JPS59182332A - フイルム強度測定装置 - Google Patents
フイルム強度測定装置Info
- Publication number
- JPS59182332A JPS59182332A JP5695383A JP5695383A JPS59182332A JP S59182332 A JPS59182332 A JP S59182332A JP 5695383 A JP5695383 A JP 5695383A JP 5695383 A JP5695383 A JP 5695383A JP S59182332 A JPS59182332 A JP S59182332A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- measurement
- probe
- memory
- sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/026—Specifications of the specimen
- G01N2203/0262—Shape of the specimen
- G01N2203/0278—Thin specimens
- G01N2203/0282—Two dimensional, e.g. tapes, webs, sheets, strips, disks or membranes
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はフィル上強度測定装置に関し、特に検針の押圧
によりフィルムを破壊する方式の測定装置に関する。
によりフィルムを破壊する方式の測定装置に関する。
従来、例えばプリント回路基板のパターン作成時に用い
るフォトレジストのフィルム強度ヲ測定するために、荷
重センサに検針を取り付け、一定速度でフィルム面を押
圧し、フィルムが破壊する過程の信号をレコーダに記録
し、その後、チャート紙のグラフを目視によりパルス性
雑音を除去しながら、無荷重レベルと破断時のピーク値
を読み取り、破断強度を求めていた。
るフォトレジストのフィルム強度ヲ測定するために、荷
重センサに検針を取り付け、一定速度でフィルム面を押
圧し、フィルムが破壊する過程の信号をレコーダに記録
し、その後、チャート紙のグラフを目視によりパルス性
雑音を除去しながら、無荷重レベルと破断時のピーク値
を読み取り、破断強度を求めていた。
また、レジスト皮膜の微小部分の強さはその部位による
バラツキが大きく、そのため一種類の試料について ２
０〜４０点の測定を行い統計的手法によりデータを処理
していた。
バラツキが大きく、そのため一種類の試料について ２
０〜４０点の測定を行い統計的手法によりデータを処理
していた。
このような従来手法によれば、測定と同時にフィルム強
度が得られない、目視によるグラフ読み取りが介在する
ため個人差がある、人手によるデータ処理のため作業能
率が悪い等の欠点があった。
度が得られない、目視によるグラフ読み取りが介在する
ため個人差がある、人手によるデータ処理のため作業能
率が悪い等の欠点があった。
本発明の目的は、自動的にパルス性雑音を除去しながら
、自動的にフィルム強度を算出し、必要により、統計的
データ処理も行うフィルム強度測定装置を提供すること
にある。
、自動的にフィルム強度を算出し、必要により、統計的
データ処理も行うフィルム強度測定装置を提供すること
にある。
本発明のフィルム強度測定装置は、測定すべきフィルム
に当接する検針の荷重を電気信号に変換するセンサと、
その検針を一定速度で変位させる検針変位手段と、上記
センサの出力信号に係るデジタル値を所定時間間隔ごと
に記憶するメモリと、そのメモリに記憶された後の値か
ら前の値を減じた差が所定値よりも大きいことから測定
開始点を検出する手段と、そのメモリに記憶された後の
値から前の値を減じた差が所定値よりも小さいことから
フィルム破断点を検出する手段と、上記測定開始点にお
ける上記メモリの値と上記破断点における上記メモリの
値の差からフィルム強度を算出する手段を有することに
より特徴づけられる。
に当接する検針の荷重を電気信号に変換するセンサと、
その検針を一定速度で変位させる検針変位手段と、上記
センサの出力信号に係るデジタル値を所定時間間隔ごと
に記憶するメモリと、そのメモリに記憶された後の値か
ら前の値を減じた差が所定値よりも大きいことから測定
