JPS59188564A - 複数の操作レベルを有する測定機器 - Google Patents
複数の操作レベルを有する測定機器Info
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- JPS59188564A JPS59188564A JP59055943A JP5594384A JPS59188564A JP S59188564 A JPS59188564 A JP S59188564A JP 59055943 A JP59055943 A JP 59055943A JP 5594384 A JP5594384 A JP 5594384A JP S59188564 A JPS59188564 A JP S59188564A
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- Japan
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- functions
- function
- operator
- operation level
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Input From Keyboards Or The Like (AREA)
- Digital Computer Display Output (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Indicating Measured Values (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は選択した操作レベルに応じて種々の設定を行な
う測定機器に関する。
う測定機器に関する。
多くの機能を具えた種々の測定機器では、複雑な操作が
多い。しかし、簡単な測定には全部の機能を必要とせず
、測定の複雑さの程度、即ち操作レベルに応じて必要な
機能を選択している。利用する機能の数は一般に操作レ
ベルに応じている。
多い。しかし、簡単な測定には全部の機能を必要とせず
、測定の複雑さの程度、即ち操作レベルに応じて必要な
機能を選択している。利用する機能の数は一般に操作レ
ベルに応じている。
即ち、高い操作レベルには、よシ多くの機能を利用して
いる。
いる。
従来の測定機器は多くの機能キー又はスイッチを具えて
おり、機能に応じた値の選択や設定を行なっている。ま
た、従来の測定機器は数字キーを具えておシ、表示され
たメニューを参照して特性値の選択や設定を行なう。測
定機器を操作する際、すべての機能の内のいくつかを必
要としなくとも、操作者はすべての機能に関して特性値
を選択又は設定しなければならない。この場合、操作者
は不要な機能に対し、「ドントケア（ｄｏｎ’ｔｅａｒ
ｅ） Ｊを選択する。これら不必要な設定操作は面倒で
ある。
おり、機能に応じた値の選択や設定を行なっている。ま
た、従来の測定機器は数字キーを具えておシ、表示され
たメニューを参照して特性値の選択や設定を行なう。測
定機器を操作する際、すべての機能の内のいくつかを必
要としなくとも、操作者はすべての機能に関して特性値
を選択又は設定しなければならない。この場合、操作者
は不要な機能に対し、「ドントケア（ｄｏｎ’ｔｅａｒ
ｅ） Ｊを選択する。これら不必要な設定操作は面倒で
ある。
特に操作者が熟練していない場合、多くの機能を有する
測定機器を操作することは困難である。
測定機器を操作することは困難である。
したがって本発明の目的の１つは、測定目的に応じて操
作レベルを選択できる測定機器の提供にある。
作レベルを選択できる測定機器の提供にある。
本発明の他の目的は、不必要なノ４ラメータ（特性）を
設定する必要のない測定機器の提供にある。
設定する必要のない測定機器の提供にある。
本発明の測定機器は、複数の操作レベルを具えておシ、
この操作レベルにより関連した操作機能の各々に異なる
設定を行なう。また各操作機能には、その機能に関連し
、独立に選択可能な少なくとも２つの特性がある。更に
、本発明の測定機器は、操作レベルを選択する手段と、
選択した操作レベルに関連した各操作機能に対する特性
を表示する手段と、操作レベルに関連する各操作機能に
対し特性を選択又は設定する手段とを具えている。
この操作レベルにより関連した操作機能の各々に異なる
設定を行なう。また各操作機能には、その機能に関連し
、独立に選択可能な少なくとも２つの特性がある。更に
