JPS5918652B2 - 光音響分析器の信号処理回路 - Google Patents
光音響分析器の信号処理回路Info
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- JPS5918652B2 JPS5918652B2 JP53119918A JP11991878A JPS5918652B2 JP S5918652 B2 JPS5918652 B2 JP S5918652B2 JP 53119918 A JP53119918 A JP 53119918A JP 11991878 A JP11991878 A JP 11991878A JP S5918652 B2 JPS5918652 B2 JP S5918652B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分析側検出器および基準側検出器を有する光音
響分析器の信号処理回路に関し、更に詳しくは基準側検
出器から出力される基準信号と分析側検出器から得られ
る検出信号との相関により光音響出力を得ると共に基準
信号の自己相関との比によつて正規化した光音響出力を
得るようにした光音響分析器の信号処理回路に関するも
のである。
響分析器の信号処理回路に関し、更に詳しくは基準側検
出器から出力される基準信号と分析側検出器から得られ
る検出信号との相関により光音響出力を得ると共に基準
信号の自己相関との比によつて正規化した光音響出力を
得るようにした光音響分析器の信号処理回路に関するも
のである。
光音響分析器は、断続した光を検出器中の試料にあて、
その試料の吸収した光エネルギーが熱エネルギーとして
放出する際、試料の雰囲気に生ずる疎密波をマイクロフ
ォン等の検出素子で電気信号として検出し、これを増幅
し、記録して分析に供する。
その試料の吸収した光エネルギーが熱エネルギーとして
放出する際、試料の雰囲気に生ずる疎密波をマイクロフ
ォン等の検出素子で電気信号として検出し、これを増幅
し、記録して分析に供する。
ここで、検出される電気信号は、光の断続周波数と同じ
交流信号で、その周波数と同期した交流信号を抽出し、
増幅及び整流して取り出す必要がある。そのため、従来
においては断続光を発生させるチョッパにより断続のタ
イミングを検出し、先に検出して得た交流電気信号を、
その断続のタイミングで同期整流して出力信号を得てい
る。従来の複光束型光音響分析器は例えば第1図のよう
に構成され、ここで1は光源としてのキセノンランプ、
2は集光レンズ、3は分光器(モノクロメータ)、4は
チョッパ、5は駆動モータ、6は同期信号発生器、8は
ハーフミラ、9は試料側検出器、10は基準側検出器、
11と11’は交流増幅器、12と12’は同期整流器
及び13は割算器である。
交流信号で、その周波数と同期した交流信号を抽出し、
増幅及び整流して取り出す必要がある。そのため、従来
においては断続光を発生させるチョッパにより断続のタ
イミングを検出し、先に検出して得た交流電気信号を、
その断続のタイミングで同期整流して出力信号を得てい
る。従来の複光束型光音響分析器は例えば第1図のよう
に構成され、ここで1は光源としてのキセノンランプ、
2は集光レンズ、3は分光器(モノクロメータ)、4は
チョッパ、5は駆動モータ、6は同期信号発生器、8は
ハーフミラ、9は試料側検出器、10は基準側検出器、
11と11’は交流増幅器、12と12’は同期整流器
及び13は割算器である。
第1図の分析器では分光器3で得られる単色光はハーフ
ミラ8により分割されて試料側検出器9と基準側検出器
10とに照射される。各検出器の出力はそれぞれの交流
増幅器11および1Vにより増幅され、同期信号発生器
6から出力される同期信号で同期整流される。基準側検
出器10の出力は光源の強さの補正に利用される。割算
器13で試料側出力を基準側出力で割算することにより
、試料側検出器9の光音響出力は光源強度に関係なく正
規化される。上記の光音響分析器においては、従来の透
過又は反射分光と異なり、例えば固体試料の表層を層別
に分析できる特長がある。
ミラ8により分割されて試料側検出器9と基準側検出器
10とに照射される。各検出器の出力はそれぞれの交流
増幅器11および1Vにより増幅され、同期信号発生器
6から出力される同期信号で同期整流される。基準側検
出器10の出力は光源の強さの補正に利用される。割算
器13で試料側出力を基準側出力で割算することにより
、試料側検出器9の光音響出力は光源強度に関係なく正
