JPS59174743A - ケ−ブルおよび導体の表面探傷用の光学式試験装置 - Google Patents
ケ−ブルおよび導体の表面探傷用の光学式試験装置Info
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- JPS59174743A JPS59174743A JP59045364A JP4536484A JPS59174743A JP S59174743 A JPS59174743 A JP S59174743A JP 59045364 A JP59045364 A JP 59045364A JP 4536484 A JP4536484 A JP 4536484A JP S59174743 A JPS59174743 A JP S59174743A
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- test device
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の、寓する技術分野〕
本発明は、ケーブルおよび導体の表面の鳴を探すために
用いられ、試験対象物の表面を環状に照明する光源上、
彼方散乱光を検出する半殻および光検出器とを含んでい
る光学式試験装置に関する。
用いられ、試験対象物の表面を環状に照明する光源上、
彼方散乱光を検出する半殻および光検出器とを含んでい
る光学式試験装置に関する。
電気ケーブルの製造の際に・・ま引抜きにより絶縁物ノ
がケーブル心または導体の上ｅこかぶせられる。
がケーブル心または導体の上ｅこかぶせられる。
その際に絶、１蝋物の表面に傷が生ずる可能性があり、
この傷−ｉ絶縁・侍姓を悪くシ、またはその外観のため
に顧客に劣等なケーブルであるとの主観的印象を与える
。
この傷−ｉ絶縁・侍姓を悪くシ、またはその外観のため
に顧客に劣等なケーブルであるとの主観的印象を与える
。
現在の引抜工程で・は引抜速度か比較的速いために、高
速で速動するケーブルの全表面を人間が目視↑灸資する
ことは不′ｏＪ能である。
速で速動するケーブルの全表面を人間が目視↑灸資する
ことは不′ｏＪ能である。
現在、ケーブル表面を光学的に試験することはケーブル
メーカーにより知られている。、１つの方・去では４つ
の方向に直径が決められる。この場合孔・ま検出され得
、ないし、非円形ゆ而を・拝するケーブルま試験ちれ侍
ない。なぜならば、ケーブルがその長手方向ｌＩｈ線の
まわりに回転され得るからである。
メーカーにより知られている。、１つの方・去では４つ
の方向に直径が決められる。この場合孔・ま検出され得
、ないし、非円形ゆ而を・拝するケーブルま試験ちれ侍
ない。なぜならば、ケーブルがその長手方向ｌＩｈ線の
まわりに回転され得るからである。
他の１つの方法でなよ、表面の非平面性により散乱され
る光が検出される。そのためＶこは４つまた・・ま６つ
の星形に配置されたランプおよび受光器ユニットが必要
とされる。２種類の受光器が存在する。その１つｉ、−
ｉ 、 ケーブル周囲の約１／６に相当する長さのス
トリップを１つの間隙により光学的に走査する。これは
望ましくない信号対・４ ｆ比を惹起する。他の１つ・
ハ、周囲に沿いストリップを点状に１つの回転鏡により
走査するが、おそらくは必沙な鏡の大ききのために十分
高い速度１ま得られない。
る光が検出される。そのためＶこは４つまた・・ま６つ
の星形に配置されたランプおよび受光器ユニットが必要
とされる。２種類の受光器が存在する。その１つｉ、−
ｉ 、 ケーブル周囲の約１／６に相当する長さのス
トリップを１つの間隙により光学的に走査する。これは
望ましくない信号対・４ ｆ比を惹起する。他の１つ・
ハ、周囲に沿いストリップを点状に１つの回転鏡により
走査するが、おそらくは必沙な鏡の大ききのために十分
高い速度１ま得られない。
ドイツ連邦共オＬ１国特許第２６３７３７Ｆ５号明細書
に、特（Ｃエナメル婦の試験用の光学式試験装置刀４ピ
載きれている。この−１場合、１１固また・ま複数１面
の光源からの光がレンズおよび説によシ試験対象物の表
面上の狭い環状ゾーン上ＶＣ焦点を結ばせられる。平ら
な表面は入射光と同一の平面内に光を反射させる。表面
に不規則性があると、反射光は回転４４円体状の鏡に向
かわせられ、強制的に受光素子上に焦点を結ばせられる
。この装置は直径が小さい場＠にのみ使用され得る。な
