JPS59191415A - ガス絶縁機器 - Google Patents

ガス絶縁機器

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JPS59191415A
JPS59191415A JP58063784A JP6378483A JPS59191415A JP S59191415 A JPS59191415 A JP S59191415A JP 58063784 A JP58063784 A JP 58063784A JP 6378483 A JP6378483 A JP 6378483A JP S59191415 A JPS59191415 A JP S59191415A
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JP
Japan
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insulating barrier
tank
gas insulated
gas
center conductor
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JP58063784A
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山極 時生
小沢 淳
隆志 白根
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕 本発明は、母線、遮断器、断路器、接地開閉器のような
種々の高電圧電気機器を、ガス絶縁媒体を封入したタン
ク内に収容したガス絶縁機器に関する。 〔発明の背景〕 このようなガス絶縁機器においては、製作、組立の過程
において、機器内に導電性異物が混入しないように充分
7゛よ注意かはられれる。しかしながら、組立後に小さ
な導電a異物が混入するの娑避けることはできず、又、
機器が司動i1s’に有するものであれば、その可動部
から導電性異物が発生し、いずれにしても、タンク内の
導′屯性異物を皆無にすることはできない。このような
導電性異物は電界等によりタンク内で浮遊し、機器の絶
縁上好ましくない結果ケ招くことがある。例えは、金属
線状の異物の場合には、比較的弱い電界下でも浮上し、
高電圧部あるいは絶縁支持物に接触し、大幅な絶縁低下
を惹き起こす危険性を生じる。これを第1図および第2
図に基づいて説明する。 第1図は従来のガス絶縁母線の断面図、第2図は第1図
に示す中心導体と導電性異物とのギャップに対する破壊
電圧の特性図である。図で、1は接地された円筒形状の
タンク、2はタンク1内にこれと同心状態で収容された
中心2!I体である。タンクl内には絶縁特性の責れた
S1′、ガス等が刺入されている。3はタンク内に混入
し、又はタンク内で発生した小さな導電性異物を示す。 もし、賦圧に変動があったり、又は機械的振動があった
りすると、導電性異物3は力を受けて図の点線に示すよ
うに絶縁ガス望間紮浮遊する場合がある。そして、この
導電性異物3は、捕るような状、暢を示しながら中心導
体2に接近する。 このように、浮遊する尋「a性異物3が存在する場合の
中心導体2とタンク1等の他の部分との間の破敵′wi
、EEは、中心導体2と導電性異物3とのギャップ長g
の影響全党け、これにより太き(変化することが実験に
より明らかにされている。第2図はギャップ長gに対す
る破壊取圧十゛。Vの特性を示すものである。図から明
らかなように、破壊電圧が最も低(なるのは、尋゛電住
異物3が中心導体2に接触する場合ではなく、中心導体
2から若干ギヤツブ長gイ、7だけ隔たっている場合で
ある。 このギャップ長gゎ、は、SF、lガス中において0.
