らの実験
に基くものであるが、第13図のX軸に記録された欠陥
信号に基く波形図において表われでいる「a」部分は第
1図中にホされたようなポンチ傷の存在を表わしており
、また第14図の同じく欠陥信号によるX軸に記録され
ている波形図内のrbJ部分は、同じく第1図中の亀烈
状傷の存在を表わしているものである。 両図のY軸に
記録されたリフトオフ信号による波形図によれば走査中
の手に若干の動揺があったことが分る。
に基くものであるが、第13図のX軸に記録された欠陥
信号に基く波形図において表われでいる「a」部分は第
1図中にホされたようなポンチ傷の存在を表わしており
、また第14図の同じく欠陥信号によるX軸に記録され
ている波形図内のrbJ部分は、同じく第1図中の亀烈
状傷の存在を表わしているものである。 両図のY軸に
記録されたリフトオフ信号による波形図によれば走査中
の手に若干の動揺があったことが分る。
第1図は本発明方法の一実施例を示し、要領を説明する
だめのブロック構成図。 第2図は第1図における被検
体の凹状曲面になる検査面に対する探傷検出器の探傷法
を示すだめの要部拡大図であって、特に該検出器の構成
の一例を断面図で7J\す。 第3図は両図の側面方向
から見た拡大断面図。 第4図は第2図及び3図におけ
る探傷検出器を構成するルーづ状づロープを埋設固定し
た探触面の展開図。 第5図は第2図同様の探傷法を示
すものにおいて、特に探傷検出器の他の構成例を断面図
で示す。 第6図はgjJ図の側面方向から見た拡大断
面図。 第7図は第5図及び6図における探傷検出器を
構成する複数個の小型づ0−プを分散配置して埋設固定
した探触面の展開図。 第8図は前歯プ0−プの単体の拡大図。 第9図及び1
0図は被検体の凸状曲面になる検査面に対する探傷検出
器と、これによる探傷法を示す。 第11図は他の被検体の検査面を探傷する場合の要領図
。 第12図は両図を側面方向から見た概略図。 第1
3図は実験例に基くポンチ傷探傷検出時の欠陥信号(X
軸)と、リフトオフ信号(Y軸)による各波形図。 第
14図は同じく亀烈状傷探傷検出時の欠陥信号(X軸)
と、リフト才フ信号(Y軸)による各波形図である。 〔符 号〕 1.1°、1′′・・・探傷検出器 1a・パ本体部 1b11blllbl′1°探触面 2・・・ルーづ状づD−フ 2a・・・(愛用コイル 3・・・小型づロープ 3a・・・検出コイル 3b・・・獣心 A・・・渦流探傷器 B・・・ベクトルを表示するX−Yレコーター〇・・・
X・Y信号を記録するタイ乙チt−トレコーター w 、 w’・・・被検体 W+、 W2. W3=検査面 第9図 1′ 2 第10図 1′ 第11図
だめのブロック構成図。 第2図は第1図における被検
体の凹状曲面になる検査面に対する探傷検出器の探傷法
を示すだめの要部拡大図であって、特に該検出器の構成
の一例を断面図で7J\す。 第3図は両図の側面方向
から見た拡大断面図。 第4図は第2図及び3図におけ
る探傷検出器を構成するルーづ状づロープを埋設固定し
た探触面の展開図。 第5図は第2図同様の探傷法を示
すものにおいて、特に探傷検出器の他の構成例を断面図
で示す。 第6図はgjJ図の側面方向から見た拡大断
面図。 第7図は第5図及び6図における探傷検出器を
構成する複数個の小型づ0−プを分散配置して埋設固定
した探触面の展開図。 第8図は前歯プ0−プの単体の拡大図。 第9図及び1
0図は被検体の凸状曲面になる検査面に対する探傷検出
器と、これによる探傷法を示す。 第11図は他の被検体の検査面を探傷する場合の要領図
。 第12図は両図を側面方向から見た概略図。 第1
3図は実験例に基くポンチ傷探傷検出時の欠陥信号(X
軸)と、リフトオフ信号(Y軸)による各波形図。 第
14図は同じく亀烈状傷探傷検出時の欠陥信号(X軸)
と、リフト才フ信号(Y軸)による各波形図である。 〔符 号〕 1.1°、1′′・・・探傷検出器 1a・パ本体部 1b11blllbl′1°探触面 2・・・ルーづ状づD−フ 2a・・・(愛用コイル 3・・・小型づロープ 3a・・・検出コイル 3b・・・獣心 A・・・渦流探傷器 B・・・ベクトルを表示するX−Yレコーター〇・・・
X・Y信号を記録するタイ乙チt−トレコーター w 、 w’・・・被検体 W+、 W2. W3=検査面 第9図 1′ 2 第10図 1′ 第11図
Claims (9)
- (1) 被検体に探傷検出器を走査させることにより
探傷する渦流探傷方法において、探傷検出器のりフトオ
フ去欠陥偽号によるインし一タンスの変化を探傷器(こ
伝達し、これを信号処理してχ・Yレコーダーとタイム
チ’l’−トレコーターに弁別伝達したものを欠陥信号
とリフトオ)信号表にベタトル表示して記録すると同時
にタイムチアート記侍することによフて、欠陥部の検出
結果上リフトオフの有無を判別確認するこみを特徴上す
る渦流探傷方法。 - (2) i“h流探傷方法に使用する探0ツ検出器で
あって、被検体の検査面に即した形状に形成された本体
部の探触面において、走査方向2直交する方向の所定位
置に数回捲回した所要中の検出コイルをルーづ状づロー
フとして探触面と面一に埋設固定した構成を特徴とする
探傷検出器。 - (3) 渦流探傷方法に使用する探傷検出器であって
、被検体の検査面に即した形状に形成された本体部の探
触面において、走査方向と直交する方向の所定位置に鉄
心に検出コイルを指袋して構成した複数個の小型づロー
フを所要中に互って探触面上面−に埋設固定した構成を
特徴とする探傷検出器。 - (4) 特許請求の範囲第(3)項記載の札・傷検出
器における複数個の小をづ口、づにおいて、探傷器の入
力(こ対し電子的に切換えるか、または並列(こ接続さ
れ、これらづD−プの内いずれかの1個の単体(こおい
て欠陥信号か出力された場合でも欠陥検出カー行えるよ
う構成されていることを特徴とする探傷検出器。 - (5) 特許請求の範囲第(2)項及び(3)項記載
