JPS5921491B2 - 光量測定回路 - Google Patents
光量測定回路Info
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- JPS5921491B2 JPS5921491B2 JP10512278A JP10512278A JPS5921491B2 JP S5921491 B2 JPS5921491 B2 JP S5921491B2 JP 10512278 A JP10512278 A JP 10512278A JP 10512278 A JP10512278 A JP 10512278A JP S5921491 B2 JPS5921491 B2 JP S5921491B2
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- JP
- Japan
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- luminous flux
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- amplifier
- voltage
- capacitor
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- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 7
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 34
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 15
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010277 constant-current charging Methods 0.000 description 1
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J1/46—Electric circuits using a capacitor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は第１の光束と第２の光束との関係を説明するた
めの光量測定回路に関する。
めの光量測定回路に関する。
ある特定の波長領域にある光束と、他の波長領域にある
光束を比較したりする測定が広く行なわれている。
光束を比較したりする測定が広く行なわれている。
そのような測定は通常何等かの演算処理が要求されるこ
とが多いｏ本発明の目的はきわめて簡単な回路構成で、
しかも何等の演算処理を行なうことなく測定を行なうこ
とができる光量測定回路を提供することにある。
とが多いｏ本発明の目的はきわめて簡単な回路構成で、
しかも何等の演算処理を行なうことなく測定を行なうこ
とができる光量測定回路を提供することにある。
前記目的を達成するために本発明による光量測定回路は
、先に第１の光束ついで第２の光束を測定し両者間の関
係を泗淀する光量測定回路において、前記第１の光束を
光電変換し積分しついで第２の光束を光電変換し積分す
るための積分回路と、前記積分回路の積分値を表示する
表示装置と、起動信号により第１の光束の積分値があら
かじめ定めた一定値に達するまで前記積分回路を作動さ
せその期間を記憶しついで前記記憶期間だけ第２の光束
の積分を行なわせ、前記期間終了時点の第２の光束の積
分値を前記表示装置により表示させる制御回路とから構
成してある。
、先に第１の光束ついで第２の光束を測定し両者間の関
係を泗淀する光量測定回路において、前記第１の光束を
光電変換し積分しついで第２の光束を光電変換し積分す
るための積分回路と、前記積分回路の積分値を表示する
表示装置と、起動信号により第１の光束の積分値があら
かじめ定めた一定値に達するまで前記積分回路を作動さ
せその期間を記憶しついで前記記憶期間だけ第２の光束
の積分を行なわせ、前記期間終了時点の第２の光束の積
分値を前記表示装置により表示させる制御回路とから構
成してある。
上記構成によれば同一の積分回路で第１、第２の光束を
測定することができ、しかも何等の演算を行なわずに両
者の関係を測定できる。
測定することができ、しかも何等の演算を行なわずに両
者の関係を測定できる。
また光束の強弱により感度を切替える等の操作は全く不
要となる。以下図面等を参照して本発明による回路をさ
らに詳しく説明する。
要となる。以下図面等を参照して本発明による回路をさ
らに詳しく説明する。
第１図は本発明による光量測定回路の実施例を示す回路
図、第２図は動作を説明するための波形図である。
図、第２図は動作を説明するための波形図である。
第１図においてＰｄはホトダイオードであつて差動増幅
器Ａｌの差動入力端子間に接続されている。
器Ａｌの差動入力端子間に接続されている。
積分用コンデンサＣｌは増幅器Ａｌの入力端子間に接続
されており、コンデンサＣｌには積分制御スイッチ５１
が並列に接続されている。これ等Ｐｄ、Ａｌ、、Ｃｌは
積分回路を形成している。コンデンサＣ２は一倍の増幅
器Ａ２の入力端に接続されている保持用のコンデンサで
あつて、増幅器Ａ２の出力電圧は、表示素子ＤＩＳＰに
よつて直接電圧表示、またはＡＤ変換されてデジタル電
