JPS59214759A - 超音波顕微鏡 - Google Patents
超音波顕微鏡Info
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- JPS59214759A JPS59214759A JP58089111A JP8911183A JPS59214759A JP S59214759 A JPS59214759 A JP S59214759A JP 58089111 A JP58089111 A JP 58089111A JP 8911183 A JP8911183 A JP 8911183A JP S59214759 A JPS59214759 A JP S59214759A
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- JP
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- wave
- sample
- lens
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は超音波エネルギーを用いる超音波顕微鏡に係り
、特に反射型波ビームの焦点面と試料面との距離の変化
によｐ生ずる試料面からの反射音波の周期を利用して試
料固有の物性量を計測する超音波顕微鏡に関する。
、特に反射型波ビームの焦点面と試料面との距離の変化
によｐ生ずる試料面からの反射音波の周期を利用して試
料固有の物性量を計測する超音波顕微鏡に関する。
近年、医学界において人体の内部構造を観察するのに有
効な波動として超音波が広く利用されている。超音波は
、光線や電子線では観察不可能な光学的に不透明な材料
の内部を観察する能力を有しており、その使用周波数が
高ければ高い程より微細な対象物まで描画することがで
きる。そのうえ、超音波が取り出す情報は、対象物の弾
性・密度・粘性等の力学的情報を反映しているため、光
線や電子線では得られない新しい知見をも与えてくれる
ものである。
効な波動として超音波が広く利用されている。超音波は
、光線や電子線では観察不可能な光学的に不透明な材料
の内部を観察する能力を有しており、その使用周波数が
高ければ高い程より微細な対象物まで描画することがで
きる。そのうえ、超音波が取り出す情報は、対象物の弾
性・密度・粘性等の力学的情報を反映しているため、光
線や電子線では得られない新しい知見をも与えてくれる
ものである。
最近、音波周波数Ｉ ＧＨＺ、従って水中での青波長と
して約１μｍにおよび超高周波音波を利用して、上記の
超音波の特徴を生かした超音波顕微、・鏡が検討されて
いる（Ｒ，Ａ、レモン氏トｃ、Ｆ、クウエーツ氏のＡ
Ｓｃａｎｎｉｎｇ ＡｃｏｕｓｔｉｃＭｉｃｒｏｓ
ｃｏｐｅと題するＩＥＥＥ Ｃａｔ、Ａ ７３ＣＨ１
４８２９８Ｕ ＰＰ ４２３−４２６に掲載の文献
）。
して約１μｍにおよび超高周波音波を利用して、上記の
超音波の特徴を生かした超音波顕微、・鏡が検討されて
いる（Ｒ，Ａ、レモン氏トｃ、Ｆ、クウエーツ氏のＡ
Ｓｃａｎｎｉｎｇ ＡｃｏｕｓｔｉｃＭｉｃｒｏｓ
ｃｏｐｅと題するＩＥＥＥ Ｃａｔ、Ａ ７３ＣＨ１
４８２９８Ｕ ＰＰ ４２３−４２６に掲載の文献
）。
この超音波顕微鏡の原理は、約１μｍまで細く絞った超
音波ビームによって試料面を機械的に２次元走査しなが
ら、試料によって惹起された散乱・減衰といったしよう
乱超音波を集音検出しこれを電気変換し、この電気信号
をブラウン管上に、上記機械走査と同期して２次元表示
することによシ顕微画像を得るものでるる。
音波ビームによって試料面を機械的に２次元走査しなが
ら、試料によって惹起された散乱・減衰といったしよう
乱超音波を集音検出しこれを電気変換し、この電気信号
をブラウン管上に、上記機械走査と同期して２次元表示
することによシ顕微画像を得るものでるる。
本発明は、試料からの反射超音波を検出描画する反射型
超音波顕微鏡にとりわけ深く係っているので、まず第１
図を用いて反射型超音波顕微鏡の従来構成について説明
する。
超音波顕微鏡にとりわけ深く係っているので、まず第１
図を用いて反射型超音波顕微鏡の従来構成について説明
する。
図において、超音波を発生・検出するトランスデユーサ
は、主として圧電薄膜２０、音響レンズ（このレンズに
は、たとえばサファイア、石英ガラス等の円柱状結晶が
用いられるので、以下レンズ結晶と呼ぶ）４０から構成
される。すなわち、レンズ結晶４０は、その上部端面４
１は光学研磨された平面であシ、下部端面には微細な曲
率半径（たとえば０．１〜１ ｍｎ ）の半球穴４２が
形成されている。上部端面４１に蒸着等によって設けら
れた上部電極１０、圧電薄膜２０および下部電極１１か
らなる層構造の上下電極間に、ＲＦノくルス発振器１０
０の出力電気信号を印加すれば、上記圧電薄膜２０の圧
電効果によバレンズ結晶４０内に平面波のＲ，Ｆパルス
超音波８０が放射される。
は、主として圧電薄膜２０、音響レンズ（このレンズに
は、たとえばサファイア、石英ガラス等の円柱状結晶が
用いられるので、以下レンズ結晶と呼ぶ）４０から構成
される。すなわち、レンズ結晶４０は、その上部端面４
１は光学研磨された平面であシ、下部端面には微細な曲