規化される。上記の光音響分析器においては、従来の透
過又は反射分光と異なり、例えば固体試料の表層を層別
に分析できる特長がある。
光が吸収して螢光となつたり、熱になつたりする時間は
多くの物質では10−8秒のオーダーであり、分析のた
めの光の変調の時間10−1〜10−3秒に比べ無視で
きる。従つて、通常の分析は、光の変調周波数の如何に
かかわらず、同じ吸収又は反射スペクトルが得られる。
ところで、光音響信号は、試料が吸収した光のエネルギ
ーが試料内部で熱に変換され、その熱エネルギーが試料
表面を介して周囲の気体に伝わり、気体の圧力が変動し
て生ずる信号である。
多くの物質では10−8秒のオーダーであり、分析のた
めの光の変調の時間10−1〜10−3秒に比べ無視で
きる。従つて、通常の分析は、光の変調周波数の如何に
かかわらず、同じ吸収又は反射スペクトルが得られる。
ところで、光音響信号は、試料が吸収した光のエネルギ
ーが試料内部で熱に変換され、その熱エネルギーが試料
表面を介して周囲の気体に伝わり、気体の圧力が変動し
て生ずる信号である。
従つて、光照射から光音響信号に変換されるまでには時
間的遅れがあり、基準側および分析側の信号はこの遅れ
を含んでいる。この時間遅れには光音響セル自体による
ものと、試料の物理的性質によるもの、即ち、熱伝導率
、密度、励起エネルギーの緩和時間などがあり、後者は
試料の分析上重要な項目である。従来の光音響分析器で
は、同期整流のために、位相は光音響出力が最大になる
ように調整している。同時に、その位相から90度遅れ
た位相の出力も測定している。このような従来の光音響
分析器には、次のような欠点がある。即ち、光音響出力
が最大になるように位相調整しているので、真に必要な
位相の信号を得ていない。
間的遅れがあり、基準側および分析側の信号はこの遅れ
を含んでいる。この時間遅れには光音響セル自体による
ものと、試料の物理的性質によるもの、即ち、熱伝導率
、密度、励起エネルギーの緩和時間などがあり、後者は
試料の分析上重要な項目である。従来の光音響分析器で
は、同期整流のために、位相は光音響出力が最大になる
ように調整している。同時に、その位相から90度遅れ
た位相の出力も測定している。このような従来の光音響
分析器には、次のような欠点がある。即ち、光音響出力
が最大になるように位相調整しているので、真に必要な
位相の信号を得ていない。
第2に、必要でない位相の信号に調整してしまい、誤つ
たデータを得るおそれがある。第3に、試料及び周波数
を変える度毎に、出力が最大となるよう位相調整しなく
てはならない。そこで、本発明の目的は上記の欠点を解
消し、従来の検出信号の振幅に対する正規化に加えて、
位相に対する基準を設定できる光音響分析器を提供する
ものである。
たデータを得るおそれがある。第3に、試料及び周波数
を変える度毎に、出力が最大となるよう位相調整しなく
てはならない。そこで、本発明の目的は上記の欠点を解
消し、従来の検出信号の振幅に対する正規化に加えて、
位相に対する基準を設定できる光音響分析器を提供する
ものである。
この目的を達成するため、本発明では、分析側検出器内
に配置された分析試料および基準側検出器内に配置され
た基準試料にそれぞれ断続光を照射して光音響出力を得
る光音響分析器の信号処理回路において、前記分析側検
出器からの出力と、前記基準側検出器からの出力及びそ
の90度位相遅れの出力との相関量をそれぞれ与える第
1および第2掛算器、前記基準セルからの出力及び90
度位相遅れの出力の各々の自己相関を与える第3および
第4掛算器、前記第1掛算器の出力を前記第3掛算器の
出力で除算し、正規の位相の光音響出力を与える第1割
算器、および前記第2掛算器の出力を前記第4掛算器の
出力で除算し、正規の位相から90度遅れた光音響出力
を与える第2割算器を具備したことを特徴とするもので
ある。
に配置された分析試料および基準側検出器内に配置され
た基準試料にそれぞれ断続光を照射して光音響出力を得
る光音響分析器の信号処理回路において、前記分析側検
出器からの出力と、前記基準側検出器からの出力及びそ
の90度位相遅れの出力との相関量をそれぞれ与える第
1および第2掛算器、前記基準セルからの出力及び90
度位相遅れの出力の各々の自己相関を与える第3および
第4掛算器、前記第1掛算器の出力を前記第3掛算器の
出力で除算し、正規の位相の光音響出力を与える第1割
算器、および前記第2掛算器の出力を前記第4掛算器の
