JPS5921489B2 - 光量測定回路 - Google Patents
光量測定回路Info
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- JPS5921489B2 JPS5921489B2 JP10512078A JP10512078A JPS5921489B2 JP S5921489 B2 JPS5921489 B2 JP S5921489B2 JP 10512078 A JP10512078 A JP 10512078A JP 10512078 A JP10512078 A JP 10512078A JP S5921489 B2 JPS5921489 B2 JP S5921489B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- switch
- light amount
- holding
- capacitor
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Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J1/46—Electric circuits using a capacitor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光量測定回路、さらに詳しくいえば物体の反射
光や透過光を測定して物体の特性を測定したり、光源か
らの光束を測定したりするための光量測定回路に関する
。
光や透過光を測定して物体の特性を測定したり、光源か
らの光束を測定したりするための光量測定回路に関する
。
従来の光量測定回路は主として電子管を用いて行なわれ
ており、感度の調整は分圧器を用いて増幅電圧を分圧す
るという構成が採られている。
ており、感度の調整は分圧器を用いて増幅電圧を分圧す
るという構成が採られている。
本発明の目的は半導体回路を用いて光量測定回路を形成
し、積分時間を調節することにより、広い範囲内で光量
測定を可能にする光量測定回路を提供することにある。
前記目的を達成するために、本発明による光量測定回路
は、基本的には光量積分回路と、前記光量積分回路の積
分値を保持する回路とを設け、前記積分回路の積分時間
と保持のタイミングを同期制御することにより、広いダ
イナミックレンジで光量を測定できるように構成してあ
る。
し、積分時間を調節することにより、広い範囲内で光量
測定を可能にする光量測定回路を提供することにある。
前記目的を達成するために、本発明による光量測定回路
は、基本的には光量積分回路と、前記光量積分回路の積
分値を保持する回路とを設け、前記積分回路の積分時間
と保持のタイミングを同期制御することにより、広いダ
イナミックレンジで光量を測定できるように構成してあ
る。
以下実施例を示す図面等を参照して、本発明による光量
測定回路をさらに詳し＜説明する。
測定回路をさらに詳し＜説明する。
第１図は本発明による光量測定回路の実施例を示す回路
図、第２図は前記回路の動作を説明するための波形図で
ある。第１図において、Ａｌは差動増幅器であつて、構
成能動素子がＦＥＴあるいはすくなくとも初段目はＦＥ
Ｔを用いてある。
図、第２図は前記回路の動作を説明するための波形図で
ある。第１図において、Ａｌは差動増幅器であつて、構
成能動素子がＦＥＴあるいはすくなくとも初段目はＦＥ
Ｔを用いてある。
この差動入力端子にはシリコンホトダイオードＰｄが接
続されている。増幅器Ａｌの入出力端子間には積分コン
デンサＣｌが接続されており、さらにこのコンデンサＣ
ｌには並列にスイッチ５１が接続されている。増幅器Ａ
ｌの助端は、スイッチ５２を介して増幅器Ａ２の入力端
子に接続されており、増幅器Ａ２の前記入力端子には電
圧保持用コンデンサＣ２が接続されている。
続されている。増幅器Ａｌの入出力端子間には積分コン
デンサＣｌが接続されており、さらにこのコンデンサＣ
ｌには並列にスイッチ５１が接続されている。増幅器Ａ
ｌの助端は、スイッチ５２を介して増幅器Ａ２の入力端
子に接続されており、増幅器Ａ２の前記入力端子には電
圧保持用コンデンサＣ２が接続されている。
増幅器Ａ２の他方の入力端子と出力端子間には１００％
帰還のための負帰還回路が接続されており電圧増幅率１
の増幅器を形成している。この増幅器の出力は表示回路
ＤＩＳＰに接続されており、適当なＡ／Ｄ変換、または
直接電圧表示が行なわれるようになつている。
帰還のための負帰還回路が接続されており電圧増幅率１
の増幅器を形成している。この増幅器の出力は表示回路