率半径（たとえば０．１〜１ ｍｎ ）の半球穴４２が
形成されている。上部端面４１に蒸着等によって設けら
れた上部電極１０、圧電薄膜２０および下部電極１１か
らなる層構造の上下電極間に、ＲＦノくルス発振器１０
０の出力電気信号を印加すれば、上記圧電薄膜２０の圧
電効果によバレンズ結晶４０内に平面波のＲ，Ｆパルス
超音波８０が放射される。
この平面超音波８０は、半球、穴４２と媒質５０（一般
に純水が用いられる）との界面で形成される正（７）！
電球面レンズ（以下、単にレンズと呼ぶ）によシ所定焦
点面におかれた試料６０上に集束される。
に純水が用いられる）との界面で形成される正（７）！
電球面レンズ（以下、単にレンズと呼ぶ）によシ所定焦
点面におかれた試料６０上に集束される。
試料６０に二って反射された超音波は、レンズにより集
音され、平面超音波に変換されてレンズ結晶４０内を伝
播し、最終的に圧電薄膜２０の逆圧電効果によりＲＦパ
ルス電気信号に変換される。
音され、平面超音波に変換されてレンズ結晶４０内を伝
播し、最終的に圧電薄膜２０の逆圧電効果によりＲＦパ
ルス電気信号に変換される。
このＲＦパルス電気信号は、ＲＦ受信機１１０で増幅・
検波後、ビデオ信号（１〜ＩＯＭＨりに変換されてブラ
ウン管１３０の輝度信号（Ｚ入力）として用いられる。
検波後、ビデオ信号（１〜ＩＯＭＨりに変換されてブラ
ウン管１３０の輝度信号（Ｚ入力）として用いられる。
このような構成において、試料ステージ７０上に貼付さ
れた試料６０のｘ −ｙ面を２次元機械走査系１２０に
より走査し、この走査信号Ｘ−Ｙに上記ビデオ信号を同
期させてブラウン管１３０上に表示すれば、顕微画像が
得られることになる。
れた試料６０のｘ −ｙ面を２次元機械走査系１２０に
より走査し、この走査信号Ｘ−Ｙに上記ビデオ信号を同
期させてブラウン管１３０上に表示すれば、顕微画像が
得られることになる。
第２図（ａ）は、上記構成の超音波顕微鏡で、ある繰り
返し周期ｔＲのＲＦノくルス電気信号を印フ）Ｉｌｌ
した時の反射超音波波形を、ビデオ領域での検出信号と
して示したものである。ここで、横軸は時間軸を、縦軸
は信号強度を示している。図中、ａは印加したＲＦパル
スそのもの金示し、ｂはレンズと水の界面からの反射信
号を、Ｃは試料からの反射信号を示している。これらの
信号の中から所望の反射信号ｃｆ不要なレンズからの反
射信号すと弁別するために、印加ノ（ルスの継続時間ｔ
ａ （第２図（ｂ））をできるだけ短くして、これら
が重ならないようにし、Ｃ信号のみをタイム・ゲート信
号（第２図（０月で取シ出し標本化することによシ、映
像化や次に述べるＶ（Ｚ）曲線の計測を行っている。
返し周期ｔＲのＲＦノくルス電気信号を印フ）Ｉｌｌ
した時の反射超音波波形を、ビデオ領域での検出信号と
して示したものである。ここで、横軸は時間軸を、縦軸
は信号強度を示している。図中、ａは印加したＲＦパル
スそのもの金示し、ｂはレンズと水の界面からの反射信
号を、Ｃは試料からの反射信号を示している。これらの
信号の中から所望の反射信号ｃｆ不要なレンズからの反
射信号すと弁別するために、印加ノ（ルスの継続時間ｔ
ａ （第２図（ｂ））をできるだけ短くして、これら
が重ならないようにし、Ｃ信号のみをタイム・ゲート信
号（第２図（０月で取シ出し標本化することによシ、映
像化や次に述べるＶ（Ｚ）曲線の計測を行っている。
ところで、このような反射型超音波顕微鏡を用いて対象
試料の弾性的性質を定量的に計測する方法として、■（
Ｚ）曲線という方法が提案されている（Ｒ，、Ｄ、
ウェブライン氏とＲ，Ｇ、 ウィルソン氏のＣｈａｒ
ａｃｔｅｒｉｓｔｉｃ ｍａｔｅｒｉａｌ Ｓｉｇ
ｎａ−ｔｕｒｅｓ ｂｙ Ａｃｏｕｓｔｉｃ Ｍ
ｉｃｒｏｓｃｏｐｙ と題するＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃ
Ｌｅｔｔｅｒｓ第１４巻、ｐｐ３５２−３５４．１９
７８年所載の文献）。すなわち、上記超音波顕微鏡にお
いて、機械走査のうちＸ、Ｙ軸を停止し、代りにＺ軸方
向すなわちレンズと試料間の距離を変えて、試料からの
反射超音波の大きさを該距離に対応して表示しくＶ（Ｚ
）曲線と呼ばれる）、その曲線から該試料の弾性定数を
求める方法である。
試料の弾性的性質を定量的に計測する方法として、■（
Ｚ）曲線という方法が提案されている（Ｒ，、Ｄ、
ウェブライン氏とＲ，Ｇ、 ウィルソン氏のＣｈａｒ
ａｃｔｅｒｉｓｔｉｃ ｍａｔｅｒｉａｌ Ｓｉｇ
ｎａ−ｔｕｒｅｓ ｂｙ Ａｃｏｕｓｔｉｃ Ｍ
ｉｃｒｏｓｃｏｐｙ と題するＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃ
Ｌｅｔｔｅｒｓ第１４巻、ｐｐ３５２−３５４．１９
７８年所載の文献）。すなわち、上記超音波顕微鏡にお
いて、機械走査のうちＸ、Ｙ軸を停止し、代りにＺ軸方
向すなわちレンズと試料間の距離を変えて、試料からの
反射超音波の大きさを該距離に対応して表示しくＶ（Ｚ
）曲線と呼ばれる）、その曲線から該試料の弾性定数を
求める方法である。
第３図は、かかるＶ（Ｚ）曲線の１例で、横軸にレンズ
と試料間の距離Ｚをと９、縦軸に反射強度をとったもの
で、試料はシリコンである。ここでＲｏ点は、レンズの
焦点が試料の表面に合った時、すなわちレンズと試料間
