JPH06313841A - 測光装置と測光方法 - Google Patents

測光装置と測光方法

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JPH06313841A
JPH06313841A JP5104644A JP10464493A JPH06313841A JP H06313841 A JPH06313841 A JP H06313841A JP 5104644 A JP5104644 A JP 5104644A JP 10464493 A JP10464493 A JP 10464493A JP H06313841 A JPH06313841 A JP H06313841A
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JP
Japan
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light
clock signal
photoelectric conversion
conversion unit
source
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Withdrawn
Application number
JP5104644A
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English (en)
Inventor
Katsuo Kawamura
佳津男 河村
Jun Hasegawa
潤 長谷川
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Fujifilm Holdings Corp
Fujifilm Microdevices Co Ltd
Original Assignee
Fujifilm Microdevices Co Ltd
Fuji Photo Film Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 電荷蓄積型受光素子を用いた測光技術に関
し、ストロボ光のような非定常光の場合にも適用可能な
電荷蓄積型測光技術を提供することを目的とする。 【構成】 入射光を受光し、積分受光光量に応じた電圧
を発生する光電変換部(PEC)と、前記光電変換部の
発生する電圧を基準電圧と比較し、両者が一致した時に
検出信号を発生する比較回路(CMP)と、入力するク
ロックパルスをカウントするカウンタ(CNT)と、前
記比較回路と前記カウンタとに接続され、比較回路の検
出信号に基づき、前記カウンタのカウント値を取り込む
記憶手段(L)と、前記光電変換部が受光動作を開始し
た後の受光時間を表すクロック信号を発生する第1クロ
ック信号源(CLK、NCL)と、補助発光源が発光を
開始した後の発光時間を表すクロック信号を発生する第
2のクロック信号源(STR、SCLK、MMV)と、
前記第1のクロック信号源、第2のクロック信号源を選
択的に前記カウンタに接続する切換スイッチ手段(SC
W)とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は測光技術に関し、特に電
荷蓄積型受光素子を用いた測光技術に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、カメラ等の光学器械の自動焦点合
わせ方法としては、アクティブ方式とパッシブ方式が実
用化されている。
【0003】パッシブ方式は、被写体からの反射光を検
出して測距を行なう方式である。したがって、一定の光
量を必要とし、基準値以下の暗さの場合には、測距不可
能である。このような暗い場合にも測距可能とするため
に、赤外線等の補助光を被写体に照射する方法が採用さ
れている。
【0004】しかし、この方法では、赤外線等の発光装
置が必要となり、自動焦点装置が高価になる。この補助
光の光源としてストロボを使用できれば、自動焦点用測
距に特別の光源を用意する必要がなくなるため、自動焦
点装置の低価格化が可能となる。
【0005】図5(A)は、従来例(特開平2−603
80号)による電荷蓄積型光センサの回路図である。フ
ォトダイオード51のカソードが電源電圧VDDに、その
アノードがスイッチ50を介してグランド(接地)電位
Eに、逆バイアス方向に接続されている。
