JPS5918434A - 局所的に不均一に分配された面屈折率を有するレンズを試験する方法及び装置 - Google Patents
局所的に不均一に分配された面屈折率を有するレンズを試験する方法及び装置Info
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- JPS5918434A JPS5918434A JP58111969A JP11196983A JPS5918434A JP S5918434 A JPS5918434 A JP S5918434A JP 58111969 A JP58111969 A JP 58111969A JP 11196983 A JP11196983 A JP 11196983A JP S5918434 A JPS5918434 A JP S5918434A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
- G01M11/0264—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested by using targets or reference patterns
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、局所的に不均等に分配された面層折率な有す
るレンズを試験する方法及び装置に関する。
るレンズを試験する方法及び装置に関する。
眼科光学においては、累進度数眼鏡レンズ、すなわち局
所的に異なった複数の面層折率を有し、種々異なった領
域間の移行が連続的である眼鏡レンズが一層使用される
ようになった。この種のレンズにおいては、該レンズ面
の少なくとも一方の面は回転対称形からずれている、す
なわち非球面である。
所的に異なった複数の面層折率を有し、種々異なった領
域間の移行が連続的である眼鏡レンズが一層使用される
ようになった。この種のレンズにおいては、該レンズ面
の少なくとも一方の面は回転対称形からずれている、す
なわち非球面である。
製作の際に、レンズ特にまた眼鏡レンズは、該レンズが
所望の面層折率を有しているかどうかかつどの程度正確
に有しているかが十分に試験されねばならない。このよ
うな試験は、球面レンズにおいては大抵干渉的に行なわ
れる。そのために試験すべき面上に同一の、但し反対の
符号を有する曲率を有する試料ガラスが置かれかつ両者
の面間の極めて薄い空気層内に生じる干渉現像が観察さ
れる。
所望の面層折率を有しているかどうかかつどの程度正確
に有しているかが十分に試験されねばならない。このよ
うな試験は、球面レンズにおいては大抵干渉的に行なわ
れる。そのために試験すべき面上に同一の、但し反対の
符号を有する曲率を有する試料ガラスが置かれかつ両者
の面間の極めて薄い空気層内に生じる干渉現像が観察さ
れる。
このような品質試験は非球面レンズにおいては殆んど実
施不能でありかつ更に極めて高（つ（ことが即座に理解
される。
施不能でありかつ更に極めて高（つ（ことが即座に理解
される。
検出器を用いて点毎に試験すべき面を測定する方法は確
かに正確な結果をもたらすが、しかしながらプロセス制
御には適用できない程にめんどうでありかつ費用がかか
る。
かに正確な結果をもたらすが、しかしながらプロセス制
御には適用できない程にめんどうでありかつ費用がかか
る。
合成したホログラムを用いる自体公知の干渉計試験も確
かに可能であるが、しかしながら高（つきかつ調整が微
妙であり、従ってプロセス制御には適用不能である。
かに可能であるが、しかしながら高（つきかつ調整が微
妙であり、従ってプロセス制御には適用不能である。
ところで、本発明の課題は、簡単に実施可能でありかつ
試験体の面層折率が目標面屈折率からどこでかつどの程
度ずれているがという評価を極めて迅速に行なうことが
できる、局所的に不均一な面層折率を有するレンズを試
験するための方法及び装置を提供することであった。
試験体の面層折率が目標面屈折率からどこでかつどの程
度ずれているがという評価を極めて迅速に行なうことが
できる、局所的に不均一な面層折率を有するレンズを試
験するための方法及び装置を提供することであった。
この課題は、本発明により、まずマスターレンズを内蔵
する光路を介してテストチャートの像を形成させかつ写
真によって固定し、次いで該テスト像を透射しかつマス
ターレンズの代りに試験すべきし、ンズが配置された同
じ光路を介して上記テストチャート上に結像させ、かつ
最後にテストチャートとテスト像の結像との間のずれに
基づき目標面屈折率からの試験体の部属折率のずれの局
所的分布を測定することを特徴とする、局所的に不均一
に分配された面層折率を有するレンズを試験する方法に
よって解決された。
する光路を介してテストチャートの像を形成させかつ写
真によって固定し、次いで該テスト像を透射しかつマス
ターレンズの代りに試験すべきし、ンズが配置された同
じ光路を介して上記テストチャート上に結像させ、かつ
最後にテストチャートとテスト像の結像との間のずれに
基づき目標面屈折率からの試験体の部属折率のずれの局
所的分布を測定することを特徴とする、局所的に不均一
に分配された面層折率を有するレンズを試験する方法に
よって解決された。