ぜならｌば、直径が犬蜂い場合には、受光素子上に焦点
を結ぶことがもはや保証されていないがらである。
に、特（Ｃエナメル婦の試験用の光学式試験装置刀４ピ
載きれている。この−１場合、１１固また・ま複数１面
の光源からの光がレンズおよび説によシ試験対象物の表
面上の狭い環状ゾーン上ＶＣ焦点を結ばせられる。平ら
な表面は入射光と同一の平面内に光を反射させる。表面
に不規則性があると、反射光は回転４４円体状の鏡に向
かわせられ、強制的に受光素子上に焦点を結ばせられる
。この装置は直径が小さい場＠にのみ使用され得る。な
ぜならｌば、直径が犬蜂い場合には、受光素子上に焦点
を結ぶことがもはや保証されていないがらである。
本発明・υ目的・１よ、導体およびケーブルにおける可
視的表面傷の無接触式切出の文めの冒明に記載した表面
試験装置を実現し、かつ偶・υ発生時ＩＣは箱気的信号
を発することにある。
視的表面傷の無接触式切出の文めの冒明に記載した表面
試験装置を実現し、かつ偶・υ発生時ＩＣは箱気的信号
を発することにある。
この目的は本発明によれｌハ、散乱光の方向依存性を測
定するため、壁によシ圧いｖｃ噛てられた２つの半殻か
ら成っており、試験対乗物を全周にわたって囲んでおり
、また内面を拡散散乱層でおおわれている受光器が設け
られており、また試験対象物に対して半径方向に半殻の
隔壁の間に走査光１噸に対する環状間隙か設けられてお
シ、芒らにこれらの壁に対して対称に半殻の周縁に少な
くとも各１つの光検出器が配置されて゛いることを特徴
とするケーブルおよび導体の表面探傷用の光学式試験装
置により達成される。本発明の装置によれば、細い線だ
けでなく数ｍの直径の高速で運動するケーブルをも全周
にわたって試験すること力；できる。
定するため、壁によシ圧いｖｃ噛てられた２つの半殻か
ら成っており、試験対乗物を全周にわたって囲んでおり
、また内面を拡散散乱層でおおわれている受光器が設け
られており、また試験対象物に対して半径方向に半殻の
隔壁の間に走査光１噸に対する環状間隙か設けられてお
シ、芒らにこれらの壁に対して対称に半殻の周縁に少な
くとも各１つの光検出器が配置されて゛いることを特徴
とするケーブルおよび導体の表面探傷用の光学式試験装
置により達成される。本発明の装置によれば、細い線だ
けでなく数ｍの直径の高速で運動するケーブルをも全周
にわたって試験すること力；できる。
本発明の他の詳細は特許請求の範囲第２項以丁およびＦ
記の説明に示されている。
記の説明に示されている。
以Ｆには試験対象物がケーブルであるものとして、図面
１Ｃより本発明を説明する。
１Ｃより本発明を説明する。
第１図および第２図で参照符号Ｉを付されているのはケ
ーブルの断片である。このケーブルの申し分のない平ら
な表面からｄ１垂直に当った光線２は均等１ｃ散乱され
る。散乱方向３は対称性を有し、その境面ｄまケーブル
の軸暇に対して垂直である。従って、鎖線で記入されて
いる包絡線４は入射光線の両側に対し１つの対称面を描
いている。
ーブルの断片である。このケーブルの申し分のない平ら
な表面からｄ１垂直に当った光線２は均等１ｃ散乱され
る。散乱方向３は対称性を有し、その境面ｄまケーブル
の軸暇に対して垂直である。従って、鎖線で記入されて
いる包絡線４は入射光線の両側に対し１つの対称面を描
いている。
１鴫５、たとえばり゛−プル被覆に孔が存在すると。
散乱特性の対称性が損なわれる。散乱光の包路線６ｄ、
第２図の表わし方では完全′に入射光の右側に位置する
１つの面を包んでいる。
第２図の表わし方では完全′に入射光の右側に位置する
１つの面を包んでいる。
Ｍ３図には、２つの半殻７および８から成る１つの球状
受光器が示されている。これらの半殻の間に間隙があシ
、それを通って光線２、たとえばレーザー光線が受光器
内に入り得る。参照符号９を付されているのシマ、他の
方向から到来する同一の光線である。半殻の周縁には、
散乱したレーザー光線を構出するため、少なくとも各１
つの光検出器１．２，１３．たとえば光増倍管が対称に
取けけられている。隔壁１４および１５は、散乱光が一
方の半殻から他方の半殻へ移行するのを阻止する。各１
つの囃光板１０および１１が光増潜管を直接反射光から
保護している。これらの連光板・は、第３図の実施り１
ｊとは異なり、隔壁１４，１．５に取付けられていても
よい。２つの短管１−６．１７ｉ−よひ干渉フィルタ１