の距離がレンズの焦点距離に等しくなった場合に対応し
ている。この曲線にみられる周期的な反射強度の変化は
、試料からの直接反射波と試料から惹起された表面弾性
波からの漏洩波との間の干渉によって生ずるもので、こ
の周期ΔＺＮは、試料の表面弾性波の平均伝播速度ｖＲ
に係っており、 ΔＺＨ＝（ｖ！Ｉ）２／（ｆ−ｖも） （１）で与
えら壮ることが知られている（上記引用の文献による）
。ここで、ｆは使用超音波の周波数を表わしてお５、Ｖ
Ｌはレンズと試料との間を満す流体の音波伝播速度ヲ表
わしている。したがって、かかるＶ（Ｚ１曲線を求める
ことにより、その周期ΔＺＮの計測値から ＶＲ＝（ΔＺＮ−ｆ−ｖｘ、）”２ （１）’なる
関係を用いて、試料の弾性的な特徴量として表面弾性波
の平均伝播速度Ｙａｋ求めることができる。
と試料間の距離Ｚをと９、縦軸に反射強度をとったもの
で、試料はシリコンである。ここでＲｏ点は、レンズの
焦点が試料の表面に合った時、すなわちレンズと試料間
の距離がレンズの焦点距離に等しくなった場合に対応し
ている。この曲線にみられる周期的な反射強度の変化は
、試料からの直接反射波と試料から惹起された表面弾性
波からの漏洩波との間の干渉によって生ずるもので、こ
の周期ΔＺＮは、試料の表面弾性波の平均伝播速度ｖＲ
に係っており、 ΔＺＨ＝（ｖ！Ｉ）２／（ｆ−ｖも） （１）で与
えら壮ることが知られている（上記引用の文献による）
。ここで、ｆは使用超音波の周波数を表わしてお５、Ｖ
Ｌはレンズと試料との間を満す流体の音波伝播速度ヲ表
わしている。したがって、かかるＶ（Ｚ１曲線を求める
ことにより、その周期ΔＺＮの計測値から ＶＲ＝（ΔＺＮ−ｆ−ｖｘ、）”２ （１）’なる
関係を用いて、試料の弾性的な特徴量として表面弾性波
の平均伝播速度Ｙａｋ求めることができる。
しかしながら、式（１）′から明らかなように、Δ’ｌ
ｎの絶対長および使用超音波の周波数ｆ−ｉあらかじめ
求めておく必要がある。これらの１［ｆｔ求めるために
、従来、超音波顕微鏡以外の独立した計測手段を使用し
ており、測定が繁雑になるという欠点がめった。したが
って、もし、計測されたＶ（Ｚ）曲線から、周波数ｆや
ΔＺＮの絶対長の測定が本質的に不要な方法でＶｎ’を
求める手段が実現されるなら、■（Ｚ）曲線からｖＲｆ
ｔ求める計測を他の計測手段を用いることなく超音波顕
微鏡のみで単独に行うことができ、計測時間を大幅に短
縮することができる。
ｎの絶対長および使用超音波の周波数ｆ−ｉあらかじめ
求めておく必要がある。これらの１［ｆｔ求めるために
、従来、超音波顕微鏡以外の独立した計測手段を使用し
ており、測定が繁雑になるという欠点がめった。したが
って、もし、計測されたＶ（Ｚ）曲線から、周波数ｆや
ΔＺＮの絶対長の測定が本質的に不要な方法でＶｎ’を
求める手段が実現されるなら、■（Ｚ）曲線からｖＲｆ
ｔ求める計測を他の計測手段を用いることなく超音波顕
微鏡のみで単独に行うことができ、計測時間を大幅に短
縮することができる。
本発明の目的は、上記のような従来技術の欠点を解消し
、使用超音波の周波数および■（Ｚ）曲線の周期の絶対
長を用いることなくＶ（Ｚ）曲線から試料の表面弾性波
の平均伝播速度を求め得る超音波顕微鏡を提供すること
にある。
、使用超音波の周波数および■（Ｚ）曲線の周期の絶対
長を用いることなくＶ（Ｚ）曲線から試料の表面弾性波
の平均伝播速度を求め得る超音波顕微鏡を提供すること
にある。
上記目的全達成するため、本発明による超音波顕微鏡は
超音波を試料の上に集束させるレンズと、該試料と該レ
ンズとの距離を変化させる手段とを具備した超音波顕微
鏡において、前記レンズからの反射音波を参照波とし該
参照波と前記試料からの反射音波との干渉波を発生させ
る手段と、該干渉波の周期と前記距離の変化に際し生ず
る前記試料からの反射音波の周期との比を検出する手段
とを設けたことを特徴とする。
超音波を試料の上に集束させるレンズと、該試料と該レ
ンズとの距離を変化させる手段とを具備した超音波顕微
鏡において、前記レンズからの反射音波を参照波とし該
参照波と前記試料からの反射音波との干渉波を発生させ
る手段と、該干渉波の周期と前記距離の変化に際し生ず
る前記試料からの反射音波の周期との比を検出する手段
とを設けたことを特徴とする。
本発明の詳細な説明する前に、まず本発明の原理につい
て述べておく。
て述べておく。
本発明では、（１）式を変形した以下の表現、に着目し
、レンズと試料間を満す流体の青波長λＬを単位長とし
て干渉周期ΔｚＮを計測するなら により周波数ｆやΔＺｗの絶対長そのもの全必要とする
ことなくＷｉｔ求めることができるΦ実を利用している
。すなわち、試料の表面弾性波の平均伝播速度ｖＢは、
レンズと試料との間ヲ満す流体の青波長λｂ・音波伝播
速度ｖＬお工びＶ （Ｚ＞曲線の周期ΔＺＮに係ってい
るという自然現象に着目している。
、レンズと試料間を満す流体の青波長λＬを単位長とし
て干渉周期ΔｚＮを計測するなら により周波数ｆやΔＺｗの絶対長そのもの全必要とする
ことなくＷｉｔ求めることができるΦ実を利用している
。すなわち、試料の表面弾性波の平均伝播速度ｖＢは、
レンズと試料との間ヲ満す流体の青波長λｂ・音波伝播
速度ｖＬお工びＶ （Ｚ＞曲線の周期ΔＺＮに係ってい
