JPS59195605A - 焦点検出装置 - Google Patents

焦点検出装置

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JPS59195605A
JPS59195605A JP6999883A JP6999883A JPS59195605A JP S59195605 A JPS59195605 A JP S59195605A JP 6999883 A JP6999883 A JP 6999883A JP 6999883 A JP6999883 A JP 6999883A JP S59195605 A JPS59195605 A JP S59195605A
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JP
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circuit
output
light emitting
signal
light
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JP6999883A
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Isamu Hashimoto
勇 橋本
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Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/30Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
    • G02B7/32Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B3/00Focusing arrangements of general interest for cameras, projectors or printers
    • G03B3/10Power-operated focusing

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、カメラなどの撮像装置において、被写体に対
する焦点を自動的に検出する焦点検出装置にかかり、例
えば光検知手段として積分型の特性を有する受光素子を
用いた焦点検出装置に関する。
従来の積分型受光素子(以下単に「積分型素子」という
)を用いた焦点検出装置においては、積分型素子に入射
する光に対応する電荷が一定時間蓄積されることによっ
て積分が行なわれ、この積分された電荷に応じて積分型
素子は所定の出力をするようになっている。そして、こ
の出力(以下「積分出力」という)が一定となるように
、積分型素子における照度ないしは輝度と積分時間の積
を一定にしている。従って、輝度が高い場合には、積分
時間は短かくなり、輝度が低い場合には、積分時間は長
くなる。
従って、輝度が極めて低い場合には、非常に長い積分時
間を必要とすることとなるが、実際には積分型素子内に
蓄積される電荷の寿命その他の関係から、積分時間が限
定されざるを得ない。このため、積分出力が低下し、ひ
いては焦点検出にも支障が生ずることとなる。また、積
分時間が長いため、焦点検出の応答が遅くなシ、更には
手ぶれなどの影響を受けやすくなるという不都合が生ず
る。
本発明は、かかる不都合に鑑みてなされたものであシ、
その目的は、上記従来技術の欠点を改善し、低輝度時に
おいても良好に焦点を検出することである。
本発明の他の目的は、焦点検出に対する手ぶれの影響を
低減することである。
本発明の更に他の目的は、コントラストが低い場合であ
っても、良好に焦点を検出することである。
本発明の更に他の目的は、応答の早い焦点検出を行うこ
とである。
以下、本発明にかかる焦点検出装置を添附図面に示す実
施例に従って詳細に説明する。
まず、本発明にかかる焦点検出装置の基本的な構成を第
1図を参照しながら説明する。第1図には、本発明にか
かる焦点検出装置の基本的な構成が回路ブロック図とし
て示されている。この図において、焦点検出は、焦点検
出回路100によって行なわれる。焦点検出回路100
は、矢印PHの如く被写体(図示せず)からの光が入射
する受光回路200に接続されている。この受光回路2
00には、積分型素子が含まれている。
焦点検出回路100及び受光回路200は、駆動回路3
00に接続されている。駆動回路300は、各部の駆動
を制御する回路である。駆動回路300は、積分検出回
路400.基準時間発生回路500及び低輝度検出回路
600にも接続されている。積分検出回路400には、
積分型素子が含まれておシ、矢印PHの如く被写体から
の光の一部が入射する。基準時間発生回路500は、ク
ロック供給回路700に接続されており、一定の時間の
計時が行なわれる。
低輝度検出回路600には、積分検出回路400及び基
準時間発生回路500が各々接続されており、低輝度状
態の検出が行なわれる。
低輝度検出回路60.0は、発光制御回路800に接続
されておシ、発光制御回路800は、制御条件発生回路
9′00に接続されている。この制御条件発生回路90
0は、焦点検出回路100に接続されている。
発光制御回路800では、制御条件発生回路900によ
って指示される条件に従って、所定の信号が出力される
。この発光制御回路800は、ストロボなどの発光装置