出力で除算し、正規の位相から90度遅れた光音響出力
を与える第2割算器を具備したことを特徴とするもので
ある。
さらに、本発明の優れた実施例においては、前記第2割
算器の出力を前記第1割算器の出力で除算し、前記基準
側検出器の光音響出力に対する分析試料の光音響出力の
位相遅れを与える第3割算器が付設される。次に本発明
を概略説明し次いで実施例について説明する。まず、基
準側検出器に基準試料を入れ、そこから基準信号を得る
。
算器の出力を前記第1割算器の出力で除算し、前記基準
側検出器の光音響出力に対する分析試料の光音響出力の
位相遅れを与える第3割算器が付設される。次に本発明
を概略説明し次いで実施例について説明する。まず、基
準側検出器に基準試料を入れ、そこから基準信号を得る
。
基準試料としてはカーボンブラツク、パイロ電気素子等
が知られている。その基準信号には検出器、増幅器なら
びに基準試料自体の遅れが介挿されるが、かかる基準信
号の位相を基準とする。他方、測定系の遅れのうち、検
出器と増幅器に寄因する遅れは、分析側の検出器と増幅
器による遅れど同じであるので、これら遅れは互いに完
全に打消されるから、結局、分析側の位相遅れは基準試
料の遅れからさらにどれ程遅れるかが問題となる。この
基準信号S2(ωt)で表わし、位相遅れθをもつ分析
側検出器からの信号S1(ωt−θ)とすると、その相
関量11はS1とS,との積の時間平均で表わされ、次
式となる。
が知られている。その基準信号には検出器、増幅器なら
びに基準試料自体の遅れが介挿されるが、かかる基準信
号の位相を基準とする。他方、測定系の遅れのうち、検
出器と増幅器に寄因する遅れは、分析側の検出器と増幅
器による遅れど同じであるので、これら遅れは互いに完
全に打消されるから、結局、分析側の位相遅れは基準試
料の遅れからさらにどれ程遅れるかが問題となる。この
基準信号S2(ωt)で表わし、位相遅れθをもつ分析
側検出器からの信号S1(ωt−θ)とすると、その相
関量11はS1とS,との積の時間平均で表わされ、次
式となる。
なお、ここにθは基準信号に対する試料信号の遅れを表
わす。次に基準信号の90度位相遅れをS2(ωt−9
00)とすると、90度位相遅れの信号に対する相関量
12は、次式で表わされる。▲Tvl〜岬珈 7ノ
Vt〜−! VV′分析側の信号S:1及び基準信号S
2は光源強度に比例する信号であるので、これを正規化
するには、光源に比例する基準信号の二乗で除算する。
わす。次に基準信号の90度位相遅れをS2(ωt−9
00)とすると、90度位相遅れの信号に対する相関量
12は、次式で表わされる。▲Tvl〜岬珈 7ノ
Vt〜−! VV′分析側の信号S:1及び基準信号S
2は光源強度に比例する信号であるので、これを正規化
するには、光源に比例する基準信号の二乗で除算する。
このため、基準信号S2(ωt)及びS2(ωt−90
の自己相関1。及びI′を求め、前記の相関量11及び
12をそれぞれ除算する。即ち、正規の同位相の光音響
出力をE1及びその90度遅れた位相の光音響出力をE
2とすると、それぞれの出力は、次式で表わされる。こ
こで、簡単のため、S1(ωt−θ),S2(ωt)を
それぞれ単純にA,sin(ωt−θ),A2sinω
tとすると、となる。
の自己相関1。及びI′を求め、前記の相関量11及び
12をそれぞれ除算する。即ち、正規の同位相の光音響
出力をE1及びその90度遅れた位相の光音響出力をE
2とすると、それぞれの出力は、次式で表わされる。こ
こで、簡単のため、S1(ωt−θ),S2(ωt)を
それぞれ単純にA,sin(ωt−θ),A2sinω
tとすると、となる。
また、同様に、E2=4±・Sinθとなる。従つて、
分析側の位相遅れθは次式から求まる。このようにして
、基準信号に対する位相遅れθが求まり、この位相遅れ
θから、上述したように試料の物理的性質たとえば熱伝
導率、密度、励起エネルギの緩和時間を測定することが
できる。また、同時にθを用いて同期調整することによ
り適正な位相の信号が得られることがわかる。本発明の
実施例を第2図に示す。
分析側の位相遅れθは次式から求まる。このようにして
、基準信号に対する位相遅れθが求まり、この位相遅れ
θから、上述したように試料の物理的性質たとえば熱伝
導率、密度、励起エネルギの緩和時間を測定することが
できる。また、同時にθを用いて同期調整することによ
り適正な位相の信号が得られることがわかる。本発明の
実施例を第2図に示す。
第2図において各増幅器11および1Vまでの構成は第