【0006】コンデンサ52は、フォトダイオード51
の接合容量である。また、フォトダイオード51のアノ
ードは、コンパレータ53の一方の入力に接続され、他
方の入力は基準電圧Vrに接続されている。
【0007】測定開始にあたっては、スイッチ50を短
時間閉成し、コンデンサ52を電源電圧VDDに充電す
る。すなわち、フォトダイオードのpn接合に逆バイア
スを印加し、空乏層を拡げてポテンシャル井戸を深くし
た状態にしておく。この際、フォトダイオード51のア
ノード側電圧Vは、一旦接地電位Eつまり“0”にリセ
ットされる。
【0008】スイッチ50の開放後は、フォトダイオー
ド51が受けている光の強度に比例する光電流が、フォ
トダイオード51を逆方向に流れることによって、コン
デンサ52が放電される。コンデンサ52の放電と共
に、フォトダイオードのアノード側電圧Vが上昇する。
【0009】この電圧Vは、コンパレータ53の一方の
入力(図示の場合、非反転入力端子)に与えられ、基準
電圧Vrと比較される。このコンパレータ53の出力S
は、スイッチ50の閉成により、ローの状態にリセット
される。電圧Vが上昇して基準電圧Vrに達した時に、
ハイの状態に切り換わる。
【0010】スイッチ50を開放した時点からの経過時
間をt、フォトダイオード51を流れる光電流をIn
(t)、コンデンサ52の静電容量をC、フォトダイオ
ード51のアノード側の電位をV(t)、コンデンサ5
2に蓄積された電荷をQ(t)とすると、
【0011】
【数1】
【0012】となる。ここで、In(t)はコンデンサ
52が充電する方向を正としたため、In(t)の符号
は負になっている。今、フォトダイオード51が受けて
いる光が定常光とすると、In(t)は時間に依存せ
ず、一定と考えられるため、数式(1)は、
【0013】
【数2】 V(t)=In・t/C …(2) と変形できる。
【0014】したがって、電位V(t)が基準電位Vr
と等しくなるまでの時間をTnとすると、
【0015】
【数3】 In=CVr/Tn …(3) となる。
【0016】すなわち、コンパレータ53の出力Sがロ
ーの状態になっている時間Tn(電荷蓄積時間)を測定
することにより、光電流Inを求めることができる。時
間Tnは、クロックカウンタで容易にディジタル値に変
換することができる。
【0017】図5(B)は、図5(A)に示す光センサ
に定常光を入射した時のフォトダイオード51のアノー
ド側電位V(t)の時間変化を示す。上述のように、定
常光を入射した場合には、光電流が一定と近似できるの
で、電位V(t)は時間に比例して変化する。
【0018】図5(B)の直線p1は強い光、直線p3
は弱い光、直線p2はその中間の強さの光を入射した場
合の例である。図5(B)に示すように、直線p1がV
=Vrになる時間をT1 とすると、T1 が前記電荷蓄積
時間Tnに相当する。
【0019】一方、人物のストロボ撮影を行なうと、ス
トロボ光が目の網膜で反射され、目が赤く写される、い
わゆる赤目現象という問題がある。この赤目現象を防止
するために、ストロボによる撮影の直前に予備発光を行
ない、瞳孔を閉じさせた後に本発光を行なって撮影する
方法が考えられている。
【0020】この予備発光の時に、前記自動焦点合わせ
を行なうことができれば、自動焦点合わせ用に特別の補
助発光を行なう必要がなくなり、効率よく焦点合わせを
行なうことが可能になる。
【0021】そこで、ストロボ光の反射光を検出して、
光量信号として取り出すことのできる光センサが要望さ
れている。図5(C)は、非定常光を入射した時のフォ
トダイオード51のアノード側電位V(t)の時間変化
を示す。たとえば、ストロボのようなパルス的な発光の
場合である。図5(C)の曲線q1は強い光、曲線q3
は弱い光、曲線q2はその中間の強さの光を入射した場
合の電圧V(t)を示す。
【0022】この場合には、光電流In(t)が時間の
関数になる。ストロボ発光の光の強度が最大の時には、
光電流In(t)が最大になるため、グラフV(t)の
傾きが大きくなる。逆に、光の強度が弱い時には、光電
流In(t)が減少するため、グラフV(t)の傾きが
小さくなる。
【0023】図5(C)のt=0がストロボ発光開始、
t=TE が発光終了に対応している。t=TE 以後は、
光センサには非常に弱い光しか入射しないため、電圧V
(t)の上昇は、非常に緩やかである。
【0024】このように、ストロボ光を使用した場合に