の探傷検出器において、検出器本体部が電気絶縁性の高
い合成樹脂で成形されていることを特徴とする探傷検出
器。 - (6) 特許請求の範囲第(2)項乃至(4)項記載
の探傷検出器のづローづが、被検体の検査面に対してそ
れぞれ垂直になるよう埋設固定されていることを特徴と
する探傷検出器。 - (7) 特許請求の範囲第(2)項と(3)項及び(
5)項記載の探傷検出器本体部の探触面において、短手
方向を凸状曲面(こ、検査面に刻して走査する長手方向
を四状の弯曲面に形成したことを特徴とする探傷検出器
。 - (8) 特許請求の範囲第(2)項と(3)@及び(
5)項記載の探傷検出器本体部の探触面において、短手
方向を凹状曲面に、検査面に対1.て走査する長手方向
も凹状の弯曲面に形成したことを特徴とする探傷検出器
。 - (9) 特許請求の範囲第(2)項と(3)項及び(
5)項記載の探傷検出器本体部の探触面において、短手
方向を凹状曲面に、検査面に対して走査する長手方向を
水平に形成したことを特徴とする探傷検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58091381A JPS59218946A (ja) | 1983-05-24 | 1983-05-24 | 渦流探傷方法及びこの方法に使用する探傷検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58091381A JPS59218946A (ja) | 1983-05-24 | 1983-05-24 | 渦流探傷方法及びこの方法に使用する探傷検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59218946A true JPS59218946A (ja) | 1984-12-10 |
Family
ID=14024788
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58091381A Pending JPS59218946A (ja) | 1983-05-24 | 1983-05-24 | 渦流探傷方法及びこの方法に使用する探傷検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59218946A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61195352A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-29 | エルテイーブイ・スチール・カンパニー・インコーポレイテツド | 被加工物を検査するための方法及び装置 |
JP2005265848A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | General Electric Co <Ge> | 金属ポストの渦電流探傷検査のための方法及び装置 |
JP2007183114A (ja) * | 2006-01-04 | 2007-07-19 | Nippon Petroleum Refining Co Ltd | ベローズの劣化検査方法 |
JP2008139115A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-06-19 | Nippon Petroleum Refining Co Ltd | 多層体の非破壊検査方法 |
JP2008151588A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Idemitsu Eng Co Ltd | 二層ベローズの欠陥評価方法及びこれに用いる渦流探傷装置 |
CN111272865A (zh) * | 2020-03-11 | 2020-06-12 | 洛阳双瑞特种装备有限公司 | 一种基于阵列涡流检测金属波纹管缺陷的方法 |
-
1983
- 1983-05-24 JP JP58091381A patent/JPS59218946A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61195352A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-29 | エルテイーブイ・スチール・カンパニー・インコーポレイテツド | 被加工物を検査するための方法及び装置 |
JP2005265848A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | General Electric Co <Ge> | 金属ポストの渦電流探傷検査のための方法及び装置 |
JP2007183114A (ja) * | 2006-01-04 | 2007-07-19 | Nippon Petroleum Refining Co Ltd | ベローズの劣化検査方法 |
JP2008139115A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-06-19 | Nippon Petroleum Refining Co Ltd | 多層体の非破壊検査方法 |
JP2008151588A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Idemitsu Eng Co Ltd | 二層ベローズの欠陥評価方法及びこれに用いる渦流探傷装置 |
CN111272865A (zh) * | 2020-03-11 | 2020-06-12 | 洛阳双瑞特种装备有限公司 | 一种基于阵列涡流检测金属波纹管缺陷的方法 |
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