るという自然現象に着目している。
このような手順を実現するためには、Ｖ（Ｚ）曲線上に
青波長λＬを反映したスケールを導入する必要がある。
青波長λＬを反映したスケールを導入する必要がある。
このために本発明では音波の干渉現象を利用している。
すなわち、試料の種類や機械走査によって変動しない参
照波を音響的または電気的に発生させ、この信号と試料
からの反射音波（以下、試料反射波と呼ぶ）を干渉させ
るのである。このような参照波として、例えば竺来不要
とされていたｂ信号すなわちレンズと流体との界面から
の反射信号（以下、レンズ反射波と呼ぶ）を用いること
ができる。
照波を音響的または電気的に発生させ、この信号と試料
からの反射音波（以下、試料反射波と呼ぶ）を干渉させ
るのである。このような参照波として、例えば竺来不要
とされていたｂ信号すなわちレンズと流体との界面から
の反射信号（以下、レンズ反射波と呼ぶ）を用いること
ができる。
次に、レンズ反射波（参照音波）と試料反射波との間の
干渉によって、どのようにして検出反射信号中に青波長
λＬを反映したスケールが導入されるかを説明する。
干渉によって、どのようにして検出反射信号中に青波長
λＬを反映したスケールが導入されるかを説明する。
今、レンズ反射波すを
ここで、ω０は超音波周波数、ｔｏ”２Ｌ／ＶｃＬはレ
ンズ結晶の軸長、ＶＣはレン ズ結晶材の音速 とおくと、試料反射波Ｃは、レンズ反射波すよシ晋波が
レンズと試料の間の流体中を往復伝播する時間ｔｓ
（＝２Ｚ／ＶＬ％ ここでＺはレンズと試料の間の距離
）だけ遅延して戻ってくるから、で表わされる。もし、
ＲＦパルスの継続時間１．＋を、 ｔ ａ ） ｔ ｓ −２Ｚ ／ Ｖ Ｌ （５）
全満足するように長くしてやれは、二つの反射信号Ｖｉ
（りとＶｃ（ｔ）は時間軸上で重なシ合うことになる（
第２図（ｄ）、 （ｅ） ）。
ンズ結晶の軸長、ＶＣはレン ズ結晶材の音速 とおくと、試料反射波Ｃは、レンズ反射波すよシ晋波が
レンズと試料の間の流体中を往復伝播する時間ｔｓ
（＝２Ｚ／ＶＬ％ ここでＺはレンズと試料の間の距離
）だけ遅延して戻ってくるから、で表わされる。もし、
ＲＦパルスの継続時間１．＋を、 ｔ ａ ） ｔ ｓ −２Ｚ ／ Ｖ Ｌ （５）
全満足するように長くしてやれは、二つの反射信号Ｖｉ
（りとＶｃ（ｔ）は時間軸上で重なシ合うことになる（
第２図（ｄ）、 （ｅ） ）。
すなわち、
ｔｏ 十ｔｓ （ｔ（ｔｏ ＋ｔｄ（６）なる時間領域
では両者の和信号は、 Ｖ（ｔ）＝Ａｓｉｎωｏｔ＋Ｂｓ１ｎｌｚｌｏ（ｔ＋２
Ｚ／ＶＬ） Ｃ７）なる式で表わされる。したがって
、この時間領域のみを取シ出すゲート信号（第２図（ｆ
） ） ｋ用いて、この和信号を弁別し、ＲＦ検波する
と、Ｚ Ｖ”Ａ２＋Ｂ２＋２ＡＢＣＯ３（ωｏ−，−） （
８）Ｌ なる出力を得ることになる。この検出信号（第２図（ｄ
）の斜線部分）は二つの波の間の干渉により、距離Ｚの
変化に対応して、 なる関係よジ、λＬ ／ ２なる周期パターン（以下Δ
Ｚｃと記す）を描くことになる。このようにして、干渉
を利用することによυ、反射超音波の検出信号中にλＬ
を反映したスケールΔＺｃを導入することができる。こ
のとき、式（２）′は、となる。ここで、このような干
渉周期を得るための参照波として、上記のようなレンズ
反射波を用いずに外部の参照電気信号を用いることもも
ちろん可能である。
では両者の和信号は、 Ｖ（ｔ）＝Ａｓｉｎωｏｔ＋Ｂｓ１ｎｌｚｌｏ（ｔ＋２
Ｚ／ＶＬ） Ｃ７）なる式で表わされる。したがって
、この時間領域のみを取シ出すゲート信号（第２図（ｆ
） ） ｋ用いて、この和信号を弁別し、ＲＦ検波する
と、Ｚ Ｖ”Ａ２＋Ｂ２＋２ＡＢＣＯ３（ωｏ−，−） （
８）Ｌ なる出力を得ることになる。この検出信号（第２図（ｄ
）の斜線部分）は二つの波の間の干渉により、距離Ｚの
変化に対応して、 なる関係よジ、λＬ ／ ２なる周期パターン（以下Δ
Ｚｃと記す）を描くことになる。このようにして、干渉
を利用することによυ、反射超音波の検出信号中にλＬ
を反映したスケールΔＺｃを導入することができる。こ
のとき、式（２）′は、となる。ここで、このような干
渉周期を得るための参照波として、上記のようなレンズ
反射波を用いずに外部の参照電気信号を用いることもも
ちろん可能である。
このような手順でＶ（Ｚ）曲線を計測した１例を第４図
（ａ）に示す。ここで、試料は溶融石英であり、横軸は
１５μｍ ／ ｄ ｉ ｖでレンズと試料間の距離を表
わし、縦軸は反射強度を示している。図から、従来方法
でのＶ（Ｚ）曲線（第３図）があたかもλＬ ／ ２な
る周期を有する正弦波で変調されたようになっているの
がわかる。
（ａ）に示す。ここで、試料は溶融石英であり、横軸は
１５μｍ ／ ｄ ｉ ｖでレンズと試料間の距離を表
わし、縦軸は反射強度を示している。図から、従来方法
でのＶ（Ｚ）曲線（第３図）があたかもλＬ ／ ２な
る周期を有する正弦波で変調されたようになっているの
がわかる。
本発明では、横軸すなわちレンズと試料間の距離の絶対
長を知らずに、また使用周波数を求めることなく試料の
表面弾性波の平均伝播速度を求めることができる。すな
わち、第４図（ａ）の実測■、（Ｚ）曲線の包絡線を求
めると第４図（ｂ）を得るから、この周期ΔＺＮは第４