、本発明の測定機器は、操作レベルを選択する手段と、
選択した操作レベルに関連した各操作機能に対する特性
を表示する手段と、操作レベルに関連する各操作機能に
対し特性を選択又は設定する手段とを具えている。
本発明の好適な実施例においては、測定機器はまず操作
者に操作レベルを選択するように指示する。次に測定機
器は、選択された操作レベルに応じて必要な機能につい
てのみのメニューを表示する。低い操作レベルを選択し
た場合、機能の数は少なく、また操作レベルが高い場合
は、機能の数が多い。よって、操作者は、必要な機能に
関する特性値を選択又は設定するのみでよく、不必要な
機能は適当な無効値に設定される。
者に操作レベルを選択するように指示する。次に測定機
器は、選択された操作レベルに応じて必要な機能につい
てのみのメニューを表示する。低い操作レベルを選択し
た場合、機能の数は少なく、また操作レベルが高い場合
は、機能の数が多い。よって、操作者は、必要な機能に
関する特性値を選択又は設定するのみでよく、不必要な
機能は適当な無効値に設定される。
以下、添付図を参照し、ロジック・アナライザに適用し
た本発明の好適々実施例を説明する。第１図は本発明を
用いたロジック・アナライザのブロック図である。４個
のチップを有するプローブ・デッド０１けロジック信号
を取込み、取込みメモリ回路α９及びトリガ回路α→に
転送する。メモリ回路面は、入力ロジック信号を蓄積す
る高速メモリと、。
た本発明の好適々実施例を説明する。第１図は本発明を
用いたロジック・アナライザのブロック図である。４個
のチップを有するプローブ・デッド０１けロジック信号
を取込み、取込みメモリ回路α９及びトリガ回路α→に
転送する。メモリ回路面は、入力ロジック信号を蓄積す
る高速メモリと、。
との高速メモリの取込み周期を制御する２個のタイムペ
ースとを具えている。トリが回路α４はフィルタ機能を
有するワード・リコグナイザ（入力ロジック信号で構成
された入力ワードから所定ワードを検出する）と、デジ
タル遅延用のカウンタとを具えている。データ線、アド
レス線及び制御線で構成されたバスα→からの命令デー
タによシ、回路０９及び０４における機能の特性（パラ
メータ）を設定する。トリが回路０４がトリが（停止）
信号を発生すると、取込みメモリ回路（６）は入力ロジ
ック信号の取込みを停止し、バスαＱを介して蓄積した
信号をランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ） （１時
に転送する。
ースとを具えている。トリが回路α４はフィルタ機能を
有するワード・リコグナイザ（入力ロジック信号で構成
された入力ワードから所定ワードを検出する）と、デジ
タル遅延用のカウンタとを具えている。データ線、アド
レス線及び制御線で構成されたバスα→からの命令デー
タによシ、回路０９及び０４における機能の特性（パラ
メータ）を設定する。トリが回路０４がトリが（停止）
信号を発生すると、取込みメモリ回路（６）は入力ロジ
ック信号の取込みを停止し、バスαＱを介して蓄積した
信号をランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ） （１時
に転送する。
８０８８型又はｚ−８０型等のマイクロプロセッサ（イ
）、このマイクロプロセッサ（イ）の処理順序を蓄積し
たリード・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）（イ）、入力装置
としてのキーが−ド輔、及び表示制御回路（ハ）を更に
バス０６に接続する。表示制御回路（社）は陰極線管（
ＣＲＴ’）の如き表示器（ハ）に測定結果及び機前メニ
ューを表示する。マイクロプロセッサ翰はＲＡＭ Ｍ→
を一時メモリとして用いて、ＲＯＭ（イ）の制御によジ
ノぐラメータの設定を含めたロジック・アナライザの動
作を制御する。
）、このマイクロプロセッサ（イ）の処理順序を蓄積し
たリード・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）（イ）、入力装置
としてのキーが−ド輔、及び表示制御回路（ハ）を更に
バス０６に接続する。表示制御回路（社）は陰極線管（
ＣＲＴ’）の如き表示器（ハ）に測定結果及び機前メニ
ューを表示する。マイクロプロセッサ翰はＲＡＭ Ｍ→
を一時メモリとして用いて、ＲＯＭ（イ）の制御によジ
ノぐラメータの設定を含めたロジック・アナライザの動
作を制御する。
第２図は第１図におけるノ４ラメータ設定動作に関する
機能図である。第２図において、本体（至）は測定機器