1000に接続されている。
次に各ブロックの動作の概略を説明する。まず、駆動回
路300は、受光回路200を駆動するだめの信号を受
光回路200に対して供給するとともに、受光回路20
0による積分開始をあられす信夛を積分検出回路400
及び基準時間発生回路500に対して供給する。また、
焦点検出回路100に対して、焦点検出の演算を行う制
御信号を供給する。
受光回路200は、駆動回路300から供給される信号
に従って、入射光の積分を行い、その積分データは、焦
点検出回路100に出力される。
焦点検出回路100は、駆動回路300から供給される
信号に従って入力される積分データに基づき焦点検出の
演算を行うとともに、クロック供給回路700に対して
クロック切シ換えの信号を供給し、更に制御条件発生回
路900に対して発光制御に関するデータを供給する。
クロック供給回路700は、焦点検出回路100から供
給される信号に従って切シ換えたクロックを基準時間発
生回路500に対して出力する。
制御条件発生回路900は、入力されるデータに基づい
て、発光制御に対するデータを発光制御回路800に対
して出力する。
積分検出回路400は、駆動回路300から入力される
信号に従って入射光の積分を開始し、該積分が終了する
と信号を駆動回路300及び低輝度検出回路600に対
して出力する。
基準時間発生回路500は、入力されるクロックをカウ
ントし、これがあらかじめ設定されたカウント数となる
と、信号を低輝度検出回路600に対して出力する。
低輝度検出回路600は、積分検出回路400及び基準
時間発生回路500からの入力の順番を比較し、発光制
御回路800に対してその結果の信号を出力する。
発光制御回路800は、入力される信号を判断し、発光
のための信号を発光装置1000に対して出力する。
発光装置1000は、入力される信号に従い、被写体に
対して発光する。この発光は、被写体に対して行なわれ
、更には被写体を介して受光回路200゜積分検出回路
400に入射する。
次に、上記回路ブロックの概略の動作について説明する
受光回路200及び積分検出回路400による光積分の
開始は、駆動回路300から入力される信号に基づいて
行なわれる。受光回路200における光積分は、積分検
出回路400でモニターされておシ、その積分が終了す
ると信号が低輝度検出回路600に出力される。
他方、クロック供給回路700からは、焦点検出回路1
00によって指定される周期のクロックパルスが基準時
間発生回路500に対して出力され、一定数のカウント
が行なわれる。このカウントが終了すると、信号が低輝
度検出回路600に対して出力される。
低輝度検出回路600では、入力される信号が比較され
、光積分終了の信号よシもカウント終了の信号の方が早
く入力された場合、換言すれば光積分が所定時間内に終
了せず、低輝度の状態にあると判断される場合には、発
光制御回路800に対して信号が出力される。
発光制御回路800では、制御条件発生回路900によ
って指示される条件が判断され、これが発光許可状態で
あシ、かつ低輝度の信号が入力された場合に、発光装置
1000に対して信号が出力される。
発光装置1000では、信号が入力されると発光手段が
付勢される。この発光は、被写体を介して積分検出回路
400に入力されるため、光積分が終了し、信号が駆動
回路300に対して出力される。この信号を受けて駆動
回路300では、受光回路200に対して信号が出力さ
れる。この信号に基づいて、受光回路200に蓄積され
た光積分情報が焦点検出回路100に転送される。この
情報に基づいて焦点検出回路100では、焦点検出の演
算が行なわれる。
この演算が終了すると、駆動回路300から光積分開始
の信号が出力され、上述した動作が繰シ返される。
以上の動作を要約すると以下の通りである。
まず第一に、低輝度の状態が検出されると、発光が行な
われる。とれによって、低輝度の状態であっても一定の
光積分出力を短時間で得ることができる。
第二に、発光は、焦点検出の演算結果に従って制御され
る。すなわち、低輝度の状態であっても発光が必要でな
い場合には発光は行なわれない。
また、輝度がそれほど低くない状態であってもコントラ
ストの関係などによ多焦点の検出を行うことができなり
場合などには、強制的に発光が行なわれる。これによっ
て、焦点検出を良好に行うことができる。
次に、本発明にかかる焦点検出装置の詳細なる実施例に
ついて、第2図ないし第8図を参照しながら説明する。
第2図には、焦点検出装置の詳細な構成が示されている
。この図において、駆動回路300は、積分型受光素子
アレイ202,204、フォトゲート206゜208ト
ランスフアーゲー) 210,212、CCD 214
゜216、出力ゲート218、プリアンプ2201補償
プリアンプ222に対して各々接続されておシ、これら
各部に対して制御用のクロック信号が入力される。駆動
回路300は、更に、焦点検出回路100の記憶回路1
02に接続されており、データ書き込みのタイミングを
与えるパルス信号が入力される。
また、駆動回路300は、積分検出回路400のインバ
ータ402を介してMOSスイッチ404のゲートに接
続されるとともに、基準時間発生回路500のカウンタ
502のリセット端子Rに接続されておシ、光積分開始
のパルス信号が各々入力される。駆動回路300は、ま
た、積分検出回路400のコンパレータ406の出力に
接続され、これによって光積分終了の信号が駆動回路3
00に対して入力されるとともに、低輝度検出回路60