従って、本発明方法においては、任意に構成したテスト
チャートをマスターレンズ、すなわち所望の目標面屈折
率を有するレンズを投入して面に結像させかつそこに生
じた試験像の写真で固定する。そうして、同一の、但し
反対方向で透過する光学系を用いて試験像を再びテスト
チャートに結像させると、マスターレンズが光路内にあ
る限り、ずれを認識することはできない０それに対して
、マスターレンズを試験スべきレンズと置換ると、該レ
ンズで結像されるテスｉ・像は試験体の誤差に相応して
テストチャートからずれる。従って、−目でどこに、ど
の程度のずれが存在するかを認識することができる。
チャートをマスターレンズ、すなわち所望の目標面屈折
率を有するレンズを投入して面に結像させかつそこに生
じた試験像の写真で固定する。そうして、同一の、但し
反対方向で透過する光学系を用いて試験像を再びテスト
チャートに結像させると、マスターレンズが光路内にあ
る限り、ずれを認識することはできない０それに対して
、マスターレンズを試験スべきレンズと置換ると、該レ
ンズで結像されるテスｉ・像は試験体の誤差に相応して
テストチャートからずれる。従って、−目でどこに、ど
の程度のずれが存在するかを認識することができる。
テスト像はテストチャートの陰画として写真で固定する
のが有利である。そうすると、この場合には試験体が偏
差を有しない限り、試験の際にテストチャート面内に均
一に黒化された面が生じる。それに対して、試験体が偏
差を有する場合には、テストチャート面に白色の縁が生
じる。
のが有利である。そうすると、この場合には試験体が偏
差を有しない限り、試験の際にテストチャート面内に均
一に黒化された面が生じる。それに対して、試験体が偏
差を有する場合には、テストチャート面に白色の縁が生
じる。
場合によって、試験面内の試験体の誤差が色線によって
識別されるように、陰画像を着色するのが有利なことも
ある。
識別されるように、陰画像を着色するのが有利なことも
ある。
テストチャートをその線の太さが許容偏差に相応するよ
うに構成するのが特に有利である。
うに構成するのが特に有利である。
この許容偏差は例えば’／／８ｄｐｉまで確認すること
ができ、このことは１実施例においてはテストチャート
の０．７ ｍｍの線の太さになる。
ができ、このことは１実施例においてはテストチャート
の０．７ ｍｍの線の太さになる。
テスト像としては、相互に均一かつ平行である線の・ξ
ターン、すなわち格子を使用することができる。この場
合には、試験体の偏差によって惹起される光線が特に良
好に観察される。
ターン、すなわち格子を使用することができる。この場
合には、試験体の偏差によって惹起される光線が特に良
好に観察される。
前記方法を、テスト像面にテスト像が形成された後、そ
の形成のために使用したオリジナルテストチャートを、
線の代りに暗色の線で縁取りされた明るい線条を有する
テストチャートと交換するように構成することも可能で
ある。この場合には、実際の試験〒はテスト像の線は新
しいテストチャートの線の間に結像される。この場合に
も、偏差によって惹起されるいかなる光線が特に顕著に
生じる。
の形成のために使用したオリジナルテストチャートを、
線の代りに暗色の線で縁取りされた明るい線条を有する
テストチャートと交換するように構成することも可能で
ある。この場合には、実際の試験〒はテスト像の線は新
しいテストチャートの線の間に結像される。この場合に
も、偏差によって惹起されるいかなる光線が特に顕著に
生じる。
前記試験法を実施する装置においては、テストチャート
の面とテスト像面との間にマスターレンズないしは試験
すべきレンズを支持する支持体と、前方に小さい開口の
絞を有する対物レンズとが設けられている。結像光路内
の小さな開口は、試験体の大きな屈折率差を補償するた
めに役立つ。
の面とテスト像面との間にマスターレンズないしは試験
すべきレンズを支持する支持体と、前方に小さい開口の
絞を有する対物レンズとが設けられている。結像光路内
の小さな開口は、試験体の大きな屈折率差を補償するた
めに役立つ。
本発明の試験法を累進度数眼鏡レンズを試験するために
使用する場合には、テストチャートを光路の光軸に対し
て傾斜して延びる面内に配置し、核部の斜度を調節可能
にするのが有利である。それによって、ある程度累進度
数面全体に渡る屈折率分布を補償することができる。
使用する場合には、テストチャートを光路の光軸に対し
て傾斜して延びる面内に配置し、核部の斜度を調節可能
にするのが有利である。それによって、ある程度累進度
数面全体に渡る屈折率分布を補償することができる。
次に、図示の実施例につき本発明の詳細な説明する。
第１図には、テストチャートを支持するために役立つ面
が１で示されている。このテストチャートは例えば第２
ａ図から明らかな格子の図案を有する。面１は傾斜して
おり、この斜度は二重矢印２で示されているように調節
可能である。３で試験体生を支持するための支持体が示
されている。５は小さな開口の絞りを示し、該開口は例
えばＬＯｍｍの直径を有していてもよい。
が１で示されている。このテストチャートは例えば第２
ａ図から明らかな格子の図案を有する。面１は傾斜して
おり、この斜度は二重矢印２で示されているように調節
可能である。３で試験体生を支持するための支持体が示