開始点を検出する手段と、そのメモリに記憶された後の
値から前の値を減じた差が所定値よりも小さいことから
フィルム破断点を検出する手段と、上記測定開始点にお
ける上記メモリの値と上記破断点における上記メモリの
値の差からフィルム強度を算出する手段を有することに
より特徴づけられる。
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図に被測定物を併記した実施例の構成図を示す。被
測定物はプリント回路基板にボトエソチングを施こす前
の状態であって、プリント回路基板１にスルーホール２
が穿孔され、基板１０両面にフォトレジスト膜３．３が
塗布形成されている。
測定物はプリント回路基板にボトエソチングを施こす前
の状態であって、プリント回路基板１にスルーホール２
が穿孔され、基板１０両面にフォトレジスト膜３．３が
塗布形成されている。
測定すべき点はスルーホール２上を覆っているフォトレ
ジスト膜３の破壊強度である。
ジスト膜３の破壊強度である。
検針４は直径が０．６〜０．８１で先端が丸められてい
る。その検針の軸方向の力を電気信号に変換するための
荷重センサ５は、上下方向変位部材６の先端に取付けら
れ、正逆両方向モータ７とネジ機構８により毎分１５〜
３０韮の一定速度で下降し、速やかに上昇復帰するよう
構成されている。モータ７はモータ制御部９により制御
され、スタートスイッチ１０のオンにより下降から復帰
に至るｌサイクルを実行する。
る。その検針の軸方向の力を電気信号に変換するための
荷重センサ５は、上下方向変位部材６の先端に取付けら
れ、正逆両方向モータ７とネジ機構８により毎分１５〜
３０韮の一定速度で下降し、速やかに上昇復帰するよう
構成されている。モータ７はモータ制御部９により制御
され、スタートスイッチ１０のオンにより下降から復帰
に至るｌサイクルを実行する。
荷重センサ５の電気出力は、増幅回路１１． Ａ／Ｄ変
換機１２を至でデジタル信号に変換され、マイクロコン
ピュータ１３に入力される。マイクロコンピュータ１３
はインターフェース１４、プログラム等を記憶するリー
ドオンリーメモリ （ＲＯＭ）１５、シフトレジスタＡ
［］−Ａ４等を含むランダムアクセスメモリ （ＲＡＭ
）１６、オペレータの意志をコンピュータに入力するた
めのキーボード１７、コンピュータのデータ処理結果を
可視表示するためのデスプレイ１８及びプリンタ１９、
外部メモリ２０、並びに、プログラムに従い各部を制御
するための中央処理装置（ＣＰＵ）２１を備えている。
換機１２を至でデジタル信号に変換され、マイクロコン
ピュータ１３に入力される。マイクロコンピュータ１３
はインターフェース１４、プログラム等を記憶するリー
ドオンリーメモリ （ＲＯＭ）１５、シフトレジスタＡ
［］−Ａ４等を含むランダムアクセスメモリ （ＲＡＭ
）１６、オペレータの意志をコンピュータに入力するた
めのキーボード１７、コンピュータのデータ処理結果を
可視表示するためのデスプレイ１８及びプリンタ１９、
外部メモリ２０、並びに、プログラムに従い各部を制御
するための中央処理装置（ＣＰＵ）２１を備えている。
第２図に、メモリ１５に記憶されているプログラムの内
容をフローチャ・−トにより示し、第３図にセンサ５の
出力波形例を示す。以下、これに従い作用を説明する。
容をフローチャ・−トにより示し、第３図にセンサ５の
出力波形例を示す。以下、これに従い作用を説明する。
荷重センサ５の出力信号は待機状態において時に鋭いパ
ルス性雑音Ａを出力することがあるが通常はバックグラ
ウンドノイズを含むレベルにある。
ルス性雑音Ａを出力することがあるが通常はバックグラ
ウンドノイズを含むレベルにある。
測定が開始されるとセンサ５がフィルムに当接したとき
から出力信号が増大し、破断後急激に低下してやがて元
の待機状態のレベルに戻る。
から出力信号が増大し、破断後急激に低下してやがて元
の待機状態のレベルに戻る。
測定が開始されると、ＲＯＭのシフトレジスタＡＯ〜Ａ
４に順次測定データが読み込まれる。すなわち、最も新
しいデータがＡｏに読み込まれ、Ａｏ→Ａ１→−−−−
−−−−＝ Ａ ４の順にシフトされ、Ａ４の内容は次
に捨てられる。データのサンプリング時間は、測定時間
の継続時間に比して十分に小さい時間、通常２０ ｍ秒
〜５０ｍ秒である。また、データのサンプリング間隔は
パルス性雑音の時間幅よりも長く、通常は ０．１秒〜