0の7リツプフロツプ602に対しても入力される。
次に、受光回路200について説明する。受光回路20
0は、積分型受光素子アレイ202,204.7オトゲ
ート206 、208、トランスファーゲート210゜
212、CCD 214,216、出力ゲート218、
プリアンプ220及び補償プリアンプ222とを有する
。積分型受光素子アレイ202,204は、フォトグー
) 206゜208に各々隣接して置かれておシ、更に
フォトゲート206 、208は、トランスファーゲー
ト210,212に対して各々隣接して置かれている。
フォトゲート206,208によって、積分型受光素子
アレイ202゜204における電荷蓄積のポテンシャル
の高さが決定される。すなわち、入射光による電荷を蓄
積して光積分を行うためには、一定のポテンシャルを形
成して電荷の移動が生じないようにする必要があり、こ
のポテンシャルがフォトグー) 206,208によっ
て与えられる。トランスファーゲー) 210゜212
は、積分型受光素子アレイ202 、204に蓄積され
た電荷をCCD 214,216に対して転送するため
のものである。
COD 214,216は、電荷結合デバイスであシ、
転送された電荷を更に出力ゲート218に対して出力す
るためのものである。この出力は、積分型受光素子アレ
イ202,204の各素子毎すなわち1ビツトずつ行な
われる。
出力ゲート218は、プリアンプ220に接続されてお
り、出力ゲートに入力される電荷が1ビツト毎にプリア
ンプ220に対して出力される。この出力は、CCD 
214.216から出力される電荷に対して交互に時分
割的に行なわれる。プリアンプ220では、入力される
電荷の量が電圧に変換されて出力される。
他方、補償プリアンプ222からは、対応する補償電圧
が出力される。この補償電圧は、CCD 214゜21
6からの電荷出力において、一定のノ(イアスがかけら
れているため、これを補償するだめのものである。
なお、以上の受光回路200の動作は、駆動回路300
から入力される制御用の信号に基づいて行なわれる。
次に、焦点検出回路iooについて説明する。
焦点検出回路100は、差動増幅器104、A/bコン
バータ106、記憶回路102、演算回路108、レン
ズ駆動回路110とを有している。差動増幅器104に
は、上述したプリアンプ220及び補償アンプ222が
接続されておシ、各々の出力する信号が入力されるよう
になっている。この差動増幅器104は、A/Dコンバ
ータ106に接続されておシ、入力信号の差が増幅され
て、A/Dコンバータ106に出力される。すなわち、
プリアンプ220の出力に対して、補償プリアンプ22
2から出力される補償電圧による補償が行なわれ、蓄積
電荷すなわち光積分に対応する信号がA/Dコンバータ
106に入力され、ディジタル信号に変換されるように
構成されている。
A/Dコンバータ106には記憶回路102が接続され
ており、ディジタル化された光積分に対応する信号が記
憶されるようになっている。記憶回路102には、演算
回路108が接続されておシ、記憶されたデータが出力
される。演算回路108では、入力されるデータに従っ
て焦点検出の演算が行なわれる。演算回路108は、レ
ンズ駆動回路110、クロック供給回路700のマルチ
プレクサ702及び制御条件発生回路900のORゲー
) 902に各々接続されており、これらに対して演算
の結果に対応する信号が各々出力される。レンズ駆動回
路110では、入力される信号に基づいてレンズ駆動が
行なわれ、焦点の設定が行なわれる。
次に、クロック供給回路700について説明する。
クロック供給回路700は、発振器704.カウンタ7
06及びマルチプレクサ702を各々有している。
発振器704は、カウンタ706に接続されておシ、史
にカウンタ706はマルチプレクサ702に接続さレテ
イる。発振器704では、一定の周期のパルスが発生さ
れてカウンタ706に出力される。カウンタ706では
、入力されるパルスが分周され、周期の異なる2つのク
ロックパルスが形成されて各々マルチプレクサ702に
出力される。マルチプレクサ702では、前述した演算
回路108から入力される信号に従って、入力される2
つのクロックパルスのうちいずれか一方が選択されて出
力される。
次に、制御条件発生回路900について説明する。
制御条件発生回路900は、ORゲート902と、プル
アップ抵抗904が接続されたスイッチ906を各々有
している。ORゲート902は、上述した演算回路10
8が接続されておシ、レンズ駆動回路110に入力され
る信号が入力される。この信号に基づbてレンズ駆動の
動作が行なわれているときにはORゲート902から論
理値rHJのレベルの信号が発光制御回路800に対し
て出力され、発光装置1000の発光が防止されるよう
になっている。他方、スイッチ906は、一端がアース
されておシ、他端がプルアップ抵抗904及び発光制御
回路800 K各々接続されている。スイッチ906は
、発光装置1000の発光が必要とされるときは、「O
N」となシ、他端が論理値のrLJとなる。発光が必要
とされないときはrOFFJとなり、他端が論理値のr
HJとなる。
次に1積分検出回路400について説明する。
積分検出回路400は、インバータ402、MOSスイ
ッチ404、コンパレータ406、積分型受光素子40
8、基準電圧発生器410,412を各々有している。
積分型受光素子408は、そのアノード側がアースされ
