JPS5921489B2 - 光量測定回路 - Google Patents
光量測定回路Info
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- JPS5921489B2 JPS5921489B2 JP10512078A JP10512078A JPS5921489B2 JP S5921489 B2 JPS5921489 B2 JP S5921489B2 JP 10512078 A JP10512078 A JP 10512078A JP 10512078 A JP10512078 A JP 10512078A JP S5921489 B2 JPS5921489 B2 JP S5921489B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- switch
- light amount
- holding
- capacitor
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Links
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
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- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J1/46—Electric circuits using a capacitor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光量測定回路、さらに詳しくいえば物体の反射
光や透過光を測定して物体の特性を測定したり、光源か
らの光束を測定したりするための光量測定回路に関する
。
光や透過光を測定して物体の特性を測定したり、光源か
らの光束を測定したりするための光量測定回路に関する
。
従来の光量測定回路は主として電子管を用いて行なわれ
ており、感度の調整は分圧器を用いて増幅電圧を分圧す
るという構成が採られている。
ており、感度の調整は分圧器を用いて増幅電圧を分圧す
るという構成が採られている。
本発明の目的は半導体回路を用いて光量測定回路を形成
し、積分時間を調節することにより、広い範囲内で光量
測定を可能にする光量測定回路を提供することにある。
前記目的を達成するために、本発明による光量測定回路
は、基本的には光量積分回路と、前記光量積分回路の積
分値を保持する回路とを設け、前記積分回路の積分時間
と保持のタイミングを同期制御することにより、広いダ
イナミックレンジで光量を測定できるように構成してあ
る。
し、積分時間を調節することにより、広い範囲内で光量
測定を可能にする光量測定回路を提供することにある。
前記目的を達成するために、本発明による光量測定回路
は、基本的には光量積分回路と、前記光量積分回路の積
分値を保持する回路とを設け、前記積分回路の積分時間
と保持のタイミングを同期制御することにより、広いダ
イナミックレンジで光量を測定できるように構成してあ
る。
以下実施例を示す図面等を参照して、本発明による光量
測定回路をさらに詳し<説明する。
測定回路をさらに詳し<説明する。
第1図は本発明による光量測定回路の実施例を示す回路
図、第2図は前記回路の動作を説明するための波形図で
ある。第1図において、Alは差動増幅器であつて、構
成能動素子がFETあるいはすくなくとも初段目はFE
Tを用いてある。
図、第2図は前記回路の動作を説明するための波形図で
ある。第1図において、Alは差動増幅器であつて、構
成能動素子がFETあるいはすくなくとも初段目はFE
Tを用いてある。
この差動入力端子にはシリコンホトダイオードPdが接
続されている。増幅器Alの入出力端子間には積分コン
デンサClが接続されており、さらにこのコンデンサC
lには並列にスイッチ51が接続されている。増幅器A
lの助端は、スイッチ52を介して増幅器A2の入力端
子に接続されており、増幅器A2の前記入力端子には電
圧保持用コンデンサC2が接続されている。
続されている。増幅器Alの入出力端子間には積分コン
デンサClが接続されており、さらにこのコンデンサC
lには並列にスイッチ51が接続されている。増幅器A
lの助端は、スイッチ52を介して増幅器A2の入力端
子に接続されており、増幅器A2の前記入力端子には電
圧保持用コンデンサC2が接続されている。
増幅器A2の他方の入力端子と出力端子間には100%
帰還のための負帰還回路が接続されており電圧増幅率1
の増幅器を形成している。この増幅器の出力は表示回路
DISPに接続されており、適当なA/D変換、または
直接電圧表示が行なわれるようになつている。
帰還のための負帰還回路が接続されており電圧増幅率1
の増幅器を形成している。この増幅器の出力は表示回路
DISPに接続されており、適当なA/D変換、または
直接電圧表示が行なわれるようになつている。
スイッチ制御回路CONTは前記スイッチ51の開閉制
御および52の開閉制御を行なうための制御回路である
。
御および52の開閉制御を行なうための制御回路である
。
この制御回路により、スイッチ51は周期的に開閉され
、その開閉に同期してスイッチ52も開閉される。この
スイッチ51の開放時間は、スイツチ制御回路CONT
により任意に選択できるものであり、その選択は、入射
光量が大きいときは比較的短く、入射光量が小さいとき
は長くするようにし、常に直線範囲内での良好な測定が
できるようにしてある。この時間設定のデータはCON
Tから表示部DISPにも供給され、表示部DISPで
は、その設定値と測定値、あるいは、その設定値で重み
づけされた表示を行なうように構成されている。次に第
2図を参照して、前記回路の動作を説明する。
、その開閉に同期してスイッチ52も開閉される。この
スイッチ51の開放時間は、スイツチ制御回路CONT
により任意に選択できるものであり、その選択は、入射
光量が大きいときは比較的短く、入射光量が小さいとき
は長くするようにし、常に直線範囲内での良好な測定が
できるようにしてある。この時間設定のデータはCON
Tから表示部DISPにも供給され、表示部DISPで
は、その設定値と測定値、あるいは、その設定値で重み
づけされた表示を行なうように構成されている。次に第
2図を参照して、前記回路の動作を説明する。
第2図は第1図に示した回路のスイツチ動作と各部電圧
の変化を示すタイムチヤートである。第2図は一定の入
射光束が光電変換素子Pdに入射している場合にスイツ
チS1の開放時間を変えた場:合について示してある。
制御回路CONTにより、時点T。
の変化を示すタイムチヤートである。第2図は一定の入
射光束が光電変換素子Pdに入射している場合にスイツ
チS1の開放時間を変えた場:合について示してある。
制御回路CONTにより、時点T。
に第1スィツチS,を開放すると、積分コンデンサC,
は光電変換素子(ホトダイオード)Pdの光電流により