されている。５は小さな開口の絞りを示し、該開口は例
えばＬＯｍｍの直径を有していてもよい。
この絞りの後方には、対物レンズ６が配置され、該対物
レンズはレンズ牛と一緒に面７にテストチャートの像を
形成する。このテスト像は、試験体牛が累進度数眼鏡レ
ンズとして構成されている場合には、例えば第２図から
明らかな図柄を有することができる。
レンズはレンズ牛と一緒に面７にテストチャートの像を
形成する。このテスト像は、試験体牛が累進度数眼鏡レ
ンズとして構成されている場合には、例えば第２図から
明らかな図柄を有することができる。
面７に生じたテスト像は写真で固定され、それにより例
えばテストチャートの陰画像が生じる。
えばテストチャートの陰画像が生じる。
次いで、本試験のためには、面７に配置されたテスト像
は光源８及びコンデンサ９を介して透射されかつ光学系
６，５．４によって面１に配置されたテストチャート上
に結像せしめられる。
は光源８及びコンデンサ９を介して透射されかつ光学系
６，５．４によって面１に配置されたテストチャート上
に結像せしめられる。
マスターレンズ生が光路内にのこっていれば、面７に配
置されたテストチャートの印画像によって形成される黒
線は第２ａ図のテストチャート内の線間の中空を正確に
充塞する。そのようにして、面１内に均一に黒化された
画像が観察される。
置されたテストチャートの印画像によって形成される黒
線は第２ａ図のテストチャート内の線間の中空を正確に
充塞する。そのようにして、面１内に均一に黒化された
画像が観察される。
次いで、マスターレンズを試験すべきレンズと置換える
と、テストチャートの面１に明るい“光線が生じ、該光
線は試験体の面層折率が目標面屈折率から局所的にずれ
ていることを直接的に教示する。
と、テストチャートの面１に明るい“光線が生じ、該光
線は試験体の面層折率が目標面屈折率から局所的にずれ
ていることを直接的に教示する。
第３図の実施例には、テストチャートと支持体３との間
に補償光学系が配置されており、該光学系は視野レンズ
１０及び補償レンズ１１がら成る。この光学系は試験体
の屈折作用の所定の分を補償するために役立つ。
に補償光学系が配置されており、該光学系は視野レンズ
１０及び補償レンズ１１がら成る。この光学系は試験体
の屈折作用の所定の分を補償するために役立つ。
ここまで説明してきた装置は、極めて有利に累進度数眼
鏡レンズを試験するために、特にまたプロセス制御にお
いても使用することができる。この種のレンズを試験す
る際には、第３図の実施例に相当する装置が有利に使用
され、その際テスト像は例えば第４図に示した図案を有
することができる。
鏡レンズを試験するために、特にまたプロセス制御にお
いても使用することができる。この種のレンズを試験す
る際には、第３図の実施例に相当する装置が有利に使用
され、その際テスト像は例えば第４図に示した図案を有
することができる。
第１図は本発明装置の１失施例を示す構成図、第２ａ図
はテストチャートを示す図、第２ｂ図は第２ａ図のテス
トチャートから結像光路に累進度数眼鏡レンズを投入し
て形成されたテスト像を示す図、第３図は試験装置の別
の実施例を示す構成図及び第４図は例えば累進度数眼鏡
レンズを試験するために使用されるテストチャートの第
２失施例を示す図である。 ■・・・テス］・チャートの支持面、３・・−支持体、
４−・・・マスターレンズ、凸・・・絞り、６・・・対
物レンズ、■・・・陰画面、８．９・・・投射系、１０
，１１・・・補償光学系
はテストチャートを示す図、第２ｂ図は第２ａ図のテス
トチャートから結像光路に累進度数眼鏡レンズを投入し
て形成されたテスト像を示す図、第３図は試験装置の別
の実施例を示す構成図及び第４図は例えば累進度数眼鏡
レンズを試験するために使用されるテストチャートの第
２失施例を示す図である。 ■・・・テス］・チャートの支持面、３・・−支持体、
４−・・・マスターレンズ、凸・・・絞り、６・・・対
物レンズ、■・・・陰画面、８．９・・・投射系、１０
，１１・・・補償光学系
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 まずマスターレンズを内蔵する光路を介してテス
トチャートの像を形成させかつ写真によって固定し、次
いで該テスト像を透射しかつマスターレンズの代りに試
験すべきレンズが配置された同じ光路を介して上記テス
トチャート上例結像させ、かつ最後にテストチャートと
テスト像の結像との間のずれに基づき目標面屈折率から
の試験体の正屈折率のずれの局所的分布を測定すること
を特徴とする、局所的に不均一に分配された正屈折率を
有するレンズを試験する方法。 ２、テスト像をテストチャートの陰画として固定する、
特許請求の範囲第１項記載の方法。 ３、陰画像を特徴する特許請求の範囲第２項記載の方法
。 屯 テストチャートとして格子状の線ノミターンを特徴
する特許請求の範囲第１項記載の方法０ ５、 まずマスターレンズを内蔵する光路を介してテス
トチャートの像を形成しかつ写真によって固定し、次い
〒該テスト像を透射しかつマスターレンズの代りに試験
すべきレンズが配置された同じ光路を介して上記テスト
チャート上に結像させ、かつ最後にテストチャートとテ
スト像の結像との間のずれに基づき目標面屈折率からの
試験体の正屈折率のずれの局所的分布を測定することに