ておシ、そのカソード側は、MOSスイッチ404のソ
ース及びコンパレータ406の反転入力端子に各々接続
されている。この積分型受光素子408には、積分型受
光素子アレイ202 、204に入射する光の一部が入
射し、積分型受光素子アレイ202 、204で行なわ
れる光積分のモニターが行なわれる。MOSスイッチ4
04のゲートには、インバータ402が接続されてお、
Q、MOSスイッチ404のドレインには、基準電圧発
生器410がアースとの間に接続されている。この基準
電圧発生器410は、積分型受光素子408の光積分開
始時における基準のレベルないしはポテンシャルを与え
るものである。コンパレータ406の非反転入力端子に
はアースとの間に基準電圧発生器412が接続されてい
る。この基準電圧発生器412は、積分型受光素子40
8の光積分終了のレベルないしはポテンシャルを与える
ものである。MOSスイッチ404は、積分開始時にお
いて、駆動回路300から出力される信号にょシ積分型
受光素子408に対して基準電圧発生器410の基準電
圧VRが印加されるように動作する。コンパレータ40
6では、積分型受光素子408の光積分の進行にともな
って変化するカソード側のポテンシャルと、基準電圧発
生器412によって与えられる基準電圧■とが比較判断
され、出方の論理値が積分終了とともに反転される。こ
の出方は、駆動回路300及び低輝度検出回路600に
対して出方される。
次に、基準時間発生回路500について説明する。
基準時間発生回路500は、カウンタ502によって構
成されておシ、そのクロック入力端子CKにはマルチプ
レクサ702が接続されておシ、出方端子には低輝度検
出回路600が接続されている。また、リセット端子に
は、駆動回路300の積分開始信号が入力されている。
カウンタ502では、マルチプレクサ702から選択さ
れて出方されるクロックパルスに従って、一定のカウン
トが行なわれ、これによって一定時間の計時が行なわれ
る。この計時が終了すると、低輝度検出回路600に対
して信号が出力される。
次に、低輝度検出回路600について説明する。
低輝度検出回路600は、フリップフロップ602によ
って構成されており、クロック端子CKKは、カウンタ
502が接続されており、リセット端子Rには、コンパ
レータ406の出力が供給されている。
フリップフロップ602では、クロック端子CK及びリ
セット端子Rの入力が参酌され、反転出力Qが発光制御
回路800に対して出力される。
次に、発光制御回路800について説明する。
発光制御回路800は、3人力のORゲート802によ
って構成されている。ORゲート802の入力には、低
輝度検出回路600のフリップフロップ602の反転出
力端子、制御条件発生回路900のORゲート902の
出力端子及びスイッチ906の一端が各々接続されてい
る。また、ORゲート802の出力には、発光装置10
00が接続されている。ORゲート802は、入力の条
件に従って、出力の論理値が反転し、これが発光装置1
000に対して出力される。この論理値がrLJの場合
に、発光装置1000が作動して発光することとなる。
次に、発光装置1000について説明する。
第3図には、発光装置1000の第一の構成例が示され
ている。この図において、電源1002は、昇圧回路1
004に接続されておシ、更に昇圧回路1004は、ダ
イオード1006のアノード側に接続されている。
このダイオード1006のカソード側は、ダイオード1
oos、 1o1oのアノード、補助コンデンサ101
2に各々接続されている。ダイオード1008のカソー
ド側は、主コンデンサ1014 、サイリスタ1016
のアノード及びトリガ回路1018.1020に各々接
続されている。ダイオード1010のカソード側は、サ
イリスタ1016のカソード、抵抗1022及び発光管
1024のアノードに接続されている。
補助コンデンサ1012は、その一端はすでに述べたよ
うに、ダイオード1006のカソード側に接続され、他
端は、アースされている。主コンデンサ1014の一端
は上述の接続のとおシであシ他端はアースされている。
サイリスタ1016のゲートは、抵抗1022及び10
26に各々接続されている。このサイリスタ1016の
点弧は、トリガ回路1018によって行なわれ、発光管
1024の発光は、トリガ回路1020によって行なわ
れる。トリガ回路1018には、インバータ1028の
出力端子が接続されてオシ、このインバータ1028の
入力端子には、後述するX接点の信号が入力される。
トリガ回路1020には、NANDゲート1030の出
力端子が接続されており、このNANDゲート1030
の入力端子には、X接点の信号と、発光制御回路800
から出力される信号とが各々入力されるようになってい
る。発光制御回路800から出力される信号は、低輝度
あるいは低コントラストの状態を表わすものであり、X
接点の信号は、カメラなどの撮像装置(第4図参照)の
シャッターなどと連動するフラッシュのだめのスイッチ
が操作されることによって出力される信号である。
次に、各部分の機能について説明する。
まず、昇圧回路1004は、電源1002の電圧を昇圧
して、ダイオード1006に出力する。この電圧は、ダ
イオード1006で順電圧降下分変化してダイオード1
008.1010及び補助コンデンサ1012に供給さ
れる。この電圧は、更にダイオード1008で順電圧降
下分変化して主コンデンサ1014、サイリスタ101
6及びトリガ発生回路1018,1020に対して供給