．８．］、９ｖよ光検出器を周囲光による擾乱から保護
している。参照符号２（１，２］を付されているのは光
増倍管用の前置増幅器である。
受光器が示されている。これらの半殻の間に間隙があシ
、それを通って光線２、たとえばレーザー光線が受光器
内に入り得る。参照符号９を付されているのシマ、他の
方向から到来する同一の光線である。半殻の周縁には、
散乱したレーザー光線を構出するため、少なくとも各１
つの光検出器１．２，１３．たとえば光増倍管が対称に
取けけられている。隔壁１４および１５は、散乱光が一
方の半殻から他方の半殻へ移行するのを阻止する。各１
つの囃光板１０および１１が光増潜管を直接反射光から
保護している。これらの連光板・は、第３図の実施り１
ｊとは異なり、隔壁１４，１．５に取付けられていても
よい。２つの短管１−６．１７ｉ−よひ干渉フィルタ１
．８．］、９ｖよ光検出器を周囲光による擾乱から保護
している。参照符号２（１，２］を付されているのは光
増倍管用の前置増幅器である。
第４図には、レーザー２２から発せられるレーザー光線
の４き方が示されている。撮動規２３が光を相次いで性
々のＪ２４に向かわせ、これらの！鹿か光を試験対象物
１に向けて反射させる。賑動境２３の位置に応じた桶々
のレーザー光線が参照符号２５を付して示されている。
の４き方が示されている。撮動規２３が光を相次いで性
々のＪ２４に向かわせ、これらの！鹿か光を試験対象物
１に向けて反射させる。賑動境２３の位置に応じた桶々
のレーザー光線が参照符号２５を付して示されている。
再３図中に示されている散乱光線は平らで申し分のない
表面がら発している。散乱方向、ま対称性を有し、その
・雌面・まケーブルの媚１線（で対して垂直である。
表面がら発している。散乱方向、ま対称性を有し、その
・雌面・まケーブルの媚１線（で対して垂直である。
試験対象物の表面（ｌＣ場（第２図中の５）が存在する
。揚台に・ま、第３図の一方の半殻内に・ま他方の半殻
内よりも多くの光が散乱される。従って、一方の光増倍
管には他方の光増倍管よりも多くの光か大村する。その
結果、光増倍管の出力１ぎ号の間に相違が生ずる。これ
らの出力信号が除算または差引回路で互いべ比較される
。相違が所与のしきい値を超過する場合には、傷報知が
発せられる。
。揚台に・ま、第３図の一方の半殻内に・ま他方の半殻
内よりも多くの光が散乱される。従って、一方の光増倍
管には他方の光増倍管よりも多くの光か大村する。その
結果、光増倍管の出力１ぎ号の間に相違が生ずる。これ
らの出力信号が除算または差引回路で互いべ比較される
。相違が所与のしきい値を超過する場合には、傷報知が
発せられる。
出シ分のないケーブル表面による光増倍管の出力１汀号
の平均レベルがたとえは色の相違Ｖこよる散乱能の相違
Ｖこよって影響され、それによって傷検知１艮界がずれ
ることのないように、光増倍管の時間的に平均化さｆｚ
だ出力１ぎ号をハチ与のしきい１頁と比較し、偏差存在
時（（・・ま光増倍′Ｕの増倍率の−づ贅を行なう電子
式調・種回路が設けられている。光増倍管の増倍率の調
略寸その高嘔圧の変更ンＣより付なわれる。
の平均レベルがたとえは色の相違Ｖこよる散乱能の相違
Ｖこよって影響され、それによって傷検知１艮界がずれ
ることのないように、光増倍管の時間的に平均化さｆｚ
だ出力１ぎ号をハチ与のしきい１頁と比較し、偏差存在
時（（・・ま光増倍′Ｕの増倍率の−づ贅を行なう電子
式調・種回路が設けられている。光増倍管の増倍率の調
略寸その高嘔圧の変更ンＣより付なわれる。
この調整により得られる他・υ利点・ｌよ、光増倍ばの
過峨付またｆｌ’；ｊ慎偶が防止されることである。
過峨付またｆｌ’；ｊ慎偶が防止されることである。
全長′ｒｆｔは機械的に、設を歳時にケーブルの始端を
通すため、また、よケーブルの７−ドーの衝突だよる球
の加４を防止する７ヒめ、球が揺動によりｌ／ｉ１き傅
るように構成されてい勾。
通すため、また、よケーブルの７−ドーの衝突だよる球
の加４を防止する７ヒめ、球が揺動によりｌ／ｉ１き傅
るように構成されてい勾。
己１図は甲し分のない平らなケーブル表面の散乱特性、
第２図はケーブルカバーの孔の散乱特性、第３図は本発
明による受光＠置の原理図、第４図、゛ハケープルの全
周を走査するだめのレーザー走を器の原理図である。 １・・・ケーブル、２ 入射光、３・・・散乱光、４・
・包絡線、５・渦、６・包絡線、７，８ 半餞、９入