のパラメータの設定を制御するマイクロプロセッサ（イ
）、ＲＯＭ器及びＲＡＭ Ｏｎに対応する。選択手段０
の及び設定手段（ロ）はキーデート（財）に対応し、こ
のキーデートは操作レベルを選択し、この操作レベルが
選択されたならば・母うメータを設定する。
機能図である。第２図において、本体（至）は測定機器
のパラメータの設定を制御するマイクロプロセッサ（イ
）、ＲＯＭ器及びＲＡＭ Ｏｎに対応する。選択手段０
の及び設定手段（ロ）はキーデート（財）に対応し、こ
のキーデートは操作レベルを選択し、この操作レベルが
選択されたならば・母うメータを設定する。
表示手段（ハ）は、表示制御回路＠及びＣＲＴ（ハ）の
組合せに対応し、本体（イ）の出力に応じてメニューを
表示する。
組合せに対応し、本体（イ）の出力に応じてメニューを
表示する。
（５）
第３図の流れ図を参照して本発明の測定機器の動作を説
明する。まずステラ７’１４１において、本体（イ）が
表示手段０→に操作レベルのメニューを表示する。この
実施例においては４つの掃作レベル（ＯＰＥＲＡＴＩＯ
Ｎ ＬＥＶＥＬ）が利用でき、コノメニュー表示の一例
を第４図に示す。レベルＯ（ＬＥＶＥＬ Ｏ）は基本的
操作（ＢＡＳＩＣ０ＰＥＲＡＴＩＯＮ）、即ち基本的な
タイミング及びステート解析であシ、レベル１（ＬＥＶ
ＥＬ １）は基本的なステート解析を伴なった高度なタ
イミング解析（ＡＤＶＡＮＣＥＤ ＴＩＭＩＮＧ ＡＮ
ＡＬＹＳＩＳ）であシ、レベル２ （ＬＥＶＥＬ ２）
は基本的々タイミング解析を伴なった高度なステート解
析（ＡＤＶＡＮＣＥＤＳＴＡＴＥ ＡＮＡＬＹＳＩＳ）
テあシ、Ｌ／ ヘｙ ３ （ＬＥＶＥＬ ３）は完全
な操作（ＦＵＬＬ ０ＰＥＲＡＴＩＯＮ）即ち高度なタ
イミング及びステート解析である。測定機器は、便宜上
、機能Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤと呼ぶ４つの操作機能を具えて
いる。機能Ａはタイムペース１に関する機能であシ、機
能Ｂは開始点を探すトリガに関する機能であシ、機能Ｃ
はタイムペース２に関する機能であシ、機能りはワード
・リコグナイザのフィル（６） タに関する機能である。操作レベルと各機能との関係を
次の表に示す この表において、ｒＯＪ及び「×」は夫々「利用可能」
及び「利用不能（無効に設定）」を意味している。この
表から判る如く、基本操作（レベル０）においては、タ
イムペース１（機能Ａ）のみが利用可能であり、操作者
はタイムペース１に関する設定のみを行なえばよい。機
能Ｂ、Ｃ及びＤに関する設定は、測定機器が自動的に無
効の設定を行々う。同様に操作レベル１においては、機
能Ａ、Ｂ及びＤが利用可能であり、操作者はこれら機能
に関する設定を行なわなければならない。操作レベル２
において、操作者は機能Ａ、Ｂ及びＣに関する設定を行
なわなければならない。また操作レベル３において操作
者は４つの機能Ａ、Ｂ。
明する。まずステラ７’１４１において、本体（イ）が
表示手段０→に操作レベルのメニューを表示する。この
実施例においては４つの掃作レベル（ＯＰＥＲＡＴＩＯ
Ｎ ＬＥＶＥＬ）が利用でき、コノメニュー表示の一例
を第４図に示す。レベルＯ（ＬＥＶＥＬ Ｏ）は基本的
操作（ＢＡＳＩＣ０ＰＥＲＡＴＩＯＮ）、即ち基本的な
タイミング及びステート解析であシ、レベル１（ＬＥＶ
ＥＬ １）は基本的なステート解析を伴なった高度なタ
イミング解析（ＡＤＶＡＮＣＥＤ ＴＩＭＩＮＧ ＡＮ
ＡＬＹＳＩＳ）であシ、レベル２ （ＬＥＶＥＬ ２）
は基本的々タイミング解析を伴なった高度なステート解
析（ＡＤＶＡＮＣＥＤＳＴＡＴＥ ＡＮＡＬＹＳＩＳ）
テあシ、Ｌ／ ヘｙ ３ （ＬＥＶＥＬ ３）は完全
な操作（ＦＵＬＬ ０ＰＥＲＡＴＩＯＮ）即ち高度なタ
イミング及びステート解析である。測定機器は、便宜上
、機能Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤと呼ぶ４つの操作機能を具えて
いる。機能Ａはタイムペース１に関する機能であシ、機
能Ｂは開始点を探すトリガに関する機能であシ、機能Ｃ
はタイムペース２に関する機能であシ、機能りはワード
・リコグナイザのフィル（６） タに関する機能である。操作レベルと各機能との関係を
次の表に示す この表において、ｒＯＪ及び「×」は夫々「利用可能」
及び「利用不能（無効に設定）」を意味している。この
表から判る如く、基本操作（レベル０）においては、タ
イムペース１（機能Ａ）のみが利用可能であり、操作者
はタイムペース１に関する設定のみを行なえばよい。機