される。ダイオード1010は、補助コンデンサ101
2に蓄積された電荷を、発光管1024に対して導びく
ためのものでsb、更には、サイリスタ1016がON
したときに流れる電流の逆流を防止するためのものであ
る。補助コンデンサ1012には、低輝度発光時及びX
接点発光時に電荷が蓄積される。主コンデンサ1014
には、X接点発光時の電荷が蓄えられる。
サイリスタ1016は、主コンデンサ1014に蓄積さ
れた電荷を放電するだめの放電路である。
トリガ回路1018は、インバータ1028から論理値
rHJの信号が入力されると作動し、このトリガ回路1
018が動作すると、一定の電圧が抵抗1022.10
26によって分圧され、サイリスタ1016のゲートに
印加されてこれによシサイリスタ1016はONする。
トリガ回路1020は、NANDゲー日030の出力に
よつて作動し、発光管1024を発光させる。すなわち
、を助コンデンサ1012あるいは主コンデンサ1o1
4に蓄積された電荷が発光管1024を介して放電され
る。
次に、第3図に示されている発光装置1000の動作に
ついて説明する。
まず、コンデンサ1012.1014には、電源100
2によシ昇圧回路1004 、ダイオード1006.1
008を介して電荷が蓄積される。
発光制御回路800(第2図参照)の出力が論理値のr
LJになると、NANDゲート1030の出力はrf(
jとなる。これKよってトリガ回路1020が作動して
、発光管1024が導通する。
このため、補助コンデンサ1012に蓄積されている電
荷がダイオード1010を介して発光管1024で放電
されることとなり、低輝度時の発光がなされる。
他方、主コンデンサ1014に蓄積された電荷は、トリ
ガ回路1018が付勢されないため、サイリスタ101
6が導通せず放電されない。
次に、X接点が「ON」となって発光する場合は、低輝
度時の発光動作と同様にまずNANDゲー) 1030
の出力がrHJとなって補助コンデンサ1012の電荷
が放電され、更に、インバータ1028の出力がrHJ
となってトリガ回路1018が作動し、サイリスタ10
16のゲートに電圧が印加されてサイリスタ1016が
導通状態となる。このため主コンデンサ1014に蓄積
されている電荷も放電されることとなる。
すなわち、低輝度時には、補助コンデンサ1012の放
電によって発光が行なわれ、X接点が「ON」となった
時には、補助コンデンサ1012の他に、主コンデンサ
1014も放電することによって発光が行なわれる。従
って、発光量は、コンデンサ1012゜1014に蓄積
される電荷の量によって決定されることとなり、コンデ
ンサ1012.1014の容量を適肖に設定することに
よって発光量を制御することができる。
第4図には、発光装置1000の他の構成例が示されて
いる。
この図において、カメラ装置1100には、ストロボ装
置1200が設けられている。発光回路1300.14
00は、同様の構成となっている。発光回路1300は
、補助発光窓1202を通して発光を行い、発光回路1
400は、主発光窓1204を通して発光を行う。
発光回路130C)、1400において、電源1302
.1402は、昇圧回路1304.1404に各々接続
されておシ、昇圧回路1304.1404は、ダイオー
ド1306.1406のアノード側に各々接続されてい
る。
ダイオード1306.1406のカソード側は、コンデ
ンサ1308.1408に各々接続されるとともに、ト
リガ回路1310,1410及び発光管1312.14
12に各々接続されている。
トリガ回路】310には、前記発光制御回路800の出
力が入力されるようになっておシ、トリガ回路1410
には、X接点「ON」時の信号が入力されるよう罠なっ
ている。
この第4図に示されている回路の動作は、第3図に示さ
れている回路の発光動作と同様である。
すなわち、トリガ回路1310.1410が作動すると
、発光管1312.1412が導通され、電源1302
.1402によって蓄積されたコンデンサ1308.1
408の電荷が放電され、発光管1312.1412に
よる発光が行なわれる。低輝度時においては、発光回路
1300が動作し、X接点動作時には、発光回路140
0が動作する。
次に、上記実施例の全体的動作について第5図ないし第
8図のタイムチャートを参照しながら説明する。なお、
第5図ないし第8図のタイムチャートにおいて、(ト)
Kは駆動回路300の出力SA、CB)にはカウンタ5
02の出力SB、C)にはコンパレータ406の出力S
C、(ハ)にはフリップフロップ602の出力SD、[
F]には演算回路108の出力SE、[F]には制御条
件発生回路900の出力SF又はSG、C)にはORゲ
ート802の出力SR,Hには積分型受光素子408の
積分波形SI 、 (I)には発光装置10000発光
波形が各々示されている。出力SA 、 SB 、・・
・・・・、SIは、第2図に示されている。
まず、第5図に基づいて、輝度、コントラストともに十
分である場合について説明する。この場合には、短時間
で光積分あるいは焦点検出が可能である。従って、本発
明にかかる焦点検出装置では、格別の動作は行なわれず
、通常の焦点検出の動作が行なわれる。
受光回路200には、被写体(図示せず)から十分な輝
度すなわち光量の光が入射する。これによって、積分型
受光素子アレイ202,204に電荷が蓄積され、更に
はプリアンプ220を介して電圧として差動増幅器10
4に入力される。この入射光に関するデータは、記憶回