より、局所的に不均一に分配された正屈折率を有するレ
ンズを試験する装置において、テストチャートを保持す
るために役立つ面（１）、テストチャートを陰画面（７
）に結合させるために役立つ光学系を有し、該光学系が
マスターレンズ（４）ないしは試験すべきレンズを保持
するための支持体（３）と、前方に小さな開口の絞り（
５）を有する対物レンズとを内蔵しており、かつ陰画面
（７）を透射するための照明系（８，９）を有している
ことを特徴とする、局所的に不均一に分配された面層折
率を有するレンズを試験する装置。 ６、テストチャー１・とレンズ支持体（３）との間に試
験体の屈折作用の所定の分を補償するための補償光学系
（１０，１１）が配置されている、特許請求の範囲第５
項記載の装置。 ７ テストチャートとして線チャートを使用し、該線チ
ャートの線の太さが試験すべきレンズの許容偏差に一致
する、特許請求の範囲第５項又は第６項記載の装置。 ８、テスｉ・チャートを受容するために役立つ面（１）
が結像光路の光軸に対して傾斜して配置されている、特
許請求の範囲第５項又は第６項記載の装置。 ９ 面（１）の斜度が調節可能である、特許請求の範囲
第８項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19823225343 DE3225343A1 (de) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | Verfahren und vorrichtung zur pruefung von linsen |
| DE32253435 | 1982-07-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5918434A true JPS5918434A (ja) | 1984-01-30 |
Family
ID=6167823
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58111969A Pending JPS5918434A (ja) | 1982-07-07 | 1983-06-23 | 局所的に不均一に分配された面屈折率を有するレンズを試験する方法及び装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4545678A (ja) |
| EP (1) | EP0100442B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5918434A (ja) |
| DE (2) | DE3225343A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9935032B2 (en) | 2016-04-18 | 2018-04-03 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Power electronics arrangement and vehicle with said arrangement |
| DE102018004596A1 (de) | 2017-06-12 | 2018-12-13 | Ngk Insulators, Ltd. | Verfahren zur Untersuchung einer in einem Gassensorelement bereitgestellten Elektrode |
| DE102018005701A1 (de) | 2017-07-20 | 2019-01-24 | Ngk Insulators, Ltd. | Gassensor-Kalibrier-Verfahren |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4798460A (en) * | 1986-11-07 | 1989-01-17 | Buffington Robert D | Method and apparatus for detecting and modifying peripheral curves and junction ridges in contact lenses |
| DE10126546A1 (de) * | 2001-05-30 | 2002-12-05 | Wilfried Donner | Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung eines ortsabhängigen Intensitäts- und Farbprofils und/oder Schärfeprofils optischer Linsensysteme |
| JP2009049192A (ja) * | 2007-08-20 | 2009-03-05 | Canon Inc | レンズの交換方法および代替レンズの製造方法 |
| PL3076148T3 (pl) * | 2015-03-31 | 2019-10-31 | Trioptics Gmbh | Urządzenie i sposób pomiaru właściwości odwzorowania optycznego systemu odwzorowującego |