、充電され、増幅器A1の出力電圧V,は第2図(V1
)の示すように次第に上昇する。スイツチS,を開成
する直前に第2スイツチS2を一定短時間閉成して保持
用のコンデンサC2を電圧V,に充電する。増幅器A2
は1倍の増幅器であるからコンデンサC2の電圧,が2
(=,)として出力端子に現われる。この電圧は表示装
置DISPによつて表示される。この動作は周期的に行
なわれるので、もし入射光束の変化があればS,がオン
になるたびに修正される。第2図右側の部分は第1スイ
ツチS1の開放時間を左側の部分1/2、すなわちtに
−tζ=1/2(TO−t1 )とした場合について示
してある開放時間を短くすると、S2により保持される
までの時間が短くなるので、V,は小さく、したがつて
V2も小さくなる。
は光電変換素子(ホトダイオード)Pdの光電流により
、充電され、増幅器A1の出力電圧V,は第2図(V1
)の示すように次第に上昇する。スイツチS,を開成
する直前に第2スイツチS2を一定短時間閉成して保持
用のコンデンサC2を電圧V,に充電する。増幅器A2
は1倍の増幅器であるからコンデンサC2の電圧,が2
(=,)として出力端子に現われる。この電圧は表示装
置DISPによつて表示される。この動作は周期的に行
なわれるので、もし入射光束の変化があればS,がオン
になるたびに修正される。第2図右側の部分は第1スイ
ツチS1の開放時間を左側の部分1/2、すなわちtに
−tζ=1/2(TO−t1 )とした場合について示
してある開放時間を短くすると、S2により保持される
までの時間が短くなるので、V,は小さく、したがつて
V2も小さくなる。
以上説明したように本発明による測定回路では、5積分
開始時点([oまたはTt)から保持までの時点を設定
することにより、V2のレペルを選定することができる
。
開始時点([oまたはTt)から保持までの時点を設定
することにより、V2のレペルを選定することができる
。
したがつて入射光束密度にしたがつて適当な選定を行な
うことにより、回路動作の直線性を保つ]て広い範囲の
光量測定が可能となつた。
うことにより、回路動作の直線性を保つ]て広い範囲の
光量測定が可能となつた。
従来のこの種の測定回路では入射光束を物理的に制限し
たり、変換出力を分割したりしていた。このような操作
は測定値のS/N比を下げる可能性があつたが、本発明
による回路では、全くそのような操作は不要となつた。
本発明による回路はすべて半導体化できるので町携型の
光量測定装置を容易に作ることができる。
たり、変換出力を分割したりしていた。このような操作
は測定値のS/N比を下げる可能性があつたが、本発明
による回路では、全くそのような操作は不要となつた。
本発明による回路はすべて半導体化できるので町携型の
光量測定装置を容易に作ることができる。
以上詳しく説明した実施例につき、本発明の範囲内で種
々の変形を施すことができる。例えばスイツチSl,S
2は半導体スイツチにすることができる。
々の変形を施すことができる。例えばスイツチSl,S
2は半導体スイツチにすることができる。
第1図は、本発明による光量測定回路の実施例を示す図
、第2図は上記回路の動作を説明するた・めの波形図で
ある。 A,・・・・・・積分回路を構成するための増幅器、A
2・・・・・・保持回路を構成するための増幅器、C1
・・・・・・積分用コンデンサ、C2・・・・・・保持
用コンデンサ、Pd・・・・・・光電変換素子、S,・
・・・・・第1スィツチ、S2・・・・・・第2スイツ
チ、CONT・・・・・・スイツチ制御回路、DISP
・・・・・・表示装置。
、第2図は上記回路の動作を説明するた・めの波形図で
ある。 A,・・・・・・積分回路を構成するための増幅器、A
2・・・・・・保持回路を構成するための増幅器、C1
・・・・・・積分用コンデンサ、C2・・・・・・保持
用コンデンサ、Pd・・・・・・光電変換素子、S,・
・・・・・第1スィツチ、S2・・・・・・第2スイツ
チ、CONT・・・・・・スイツチ制御回路、DISP
・・・・・・表示装置。
Claims (1)
- 1 光電変換素子が入力端子に接続されており、入出力
端子間に帰還コンデンサが接続されている積分回路と、
前記コンデンサに並列に接続されている第1スイッチと
、入力端子に保持用のコンデンサが接続されている保持
回路と、前記積分回路出力と前記保持コンデンサを接続
する第2スイッチと、前記保持回路出力電圧を表示する
表示回路と、前記第1スイッチを所定の期間開成し積分
電圧を第2のスイッチを介して前記保持回路に接続する
スイッチ制御回路とを含み、前記第1スイッチの開成期
間を制御することにより、測定感度を選択できるように
構成したことを特徴とする光量測定回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10512078A JPS5921489B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10512078A JPS5921489B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5531937A JPS5531937A (en) | 1980-03-06 |
JPS5921489B2 true JPS5921489B2 (ja) | 1984-05-21 |
Family
ID=14398943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10512078A Expired JPS5921489B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5921489B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5717608A (en) * | 1994-09-26 | 1998-02-10 | Luxtron Corporation | Electro-optical board assembly for measuring the temperature of an object surface from infra-red emissions thereof, including an automatic gain control therefore |
JP2006133135A (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Rohm Co Ltd | 電流検出回路およびそれを用いた信号検出装置 |
-
1978
- 1978-08-29 JP JP10512078A patent/JPS5921489B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5531937A (en) | 1980-03-06 |
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