は、電圧V(t)はストロボの発光と共に急激に立ち上
がり、発光が終了すると、ほとんど一定となる。曲線q
1の場合には、電圧V(t)はt=T1 で基準電圧Vr
に達する。曲線q2の場合には、ストロボ発光が終了し
た時には電圧V(t)は基準電圧Vrに達しておらず、
その後の非常に弱い光による光電流によってt=T2
基準電圧Vrに達する。
【0025】このような場合には、電圧V(t)が基準
電圧Vrに達するまでの時間長は、入射光量に比例しな
い。また、曲線q3のように、いつまで経っても基準電
圧Vrに達しないような場合も起こり得る。
【0026】したがって、図5(A)に示す電荷蓄積型
光センサは、ストロボ光のような非定常光の場合には適
さない。
【0027】
【発明が解決しようとする課題】入射光がストロボ光の
ような非定常光の場合には、フォトダイオードの光電
流、すなわち蓄積電荷電流が一定ではない。そのため、
光電流による電圧上昇が基準電圧に達するまでの時間を
測定することによって積分光量を推定する電荷蓄積型光
センサは、ストロボ光のような非定常光に対しては、適
用困難である。
【0028】本発明の目的は、ストロボ光のような非定
常光の場合にも適用可能な電荷蓄積型測光技術を提供す
ることである。
【0029】
【課題を解決するための手段】本発明の測光装置は、入
射光を受光し、積分受光光量に応じた電圧を発生する光
電変換部と、前記光電変換部の発生する電圧を基準電圧
と比較し、両者が一致した時に検出信号を発生する比較
回路と、入力するクロックパルスをカウントするカウン
タと、前記比較回路と前記カウンタとに接続され、比較
回路の検出信号に基づき、前記カウンタのカウント値を
取り込む記憶手段と、前記光電変換部が受光動作を開始
した後の受光時間を表すクロック信号を発生する第1ク
ロック信号源と、補助発光源が発光を開始した後の発光
時間を表すクロック信号を発生する第2のクロック信号
源と、前記第1のクロック信号源、第2のクロック信号
源を選択的に前記カウンタに接続する切換スイッチ手段
とを有する。
【0030】また、本発明の測光方法は、入射光を受光
し、積分受光光量に応じた電圧を発生する光電変換部へ
の入射光量を測定する方法であって、第1のモードでは
光電変換部のリセットと同時に計時を開始し、光電変換
部の出力が所定値に達するまでの時間をクロック信号を
カウントすることによって計時し、第2のモードでは光
電変換部のリセット後、補助発光源の発光開始と同時に
計時を開始し、光電変換部の出力が所定値に達するまで
の時間をクロック信号をカウントすることによって計時
する。
【0031】
【作用】外界の光量が十分ある時は、外界の光を利用し
て測光を行なえばよい。光電変換部の受光時間を表す第
1クロック信号源からのクロック信号をカウントするこ
とにより、測光が行なえる。
【0032】外界の光量が不足し、ストロボ等の補助光
源を用いる場合は、発光が短時間に集中する。補助発光
源が発光していない期間は、光電変換部に入射する光量
はほとんどない。補助発光源が発光を開始した後の発光
時間を表す第2のクロック信号源からのクロック信号を
カウントすることにより、補助発光源を用いた時の測光
が容易になる。
【0033】第1のクロック信号源からのクロック信号
と、第2のクロック信号源からのクロック信号を選択的
にカウンタに導入し、カウントを行なうことにより、適
正な測光を行なうことが可能となる。
【0034】
【実施例】まず、従来の自動焦点合わせ装置を用い、定
常光およびストロボ光の下で自動焦点合わせ用測光を行
なった場合を説明する。自動焦点合わせ装置は、図5
(A)に示すような測光回路を複数個並列に有し、フォ
トダイオードからの出力電圧が基準電圧に達するまでの
時間を、経時的に周期が次第に長くなるパルス信号をカ
ウンタすることによって測定するものである。
【0035】図6(A)は、定常光を用いて測光を行な
った場合を示す。図6(A)左側の図は、複数個の光電
変換部のうち、最初のものが基準電圧に達する時間に立
ち上がり、最後のものが基準電圧に達する時間に立ち下
がるパルス信号の波形を示す。なお、光電変換部での蓄
積電荷の変化も合わせて示す。
【0036】最初の光電変換部が基準電位に達してか
ら、最後の光電変換部が基準電位に達するまでの時間は
代表的には十数msである。各光電変換部が基準電位に
達するまでの時間をパルス数から算出し、256階調に