０．２秒の範囲の一定時間に選ばれる。第３図のＳ ｎ
、 Ｓｎ−＋、 −−−Ｓリー十は、測定開始時のあ
る時刻におけるレジスタＡＤ。
４に順次測定データが読み込まれる。すなわち、最も新
しいデータがＡｏに読み込まれ、Ａｏ→Ａ１→−−−−
−−−−＝ Ａ ４の順にシフトされ、Ａ４の内容は次
に捨てられる。データのサンプリング時間は、測定時間
の継続時間に比して十分に小さい時間、通常２０ ｍ秒
〜５０ｍ秒である。また、データのサンプリング間隔は
パルス性雑音の時間幅よりも長く、通常は ０．１秒〜
０．２秒の範囲の一定時間に選ばれる。第３図のＳ ｎ
、 Ｓｎ−＋、 −−−Ｓリー十は、測定開始時のあ
る時刻におけるレジスタＡＤ。
Ａ １、−−−−−−−Ａ４の内容を表わし、Ｓｍ、
Ｓ＋ｎ−＋、 −８ｎｔ＋は破断時のある時刻におけ
るレジスタＡＯ。
Ｓ＋ｎ−＋、 −８ｎｔ＋は破断時のある時刻におけ
るレジスタＡＯ。
Ａ ｓ 、 −−−−−−−−Ａ ４の内容を表わして
いる。
いる。
測定開始の判定レベルＬＳｔ及び破断の判定レベルＬｂ
ｄはキーボード１７からあらかじめ設定されている。プ
ログラムの判定ステップ２２及び２３はまず最新のデー
タＳｎと２ポイント前のデータ５ｎ−ｚの差（Ｓ ｎ
−５ｌ−ｚ）が１ｓｔよりも大きいことを検出し、これ
がＹＥＳであれば更に、２ポイント前のデータＳＨ〕−
＞と４ポイント前のデータ５ｎ−４の差（’５ｎ−ｚ
Ｓｎ−ρが１ｓｔよりも大きいことを検出し、再判断
ステップ２２．２３が共にＹＥＳのときに測定開始と判
定し、次のデータ読み取りに進む。こ・の処理により一
過性のパルス雑音が入力されてもこれを測定データと読
み誤ることがない。判断ステップ２５は最新データＳｍ
から１ポイント前のデータＳ＋＋＋−＋を減じた差（Ｓ
ｍ −Ｓ＋ｙ＋−＋ ）がＬｂｄよりも小さいことを
検出する。第３図に示す測定例において（Ｓｍ −Ｓｍ
−＋） ＜ ０になっている。前述した判断ステップ２
３がＹＥＳと判断されて測定開始と判定されたとき、レ
ジスタＡ４の内容５ｎ−４−がＳｍ１ｎとしてメモリに
一時記憶される。判断ステップ２４がＹＥＳと判断され
て破断と判定されたのちのステップ２６にてＳｍ、
Ｓｎ−＋。
ｄはキーボード１７からあらかじめ設定されている。プ
ログラムの判定ステップ２２及び２３はまず最新のデー
タＳｎと２ポイント前のデータ５ｎ−ｚの差（Ｓ ｎ
−５ｌ−ｚ）が１ｓｔよりも大きいことを検出し、これ
がＹＥＳであれば更に、２ポイント前のデータＳＨ〕−
＞と４ポイント前のデータ５ｎ−４の差（’５ｎ−ｚ
Ｓｎ−ρが１ｓｔよりも大きいことを検出し、再判断
ステップ２２．２３が共にＹＥＳのときに測定開始と判
定し、次のデータ読み取りに進む。こ・の処理により一
過性のパルス雑音が入力されてもこれを測定データと読
み誤ることがない。判断ステップ２５は最新データＳｍ
から１ポイント前のデータＳ＋＋＋−＋を減じた差（Ｓ
ｍ −Ｓ＋ｙ＋−＋ ）がＬｂｄよりも小さいことを
検出する。第３図に示す測定例において（Ｓｍ −Ｓｍ
−＋） ＜ ０になっている。前述した判断ステップ２
３がＹＥＳと判断されて測定開始と判定されたとき、レ
ジスタＡ４の内容５ｎ−４−がＳｍ１ｎとしてメモリに
一時記憶される。判断ステップ２４がＹＥＳと判断され
て破断と判定されたのちのステップ２６にてＳｍ、
Ｓｎ−＋。
−−−Ｓ ＋、＋のうち最大のものを求めて最大値Ｓｍ
ａｘを決定し、ステップ２７にてフィルム強度Ｆｓ ｔ
＝Ｋ （Ｓｍａｘ−３ｍｉｎ）が算出される。その後、
必要により多数のフィルム強度について統計的データ処
理、表示等が実行される。
ａｘを決定し、ステップ２７にてフィルム強度Ｆｓ ｔ
＝Ｋ （Ｓｍａｘ−３ｍｉｎ）が算出される。その後、
必要により多数のフィルム強度について統計的データ処
理、表示等が実行される。
本発明によれば、次の諸効果がある。
■レコーダで測定記録を採る必要がない。
■荷重センサ出力のベースラインの調節作業が不要にな
った。
った。
■測定者の個人差がなくなり測定精度が向上した。
■レコーダのグラフより測定値を読み取る作業が不要に
なり、リアルタイムで測定結果を得ることができる。
なり、リアルタイムで測定結果を得ることができる。
第１図は本発明の実施例を示す構成図、第２図は本発明
実施例のプログラム内容を示すフローチャート、第３図