1図と同じであり、同一の参照符号で示す。
1図と同じであり、同一の参照符号で示す。
図中、14は移相器で、基準信号に対して90度位相遅
れの信号を出力するものである。15ないし18は掛算
器でそれぞれの相関量を与える。
れの信号を出力するものである。15ないし18は掛算
器でそれぞれの相関量を与える。
19および20は割算器で、それぞれ正規の位相の光音
響出力E1及び90度位相遅れの光音響出力E2を出力
する。
響出力E1及び90度位相遅れの光音響出力E2を出力
する。
更に詳述すると、第2図において、分析側検出器9の出
力を増幅器11に通して分析側からの信号S1(ωt−
θ)を得る。
力を増幅器11に通して分析側からの信号S1(ωt−
θ)を得る。
同時に基準側検出器10からの出力を増幅器1Vに通し
て基準信号S2(ωt)を得る。信号S1とS,を掛算
器15に入力し、両信号S1とS,との相関量11を得
る。次に、信号S,を移相器14に供給して90度位相
を遅らせてS2(ωt−90に)を形成し、掛算器16
に入力し、S1(ωt−θ)との相関量12を求める。
更に、掛算器17により信号S2(ωt)の自己相関。
を求め、掛算器18によりS2(ωt−900)の自己
相関1。
て基準信号S2(ωt)を得る。信号S1とS,を掛算
器15に入力し、両信号S1とS,との相関量11を得
る。次に、信号S,を移相器14に供給して90度位相
を遅らせてS2(ωt−90に)を形成し、掛算器16
に入力し、S1(ωt−θ)との相関量12を求める。
更に、掛算器17により信号S2(ωt)の自己相関。
を求め、掛算器18によりS2(ωt−900)の自己
相関1。
1′を求める。
割算器19では相関1,と。の比を演算し、基準試料と
位相のあつた光音響出力E,=11/IOを出力する。
他方、割算器20では、相関2とI才の比を演算し、9
0度位相遅れの光音響出力E2=12/I詐を出力する
。なお、割算器19,20の出力に、E,/E1の割算
演算を行なう割算器を接続すると、この割算器の出力か
らTanθを求めることができる。
位相のあつた光音響出力E,=11/IOを出力する。
他方、割算器20では、相関2とI才の比を演算し、9
0度位相遅れの光音響出力E2=12/I詐を出力する
。なお、割算器19,20の出力に、E,/E1の割算
演算を行なう割算器を接続すると、この割算器の出力か
らTanθを求めることができる。
上記のように、本発明では分析試料からの信号に対し、
基準試料からの信号及びその90度位相遅れ信号との相
関量を算出し、これを基準試料からの信号及びその90
度位相遅れ信号の自己相関量で割算することによつて、
それぞれ同相及び90度位相遅れの正規化光音響出力を
得るようにしたので、これらの光音響出力の比E,/E
1から分析側の位相遅れθを演算でき、基準試料の光音
響出力に対する分析試料の光音響出力の位相ずれが正確
に求められる。更に、本発明には、試料の交換、周波数
変化等があつても、位相調整を要しない利点があり、誤
りのない分析が可能なことから操作に高度の技術を要す
るものではなく、熟練者でなくとも誤まりなく分析を行
なうことができる。
基準試料からの信号及びその90度位相遅れ信号との相
関量を算出し、これを基準試料からの信号及びその90
度位相遅れ信号の自己相関量で割算することによつて、
それぞれ同相及び90度位相遅れの正規化光音響出力を
得るようにしたので、これらの光音響出力の比E,/E
1から分析側の位相遅れθを演算でき、基準試料の光音
響出力に対する分析試料の光音響出力の位相ずれが正確
に求められる。更に、本発明には、試料の交換、周波数
変化等があつても、位相調整を要しない利点があり、誤
りのない分析が可能なことから操作に高度の技術を要す
るものではなく、熟練者でなくとも誤まりなく分析を行
なうことができる。
なお、第3図AおよびBは本発明において用いられる光
音響分析器の検出器の一例を示す。
音響分析器の検出器の一例を示す。
この検出器は分析側検出器9および基準側検出器10に
よつて構成される。分析側検出器9および基準側検出器
10はそれぞれ試料室と基準室とから構成される。ここ
に、Rl,R2は試料室である。試料室Rl,R2には
それぞれ分析すべき試料たとえば分析試料S1および基
準試料S2が配置され、しかも、これら試料Sl,S2
に光エネルギを照射するための光透過窓Wl,W2が設
けられている。試料Sl,S2はそれぞれ、試料台Dl
,D2上に載置することによつて試料室Rl,R2中に