変換して示すと、図6(A)右側のようなグラフとな
る。経時的に周期が次第に長くなるパルス信号を用いる
ことにより、受光開始から最初の光電変換部が基準電圧
に対するまでの時間カウントを省略することができる。
【0037】図6(B)は、図6(A)と同一の構成を
用い、十分な光量を有するストロボ発光によって測光を
行なった場合の結果を示す。図6(B)左側の図は、図
6(A)と同様、最も早い光電変換部が基準電位に達し
た時間に立ち上がり、最も遅い光電変換部が基準電位に
達した時に立ち下がる信号波形と、代表的な光電変換部
における蓄積電荷の変化を示すグラフである。
【0038】最初の光電変換部が基準電位に達してか
ら、最後の光電変換部が基準電位に達するまでの時間
は、代表的には数μsである。計時用パルス信号は、代
表的には周期2μs程度であり、実質的な測光期間であ
る数μs内に、たかだか数パルスしか存在しない。
【0039】このような情報に基づき、受光面内での光
量分布を取ると、図6(B)右側に示すグラフのように
なる。すなわち、視野内の階調が十分分解されず、極め
てコントラストの低い画像情報しか得られていない。
【0040】図6(C)は、ストロボ発光の強度を大幅
に低くした場合の実験結果を示す。この場合、全光電変
換部のうち基準電位に達するものも存在するが、基準電
位に達しない光電変換部も存在する。ストロボ光が消滅
した後は、積分受光量の変化は微少であるため、これら
の光電変換部は基準電位に到達することなく、測定を終
了してしまう。
【0041】これらの光電変換部については強制的に積
分操作を終了させ、入射光量を“0”とすると、図6
(C)右側に示すグラフに示すような光量分布が得られ
る。比較的入射光量の高い光電変換部に対して分解能は
向上しているが、入射光量の低い光電変換部については
測定結果が存在しない。
【0042】たとえば、基準部と参照部に複数の光電変
換部を備えた位相差相関演算型測距装置において、図6
(B)、(C)に示すような補助光源を用いた測距を行
なおうとすると、図6(B)の場合は測距精度が著しく
低減し、図6(C)の場合は、精度は幾分向上するもの
の、画面内の極めて明るい部分のみを測距対象とした部
分的な測距となってしまう。いずれの場合にも、得られ
る測距結果は満足できるものとはならない。
【0043】なお、図6ではハッキリ示されていない
が、補助光源を用いた場合、光電変換部のリセットと補
助光源の発光タイミングとは必ずしも一致しない。従来
のように、光電変換部のリセットと同時に、計時動作を
開始させると、得られる測定結果も不正確なものとな
る。
【0044】図1は、本発明の実施例による自動焦合用
測光装置の回路を示す。フォトダイオード等で構成され
た光電変換部PEC1、PEC2、…が一直線上に配列
されている。各光電変換部PECの出力は、コンパレー
タCMPの非反転入力端子に供給されている。
【0045】各コンパレータCMPの反転入力端子には
基準電圧が印加されている。各コンパレータCMPの出
力端子は、ラッチL1、L2、L3、…に供給されると
共に、オアゲートORに入力されている。
【0046】カウンタCNTは、入力するパルス信号を
カウントし、その出力をラッチL1、L2、L3、…に
供給する。各ラッチLは、コンパレータCMPの出力に
よってカウンタCNTの出力をラッチするように制御さ
れ、シフトレジスタSRの出力によってラッチしたカウ
ントをセンサデータとして出力する。
【0047】カウンタCNTは、切換スイッチCSWに
よって通常モードクロック発生回路NCLと、ストロボ
モードのクロック発生回路であるアンドゲートAND2
に接続されている。切換スイッチCSWは、通常モード
/ストロボモード切換信号によって切換られる。
【0048】通常モードクロック発生回路MCLは、ア
ンドゲートAND1を介してクロック発生器CLKおよ
びオアゲートORに接続されている。オアゲートORが
最初の検出信号を検出すると、その後、アンドゲートA
ND1はクロック発生器CLKの発生するクロック信号
を通過させる。
【0049】ストロボモード用クロック発生回路である
アンドゲートAND2は、ワンショットモノマルチバイ
ブレータMMVと、ストロボクロック発生回路SCLK
に接続されている。
【0050】ストロボトリガ発生回路STRは、ストロ
ボ発光用のタイミング信号を発生し、ストロボ発光回路
SF、ワンショットモノマルチバイブレータMMV、ス