能Ｂ、Ｃ及びＤに関する設定は、測定機器が自動的に無
効の設定を行々う。同様に操作レベル１においては、機
能Ａ、Ｂ及びＤが利用可能であり、操作者はこれら機能
に関する設定を行なわなければならない。操作レベル２
において、操作者は機能Ａ、Ｂ及びＣに関する設定を行
なわなければならない。また操作レベル３において操作
者は４つの機能Ａ、Ｂ。
Ｃ及びＤのすべてに関する設定を行なわなければならな
い。レベルＯの場合と同様に、レベル１及び２において
、操作者が利用できない機能に対応する設定は、自動的
に無効にする。
い。レベルＯの場合と同様に、レベル１及び２において
、操作者が利用できない機能に対応する設定は、自動的
に無効にする。
各操作機能には関連した２つ以上の特性がある。
例えば、各操作レベルにおいて機能Ａが利用可能な場合
、操作者はまず、タイムペース１を被試験回路に同期さ
せて制御するか、非同期で制御する、かを選択し々げれ
ばならない。同期させてタイムペース１を制御する場合
、操作者は、被試験回路からのどのクロック・ノぐルス
がこのタイムペースを制御するかを選択しなければなら
ないし、利用するクロック・クオリファイアも選択しな
ければならない。ここで、クロック・クオリファイアの
選択とは、有効なデータが存在するときのクロック・パ
ルスのみに対して測定機器が応答するか否かを選択する
ことである。非同期でタイムペース１を制御する場合、
操作者はサンプリング周期、即ち１−２−５ステツプで
１０ナノ秒から１秒までの範囲内においてサンプリング
周期を設定しなければならないし、クロック・クオリフ
ァイアも選択しなければならない。機能Ｂ（操作レベル
１．２及び３）を選択した場合、操作者は、測定機器が
データを受は始めた後直ち如トリが・パルスを探すか、
取込みメモリがデータで一杯になるまで待ってトリガ・
パルスを探すかを選択しなければならない。
、操作者はまず、タイムペース１を被試験回路に同期さ
せて制御するか、非同期で制御する、かを選択し々げれ
ばならない。同期させてタイムペース１を制御する場合
、操作者は、被試験回路からのどのクロック・ノぐルス
がこのタイムペースを制御するかを選択しなければなら
ないし、利用するクロック・クオリファイアも選択しな
ければならない。ここで、クロック・クオリファイアの
選択とは、有効なデータが存在するときのクロック・パ
ルスのみに対して測定機器が応答するか否かを選択する
ことである。非同期でタイムペース１を制御する場合、
操作者はサンプリング周期、即ち１−２−５ステツプで
１０ナノ秒から１秒までの範囲内においてサンプリング
周期を設定しなければならないし、クロック・クオリフ
ァイアも選択しなければならない。機能Ｂ（操作レベル
１．２及び３）を選択した場合、操作者は、測定機器が
データを受は始めた後直ち如トリが・パルスを探すか、
取込みメモリがデータで一杯になるまで待ってトリガ・
パルスを探すかを選択しなければならない。
第３図を参照して説明すれば、ステラ７６θのにおいて
、操作者は選択手段０９を用いて操作レベルの１つを選
択できる。第４図の場合、レベルＯが選択されており、
この選択されたレベルが高輝度（図は４角形で囲んでい
る）となる。本体（イ）はステラｆ０４．（ハ）及び０
０において、選択可能な操作レベルから選択された操作
レベルを求める。最高レベル、即ちレベル３が選択した
場合、ステップ（イ）において機能Ａのメニューを表示
手段（ト）に表示する。この表示は第４図の様なもので
ある。ステップ曽及（９） びＱと同様に、機能Ｂ、Ｃ及びＤに関する設定をステッ
プ（財）乃至輪において行なう。操作レベル２を選択し
た場合、機能Ａ、Ｂ及びＣＫ関する設定をステップ（至
）乃至ｆ傍において行なう。レベル２では、ステラｆに
）において機能りを無効にする。操作レベル１を選択し
た場合、機能Ａ、Ｂ及びＤに関する設定をステップ（ハ
）乃至（ハ）において行ない、ステップ（イ）で機能Ｃ
を無効とする。最下位操作レベル（レベル０）を選択し
た場合、機能ＡＫ関する設定をステップ（イ）及びに）
において行々い、ステラｆ（イ）で機能Ｂ、Ｃ及びＤを
無効にする。操作レベル２及び１では、操作者が夫々機
能り及びＣに関する設定をする必′要がないことに注量
されたい。
、操作者は選択手段０９を用いて操作レベルの１つを選
択できる。第４図の場合、レベルＯが選択されており、
この選択されたレベルが高輝度（図は４角形で囲んでい
る）となる。本体（イ）はステラｆ０４．（ハ）及び０
０において、選択可能な操作レベルから選択された操作