2m〜1.0朝程度であることが実験によって見出され
ている。ギャップ長gか太き(なると、破壊電圧E’o
Vも急速に上昇1−ろ。 従来から、上記絶縁低下の危険性ヶ生じる導電性異物3
を捕獲する方法が釧々検討されてきているが、これを完
全に捕獲′1−るのは困91Lであり、現在に至っても
導電性異物3による絶縁低下の危険性は]祥消されてい
ない。 〔発明の目的〕 本発明の目的は、上記従来のli+1題点ケlljイ決
し、導゛籠性異物による絶縁低下を防止することができ
、υ・いては、絶縁的・性の優れたガス絶縁機器全提供
するにある。 〔発明の概要〕 この目的全達成するため、本発明は、接地されたタンク
とこのタンク内に収容された高電圧部との間の空1i4
1内において、等1に性異物が浮遊接近するおそれのあ
る高電圧部ケ選択し、この選択された部分に、この部分
と微少間N ’((隔てて絶縁バリヤを配置したこと葡
0畝とする。 し発明の実施例〕 以下、本発明を図示の実施例に基づいて8F絹に6兄明
′1″る。 第3図は不発明の絽1の実施扮1に係るガス絶縁〜、n
カの縦19+面図である。図で、第1図に示す部分と同
一部分には同一符号か付しである。10は中心m体2を
囲んで配置される絶縁バリヤ、11は中心導体2と絶縁
バリヤ10との間に介在するスペーサである。絶縁バリ
ヤ10は、エポキシ拉1脂又はテフロンのように絶縁ガ
ス内で使用しても劣化せ1゛、しかも、ガス空隙部の電
界年中T抑え宿る誘rH,率0)小さな材料で形成され
ろ。Tは杷Wζバリヤ10の厚み、Gはスペーサlli
/(mより保持された絶線バリヤ10の内壁と中心等体
20表面との間のギャップである。 本実施例では、唇電性yく物音捕獲する考えは採用せず
、導電性異物が中心高体2に接近するの
【妨げ、第2図
に示すキャップ長g勿大きくして破壊電圧■i″o■を
太き(し、絶縁低下盆防止するものである。即′ら、絶
X;、J芝バリヤ10ばこのために6己置されたもので
あり、高電圧部である中心導体2(l−絶縁バリヤjO
で囲むことにより、タンク1内に存在する導電性異物が
中心m体2に浮遊接近しようとしても、中心導体20表
面からキャップシ(G+T)以内には接近し得ないので
ある。さきに述べたように、ギャップ長g 、in I
t工0.2s*〜1.0tanであるので、前記キャッ
プ−*(U+’J’)?r数前節程度選定すれば、導電
性異物による7把縁低−Fは充分に阻止することができ
る。 このように、本実施例では、タンク内の尚賀正部である
中心導体を絶縁バリヤで包囲したので、タンク内に存在
する導電性異物は中心2Jト体に向っである範囲以上接
近することはできず、導電性異物による絶縁低下を防止
することかできる。又、中心導体表面と絶縁バリヤ内壁
との寸法を大きくすることにより、絶縁バリヤ金薄くす
ること\1できる。 第4図は本発明の第2の実施例に係るガス絶縁母線の横
■1面図である。図で第3図に示す゛部分と同一部分に
は同一符号が付しである。本実施例が第1の実施例と異
なるのは、スペーサ11の配置でAbる。絶縁バリヤ1
0は中心導体2の周囲に配置された仮数側のスペーサ1
1により支持されるのであるが、本実施例においては、
スペーサ11は下部側に配し−されていない。以下、そ
の理由を述べろ。 導電性異物が存在するのは、タンク1の底部か多く、し
たがって、導電性異物が中心導体2に接近する確率は、
下部fullからの接近か極めて高い。 そして、下部側から接近した導電性異物か絶縁バリヤ下
部に付着した最悪状態金考えたとき、本実施例の構成で
は、そのイ」溜部からみて、絶縁バリヤ10と中心導体
2との間は′″4−べて絶縁ガス箪間となる。それ故、
上記最悪状態に7.Cっても、絶縁バリヤ10に多少の
劣化かみられるものの、絶縁ガス空間の効果により破壊
14圧の低下、即ち絶縁低下は充分に阻止することかで
きる。 このように、本実施例では、中心導体を絶縁バIJ ’
I’で包囲し、この絶縁バリヤと中ノ()導体の下部(
Ill空間會絶縁カス窒間としたので、さきの実施例と
同じ効果をより一層4r+i?実に達成することができ
る。 第5図は本発明の第3の実施例に係るガス絶縁母線の横
101而図である。図で、第3.4図に示す部分と同一
部分には同一符号が伺しである。本実施例か第1、第2
の実施例と異なるのは、スペーサ11會除いた点にある
。即ち、本実施例では絶縁バリヤ10全直接中心導H<