路102に記憶され、更には、演算回路108に出力さ
れて、焦点検出の演算が行なわれる。そして、出力SE
は、論理値のrLJに設定される(第5図(へ)参照)
。これがマルチプレクサ702に入力されるため、周期
の長いクロックパルスが選択されてカウンタ502に出
力されることとなる。他方、制御条件発生回路900の
出力SF。
SGは、ともに「L−1となり(第5図面参照)、ON
ゲ−ト802は、バッファとして動作する。
第5図の時刻tA1において、駆動回路300の出力S
Aが[H−1となると(第5図囚参照)、カウンタ50
2がリセットされ、その出力SBはrLJとなる(第5
図(B)参照)。また、MOSスイッチ404のゲート
は、インバータ402によって「L」になるため、MO
Sスイッチ404のンース・ドレイン間が導通すなわち
「ON」の状態となる。これによって、コンパレータ4
06の反転入力端子のレベルが基準電圧■となる。コン
パレータ406の非反転入力端子のレベルは基準電圧n
であシ、■〉■(第5図0参照)であるから、コンパレ
ータ406の出力SCは反転してrLJとなる(第5図
C)参照)。これによってフリップフロップ602のリ
セットが解除される。
なお、出力SDはrHJである(第5図0参照)。この
出力SDは、ORゲート802がバッファとして動作し
ているため、ORゲート802の出力SHもrHJとな
る(第5図G)参照)。他方、積分型受光素子408の
積分波形SIは、基準電圧■のレベルとなっている(第
5図0参照)。
次K、時刻TA2において、駆動回路3C)0の出力S
AがrLJとなると(第5図囚参照)、カウンタ502
のリセットが解除され、マルチプレクサ702から出力
される長周期のパルスのカウントによる計時が開始され
る。同時に、MOSスイッチ404のゲートは、インバ
ータ402によってrHJとなシ、「0FFJ  の状
態となる。これによって、積分型受光素子408の積分
が開始され、輝度に応じて積分波形SIが変化する(第
5図1参照)。
こ・の光積分が進行し、時刻TA3において、積分波形
SIが基準電圧■となると(第5図0参照)コンパレー
タ406の出力SCが反転してrHJとなる(第5図C
)参照)。すなわち、光積分は終了し、フリップフロッ
プ602にリセットがかけられて出力SDはrHJの状
態に維持される。
他方、時刻TA4においてカウンタ502の計時が終了
し、出力SBはrHJとなる(第5図の)参照)。
すなわち、輝度が十分であるため、光積分に要する時間
TA2〜TA3の方が、カウンタ502の計時による時
間TA2〜TA4よシも短い。カウンタ502の出力S
Bは、フリップフロップ602に対して入力されるが、
フリップフロップ602は時刻TABにおいてリセット
がかけられた状態にあるため、フリップフロップ602
の出力SDは変化せずrHJのままである。時刻TA5
においては、駆動回路300の出力がrHJとなり、以
後、新たな光積分動作が行なわれる。
以上のように、ORゲート802の出力SHは、rHJ
の状態が変化しないため、発光装置1oooによる発光
は行なわれない(第5図(I)参照)。
次に、第6図に基づいて、低輝度でありでも発光を行わ
ない場合について説明する。この場合には演算回路10
8の出力SEは、rLJである(第6図(ト)参照)。
従って、上述した場合と同様にマルチプレクサ702で
は長周期のクロックパルスが選択されてカウンタ502
に出力される。他方、制御条件発生回路900の出力S
F、SGのうち少なくとも一方はrHJに設定される(
第6図面参照)。従って、ORゲート802の出力SR
は、常にrHJとなる。このだめ、発光装置1000に
よる発光は行なわれない(第6図(I)参照)。
なお、参考までに各部の動作を説明すると、以下の通9
となる。第6図の時刻TBIにおいて、駆動回路300
の出力SAがrHJとなると(第6図(4)参照)、カ
ウンタ502がリセットされ、その出力SBがrLJと
なる(第6図の)参照)。また、MOSスイッチ404
は「ON」となシ、コンパレータ406の反転入刃端子
のレベルは、基準電圧■となる。非反転入力端子のレベ
ルは基準電圧豆であるから、コンパレータ406の出力
SCは、rLJとなる(第6図C)参照)。これによっ
てフリップフロップ602のリセットが解除される。出
力SDは1mJである(第6図0参照)。なお、積分型
受光素子408の積分波形SIは、基準電圧■のレベル
である(第6図0参照)。
次に、時刻TB2において駆動回路300の出力SAが
反転してrLJになると(第6図0参照)、カウンタ5
02のリセットが解除されて長周期のクロックパルスに
よる計時が開始される。まだ、MOSスイッチ404の
ゲートがrHJとなってrOFFjの状′態となるため
、積分型受光素子408の積分が開始され、輝度に対応
して積分波形SIが変化してゆく(第6図0参照)。
次に、時刻TB3に至ると、カウンタ502の計時が終
了し、出力SBがrHJとなる(第6図の)参照)。
この計時された時間TB2〜TB3は、第5図に示され
ている時間TA2〜TA4に一致する。このため、7リ
ツプフロツプ602の出力SDが反転してrLJとなり
(第6図0参照)、これがORゲート802に入力され
ることとなる。しかし、ORゲート802には、制御条
件発生回路900からrHJの信号が入力されているた
め、ORゲート802の出力はrHJのまま変化しない
(第6図G)参照)。従って、発光は行なわれない(第
6図(I)参照)。
他方、積分型受光素子408の積分波形SIは、低輝度