トロボクロック発生回路SCLKに供給する。
【0051】ワンショットモノマルチバイブレータMM
Vは、ストロボトリガ信号を受けると、出力信号を立ち
上げ、外付けの抵抗R、キャパシタCによって定められ
る時定数経過後、出力信号を立ち下げる。
【0052】ストロボクロック発生回路SCLKは、ス
トロボトリガ発生回路STRからトリガ信号を受ける
と、クロック信号を発生し始める。ストロボクロック発
生回路SCLKの発生するクロック信号は、読出専用メ
モリROMに記憶されたパターンによって決定される周
期を有する。
【0053】ワンショットモノマルチバイブレータMM
Vの出力信号が立ち上がっている期間、ストロボクロッ
ク発生回路SCLKの発生するクロック信号は、アンド
ゲートAND2を通過し、切換スイッチSCWを介して
カウンタCNTに供給される。
【0054】図2は、図1の測光回路を通常モードに設
定した場合の動作を説明するためのグラフである。この
場合、切換スイッチSCWは、カウンタCNTを通常モ
ードクロック発生回路NCLに接続するように制御され
る。
【0055】図2において、最上段の信号は光電変換部
PECのリセット信号である。第2段目に示す信号は、
オアゲートORが最初の検出信号を検出した時に立ち上
がり、最後のコンパレータCMPが検出信号を検出した
時に立ち上がる信号の波形である。最後の検出信号の検
出は、ANDゲート等を用いて行なうことができる。
【0056】3段目に示される波形は、光電変換部にお
ける最も明るい部分の蓄積電荷の変化と、最も暗い部分
の蓄積電荷の変化を示す。これらの蓄積電荷が判定レベ
ルに達する瞬間が、OR/AND信号の立ち上がりと立
ち下がりに同期している。
【0057】図中、最下段に示すグラフは、通常モード
クロック発生回路NCLから切換スイッチSCWを通っ
てカウンタCNTに供給されるクロック信号の波形を示
す。コンパレータCMPが最初の検出を行なった後、計
数クロック信号はカウンタCNTに供給されている。こ
のクロック信号の発生タイミングは、光電変換部のリセ
ット後、最初の検出信号が検出されるまでの時間をT0
とすると、
【0058】
【数4】 T(n)=T0 ×2n /64 …(4) と対数的に変化するように制御される。
【0059】T0 から24 ×T0 の期間を変換期間と
し、nが0から255まで変化するようにクロックパル
スが発生する。このようなクロックパルス信号により、
画面内の明るさは256階調に分解することが可能であ
る。なお、以上説明した測光動作は、従来技術による測
光動作と同様である。
【0060】図3は、ストロボモードにおける測光回路
の動作を説明するための図である。この場合、図1に示
す回路中、切換スイッチSCWはカウンタCNTをアン
ドゲートAND2に接続するように制御される。
【0061】図3において、1段目の波形は光電変換部
のリセット信号を示し、2段目の波形はストロボからの
発光光量を示すストロボ波形である。なお、ストロボの
本発光の前に赤目防止の機能を兼ねて2回のストロボ予
備発光が行なわれる場合を示す。
【0062】図3の3段目の波形は、代表的な光電変換
部における光量積分波形を示す。積分した受光光量は、
ストロボ発光が存在する間、急激に立ち上がるが、スト
ロボ発光の光量がなくなるとほとんど変化しなくなる。
【0063】図3の4段目の波形は、ストロボトリガ信
号の波形を示す。ストロボは、ストロボトリガ信号が立
ち下がるタイミングに合わせて発光を開始する。図3の
5段目の波形は、図1の回路におけるワンショットモノ
マルチバイブレータMMVが発生するクロック発生信号
の波形を示す。用いるストロボが定まると、ストロボ波
形は定まるため、ストロボ光が実質的に存在する期間、
立ち上がる波形を時定数回路RCを調整することによっ
て設定しておく。
【0064】図3の最下段に示す波形は、アンドゲート
AND2を通過するストロボクロック信号の波形を概略
的に示す。図1に示すストロボクロック発生回路SCL
Kは、ストロボトリガによって起動され、図示の場合、
一定周期のクロック信号を発生する。
【0065】アンドゲートAND2がワンショットモノ
マルチバイブレータMMVからのクロック発生信号が存
在する時のみ、ストロボクロック信号の通過を許すた
め、得られるストロボクロック信号はクロック発生信号
が立ち上がっている期間のみ存在する信号となる。
【0066】このようなストロボクロック信号をカウン