射元、１０．１１ 遮光板、１．２．１３ 光増倍
管、１４，１５ 隔壁、１６．１７・・煙管、１８．
１９・・・フィルタ、２０．２１・・前置増幅器、２２
・レーザー、２３・・据勤境、２４・・攪、２５・レー
ザー九纒。
第２図はケーブルカバーの孔の散乱特性、第３図は本発
明による受光＠置の原理図、第４図、゛ハケープルの全
周を走査するだめのレーザー走を器の原理図である。 １・・・ケーブル、２ 入射光、３・・・散乱光、４・
・包絡線、５・渦、６・包絡線、７，８ 半餞、９入
射元、１０．１１ 遮光板、１．２．１３ 光増倍
管、１４，１５ 隔壁、１６．１７・・煙管、１８．
１９・・・フィルタ、２０．２１・・前置増幅器、２２
・レーザー、２３・・据勤境、２４・・攪、２５・レー
ザー九纒。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ］）ケーブルおよび導体の表面の潟を探すために用いら
れ、試験対象物の表面を環状に照明する光源と、彼方散
乱光を検出する半Ｘ投および光検出器とを含んでいる光
学式試験装置Ｖこおいて、散乱光の方向依存性を測定す
る定め壁により互いに隔てられた２つの半殻（７゜８）
から成っておシ、試験対象物（］）を全周にわたって囲
んでおり、また内面を拡牧敏乱ノーでおおわれている受
光器が設けられており、また試験対象物に対して半径方
向に半殻の隔壁の間に走査光線（２，９）に対する４伏
闇隙が設けられておシ、ざらにこれらの壁に対して対称
に半殻の周縁に少なくとも各１つの光検出器（１８，１
９）が配置されていることを＊ｉとするケーブルおよび
４体の表面探傷用の光学式試験装置。 ２）たとえば球状であってよい半殻（７，８）の間に、
一方の半殻から他方の半殻への散乱光の移行を阻止する
壁（１４，１，５）が取Ｎけられており、また別の婆光
板（１，０，１１，）が光検出器（１２，１３）たとえ
は光増倍管を直接反射光から保護していることを特徴と
する特許Ｊ請求の範囲第１項記載の試験装置。 ３）照明のために、直列に、点状にかつほぼ半径方向に
当って試験対象物（１）の表面を走査するレーザー光探
（２，９）が用いられていることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の試験装置。 ４）光線を相次いで種々の鏡（２４，） Ｋ向ける振＠
硯（２３）が設けられており、種々の悦（２４）が光線
をほぼ半径方向に試験対象物（１）に向けて反射させる
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第３項の
いずれかに記載の試験装置。 ５）光増倍管（１，２，１３）の出力信号の間の差を求
める評価手段が設けられており、差の存在時に傷報知が
発せられることを特徴とする特許請求の範囲第１項ない
し第４項のいずれかに記載の試験装置。 ６）評価手段として、除算回路と、その後に接続されて
おり除算回路の出力信号を所与のしきい値と比較するし
きい値回路とが設けられていることを特徴とする特許請
求の範囲第５項記載の試験・装置。 ７）言平価手段として、差引回路と、その後に接続され
ており差引回路の出力匿号を所与のしきい値と比較する
しきい値回路とが設けられていることを特徴とする特許
請求の範囲第５項記載の試験装置。 ８）光増倍管−（１２，ｚａ）の時間的に平均化された
出力信号を所与のしきい値と比較し、偏差存在時には光
増倍管の高電圧の調整すなわちその増倍率の調整を行な
う電子式調整回路が設けられていることを特徴とする特
許請求の範囲第５ Ｅ１４記載の試験装置。 ９）半殻（７，８）の入口および出口孔に暇付けられた
綱光部（１，６，１７）と光増倍管（１２，１３）の直
前に取付けられたフィルタ（１８，１９）とが光増倍管
を外光から保護していることを特徴とする特許請求の範
囲第１項または第２項記載の試験装置。 １０）半殻（７，８）が揺動（でより耐き得ることに特
徴とする特許請求の範囲第Ｊｆｔ４記載の試験装置。 ］、 １ ）光透過性でありかつ揺動によシ罎き得るカ
バーか試験対象物（１）を囲んでおシ、゛また受光器を
汚れおよび加傷から保護していることを特徴とする特許