配置され、試料台Dl,D2を取りはずすことによつて
交換可能である。試料台Dl,D2は第3図Bに示すよ
うに両者が一体に形成されたものでもよく、また、別体
(図示せず)のものであつてもよい。Vl,V2はシー
ル素子、例えばOリングである。光音響分析器において
分析しうる試料は固体、粉体、液体等いかなるものであ
つてもよく、具体的には各種剛体、硫化カドミウム粉、
酸化ホルミウム粉などの酸化物あるいは硫化物粉体、ジ
ルコニウム、シリコンなどの薄膜、物体表面に付着した
微量成分(人間のアカなど)、薬片、血液、色素の溶解
した溶液、各種懸濁液等があげられる。
よつて構成される。分析側検出器9および基準側検出器
10はそれぞれ試料室と基準室とから構成される。ここ
に、Rl,R2は試料室である。試料室Rl,R2には
それぞれ分析すべき試料たとえば分析試料S1および基
準試料S2が配置され、しかも、これら試料Sl,S2
に光エネルギを照射するための光透過窓Wl,W2が設
けられている。試料Sl,S2はそれぞれ、試料台Dl
,D2上に載置することによつて試料室Rl,R2中に
配置され、試料台Dl,D2を取りはずすことによつて
交換可能である。試料台Dl,D2は第3図Bに示すよ
うに両者が一体に形成されたものでもよく、また、別体
(図示せず)のものであつてもよい。Vl,V2はシー
ル素子、例えばOリングである。光音響分析器において
分析しうる試料は固体、粉体、液体等いかなるものであ
つてもよく、具体的には各種剛体、硫化カドミウム粉、
酸化ホルミウム粉などの酸化物あるいは硫化物粉体、ジ
ルコニウム、シリコンなどの薄膜、物体表面に付着した
微量成分(人間のアカなど)、薬片、血液、色素の溶解
した溶液、各種懸濁液等があげられる。
前記試料Sl,S2が液体、粉体あるいは物理的性状の
不安定な物質の場合には、試料皿(図示せず)に入れて
試料台Dl,D2上に配置する。しかしながら、試料が
剛体等の固体であつても試料台Dl,D2に直接置くこ
とは避けた方がよい。更に、Cl,C2は基準室である
。この基準室Cl,C2はそれぞれ、通路Ll,L2を
介して試料室Rl,R2と連通されており、これによつ
て試料室R1および基準室C1、ならびに試料室R2お
よび基準室C2はそれぞれ分析側検出器9および基準側
検出器10を形成する。この分析側検出器9および基準
側検出器10の中にはそれぞれ、空気もしくは窒素もし
くはヘリウムなどの気体が充填されている。さらに、分
析側検出器9の通路L1および基準側検出器10の通路
L2の任意の個所にはそれぞれ、熱式流量計形検出素子
Gl,G2が設置される。このようにして構成された検
出器は分析に際して、分析試料S1および基準試料S2
にそれぞれ光透過窓Wl,W2を通じて波長およびエネ
ルギの等しい光エネルギを同時にしかも断続的に照射す
る。なお、この光エネルギは一定時間づつ交互に照射す
るようにしてもよい。一般に物質に光エネルギを照射す
ると、照射した光エネルギの一部は物質により吸収され
、この吸収された光エネルギの一部は熱エネルギに変換
される。
不安定な物質の場合には、試料皿(図示せず)に入れて
試料台Dl,D2上に配置する。しかしながら、試料が
剛体等の固体であつても試料台Dl,D2に直接置くこ
とは避けた方がよい。更に、Cl,C2は基準室である
。この基準室Cl,C2はそれぞれ、通路Ll,L2を
介して試料室Rl,R2と連通されており、これによつ
て試料室R1および基準室C1、ならびに試料室R2お
よび基準室C2はそれぞれ分析側検出器9および基準側
検出器10を形成する。この分析側検出器9および基準
側検出器10の中にはそれぞれ、空気もしくは窒素もし
くはヘリウムなどの気体が充填されている。さらに、分
析側検出器9の通路L1および基準側検出器10の通路
L2の任意の個所にはそれぞれ、熱式流量計形検出素子
Gl,G2が設置される。このようにして構成された検
出器は分析に際して、分析試料S1および基準試料S2
にそれぞれ光透過窓Wl,W2を通じて波長およびエネ
ルギの等しい光エネルギを同時にしかも断続的に照射す
る。なお、この光エネルギは一定時間づつ交互に照射す
るようにしてもよい。一般に物質に光エネルギを照射す
ると、照射した光エネルギの一部は物質により吸収され
、この吸収された光エネルギの一部は熱エネルギに変換
される。
しかも物質は一定の条件下でそれぞれその条件に対応す
る固有の光吸収スペクトルを有するので、前記光エネル
ギの吸収量ならびに熱エネルギへの変換量もまた固有の