ＤＩＳＰに接続されており、適当なＡ／Ｄ変換、または
直接電圧表示が行なわれるようになつている。
スイッチ制御回路ＣＯＮＴは前記スイッチ５１の開閉制
御および５２の開閉制御を行なうための制御回路である
。
御および５２の開閉制御を行なうための制御回路である
。
この制御回路により、スイッチ５１は周期的に開閉され
、その開閉に同期してスイッチ５２も開閉される。この
スイッチ５１の開放時間は、スイツチ制御回路ＣＯＮＴ
により任意に選択できるものであり、その選択は、入射
光量が大きいときは比較的短く、入射光量が小さいとき
は長くするようにし、常に直線範囲内での良好な測定が
できるようにしてある。この時間設定のデータはＣＯＮ
Ｔから表示部ＤＩＳＰにも供給され、表示部ＤＩＳＰで
は、その設定値と測定値、あるいは、その設定値で重み
づけされた表示を行なうように構成されている。次に第
２図を参照して、前記回路の動作を説明する。
、その開閉に同期してスイッチ５２も開閉される。この
スイッチ５１の開放時間は、スイツチ制御回路ＣＯＮＴ
により任意に選択できるものであり、その選択は、入射
光量が大きいときは比較的短く、入射光量が小さいとき
は長くするようにし、常に直線範囲内での良好な測定が
できるようにしてある。この時間設定のデータはＣＯＮ
Ｔから表示部ＤＩＳＰにも供給され、表示部ＤＩＳＰで
は、その設定値と測定値、あるいは、その設定値で重み
づけされた表示を行なうように構成されている。次に第
２図を参照して、前記回路の動作を説明する。
第２図は第１図に示した回路のスイツチ動作と各部電圧
の変化を示すタイムチヤートである。第２図は一定の入
射光束が光電変換素子Ｐｄに入射している場合にスイツ
チＳ１の開放時間を変えた場：合について示してある。
制御回路ＣＯＮＴにより、時点Ｔ。
の変化を示すタイムチヤートである。第２図は一定の入
射光束が光電変換素子Ｐｄに入射している場合にスイツ
チＳ１の開放時間を変えた場：合について示してある。
制御回路ＣＯＮＴにより、時点Ｔ。
に第１スィツチＳ，を開放すると、積分コンデンサＣ，
は光電変換素子（ホトダイオード）Ｐｄの光電流により
、充電され、増幅器Ａ１の出力電圧Ｖ，は第２図（Ｖ１
）の示すように次第に上昇する。スイツチＳ，を開成
する直前に第２スイツチＳ２を一定短時間閉成して保持
用のコンデンサＣ２を電圧Ｖ，に充電する。増幅器Ａ２
は１倍の増幅器であるからコンデンサＣ２の電圧，が２
（＝，）として出力端子に現われる。この電圧は表示装
置ＤＩＳＰによつて表示される。この動作は周期的に行
なわれるので、もし入射光束の変化があればＳ，がオン
になるたびに修正される。第２図右側の部分は第１スイ
ツチＳ１の開放時間を左側の部分１／２、すなわちｔに
−ｔζ＝１／２（ＴＯ−ｔ１ ）とした場合について示
してある開放時間を短くすると、Ｓ２により保持される
までの時間が短くなるので、Ｖ，は小さく、したがつて
Ｖ２も小さくなる。
は光電変換素子（ホトダイオード）Ｐｄの光電流により
、充電され、増幅器Ａ１の出力電圧Ｖ，は第２図（Ｖ１
）の示すように次第に上昇する。スイツチＳ，を開成
する直前に第２スイツチＳ２を一定短時間閉成して保持
用のコンデンサＣ２を電圧Ｖ，に充電する。増幅器Ａ２
は１倍の増幅器であるからコンデンサＣ２の電圧，が２
（＝，）として出力端子に現われる。この電圧は表示装
置ＤＩＳＰによつて表示される。この動作は周期的に行
なわれるので、もし入射光束の変化があればＳ，がオン
になるたびに修正される。第２図右側の部分は第１スイ
ツチＳ１の開放時間を左側の部分１／２、すなわちｔに
−ｔζ＝１／２（ＴＯ−ｔ１ ）とした場合について示
してある開放時間を短くすると、Ｓ２により保持される
までの時間が短くなるので、Ｖ，は小さく、したがつて
Ｖ２も小さくなる。
以上説明したように本発明による測定回路では、５積分
開始時点（［ｏまたはＴｔ）から保持までの時点を設定
することにより、Ｖ２のレペルを選定することができる
。
開始時点（［ｏまたはＴｔ）から保持までの時点を設定
することにより、Ｖ２のレペルを選定することができる
。
したがつて入射光束密度にしたがつて適当な選定を行な
うことにより、回路動作の直線性を保つ］て広い範囲の
光量測定が可能となつた。
うことにより、回路動作の直線性を保つ］て広い範囲の
光量測定が可能となつた。
従来のこの種の測定回路では入射光束を物理的に制限し
たり、変換出力を分割したりしていた。このような操作
は測定値のＳ／Ｎ比を下げる可能性があつたが、本発明
による回路では、全くそのような操作は不要となつた。