図（ａ）のグラフ上の格子の１．３ｄｉｖに対応するこ
とがわかる。捷た第４図（ａ）のＶ（Ｚ）曲線上のキャ
リア周波数ΔＺｃはグラフ上の格子の１／７ｄｉｖ に
対応していることがわかる。したがって、ΔＺＮやΔＺ
ｃの絶対長を知らなくとも、上記の相対値を用いて、［ ・・・・・・・・・ （１０） すなわち、ＶＲ＝３２００ｍ／Ｓ ｋ得ることができる
。もちろん、この値は、周波数３５０ＭＨ２，実測のΔ
Ｚ）Ｆ＝１９μｍｆ用いて、従来の式（１）′に代入す
ることにより ＶＲ＝（１９Ｘ１０−’ Ｘ３．５Ｘ１０”Ｘｌ、５Ｘ
１０３）２＝ ３２００ｍ／Ｓ と求められる値に一致する。
長を知らずに、また使用周波数を求めることなく試料の
表面弾性波の平均伝播速度を求めることができる。すな
わち、第４図（ａ）の実測■、（Ｚ）曲線の包絡線を求
めると第４図（ｂ）を得るから、この周期ΔＺＮは第４
図（ａ）のグラフ上の格子の１．３ｄｉｖに対応するこ
とがわかる。捷た第４図（ａ）のＶ（Ｚ）曲線上のキャ
リア周波数ΔＺｃはグラフ上の格子の１／７ｄｉｖ に
対応していることがわかる。したがって、ΔＺＮやΔＺ
ｃの絶対長を知らなくとも、上記の相対値を用いて、［ ・・・・・・・・・ （１０） すなわち、ＶＲ＝３２００ｍ／Ｓ ｋ得ることができる
。もちろん、この値は、周波数３５０ＭＨ２，実測のΔ
Ｚ）Ｆ＝１９μｍｆ用いて、従来の式（１）′に代入す
ることにより ＶＲ＝（１９Ｘ１０−’ Ｘ３．５Ｘ１０”Ｘｌ、５Ｘ
１０３）２＝ ３２００ｍ／Ｓ と求められる値に一致する。
このような原理により、ΔＺＮの太いさｆ：＠接絶対値
として計測することなく、単にレンズ反射波による干渉
同期の太いさとの比のみを求めればＶｎｋ求めることが
できる。さらに、本原理ではｖＲは超音波の使用周波数
そのものに依存しないから、計測期間中の短期周波数安
定度のみ要求され、長期間にわたる安定度は必要としな
い利点がある。
として計測することなく、単にレンズ反射波による干渉
同期の太いさとの比のみを求めればＶｎｋ求めることが
できる。さらに、本原理ではｖＲは超音波の使用周波数
そのものに依存しないから、計測期間中の短期周波数安
定度のみ要求され、長期間にわたる安定度は必要としな
い利点がある。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第５図は、前述の本発明の原理を具体化する超音波顕微
鏡の回路構成のうち、超音波送受部の一実施例を示す図
である。
鏡の回路構成のうち、超音波送受部の一実施例を示す図
である。
ＲＦ連続発振器５００で発生したＲＦ連続波信号（例え
ば周波数ＩＧＨ２）をアナログ・スイッチ５１０で継続
時間ｔ４０ＲＦパルス信号に変換し、方向性結合器５２
０を介して探触子系５３０に印加する。試料からの反射
超音波信号全方向性結合器５２０を介して受信アンプ５
４０で増幅後、ダイオード検波器５５０でビデオ信号（
帯域１〜１０ＭＨ２）に変換し、タイムゲート５６０に
より所望信号である試料からの反射信号を弁別、標本化
して撮像用および計測用信号として用いる。
ば周波数ＩＧＨ２）をアナログ・スイッチ５１０で継続
時間ｔ４０ＲＦパルス信号に変換し、方向性結合器５２
０を介して探触子系５３０に印加する。試料からの反射
超音波信号全方向性結合器５２０を介して受信アンプ５
４０で増幅後、ダイオード検波器５５０でビデオ信号（
帯域１〜１０ＭＨ２）に変換し、タイムゲート５６０に
より所望信号である試料からの反射信号を弁別、標本化
して撮像用および計測用信号として用いる。
タイムゲート５６０はゲート信号発生器５７０から得ら
れるゲート信号により制御される。本実施例では、上記
継続時間１ｄを長くしたり短くしたりするだけで、従来
法と本発明の方法とを容易に切シ換えることができるの
であるが、このような手段としてはアナログ−スイッチ
５１０ｆ：０Ｎ１０ＦＦするゲート信号発生器５７０の
出力パルスの幅１．を変えればよい。第２図（ａ）、
（ｂ）、 （Ｃ）および（ｄ）、 （ｅ）、 （ｆ）が
ｔａ （２Ｚ／ ＶＬ 、 ｔａ ＞２Ｚ／ＶＬ％し
たがって従来法と、本発明の干渉を用いる場合のコント
ロール信号とゲート信号のタイミングチャートである。
れるゲート信号により制御される。本実施例では、上記
継続時間１ｄを長くしたり短くしたりするだけで、従来
法と本発明の方法とを容易に切シ換えることができるの
であるが、このような手段としてはアナログ−スイッチ
５１０ｆ：０Ｎ１０ＦＦするゲート信号発生器５７０の
出力パルスの幅１．を変えればよい。第２図（ａ）、
（ｂ）、 （Ｃ）および（ｄ）、 （ｅ）、 （ｆ）が
ｔａ （２Ｚ／ ＶＬ 、 ｔａ ＞２Ｚ／ＶＬ％し
たがって従来法と、本発明の干渉を用いる場合のコント
ロール信号とゲート信号のタイミングチャートである。
このようなモードの切換えによっても、試料からの反射
信号の出現時刻は変化しないからＪ同一のゲート信号を
用いることができる。
信号の出現時刻は変化しないからＪ同一のゲート信号を
用いることができる。
以上のような超音波送受信部を用いて、ＶＲまたはＶ
（Ｚ）曲線を求めるための全体構成の一実施例全第６図
に示す。
（Ｚ）曲線を求めるための全体構成の一実施例全第６図
に示す。
レンズ系６００と試料６１０の間の距離を変化させる手