圧表示がされる。これ等Ｃ２、Ａ２、ＤＩＳＰは表示装
置を形成しており、前記積分回路出力に表示接続用スイ
ッチ５４を介して接続される。積分回路の出力は比較器
を形成する増幅器Ａｓの一方の入力端子に接続されてお
り、他方の入力端子は基準電圧源の電圧３に接続されて
℃゛る。増幅器Ａ３の出力は制御論理回路ＣＯＮＴに接
続されて（・る。記憶用増幅器Ａ４は記憶用の増幅器で
あつて、入出力間に記憶用のコンデンサＣ３が接続され
ている。
されており、コンデンサＣｌには積分制御スイッチ５１
が並列に接続されている。これ等Ｐｄ、Ａｌ、、Ｃｌは
積分回路を形成している。コンデンサＣ２は一倍の増幅
器Ａ２の入力端に接続されている保持用のコンデンサで
あつて、増幅器Ａ２の出力電圧は、表示素子ＤＩＳＰに
よつて直接電圧表示、またはＡＤ変換されてデジタル電
圧表示がされる。これ等Ｃ２、Ａ２、ＤＩＳＰは表示装
置を形成しており、前記積分回路出力に表示接続用スイ
ッチ５４を介して接続される。積分回路の出力は比較器
を形成する増幅器Ａｓの一方の入力端子に接続されてお
り、他方の入力端子は基準電圧源の電圧３に接続されて
℃゛る。増幅器Ａ３の出力は制御論理回路ＣＯＮＴに接
続されて（・る。記憶用増幅器Ａ４は記憶用の増幅器で
あつて、入出力間に記憶用のコンデンサＣ３が接続され
ている。
このコンデンサＣ３はスイツチＳ２を介して定電流源に
、さらにスィツチＳ３を介して他の定電流源に接続され
て℃・る。コンデンサＣ３はスイツチＳ２が閉成された
ときは増幅器Ａ４の出力電圧４が上昇するように充電さ
れ、スイツチＳ３が閉成されたときはＶ４が下降するよ
うに放電されるＯ増幅器Ａ５は電圧Ｖ４が正側から零に
達した出力を発生するための増幅器である。
、さらにスィツチＳ３を介して他の定電流源に接続され
て℃・る。コンデンサＣ３はスイツチＳ２が閉成された
ときは増幅器Ａ４の出力電圧４が上昇するように充電さ
れ、スイツチＳ３が閉成されたときはＶ４が下降するよ
うに放電されるＯ増幅器Ａ５は電圧Ｖ４が正側から零に
達した出力を発生するための増幅器である。
これ等のＡ３、ＣＯＮＴ，．Ａ４、Ｃ３、Ａ５等は制御
回路を形成して（・る。
回路を形成して（・る。
この回路の光電素子Ｐｄには、まず第１の光束が入射さ
れ、次℃゛で第２の光束が入射されるようになつて（・
る。
れ、次℃゛で第２の光束が入射されるようになつて（・
る。
この光束の抽出、切替え等は従来知られて℃゛ることな
ので詳細を省略する。次に第２図を参照しながら制御回
路の機能とともに前述した回路の動作をさらに説明する
。光電変換素子Ｐｄに光束αが入射した時点に制御回路
中の制御論理回路ＣＯＮＴに起動信号Ｓｔａｒｔｌを与
える。スイツチＳ１を開、Ｓ２を閉にする。この時Ｓ，
、Ｓ４はそれぞれ開の状態に保たれている。Ｓ，をオフ
にするとコンデンサＣ１は充電され、積分回路の出力Ｖ
，は第２図Ｖ，の示すように充電される。
ので詳細を省略する。次に第２図を参照しながら制御回
路の機能とともに前述した回路の動作をさらに説明する
。光電変換素子Ｐｄに光束αが入射した時点に制御回路
中の制御論理回路ＣＯＮＴに起動信号Ｓｔａｒｔｌを与
える。スイツチＳ１を開、Ｓ２を閉にする。この時Ｓ，
、Ｓ４はそれぞれ開の状態に保たれている。Ｓ，をオフ
にするとコンデンサＣ１は充電され、積分回路の出力Ｖ
，は第２図Ｖ，の示すように充電される。
この傾きは光束αが大きくなるほど大きくなる。同時に
増幅器Ａ４の出力Ｖ４も定電流充電により次第に上昇す
る。前記電圧１が電圧３に達すると、Ａ３に出力が生じ
、制御論理回路ＣＯＮＴによりスイツチＳ，を開き、コ
ンデンサＣ３に電圧Ｖ１がＶ３に要した時間に対応する
電圧を記憶させる。
増幅器Ａ４の出力Ｖ４も定電流充電により次第に上昇す
る。前記電圧１が電圧３に達すると、Ａ３に出力が生じ
、制御論理回路ＣＯＮＴによりスイツチＳ，を開き、コ
ンデンサＣ３に電圧Ｖ１がＶ３に要した時間に対応する
電圧を記憶させる。
次にＳ１を閉じてＶ１を零に復帰させる。
光束αから光束βに切替えられた後に第２の起動信号Ｓ
ｔａｒｔ２をＣＯＮＴに印加すると、スイツチＳ１が再
度開かれるとともにＳ３が閉じられる。
ｔａｒｔ２をＣＯＮＴに印加すると、スイツチＳ１が再
度開かれるとともにＳ３が閉じられる。
積分回路の出力は光束βの積分電圧を示すとともに、コ
ンデンサＣ３は放電され、前記記憶された期間経過の後
４が零に達すると比較器Ａ５が動作し、スイツチＳ４を
瞬時閉成してその時点におけるＶ１に対応する表示をＤ
ＩＳＰにおいて行なわせる。第２図においてＶ，はコン
デンサＣ２の端子電圧を示す。
ンデンサＣ３は放電され、前記記憶された期間経過の後
４が零に達すると比較器Ａ５が動作し、スイツチＳ４を
瞬時閉成してその時点におけるＶ１に対応する表示をＤ
ＩＳＰにおいて行なわせる。第２図においてＶ，はコン
デンサＣ２の端子電圧を示す。
この電圧がコンデンサＣ２により保持され表示される。
この表示は、光束αに対する光束βの量を示している。
すなわち本発明による光量測定回路では、最初に光束α
を一定量積分する。
この表示は、光束αに対する光束βの量を示している。
すなわち本発明による光量測定回路では、最初に光束α
を一定量積分する。
この積分時間は光が弱いときは長くなり、強いときは短
くなる。この積分に要した時間は記憶され、その時間だ
け光束βを積分し表示するように構成されている。した
がつて、第１の光束αの積分量を基準量に設定しておく