 2に支持するものである。 この場合、絶線バリヤ10の住を中心導体2の径より若
干大径とすることにより、絶縁バリヤ10は上部側で中
心導体2に支4゛yされ、かつ、下部測りこギャップ長
(q+’r)ケ形)氷1−ることかできる。このため、
第2の実施例の説つ」で述べた理由により絶縁低下を充
分に阻止〕−ろことかできる。本実施例の絶縁バリヤは
スペーサ11に支持されないので、スペーサ11の厚み
分だけその径を小さくすることができ、又、単に中心導
体2に挿入するのみであるので、取付容易となり、肋に
近年、ガス絶縁母線の長さが長くなる傾向にk)ろので
、この取付容易となる効果は太きい3゜ このように、本実施例では、中心導体に直接絶縁バリヤ
金取付けるようにしたので、誹1、第2の実施例と同じ
効果音ダするとともに、絶縁バリヤの径を小さくするこ
とができ、さらにその取付けを容易に実施することがで
きる。 第6図は本発明の第4の実施例に係るカス絶縁母勝の横
断面図である。図で、1.2はさきの各実施例と同じく
、タンクおよび中心導体である。 20はさぎの各実施例の絶縁バリヤ10に相当する板状
の絶縁バリヤ、2】はこの絶縁バリヤ2tJ勿支持ずろ
支持体である。さきの各実施例における絶縁バリヤ10
が中心導体2を包囲する円筒状に構成されているのに対
して、本実施例に16ける絶縁バリヤmは板状に構成さ
れている。絶縁バリヤ20は第2の実施例で説明した理
由により中心導体2の下部側に、ギャップ長(G+T)
2維持して配置されている。 このように、・本実施例では、中心導体の下部側に所定
のギャップ長をもって板状の絶縁バリヤ金配置したので
、導電性異物が中心導体に浮遊接近するの會阻止し、絶
縁低下を防止することができる。又、絶縁バリヤが板状
に構成されるので、その製造および組立が容易であり、
特に長いガス絶縁母線に適用する場合有利である。 第7図は本発明の第5の実施例に係るガス絶縁母線の端
部の縦断面図である。図で、1はタンク、力はタンク1
に支持された絶縁支持筒、31は絶縁支持筒に支持され
た母線端部である高電圧部、31aは高電圧部31の周
囲からその径方向に延びた支持金具、32は支持金具3
1aに固定された円筒状のシールド、40は円筒状のシ
ールド:32の外側に数句けられた円筒状の絶縁バリヤ
、41はシールド32と絶縁バリヤ40との間に介在す
るスペーサである。 高′亀圧部31からは、図示されて(・ないj方部に母
線が引き出され、ブッシングを介してタンク1外に延長
せしめられる。この高電圧部31の電界緩和のため円筒
状シールド32が設けられている。Emaxは高い電界
となる部分の電界?示し、Eは低い電界部分における電
界を示す。スペーサ41は高い電界部分は避け、低い電
界部分にのみ設けられる。 シールド32と絶縁バリヤ40との間にはギャップ長(
G+T )が維持されている。ところで、導電性異物は
、その浮遊時、高電界部に引寄せられる傾向にある。即
ち、最初低い電界部の方向に浮遊している導′屯性異物
は、近傍に高電界部がある場合、#遊しながら高電界部
に接近してゆき、遂には前記ギャップ長gm&に到達ず
ろ場合が多い。そこで、本実施例では、さきの実施例の
ように中心導体全部又はその大部分に組体バリーヤ?成
けるのではなく、高電界部のみに絶縁バリヤ40を配置
するものである。 なお、絶縁バリヤは円筒状とせづ、前述の理由によりシ
ールドの下側部分のみkitうような形状とすることも
できる。 このように、本実施例では、高電圧部における高電界部
のみに絶縁バリヤ分設けたので、極めて効率的かつ社済
的に絶縁低下を防止することができる。 第8図は本発明の第6の実施例に係るカス絶縁母線の端
部の縦断面N、第9図は@8図に示すリング状シールド
および絶縁バリヤの拡大断面図である。図で、第7図に
示す部分と同一部分には同一符号が付しである。31b
は高′屯圧部:31の端部周囲から延出した支持金具、
50は支持金具31bに支持され、高電圧部31の端部
周囲を堤状にとり巻くリング状シールド、51はリング
状シールド50に装着された絶縁バリヤ、52は絶縁バ
リヤ51に設けられた突起である。リング状シールド5
0は、さきの実施例に示される円筒状シールド32と同
じく電界緩和のため設けられている。本実施例の場合、
絶縁バリヤ51は高電界となるリング状シールド50の
みに配置されている。この絶A、タバリャ51は管状体