段として、レンズ系６０（１−支持する台６０５をボー
ルネジおよびパルスモータからなるＺ＠駆動部６２０を
用いている。すなわち、パルスモータの回転運動をボー
ルネジの並進運動に変え、レンズ系６００と試料６１０
間の距離（２軸）を可変にするのである。このようなＺ
軸駆動部６２０を駆動するＺ軸駆動電源６２５に、パル
ス発生器６３０によりパルス信号を送れば、パルスモー
タの正回転、逆回転にしたがってレンズ系６００を試料
６１０に近づけたり遠ざけたすすることができる。パル
ス発生器６３０より送られた上記パルス信号は、同時に
アップダウンカウンタ６３５によシ計数され、この計数
値は表示器６４０に表示されるとともにパスライン６４
５を介してマイクロコンピュータ６７０の内部メモリに
記録される。この計数値は、レンズと試料６１０間の距
離Ｚに対応している。第５図に示した超音波送受信部６
５０の出力ビデオ信号は、パルス発生器６３０から発生
するパルスに同期して、アナログ・ディジタル変換器６
５５によりディジタル値に変換され、パスライン６４５
を介して同じくマイクロコンピュータ６７０の内部メモ
リに格納はれる。また、試料６１０は試料台６１５の上
に載せられ、この試料台６１５はＺ軸と同様のボールネ
ジとパルスモータを用いたＸ−Ｙ軸駆動部６６５に連結
して訃り、Ｘ−Ｙ軸駆動電源６６０によυ画像作成に必
要な２次元機械走査′ｆ、Ｘｙ面内で行う。Ｘ−Ｙ軸駆
動電源６６０は、外部スイッチまたはマイクロコンピュ
ータのコマンド信号により、その走査を開始したり停止
したりするようになっている。
段として、レンズ系６０（１−支持する台６０５をボー
ルネジおよびパルスモータからなるＺ＠駆動部６２０を
用いている。すなわち、パルスモータの回転運動をボー
ルネジの並進運動に変え、レンズ系６００と試料６１０
間の距離（２軸）を可変にするのである。このようなＺ
軸駆動部６２０を駆動するＺ軸駆動電源６２５に、パル
ス発生器６３０によりパルス信号を送れば、パルスモー
タの正回転、逆回転にしたがってレンズ系６００を試料
６１０に近づけたり遠ざけたすすることができる。パル
ス発生器６３０より送られた上記パルス信号は、同時に
アップダウンカウンタ６３５によシ計数され、この計数
値は表示器６４０に表示されるとともにパスライン６４
５を介してマイクロコンピュータ６７０の内部メモリに
記録される。この計数値は、レンズと試料６１０間の距
離Ｚに対応している。第５図に示した超音波送受信部６
５０の出力ビデオ信号は、パルス発生器６３０から発生
するパルスに同期して、アナログ・ディジタル変換器６
５５によりディジタル値に変換され、パスライン６４５
を介して同じくマイクロコンピュータ６７０の内部メモ
リに格納はれる。また、試料６１０は試料台６１５の上
に載せられ、この試料台６１５はＺ軸と同様のボールネ
ジとパルスモータを用いたＸ−Ｙ軸駆動部６６５に連結
して訃り、Ｘ−Ｙ軸駆動電源６６０によυ画像作成に必
要な２次元機械走査′ｆ、Ｘｙ面内で行う。Ｘ−Ｙ軸駆
動電源６６０は、外部スイッチまたはマイクロコンピュ
ータのコマンド信号により、その走査を開始したり停止
したりするようになっている。
このような構成においてＶ（Ｚ）曲線またはｖｉｅ求め
る手順は、以下のような信号のやりとりで実施すること
ができる。
る手順は、以下のような信号のやりとりで実施すること
ができる。
（１） まず、パスライン６４５を介してマイクロコ
ンピュータ６７０よりＸ−Ｙ軸駆動電源６６０にパルス
を送り、Ｘ−Ｙ軸駆動部６６５を停止させる。
ンピュータ６７０よりＸ−Ｙ軸駆動電源６６０にパルス
を送り、Ｘ−Ｙ軸駆動部６６５を停止させる。
（２）所定の距離だけレンズ系６００と試料６１０が離
れるように、マイクロコンピュータ６７０によシバルス
発生器６３０にパルス発生の指令を送り、パルス発生器
６３０よりＺ軸駆動電源６２５に正逆のパルスを必要個
数送る。
れるように、マイクロコンピュータ６７０によシバルス
発生器６３０にパルス発生の指令を送り、パルス発生器
６３０よりＺ軸駆動電源６２５に正逆のパルスを必要個
数送る。
（３）Ｚ軸駆動部６２０のパルスモータを１パルス分回
転させ、レンズ系６００を試料６１０に近付けた後、試
料６１０からの反射信号の強度データ（アナログ−ディ
ジタル変換器６５５の出力）をパスライン６４５を介し
てマイクロコンピュータ６７０に取り込み、「強度デー
タ」と定義したメモリ領域に格納する。同時に、前記の
アップダウンカウンタ６３５の出力をパスライン６４５
を介して「距離データ」と定義したメモリ領域に格納す
るのである。
転させ、レンズ系６００を試料６１０に近付けた後、試
料６１０からの反射信号の強度データ（アナログ−ディ
ジタル変換器６５５の出力）をパスライン６４５を介し
てマイクロコンピュータ６７０に取り込み、「強度デー
タ」と定義したメモリ領域に格納する。同時に、前記の
アップダウンカウンタ６３５の出力をパスライン６４５
を介して「距離データ」と定義したメモリ領域に格納す
るのである。
このような手順を、レンズ系６００の動きにしたがって
パルス発生器６３０から発生するノ（ルス信号に同期し
て逐次行い、’Ｖ（Ｚ）曲線を得るのに必要なＺ軸方向
の移動（第４図の例では、３２０μｍから５８０μｍま
での間の２６０μｍ間のＶ（Ｚ）曲線を得るため、０．