の入射光に対応して徐々に変化し、時刻TB4に至るに
おいて、基準電圧■のレベルを切ることとなる(第6図
面参照)。このため、コンパレータ406の出力SCが
反転してrHJとなシ(第6図C)参照)、更には、フ
リップフロップ602がリセットされて出力SDはrH
Jとなる(第6図0参照)。
時刻TBSにおいて駆動回路300の出力SAがrHJ
となると、次の新たな光積分動作が行なわれる。
以上の例においては、低輝度であるため、第5図に示し
た例と異なって、光積分に要する時間TB2−〜TB4
は、カウンタ502の計時時間TB2〜TB3よシも長
くなる。
次に、第7図に基づいて、低輝度であって発光が行なわ
れる場合について説明する。低輝度の場合には、光積分
に長時間を必要とし、また場合によっては焦点検出を行
うことができない場合も生ずるが、発光が行なわれるこ
と圧よって、これらの不都合が解消される。
前述した場合と同様にして演算回路108の出力SEは
、rLJであシ(第7図面参照)、このため、マルチプ
レクサ702では長周期のクロックパルスが選択されて
カウンタ502に入力される。他方、制御条件発生回路
900の出力SF 、 SGは、いずれもrLJである
(第7図[F]参照)。従って、ORゲート802は、
バッファとして動作することとなる。
時刻Telにおいて、駆動回路300の出力SAがrH
Jとなると(第7図(4)参照)、カウンタ502がリ
セットされ、その出力SBはrLJとなる(第7図の)
参照)。また、MOSスイッチ404は「ON」となシ
、コンパレータ40Gの反転入力端子のレベルが基準電
圧■となる。従って、コンパレータ406の出力SCが
「L」となり(第7図C)参照)、更にはフリップフロ
ップ602のリセットが解除される。出力SDはrHJ
である(第7図0参照)。この出力SDは、そのままO
Rゲート802の出力SHとなる(第6図0参照)。他
方、積分型受光素子408の積分波形SIは、基準電圧
■のレベルとなっている(第6図0参照)。
次に、時刻TA2において、駆動回路300の出力SA
がrLJとなると(第6図0参照)、カウンタ502の
リセットが解除され、長周期のクロックパルスによる計
時が開始される。同時に、積分型受光素子408の積分
が開始され、輝度に応じて積分波形SIが変化する(第
7図0参照)。
この光積分が進行し、時刻TC3に至ると、カウンタ5
02の計時が終了し、出力SBがrHJとなる(第7図
の)参照)。この計時された時間TC2〜TC3は、第
5図ないし第6図に示されている時間TA2〜TA4゜
TB2〜TB3に一致する。このため、フリップフロッ
プ602の出力SDが反転してrLJとなり(第7図0
参照)、と・れがORゲート802の出力SHとなる(
第6図0参照)。この出力SHが発光装置1oooに入
力されるため、発光が行なわれる(第7図(I)参照)
この発光は、被写体を介して積分型受光素子408に入
射するため、光積分の動作が促進されて積分波形SIが
急激え変化し、時刻TC4において基準電圧■を切るこ
ととなる(第7図0参照)。すなわち、光積分が終了す
る。このため、コンパレータ406の出力SCが反転し
てrHJとなり(第7図C)参照)、更には、フリップ
フロップ602がリセットされて出力≦DがrHJとな
る(第7図0参照)。従って、ORゲート802の出力
SHも「H」となる(第7図G)参照)。
時刻TC5において駆動回路300の出力SAがrI(
J、となると、次の新たな光積分動作が行なわれる。
以上の例にお込ては、低輝度であるため、第6図に示し
た例と同様に、光積分に要する時間TC2〜TC4は、
カウンタ502の計時時間TC2〜TC3よシも長くな
る。しかし、発光が行なわれるため、光積分に要する時
間TC2〜TC4は、第6図の例における時間TE2〜
TB4よシも大幅に短縮されている。
次に、第8図に基づ込て、低輝度でなくても発光が行な
われる場合にっbて説明する。例えばコントラストが低
いために、焦点の検出を良好に行うことができなか場合
である。
この場合には、演算の結果、演算回路108の出力SE
は、rHJに設定される(第8図[F]参照)。このだ
め、マルチプレクサ702では、短周期のクロックパル
スが選択されてカウンタ502に入力される。他方、制
御条件発生回路900の出力SF、SGはいずれも「L
」であシ(第8図面参照)、ORゲート802は、バッ
ファとして動作することとなる。
時刻TDIにおいて、駆動回路300の出力SAがrH
Jとなると(第8図(4)参照)、カウンタ502カリ
セツトされ、その出力SBは「L」となる(第8図03
)参照)。また、MOSスイッf 404 it、 r
 ONJ トfx F)、コンパレータ406の反転入
力端子のレベルが基準電圧■となる。従って、コンパレ
ータ406の出力SCが[Lコとなシ(第8図0参照)
、更には、フリップフロップ602のリセットが解除さ
れる。出力SDはrHJである(第8図0参照)。この
出方は、そのままORゲート8o2の出力SHとなる(
第8図G)参照)。他方、積分型受光素子40Bの積分
波形SIは、基準電圧■のレベルとなっている(第8図
面参照)。
次に、時刻TD2におりて、駆動回路300の出力SA
がrLJとなると(第8図(4)参照)、カウンタ50
2のリセットが解除され、短周期のクロックパルスによ
る計時が開始される。同時に、積分型受光素子408の
積分が開始され、輝度に応じて積分波形SIが変化する
(第8図面参照)。この例においては、輝度が低くない