レベルを求める。最高レベル、即ちレベル３が選択した
場合、ステップ（イ）において機能Ａのメニューを表示
手段（ト）に表示する。この表示は第４図の様なもので
ある。ステップ曽及（９） びＱと同様に、機能Ｂ、Ｃ及びＤに関する設定をステッ
プ（財）乃至輪において行なう。操作レベル２を選択し
た場合、機能Ａ、Ｂ及びＣＫ関する設定をステップ（至
）乃至ｆ傍において行なう。レベル２では、ステラｆに
）において機能りを無効にする。操作レベル１を選択し
た場合、機能Ａ、Ｂ及びＤに関する設定をステップ（ハ
）乃至（ハ）において行ない、ステップ（イ）で機能Ｃ
を無効とする。最下位操作レベル（レベル０）を選択し
た場合、機能ＡＫ関する設定をステップ（イ）及びに）
において行々い、ステラｆ（イ）で機能Ｂ、Ｃ及びＤを
無効にする。操作レベル２及び１では、操作者が夫々機
能り及びＣに関する設定をする必′要がないことに注量
されたい。
操作レベルＯでは、操作者が機能ＡＫ関する設定のみを
行表う必要がある。機能を無・効に設定する各場合にお
いて、その機能のメニューは表示手段（ハ）に現われな
い。よって、必要な設定が容易にでき、利用しない機能
を不適当に設定する可能性が避けられる。
行表う必要がある。機能を無・効に設定する各場合にお
いて、その機能のメニューは表示手段（ハ）に現われな
い。よって、必要な設定が容易にでき、利用しない機能
を不適当に設定する可能性が避けられる。
第５図は他の処理順序の流れ図である。この流（１０）
れ図は第３図の流れ図と比較して、ステップの数が少な
い。この流れ図に関する動作は第５図から容易に理解で
きるので、説明を省略する。
い。この流れ図に関する動作は第５図から容易に理解で
きるので、説明を省略する。
上述は本発明の好適彦実施例について説明したが、当業
者には本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形が可
能なことが理解できよう。例えば、選択手段及び設定手
段は回転スイッチ、トグルスイッチ等の任倉のスイッチ
でもよく、表示手段は平面表示パネルでもよい。また、
本発明はロジック・アナライザ以外の多くの測定機器に
適用できる。
者には本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形が可
能なことが理解できよう。例えば、選択手段及び設定手
段は回転スイッチ、トグルスイッチ等の任倉のスイッチ
でもよく、表示手段は平面表示パネルでもよい。また、
本発明はロジック・アナライザ以外の多くの測定機器に
適用できる。
上述の如く、本体は選択した操作レベルに関連した機能
の選択又は設定のみを操作者に要求するので、測定装置
の選択又は設定が容易になる。測定機器が多くの複雑匁
機能を具えていても、この測定機器の操作に関する詳細
な知識がなくても、また操作に熟練していなくても、操
作者はこの測定機器を操作できる＠
の選択又は設定のみを操作者に要求するので、測定装置
の選択又は設定が容易になる。測定機器が多くの複雑匁
機能を具えていても、この測定機器の操作に関する詳細
な知識がなくても、また操作に熟練していなくても、操
作者はこの測定機器を操作できる＠
第１図は本発明を用いたロジック・アナライザのブロッ
ク図、第２図は本発明の機能的ブロック図、第３図は本
発明の一動作例を説明する流れ図、第４図は表示手段の
表示の一例を示す図、第５図は本発明の他の動作例を説
明する流れ図である。 図において、υは選択手段、（ロ）は設定手段、（ハ）
は表示手段である◎ 特開昭５９−１８８５６４（５） ＦＩＧ、５
ク図、第２図は本発明の機能的ブロック図、第３図は本
発明の一動作例を説明する流れ図、第４図は表示手段の
表示の一例を示す図、第５図は本発明の他の動作例を説
明する流れ図である。 図において、υは選択手段、（ロ）は設定手段、（ハ）
は表示手段である◎ 特開昭５９−１８８５６４（５） ＦＩＧ、５
Claims (1)
- 複数の操作レベルから所望の操作レベルを選択する手段
と、該手段によシ選択された操作レベルに関する機能の
特性を表示する手段と、上記選択された操作レベルに関
する機能の特性を設定又は選択する手段とを具えた複数
の操作レベルを有する測定機器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US47860583A | 1983-03-23 | 1983-03-23 | |