請求の範囲第１瑣記載の試鹸Ｖｉ装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19833309629 DE3309629A1 (de) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | Optische pruefvorrichtung zur fehlerortung in kabel- und leitungsoberflaechen |
| DE33096295 | 1983-03-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59174743A true JPS59174743A (ja) | 1984-10-03 |
Family
ID=6193796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59045364A Pending JPS59174743A (ja) | 1983-03-17 | 1984-03-09 | ケ−ブルおよび導体の表面探傷用の光学式試験装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0119565B1 (ja) |
| JP (1) | JPS59174743A (ja) |
| DE (2) | DE3309629A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR20010102703A (ko) * | 2000-05-04 | 2001-11-16 | 심윤희 | 비접촉식 선피막 검사장치 |
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| AUPP298698A0 (en) * | 1998-04-17 | 1998-05-07 | Crc For Intelligent Manufacturing Systems & Technologies Ltd | Fault detection apparatus |
| AU720030B2 (en) * | 1998-04-17 | 2000-05-18 | Crc For Intelligent Manufacturing Systems & Technologies Ltd | Fault detection apparatus |
| GB2345539A (en) * | 1999-01-06 | 2000-07-12 | Samfit Uk Ltd | Detecting a non-uniform coating on a core member |
| FR2873207A1 (fr) * | 2004-07-16 | 2006-01-20 | Jean Francois Fardeau | Instrument de mesure optique, sans contact et en production, de l'etat de surface, de la rugosite, des defauts de forme, en surface d'un fil ou profile long |
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1983
- 1983-03-17 DE DE19833309629 patent/DE3309629A1/de not_active Withdrawn
-
1984
- 1984-03-09 DE DE8484102602T patent/DE3471750D1/de not_active Expired
- 1984-03-09 JP JP59045364A patent/JPS59174743A/ja active Pending
- 1984-03-09 EP EP84102602A patent/EP0119565B1/de not_active Expired
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| DE3309629A1 (de) | 1984-09-20 |
| EP0119565A2 (de) | 1984-09-26 |
| EP0119565B1 (de) | 1988-06-01 |
| EP0119565A3 (en) | 1985-07-31 |
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