、ある（・は基準量を考慮した値にしておくことにより
、第２の光束の基準量に対する値をただちに表示するこ
とができる。例えば光束αを反射率を１００％とみなす
ことができる標準白板からの光束であるとし、電圧Ｖ３
を１ボルトに設定し、光束βを他の任意の板からの反射
光束であるとすれば、電圧，は前記任意の板の反射率に
直接対応する電圧となる。また本発明による回路では第
１の光束の積分と第２の光束の積分を同一の回路で行な
うために、増幅器自身に温度特性があつても完全に相殺
される。
くなる。この積分に要した時間は記憶され、その時間だ
け光束βを積分し表示するように構成されている。した
がつて、第１の光束αの積分量を基準量に設定しておく
、ある（・は基準量を考慮した値にしておくことにより
、第２の光束の基準量に対する値をただちに表示するこ
とができる。例えば光束αを反射率を１００％とみなす
ことができる標準白板からの光束であるとし、電圧Ｖ３
を１ボルトに設定し、光束βを他の任意の板からの反射
光束であるとすれば、電圧，は前記任意の板の反射率に
直接対応する電圧となる。また本発明による回路では第
１の光束の積分と第２の光束の積分を同一の回路で行な
うために、増幅器自身に温度特性があつても完全に相殺
される。
なお制御回路によりスイツチＳ３がオフにされ増幅器Ａ
４の出力電圧４が０に達したのちにスイツチＳ，とＳ２
をオンにするようにしておけば光量渭淀回路は次の漣定
が可能な状態となり、繰り返し測徒を行なう場合に好都
合である。
４の出力電圧４が０に達したのちにスイツチＳ，とＳ２
をオンにするようにしておけば光量渭淀回路は次の漣定
が可能な状態となり、繰り返し測徒を行なう場合に好都
合である。
その状態を第２図右方点線で示してある。
第１図は本発明による光量測定回路の実施例を示す回路
図、第２図は前記回路の動作を説明するための波形図で
ある。 Ｐｄ・・・光電変換素子（ホトダイオード）、Ａ１・・
・積分用増幅器、Ａ２・・・表示用増幅器、Ａ３，Ａ，
・・・比較用増幅器、Ｓ，・・・積分制御スイツチ、Ｓ
２，Ｓ３・・・充放電制御スイツチ、Ｓ４・・・表示接
続用スィツチ、Ａ４・・・記憶用増幅器、Ｃ，・・・積
分用コンデンサ、Ｃ２・・・保持用コンデンサ、Ｃ３・
・・記憶用コンデンサ、ＤＩＳＰ・・・表示素子、ＣＯ
ＮＴ・・・制御論理回路。
図、第２図は前記回路の動作を説明するための波形図で
ある。 Ｐｄ・・・光電変換素子（ホトダイオード）、Ａ１・・
・積分用増幅器、Ａ２・・・表示用増幅器、Ａ３，Ａ，
・・・比較用増幅器、Ｓ，・・・積分制御スイツチ、Ｓ
２，Ｓ３・・・充放電制御スイツチ、Ｓ４・・・表示接
続用スィツチ、Ａ４・・・記憶用増幅器、Ｃ，・・・積
分用コンデンサ、Ｃ２・・・保持用コンデンサ、Ｃ３・
・・記憶用コンデンサ、ＤＩＳＰ・・・表示素子、ＣＯ
ＮＴ・・・制御論理回路。
Claims (1)
- １ 先に第１の光束、ついで第２の光束を測定し両者間
の関係を測定する光量測定回路において、前記第１の光
束を光量変換し積分しついで第２の光束を光電変換し積
分するための積分回路と、前記積分回路の積分値を表示
する表示装置と、起動信号により第１の光束の積分値が
あらかじめ定めた一定値に達するまで前記積分回路を作
動させその期間を記憶し、ついで前記記憶期間だけ第２
の光束の積分を行なわせ、前記期間終了時点の第２の光
束の積分値を前記表示装置により表示させる制御回路と
から構成した光量測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10512278A JPS5921491B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10512278A JPS5921491B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5531939A JPS5531939A (en) | 1980-03-06 |
| JPS5921491B2 true JPS5921491B2 (ja) | 1984-05-21 |
Family
ID=14398987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10512278A Expired JPS5921491B2 (ja) | 1978-08-29 | 1978-08-29 | 光量測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5921491B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5885139A (ja) * | 1981-11-17 | 1983-05-21 | Toshiba Corp | 分光分析装置 |
| JPS615119U (ja) * | 1984-06-13 | 1986-01-13 | ワイケイケイ株式会社 | 気密、防水性を有するスライドフアスナ− |
-
1978
- 1978-08-29 JP JP10512278A patent/JPS5921491B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5531939A (en) | 1980-03-06 |
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