値を呈する。光音響分析器とはこの熱エネルギを物質す
なわち試料周辺の気体の熱膨張として検出して該物質を
分析しようとするものである。この熱エネルギはそれぞ
れ試料Sl,S2の周囲の気体に伝達され、気体の熱膨
脹により試料室Rl,R2の圧力が上昇する。一方基準
室Cl,C2には光エネルギは照射されず、このため基
準室Cl,C2の圧力はいずれも変化しない。したがつ
て、分析側検出器9においては試料室R1と基準室C1
との間、および基準側検出器10においては試料室R2
と基準室C2との間にそれぞれ圧力差を生じ、気体は試
料室R1から基準室C1に、および試料室R2から基準
室C2にそれぞれ流動する。照射する光を光断続チヨツ
パ4により断続させると、気体は試料室と基準室の圧力
が平衡する方向、すなわち、基準室C1から試料室R1
の方向ならびに基準室C2から試料室R2の方向に流動
し、このため、前記気体は光断続の周期と同一周期でそ
れぞれ通路Ll,L2を介して両室間で振動する。光断
続チヨツパ4による光断続の周期は1Hz〜1000H
zの範囲のある値に設定されている。この振動をそれぞ
れ通路Ll,L2に配置された熱式流量計形検出素子G
l,G2が交流の電気信号として検出する。熱式流量計
形検出素子Gl,G2の抵抗変化が上述した分析側検出
器9および基準側検出器10の出力信号として取り出さ
れる。
る固有の光吸収スペクトルを有するので、前記光エネル
ギの吸収量ならびに熱エネルギへの変換量もまた固有の
値を呈する。光音響分析器とはこの熱エネルギを物質す
なわち試料周辺の気体の熱膨張として検出して該物質を
分析しようとするものである。この熱エネルギはそれぞ
れ試料Sl,S2の周囲の気体に伝達され、気体の熱膨
脹により試料室Rl,R2の圧力が上昇する。一方基準
室Cl,C2には光エネルギは照射されず、このため基
準室Cl,C2の圧力はいずれも変化しない。したがつ
て、分析側検出器9においては試料室R1と基準室C1
との間、および基準側検出器10においては試料室R2
と基準室C2との間にそれぞれ圧力差を生じ、気体は試
料室R1から基準室C1に、および試料室R2から基準
室C2にそれぞれ流動する。照射する光を光断続チヨツ
パ4により断続させると、気体は試料室と基準室の圧力
が平衡する方向、すなわち、基準室C1から試料室R1
の方向ならびに基準室C2から試料室R2の方向に流動
し、このため、前記気体は光断続の周期と同一周期でそ
れぞれ通路Ll,L2を介して両室間で振動する。光断
続チヨツパ4による光断続の周期は1Hz〜1000H
zの範囲のある値に設定されている。この振動をそれぞ
れ通路Ll,L2に配置された熱式流量計形検出素子G
l,G2が交流の電気信号として検出する。熱式流量計
形検出素子Gl,G2の抵抗変化が上述した分析側検出
器9および基準側検出器10の出力信号として取り出さ
れる。
第1図は従来の光音響分析器の構成の一例を示すプロツ
ク線図、第2図は本発明光音響分析器の1実施例の構成
を示すプロツク線図、第3図AおよびBは本発明の光音
響分析器に使われる検出器の一例の構成を示すそれぞれ
平面図およびそのX一X断面図である。 1・・・・・・光源、2・・・・・・集光レンズ、3・
・・・・・分光器、4・・・・・・チヨツパ、5・・・
・・・駆動モータ、6・・・・・・同期信号発生器、8
・・・・・・ハーフミラ、9・・・・・・分析側検出器
、10・・・・・・基準側検出器、11,1V・・・・
・・交流増幅器、14・・・・・・移相器、15〜18
・・・・・・掛算器、19,20・・・・・・割算器。
ク線図、第2図は本発明光音響分析器の1実施例の構成
を示すプロツク線図、第3図AおよびBは本発明の光音
響分析器に使われる検出器の一例の構成を示すそれぞれ
平面図およびそのX一X断面図である。 1・・・・・・光源、2・・・・・・集光レンズ、3・
・・・・・分光器、4・・・・・・チヨツパ、5・・・
・・・駆動モータ、6・・・・・・同期信号発生器、8
・・・・・・ハーフミラ、9・・・・・・分析側検出器
、10・・・・・・基準側検出器、11,1V・・・・
・・交流増幅器、14・・・・・・移相器、15〜18
・・・・・・掛算器、19,20・・・・・・割算器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 分析側検出器内に置かれた分析試料および基準検出
器内に置かれた基準試料にそれぞれ断続光を照射して光
音響出力を得る光音響分析器の信号処理回路において、