は作用説明図である。 ３−測定すべきフィルム ４−検針 ５−センサ ７−モータ ８−ネジ機構 １２−Ａ ／ Ｄ変換器 １．１−ｍ−マイクロコンピュータ １６・−・メモリ ２２．２３−測定開始点検出手段 ２５−破断点検出手段 ２７− フィルム強度算出手段 第３図 一１８′。
実施例のプログラム内容を示すフローチャート、第３図
は作用説明図である。 ３−測定すべきフィルム ４−検針 ５−センサ ７−モータ ８−ネジ機構 １２−Ａ ／ Ｄ変換器 １．１−ｍ−マイクロコンピュータ １６・−・メモリ ２２．２３−測定開始点検出手段 ２５−破断点検出手段 ２７− フィルム強度算出手段 第３図 一１８′。
Claims (1)
- 測定すべきフィルムに当接する検針の荷重を電気信号に
変換するセンサと、その検針を一定速度で変位させる検
針変位手段と、上記センサの出力信号に係るデジタル値
を所定時間間隔ごとに記憶するメモリと、そのメモリに
記憶された後の値から前の値を減じた差が所定値よりも
大きいことから測定開始点を検出する手段と、そのメモ
リに記憶された後の値から前の値を減じた差が所定値よ
りも小さいことからフィルム破断点を検出する手段と、
上記測定開始点における上記メモリの値と上記破断点に
おける上記メモリの値の差からフィルム強度を算出する
手段を有するフィルム強度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5695383A JPS59182332A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | フイルム強度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5695383A JPS59182332A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | フイルム強度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59182332A true JPS59182332A (ja) | 1984-10-17 |
Family
ID=13041905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5695383A Pending JPS59182332A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | フイルム強度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59182332A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0288942A (ja) * | 1988-09-26 | 1990-03-29 | Shimadzu Corp | 疲労試験結果の記緑装置 |
| EP3460446A1 (en) * | 2017-09-21 | 2019-03-27 | Shimadzu Corporation | Noise removal method of material test and material testing machine |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP5695383A patent/JPS59182332A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0288942A (ja) * | 1988-09-26 | 1990-03-29 | Shimadzu Corp | 疲労試験結果の記緑装置 |
| EP3460446A1 (en) * | 2017-09-21 | 2019-03-27 | Shimadzu Corporation | Noise removal method of material test and material testing machine |
| US10871408B2 (en) | 2017-09-21 | 2020-12-22 | Shimadzu Corporation | Noise removal method of material test and material testing machine |
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