| US10775266B2 (en) | 2016-02-12 | 2020-09-15 | Shamir Optical Industry Ltd | Methods and systems for testing of eyeglasses |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3723010A (en) * | 1971-02-19 | 1973-03-27 | Northrop Corp | Holographic method and apparatus for checking the optical characteristics of transparent members |
| US3713741A (en) * | 1972-01-03 | 1973-01-30 | Western Electric Co | Methods of and apparatus for locating solder faults |
| US3976383A (en) * | 1975-02-28 | 1976-08-24 | The Bendix Corporation | Visual method of locating faults in printed circuit boards |
| US4213701A (en) * | 1978-10-30 | 1980-07-22 | Lanzilloti J J | Lens testing apparatus and method |
| US4310242A (en) * | 1980-04-01 | 1982-01-12 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Field test unit for windscreen optical evaluation |
| DE3019930A1 (de) * | 1980-05-24 | 1981-12-03 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren zur moire-metrischen pruefung |
| US4461570A (en) * | 1982-06-09 | 1984-07-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method for dynamically recording distortion in a transparency |
-
1982
- 1982-07-07 DE DE19823225343 patent/DE3225343A1/de not_active Withdrawn
-
1983
- 1983-06-23 JP JP58111969A patent/JPS5918434A/ja active Pending
- 1983-07-01 EP EP83106409A patent/EP0100442B1/de not_active Expired
- 1983-07-01 US US06/510,264 patent/US4545678A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-07-01 DE DE8383106409T patent/DE3366734D1/de not_active Expired
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9935032B2 (en) | 2016-04-18 | 2018-04-03 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Power electronics arrangement and vehicle with said arrangement |
| DE102018004596A1 (de) | 2017-06-12 | 2018-12-13 | Ngk Insulators, Ltd. | Verfahren zur Untersuchung einer in einem Gassensorelement bereitgestellten Elektrode |
| DE102018005701A1 (de) | 2017-07-20 | 2019-01-24 | Ngk Insulators, Ltd. | Gassensor-Kalibrier-Verfahren |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0100442A1 (de) | 1984-02-15 |
| DE3225343A1 (de) | 1984-01-12 |
| US4545678A (en) | 1985-10-08 |
| DE3366734D1 (en) | 1986-11-13 |
| EP0100442B1 (de) | 1986-10-08 |
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