前記分析側検出器からの出力と、前記基準側検出器から
の出力及び90度位相遅れの出力との相関量をそれぞれ
与える第1および第2掛算器と、前記基準セルからの出
力及び90度位相遅れの出力の各々の自己相関を与える
第3および第4掛算器と、前記第1掛算器の出力を前記
第3掛算器の出力で除算し、正規の位相の光音響出力を
与える第1割算器と、前記第2掛算器の出力を前記第4
掛算器の出力で除算し、正規の位相から90度遅れた光
音響出力を与える第2割算器とを具備したことを特徴と
する光音響分析器の信号処理回路。 2 特許請求の範囲第1項記載の信号処理回路において
、前記第2割算器の出力を前記第1割算器の出力で除算
し、前記基準側検出器の光音響出力に対する分析試料の
光音響出力の位相遅れを与える第3割算器を付設したこ
とを特徴とする光音響分析器の信号処理回路。 3 特許請求の範囲第1項もしくは第2項に記載の信号
処理回路において、基準側検出器からの出力の位相を9
0゜遅らせる移相器を設けたことを特徴とする光音響分
析器の信号処理回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53119918A JPS5918652B2 (ja) | 1978-09-30 | 1978-09-30 | 光音響分析器の信号処理回路 |
DE19792938775 DE2938775A1 (de) | 1978-09-30 | 1979-09-25 | Verfahren zur messwertverarbeitung bei einem opto-akustischen spektrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53119918A JPS5918652B2 (ja) | 1978-09-30 | 1978-09-30 | 光音響分析器の信号処理回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5547434A JPS5547434A (en) | 1980-04-03 |
JPS5918652B2 true JPS5918652B2 (ja) | 1984-04-28 |
Family
ID=14773393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53119918A Expired JPS5918652B2 (ja) | 1978-09-30 | 1978-09-30 | 光音響分析器の信号処理回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5918652B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61207262A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-13 | Nippon Air Brake Co Ltd | マスタシリンダ |
JPS6314458U (ja) * | 1986-07-15 | 1988-01-30 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2336747B1 (en) * | 2004-05-06 | 2017-08-30 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Component concentration measuring device |
-
1978
- 1978-09-30 JP JP53119918A patent/JPS5918652B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61207262A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-13 | Nippon Air Brake Co Ltd | マスタシリンダ |
JPS6314458U (ja) * | 1986-07-15 | 1988-01-30 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5547434A (en) | 1980-04-03 |
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