| US478605 | 1983-03-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59188564A true JPS59188564A (ja) | 1984-10-25 |
| JPH0327072B2 JPH0327072B2 (ja) | 1991-04-12 |
Family
ID=23900602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59055943A Granted JPS59188564A (ja) | 1983-03-23 | 1984-03-23 | 複数の操作レベルを有する測定機器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0123118B1 (ja) |
| JP (1) | JPS59188564A (ja) |
| DE (1) | DE3462555D1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01161161A (ja) * | 1987-12-17 | 1989-06-23 | Hitachi Jidosha Buhin Hanbai Kk | オシロスコープ操作支援装置 |
| JP2009502438A (ja) * | 2005-08-05 | 2009-01-29 | バイエル・ヘルスケア・エルエルシー | 多レベルユーザーインターフェイスを有する計測器 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5025411A (en) * | 1986-12-08 | 1991-06-18 | Tektronix, Inc. | Method which provides debounced inputs from a touch screen panel by waiting until each x and y coordinates stop altering |
| US4766425A (en) * | 1986-12-19 | 1988-08-23 | Tektronix, Inc. | Waveform selection by touch |
| US7925456B2 (en) * | 2004-12-30 | 2011-04-12 | Micro Motion, Inc. | Method and apparatus for directing the use of a Coriolis flow meter |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58105067A (ja) * | 1981-12-17 | 1983-06-22 | Sony Tektronix Corp | 表示装置 |
-
1984
- 1984-03-16 DE DE8484102948T patent/DE3462555D1/de not_active Expired
- 1984-03-16 EP EP84102948A patent/EP0123118B1/en not_active Expired
- 1984-03-23 JP JP59055943A patent/JPS59188564A/ja active Granted
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| ELECTRONICS=S55 * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01161161A (ja) * | 1987-12-17 | 1989-06-23 | Hitachi Jidosha Buhin Hanbai Kk | オシロスコープ操作支援装置 |
| JP2009502438A (ja) * | 2005-08-05 | 2009-01-29 | バイエル・ヘルスケア・エルエルシー | 多レベルユーザーインターフェイスを有する計測器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3462555D1 (en) | 1987-04-09 |
| JPH0327072B2 (ja) | 1991-04-12 |
| EP0123118B1 (en) | 1987-03-04 |
| EP0123118A1 (en) | 1984-10-31 |
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