トすれば、ストロボが発光している期間のみ計時を行な
うことができる。たとえば、ある光電変換部に接続され
たコンパレータCMPが、n番目のストロボクロック信
号と同時に検出信号を発生した場合は、そのタイミング
までストロボ波形信号を積分した面積に対応する光量が
発生していることになる。
【0067】ストロボ波形は時間と共に変化している
が、コンパレータCMPからの検出信号が得られたタイ
ミングによってそれまでに発生した光量をより忠実に示
す変数へ変換すること等により、精度の向上した測光を
行なうこともできる。
【0068】測光の結果、得られる画面の階調は、クロ
ック発生信号が立ち上がっている期間に発生するストロ
ボクロック信号の数に依存する。したがって、クロック
数を多くするほど測定精度が向上する。
【0069】なお、ストロボ波形は、ストロボトリガ信
号と共に急峻に立ち上がり、その後幾分緩やかに立ち下
がる波形を有する。このようなストロボ発光プロファイ
ルに対して、より精度の高い測光を容易に行なうため
に、ストロボクロックの周期を変化させてもよい。
【0070】図4は、本発明の他の実施例による修正ス
トロボモードを説明するための図である。図中最上段に
は、ストロボ発光プロファイルの光量波形を示す。この
光量を積分すると、図中2段目に示す波形となる。この
積分波形は、時々刻々変化する勾配を有するため、図中
3段目に示すような折れ線グラフで近似する。
【0071】この近似波形の勾配の逆数に対応するよう
に、図4の4段目に示すように、ストロボクロックの発
生タイミングを変化させる。折れ線近似の各直線部分に
おいては、周期を一定としている。
【0072】このようなストロボクロック信号の発生
は、たとえば図1に示す読出専用メモリROMに対応す
るデータを予め記憶し、ストロボクロック発生タイミン
グを制御することによって行なうことができる。
【0073】このように、従来技術と同様な定常光用の
測光回路と共に、ストロボからの発光を補助発光として
用いるストロボモード用回路を設けることにより、外界
の光量が十分ある時は、通常モードで測光を行ない、外
界の光量が不足する時は、ストロボ発光を補助光として
測光を行なうことができる。
【0074】ストロボモードにおいては、ストロボが発
光している期間のみクロック信号のカウントを行なうた
め、外界の光量が存在しない時にカウントのみを行なっ
て測定精度を劣化させることを防止できる。
【0075】また、ストロボが発光している期間に十分
な数のクロック信号を発生させることにより、所望の測
定精度を得ることができる。なお、ここで、ストロボが
発光している期間とは、実効的に測定に利用できる光量
が発生している期間を意味し、たとえばピーク光量の1
/100以上の光量が発生している期間を選択すること
ができる。
【0076】ストロボ発光プロファイルによる測定精度
の低下を防止するためには、一定周期のクロック信号を
用いた場合は、測定の結果得たカウントをルックアップ
テーブル等によってその瞬間までの積分発光光量に対応
した数に変換することが好ましい。
【0077】ストロボクロック信号の周期自身を、スト
ロボ発光の積分光量に対応させるように変化させれば、
クロック信号のカウントが直接ストロボからの積分発光
光量に対応する。
【0078】以上実施例に沿って本発明を説明したが、
本発明はこれらに制限されるものではない。たとえば、
種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者
に自明であろう。
【0079】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ストロボを補助光源として視野内の明るさないし光量分
布を高精度に測定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による自動焦合装置用測光回路
を示すブロック図である。
【図2】図1の測光回路の通常モードにおける動作を説
明するためのグラフである。
【図3】図1の回路におけるストロボモードの動作を説
明するためのグラフである。
【図4】図1の回路における修正ストロボモードの動作
を説明するためのグラフである。
【図5】従来の技術による自動焦合装置の測光回路およ
びその動作を説明するための回路図およびグラフであ
る。
【図6】従来の技術による測光回路を用い、ストロボ光