２μｍピッチで１３００回行っている）を行う。
パルス発生器６３０から発生するノ（ルス信号に同期し
て逐次行い、’Ｖ（Ｚ）曲線を得るのに必要なＺ軸方向
の移動（第４図の例では、３２０μｍから５８０μｍま
での間の２６０μｍ間のＶ（Ｚ）曲線を得るため、０．
２μｍピッチで１３００回行っている）を行う。
（４）マイクロコンピュータ６７０の内部または外部メ
モリに格納された上記の「強度データ」と「距離データ
」の対をもとにして得られるＶ （Ｚ）曲線ｉ、ＣＲＴ
表示装置やプロッタ等に表示記録する。
モリに格納された上記の「強度データ」と「距離データ
」の対をもとにして得られるＶ （Ｚ）曲線ｉ、ＣＲＴ
表示装置やプロッタ等に表示記録する。
このようにして得られたＶ（Ｚ）曲線は、第４図（ａ）
のような干渉による変調されたＶ（Ｚ）曲線でおり、こ
れから第４図（ｂ）のようなその包格線に和尚する従来
型のＶ（Ｚ）曲線（すなわちΔＺＮの太いさ）を得るに
は、包絡線全求める周知のソフトウェア−アルゴリズム
を用いることができる。
のような干渉による変調されたＶ（Ｚ）曲線でおり、こ
れから第４図（ｂ）のようなその包格線に和尚する従来
型のＶ（Ｚ）曲線（すなわちΔＺＮの太いさ）を得るに
は、包絡線全求める周知のソフトウェア−アルゴリズム
を用いることができる。
また、本実施例の変調されたＶ（Ｚ）曲線からλＬ ／
２や物質量を反映した周期ΔＺｃの太いさを求めるこ
ともマイクロコンピュータを用いて容易に実行できる。
２や物質量を反映した周期ΔＺｃの太いさを求めるこ
ともマイクロコンピュータを用いて容易に実行できる。
このようにして得られたΔＺＮの太いさとΔＺｃの大い
さの比を用いてＶＲｋ求めることは、式（２）′による
演算を行うことにより容易に実行される。
さの比を用いてＶＲｋ求めることは、式（２）′による
演算を行うことにより容易に実行される。
本実施例では、すでに説明したように、超音波パルスの
継続時間ｔｄを２Ｚ／ＶＬよシ長くしたり短くしたりす
ることによシ、レンズ反射波と試料反射波との干渉周期
ΔＺｃを発生させたり発生させなかったシすることがで
きる。すなわち、ｔ ｄ（２Ｚ／ ｖ ｒ、にするとレ
ンズ反射波による干渉現象は出せず上記手順によって従
来型のＶ （Ｚ）曲線が得られるからΔＺＮの大いさを
求めるのに上記の包絡線処理を省略することができる。
継続時間ｔｄを２Ｚ／ＶＬよシ長くしたり短くしたりす
ることによシ、レンズ反射波と試料反射波との干渉周期
ΔＺｃを発生させたり発生させなかったシすることがで
きる。すなわち、ｔ ｄ（２Ｚ／ ｖ ｒ、にするとレ
ンズ反射波による干渉現象は出せず上記手順によって従
来型のＶ （Ｚ）曲線が得られるからΔＺＮの大いさを
求めるのに上記の包絡線処理を省略することができる。
次にｔ ａ ＞ ２ Ｚ ／ Ｖ Ｌとして、上記手順
を繰シ返すなら、変調されたＶ（Ｚ）曲線が得られ、こ
の曲線内の変調周期ΔＺｃの大いさを求め、ΔＺＮ／Δ
Ｚｃを求めればよいからである。また、上記の周期を求
めるソフトウェア上のアルゴリズムとしては、周知の自
己相関やＦＦＴアルゴリズム（高速フーリエ変換）を用
いることができるのはもちろんである。さらに、本実施
例では、「距離データ」と「強度データ」を格納したが
、もし「強度データ」がメモリ上に順序よく格納される
ならば、メモリ上のアドレスそのものを距離の代りに用
いることができる。このことは、本発明では■Ｒ−ｆ：
求める際に、ΔＺＮの絶対長ではなく、ΔＺＮとΔＺｃ
の比のみを用いていることから明らかである。
を繰シ返すなら、変調されたＶ（Ｚ）曲線が得られ、こ
の曲線内の変調周期ΔＺｃの大いさを求め、ΔＺＮ／Δ
Ｚｃを求めればよいからである。また、上記の周期を求
めるソフトウェア上のアルゴリズムとしては、周知の自
己相関やＦＦＴアルゴリズム（高速フーリエ変換）を用
いることができるのはもちろんである。さらに、本実施
例では、「距離データ」と「強度データ」を格納したが
、もし「強度データ」がメモリ上に順序よく格納される
ならば、メモリ上のアドレスそのものを距離の代りに用
いることができる。このことは、本発明では■Ｒ−ｆ：
求める際に、ΔＺＮの絶対長ではなく、ΔＺＮとΔＺｃ
の比のみを用いていることから明らかである。
以上説明したように、本発明の超音波顕微鏡によれば、
いわゆるＶ（Ｚ）曲線を計測しその周期を求め、それか
ら試料の表面弾性波の平均伝播速度を求めるにあたって
、参照波との干渉による新しい周期を導入し、両周期の
比を用いることにより、使用超音波の周波数およびＶ（
Ｚ）曲線の周期の絶対長を用いることな（Ｖ（Ｚ）曲線
から前記平均伝播速度を求めることができ、超音波顕微
鏡の計測機能を大きく高めることが可能となる。
いわゆるＶ（Ｚ）曲線を計測しその周期を求め、それか
ら試料の表面弾性波の平均伝播速度を求めるにあたって
、参照波との干渉による新しい周期を導入し、両周期の
比を用いることにより、使用超音波の周波数およびＶ（
Ｚ）曲線の周期の絶対長を用いることな（Ｖ（Ｚ）曲線
から前記平均伝播速度を求めることができ、超音波顕微
鏡の計測機能を大きく高めることが可能となる。
第１図は従来の反射型超音波顕微鏡を示す図、第２図は
従来法、および本発明の一実施例による超音波送受信制