に形成されていて、リング状シールド50のほぼ全周を
捏うものである。そして、絶縁バリヤ51に設けられた
突起52により、リング状シールド50の表面と絶縁バ
リヤ51の外面との間にギャップ長(G+′r)勿維持
する。 なお、絶縁バリヤはリング状シールドのリングの下半部
のみを覆うように設置することもできるし、又、電界そ
の他の条件によってはリング状シールドの断面下半部の
みを覆うように設置することもできる。 このように、本実施例では、高電圧部のリング状シール
ドに絶縁バリヤを設けたので、第5の実施例と同じ効果
を奏するものである。 なお、上記各実施例では、ガス絶縁機器としてガス絶縁
母線を例示して述べたが、ガス絶縁母線に限ることはな
く、その他のガス絶縁機器に適用できるのは当然である
。又、絶縁バリヤの設置個所として、高電界部への設置
ケ例示したか、Ss性異物の発生ずる機器の可動部近辺
に設置することができるのも当然である。 〔発明の効果〕 以上述べたように、本発明では、高電圧部の所要部分に
、この所要部分と微少間隙全隔てて7館縁バリヤ會配置
にしたので、導電性異物による絶縁低下勿防止すること
ができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は従来のガス絶縁母線の断面図、第2図は第1図
に示す中心導体と導電性異物とのギャップに対する破壊
電土の船性図、第3図は本発明の第1の実施例に係るガ
ス絶縁母線の縦断面図、第4図、第5図および第6図は
それぞれ本発明の第2、第3および第4の実施しbに係
るガス絶縁母線の横断面図、第7図および第8図はそれ
ぞれ本発明の第5および第6の実施例に係るガス絶縁母
線の端部の縦断面図、第9図は第8図に示すリング状シ
ールドおよび絶縁バリヤの拡大断面図である。 1・・・・・・タンク、2・・・・・・中心導体、10
.20.40.50・・・・・・絶縁バリヤ、32・・
・・・・円筒状シールド、50・・・・・リンク状シー
ルド。 第1図 1 第2図 へ゛ツア長−: q 233図 第4図    第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、1に地されたタンクと、このタンク内に配置された
    尚’tj、 EL hVIと、前記タンク内に封入され
    たガス絶縁媒体とを侃えているガス絶縁機器において、
    1)1」記タンクと前記高′紙圧部で形成される窒間内
    で、前記高電圧部における選択されたル[要部分に、こ
    のD[扱部分と微小間隙を隔てて絶縁バリヤを配’m。 したこと娑1時陵と1−るガス絶に様器。 2、特許61″]求の範囲第1項において、前記選択さ
    れた所要部分は、電界強度の大きい部分であることを1
    4!f徴と1−るガス絶縁機器。 3 牛5許晶求の範囲第1項において、前記選択された
    所要部分は、異物発生個I力の近傍であることを特徴と
    するガス絶縁機器。 4、特許請求の範囲第1〕貝において、前記絶縁バリヤ
    は、前記選択された所要部分の全周勿包囲する構成であ
    ることを%徴とするガス絶縁機器。 5、府許請求の範囲第1項において、前記絶縁バリヤば
    、前記選択された所要部分の前記タンク底部に面する側
    のみを1でう形状に4(+)成されていることを%徴と
    するガス絶縁機器。
JP58063784A 1983-04-13 1983-04-13 ガス絶縁機器 Granted JPS59191415A (ja)

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JPH0254005B2 JPH0254005B2 (ja) 1990-11-20

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007274822A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Toshiba Corp ガス絶縁機器

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55163721U (ja) * 1979-05-14 1980-11-25

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