ので、積分波形SIの変化の程度すなわち傾きは、第6
図又は第7図に示されている場合よシも大きなものとな
る。
時刻TD3に至ると、カウンタ502の計時が終了し、
出力SBがrHJとなる(第8図の)参照)。この計時
された時間TD2〜TD3は、第4図ないし第6図に示
されている時間TA2〜TA4 、 TB2〜TB3 
TC2〜TC3とは一致せず、短い時間となっている。
すなわち、第4図ないし第6図に示されている例では、
長周期のクロックパルスのカウントによって計時が行な
われたのに対し、この例においては、短周期のクロック
パルスのカウントによって計時が行なわれるからである
出力SBは、フリップフロップ602に入力されている
ため、フリップフロップ602の出力SDが反転してr
LJとなシ(第8図(D)参照)、これがORゲート8
02の出力SHとなる(第7図0参照)。この出力SH
が発光装置1000に入力されるため、発光が行なわれ
る(第8図(I)参照)。この発光によって光積分が促
進され、時刻TD4において積分波形SIが基準電圧■
を切ることとなる(第8図面参照)。
すなわち、光積分が終了する。このため、コンパレータ
406の出力SCが反転してrHJとなi)(第8図C
)参照)、更拠は、フリップフロップ602がリセット
されて出力SDがrHJとなる(第8図(6)参照)。
従ってORゲート802の出力SHも「HJとなる(第
8図G)参照)。
時刻TD5以後は、次の新たな光積分動作が行なわれる
。なお、第8図0において、■sは、積分型受光素子4
08による積分が飽和によって停止するレベルを表わし
ている。
以上の例においては、カウンタ502の計時時間を短縮
することによって、発光が行なわれ、発光によりコント
ラストが強調されて良好な検出が行なわれる。
以上述べ゛たように、本発明例よれば、低輝度の状態が
検出されると、発光を行うこととしたので、短時間で光
積分のデータを得ることができ、これによって低輝度時
においても手ぶれなどの影響を受けることなく良好に短
時間で焦点の検出を行うことができ、また、コントラス
トが低い場合にも発光を行うこととしたので、良好に広
範囲の条件下において焦点検出を行うことができるとい
う効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる焦点検出装置の基本的な構成を
示すブロック図、第2図は本発明にかかる焦点検出装置
の詳細な構成例を示すブロック図、第3図は発光装置の
構成例を示す回路図、第4図は発光装置の他の構成例を
示す回路図、第5図(4)ないしくI)は第2図の装置
の動作例を示すタイムチャート、第6図(ホ)ないしく
I)は他の動作例を示すタイムチャート、第7図(A)
ないしくI)は更に他の動作例を示すタイムチャート、
第8図(5)ないしくI)は更に他の動作例を示すタイ
ムチャートである。 800・・・発光制御回路(駆動手段)、900・・・
制御条件発生回路(駆動条件指定手段)、1000・・
・発光装置(発光手段)、1024 、1312 、1
412・・・発光管(発光体)。 出願人 旭光学工業株式会社 (A)  駆動回路300の出力5A CB)  カウンタ502の出力5B (C)  コンパレータ406の出力5c(D)  フ
リップフロップ602の出力5D(E)  演算回路1
0Bの出力5E (F)  制御条件発生回路900の出力SF。 G (G)  ORゲート802の出力5H()()  積
分型受光素子408の積分波形S■(I)  発光装置
’10000発光波形第8図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  被写体にかかる光を受光して焦点検出の演算
    を行う演算制御手段が備えられた焦点検出装置において
    、 該装置は、低輝度検出手段、駆動条件指定手段、駆動手
    段及び発光手段を各々含み、前記低輝度検出手段は、前
    記被写体にかかる光が低輝度の状態にあることを検知し
    て信号を駆動手段に出力し、 前記駆動条件指定手段は、前記演算制御手段による焦点
    検出の演算結果又は外部条件に従って駆動条件を指定す
    る信号を前記駆動手段に出力し、 前記駆動手段は、入力される信号に基づいて前記発光手
    段の発光動作を制御することを特徴とする焦点検出装置
  2. (2)  前記低輝度検出手段は、積分検出回路、計時
    回路及び低輝度検出回路とを各々含み、該積分検出回路
    は、積分型受光素子の光積分の終了時に信号を低輝度検
    出回路に出力し、該計時回路は、焦点検出の演算結果に
    より設定される時間の計時を行い、その終了時に信号を
    低輝度検出回路に出力し、 該低輝度検出回路は、入力される信号を比較して低輝度
    の状態を判断し、信号を駆動手段に出力する特許請求の
    範囲第1項記載の焦点検出装置。
  3. (3)  前記発光手段は、第−及び第二の発光体を含
    み、 該第−の発光体は、その発光動作が前記駆動手段によっ
    て制御され、 該第二の発光体は、撮像時に駆動制御される特許請求の
    範囲第1項又は第2項記載の焦点検出装置。
  4. (4)  前記発光手段は、前記駆動手段によって制御
    される発光体を含み、 該発光体は、撮像時も駆動制御される特許請求の範囲第
    1項又は第2項記載の焦点検出装置。
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