御信号のタイミングチャート、第３図は従来方法による
Ｖ（Ｚ）曲線金示す図、第４図は本発明の一実施例によ
るＶ（Ｚ）曲線を示す図、第５図は本発明の一実施例に
よる超音波送受信部のブロック図、第６図は本発明の一
実施例を示す超音波顕微鏡の全体ブロック図である。 ６００・・・レンズ系、６０５・・・支持台、６１０・
・・試料、６１５・・・試料台、６２０・・・Ｚ軸駆動
部、６２５・・・Ｚ軸駆動電源、６３０・・・パルス発
生器、６３５・・・アップダウンカウンタ、６４０・・
・表示器、６４５・・・パスライン、６５０・・・超音
波送受信部、６５５・・・アナログ・ディジタル変換器
、６６０・・・Ｘ−Ｙ軸駆動電源、６６５・・・Ｘ−Ｙ
軸駆動部、６７０・・・第 ４ 図 しり又−Ｒ＋肉のどＬ離（Ａ１ ′″１ｆ１ｓ＋￥］
従来法、および本発明の一実施例による超音波送受信制
御信号のタイミングチャート、第３図は従来方法による
Ｖ（Ｚ）曲線金示す図、第４図は本発明の一実施例によ
るＶ（Ｚ）曲線を示す図、第５図は本発明の一実施例に
よる超音波送受信部のブロック図、第６図は本発明の一
実施例を示す超音波顕微鏡の全体ブロック図である。 ６００・・・レンズ系、６０５・・・支持台、６１０・
・・試料、６１５・・・試料台、６２０・・・Ｚ軸駆動
部、６２５・・・Ｚ軸駆動電源、６３０・・・パルス発
生器、６３５・・・アップダウンカウンタ、６４０・・
・表示器、６４５・・・パスライン、６５０・・・超音
波送受信部、６５５・・・アナログ・ディジタル変換器
、６６０・・・Ｘ−Ｙ軸駆動電源、６６５・・・Ｘ−Ｙ
軸駆動部、６７０・・・第 ４ 図 しり又−Ｒ＋肉のどＬ離（Ａ１ ′″１ｆ１ｓ＋￥］
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、超音波を試料の上に集束させるレンズと、該試料と
該レンズとの間の距離を変化させる手段とを具備した超
音波顕微鏡において、前記レンズからの反射音波を参照
波とし、該参照波と前記試料からの反射音波との干渉波
を発生させる手段と、該干渉波の周期と前記距離の変化
に際し生ずる前記試料からの反射音波の周期との比を検
出する手段とを設けたことを特徴とする超音波顕微鏡。 ２ 前記参照波は参照波発生手段から得られる参照電気
信号であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の超音波顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58089111A JPS59214759A (ja) | 1983-05-23 | 1983-05-23 | 超音波顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58089111A JPS59214759A (ja) | 1983-05-23 | 1983-05-23 | 超音波顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59214759A true JPS59214759A (ja) | 1984-12-04 |
| JPH0327863B2 JPH0327863B2 (ja) | 1991-04-17 |
Family
ID=13961777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58089111A Granted JPS59214759A (ja) | 1983-05-23 | 1983-05-23 | 超音波顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59214759A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61210944A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-19 | Hitachi Ltd | 超音波顕微鏡 |
| JPH03185355A (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-13 | Isuzu Motors Ltd | 表面層の超音波測定法 |
-
1983
- 1983-05-23 JP JP58089111A patent/JPS59214759A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61210944A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-19 | Hitachi Ltd | 超音波顕微鏡 |
| JPH03185355A (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-13 | Isuzu Motors Ltd | 表面層の超音波測定法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0327863B2 (ja) | 1991-04-17 |
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