を補助光として測光を行なった場合の動作を説明するた
めのグラフである。
【符号の説明】 PEC 光電変換部 CMP コンパレータ L ラッチ CNT カウンタ SR シフトレジスタ CLK クロック発生器 SCLK ストロボクロック発生回路 CSW 切換スイッチ MMV ワンショットモノマルチバイブレータ STR ストロボトリガ発生回路 AND アンドゲート OR オアゲート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 5/232 J

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入射光を受光し、積分受光光量に応じた
    電圧を発生する光電変換部と、 前記光電変換部の発生する電圧を基準電圧と比較し、両
    者が一致した時に検出信号を発生する比較回路と、 入力するクロックパルスをカウントするカウンタと、 前記比較回路と前記カウンタとに接続され、比較回路の
    検出信号に基づき、前記カウンタのカウント値を取り込
    む記憶手段と、 前記光電変換部が受光動作を開始した後の受光時間を表
    すクロック信号を発生する第1クロック信号源と、 補助発光源が発光を開始した後の発光時間を表すクロッ
    ク信号を発生する第2のクロック信号源と、 前記第1のクロック信号源、第2のクロック信号源を選
    択的に前記カウンタに接続する切換スイッチ手段とを有
    する測光装置。
  2. 【請求項2】 前記光電変換部および比較回路が複数組
    設けられ、前記第1のクロック信号源は経時的に周期が
    次第に長くなるクロック信号を複数個の比較回路からの
    最初の検出信号発生から最後の検出信号発生まで発生す
    る請求項1記載の測光装置。
  3. 【請求項3】 前記第2のクロック信号源は、補助発光
    源が発光を開始した後、所定期間、クロック信号を発生
    する請求項1ないし2記載の測光装置。
  4. 【請求項4】 前記第2のクロック信号源が発生するク
    ロック信号は、補助発光源からの積分発光量の変化の逆
    数に対応した周期を有する請求項3記載の測光装置。
  5. 【請求項5】 入射光を受光し、積分受光光量に応じた
    電圧を発生する光電変換部への入射光量を測定する方法
    であって、第1のモードでは光電変換部のリセットと同
    時に計時を開始し、光電変換部の出力が所定値に達する
    までの時間をクロック信号をカウントすることによって
    計時し、第2のモードでは光電変換部のリセット後、補
    助発光源の発光開始と同時に計時を開始し、光電変換部
    の出力が所定値に達するまでの時間をクロック信号をカ
    ウントすることによって計時する測光方法。
  6. 【請求項6】 前記光電変換部が複数個あり、前記第1
    のモードでは経時的に周期が次第に長くなるクロック信
    号を複数個の比較回路からの最初の検出信号発生から最
    後の検出信号発生まで発生する請求項5記載の測光方
    法。
  7. 【請求項7】 前記光電変換部が複数個あり、前記第2
    のモードでの計時は補助発光源の発光開始から所定期間
    経過後は中止される請求項5記載の測光方法。
  8. 【請求項8】 前記第2のモードでは補助発光源からの
    積分発光量の変化の逆数に対応した周期を有するクロッ
    ク信号をカウントする請求項5〜7のいずれかに記載の
    測光方法。
  9. 【請求項9】 前記第2のモードで、補助発光源が複数
    回の発光を行ない、前記計時は各発光について所定期間
    内のみ行なう請求項5〜8のいずれかに記載の測光方
    法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009139914A (ja) * 2007-11-15 2009-06-25 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示装置
US11186931B2 (en) 2017-04-12 2021-11-30 Unitika Ltd. Process for producing needle-punched nonwoven fabric

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