本発明による回路はすべて半導体化できるので町携型の
光量測定装置を容易に作ることができる。
たり、変換出力を分割したりしていた。このような操作
は測定値のＳ／Ｎ比を下げる可能性があつたが、本発明
による回路では、全くそのような操作は不要となつた。
本発明による回路はすべて半導体化できるので町携型の
光量測定装置を容易に作ることができる。
以上詳しく説明した実施例につき、本発明の範囲内で種
々の変形を施すことができる。例えばスイツチＳｌ，Ｓ
２は半導体スイツチにすることができる。
々の変形を施すことができる。例えばスイツチＳｌ，Ｓ
２は半導体スイツチにすることができる。
第１図は、本発明による光量測定回路の実施例を示す図
、第２図は上記回路の動作を説明するた・めの波形図で
ある。 Ａ，・・・・・・積分回路を構成するための増幅器、Ａ
２・・・・・・保持回路を構成するための増幅器、Ｃ１
・・・・・・積分用コンデンサ、Ｃ２・・・・・・保持
用コンデンサ、Ｐｄ・・・・・・光電変換素子、Ｓ，・
・・・・・第１スィツチ、Ｓ２・・・・・・第２スイツ
チ、ＣＯＮＴ・・・・・・スイツチ制御回路、ＤＩＳＰ
・・・・・・表示装置。
、第２図は上記回路の動作を説明するた・めの波形図で
ある。 Ａ，・・・・・・積分回路を構成するための増幅器、Ａ
２・・・・・・保持回路を構成するための増幅器、Ｃ１
・・・・・・積分用コンデンサ、Ｃ２・・・・・・保持
用コンデンサ、Ｐｄ・・・・・・光電変換素子、Ｓ，・
・・・・・第１スィツチ、Ｓ２・・・・・・第２スイツ
チ、ＣＯＮＴ・・・・・・スイツチ制御回路、ＤＩＳＰ
・・・・・・表示装置。
Claims (1)
- １ 光電変換素子が入力端子に接続されており、入出力
端子間に帰還コンデンサが接続されている積分回路と、
前記コンデンサに並列に接続されている第１スイッチと
、入力端子に保持用のコンデンサが接続されている保持
回路と、前記積分回路出力と前記保持コンデンサを接続
する第２スイッチと、前記保持回路出力電圧を表示する
表示回路と、前記第１スイッチを所定の期間開成し積分
電圧を第２のスイッチを介して前記保持回路に接続する
スイッチ制御回路とを含み、前記第１スイッチの開成期
間を制御することにより、測定感度を選択できるように
構成したことを特徴とする光量測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10512078A JPS5921489B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10512078A JPS5921489B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5531937A JPS5531937A (en) | 1980-03-06 |
| JPS5921489B2 true JPS5921489B2 (ja) | 1984-05-21 |
Family
ID=14398943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10512078A Expired JPS5921489B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5921489B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5717608A (en) * | 1994-09-26 | 1998-02-10 | Luxtron Corporation | Electro-optical board assembly for measuring the temperature of an object surface from infra-red emissions thereof, including an automatic gain control therefore |
| JP2006133135A (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Rohm Co Ltd | 電流検出回路およびそれを用いた信号検出装置 |
-
1978
- 1978-08-29 JP JP10512078A patent/JPS5921489B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5531937A (en) | 1980-03-06 |
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