JPS59172250A - 万能配列体 - Google Patents

万能配列体

Info

Publication number
JPS59172250A
JPS59172250A JP59045326A JP4532684A JPS59172250A JP S59172250 A JPS59172250 A JP S59172250A JP 59045326 A JP59045326 A JP 59045326A JP 4532684 A JP4532684 A JP 4532684A JP S59172250 A JPS59172250 A JP S59172250A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
path
array
cell
tunnel
wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59045326A
Other languages
English (en)
Inventor
リチヤ−ド・ノト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RCA Corp
Original Assignee
RCA Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RCA Corp filed Critical RCA Corp
Publication of JPS59172250A publication Critical patent/JPS59172250A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/118Masterslice integrated circuits
    • H01L27/11803Masterslice integrated circuits using field effect technology
    • H01L27/11807CMOS gate arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の背景〕 この発明は半導体集積回路の技術分野に関し、特に特注
設計に適応させ得る最終的な導電層により電気的に接続
して各種回路を構成するに適した、共通基板上に配置さ
れた半導体装置の万能配列体に関する。
最近の特注設計の集積回路の多くは、その目的とする論
理機能を果すだめに何100個または何1000個もの
論理ゲートを必要とするが、このような設計の特注回路
を構成する費用は相当なもので、手が出ないほど高価に
なることもある。経費効率のためにはその特注設計の集
積回路を大量生産するか、少量生産で高価格にするかし
なければならない。
少量の特注設計の回路に対するさらに経済的な代替法と
して万能配列体の利用がある。この万能配列体は共通の
基板または半導体片上に本来役割を決められていない多
数の半導体装置を備え、その基板は、最終的な特注パタ
ンの導電層より寿る特注設計に適応させ得る電路により
その役割未定の各装置を相互接続して素子(標準論理素
子等)に構成すると共にJCれらの素子が(例えば所要
の論理機能を果す)所要の回路を構成できるように、設
計されている。このようにすると基本配列体の設計費用
が相異る多くの特注回路に配分畑れる上、多数の比較的
小容積の回路が効果的に組合されて大容積の回路になり
、大容積回路の経済性の多くを!受することができる。
この配列体から構成し得る回路はその配列体に含まれる
装置の数と形式以外に制限されないことが好ましい。万
能配列体のいくらかは1枚の特注適応形の導電層を用い
て電気結線して特注回路を作るように設計されるが、他
は2枚以上の特注適応形の層を用いるように設計される
万能配列体により構成する論理回路の大きさと複雑さが
増して来たため、電算機援用設計技術が発達して来た。
これは電算機プログラムを用いて回路配線路を自動的に
選択決定するもので、この配線路に泪って実際の配列体
の各装置の電気接線を行うと、その基本配列体が所要の
特注回路になる。この配線路を特注適応形層の金属化バ
タンで形成するためのホトマスクの自動生産用のデータ
生成にもソフトウェアを用いることができる。
〔従来技術〕
その単−特注適応形金域化層の自動(電算機式)配置用
に設計された配列体の1つは自動化万能配列体(以後A
UAと呼ぶ)として公知である。この配列体は合衆国陸
軍電子技術研究開発命令(ERADCOM)契約により
開発されたもので、1979年6月、1980年2月、
1980年6月および1981年3月付契約番号DEL
ET−TR−78−2960−1fi イしDELET
−TR−78−2960−3およびDELET−TR−
78−2960F’の名称「■LS■用自動化設計手順
(Automated Design Procedu
res for VLS I ) jの4つの契約報告
の要旨であり、また米国政府に譲渡されたリチャード・
ノー) (Richard Noto )とフレッド・
ボルジーニ(Fred Borgini )の名称[自
動化万能配列体(Automated Univers
al Array)」の米国特許願の要旨でもある。
とのAUAは半導体基板上の640個の内部ゲートまた
はセルを含み、基板の寸法は約5.28mm平方である
。この基板の設計はその自動化金属膜配置の電算機援用
設計のソフトウェアとの組合せにより最終の特注金属膜
の自動設計を可能にするもので、この方式はその配列体
内の640個のセルの少なくとも90%までも用いる回
路にも有効であり、この自動配置設計により配列体の特
注が促進され、半導体および論理回路の価格が極めて安
くなる。
この配列体の配置とそれに関連する特注ソフトウェアの
ために基板の各部間に特定の関係が生じ、この関係のた
め、その配列体内のセルの数に何等かの変化があればそ
の配列体を詳細に再設計する必要を生じ、またその配列
体の各部相互間に関連する調節が必要になる。これがま
た配線路決定用ソフトウェアの書直しを必要とする。
従ってそれまたは配線ルート決定用のソフトウェアの細
部設計変更なしでそれに含まれるセルの数をスケーリン
グにより容易に変更し得る自動化万能配列体のような素
子の集積回路配列体が望ましい。
〔発明の開示〕
この発明の1実施例では、配列体が内部領域と外部領域
とを有し、その上に複数個の回路成分を備えた基板を含
んでいる。この回路成分はバタン形成した特注適応形の
配線路により相互結線して所要の電気回路を形成するよ
うになっている。その内部領域には、(1)それぞれそ
の回路部品のいくつかを含み、第1の方向に延びる複数
の列上に配置された複数個のセルと、(2)−’tのセ
ルの列の間にあってそれを第2の方向に隔離する働きを
する複数本の第1の型の配線路と、(3)それぞれ各セ
ル列に泪って第1の方向に延び、第2の方向に延びる少
なくとも1本の内部領域境界線と交差するセル列の電力
母線用径路とが含まれ、その外部領域には、(1) (
−れぞれ内部領域境界線に隣接してそれに平行に設けら
れた1本またはそれ以上の第2の型の配線路と、(2)
それぞれ回路部品のいくつかを含み、その第2の型の配
線路により内部領域から第1の方向に隔離された複数個
の外周セルと、(3)この外周セルへの結線のため第2
の方向に延びる少なくとも1本の第1の電力母線用径路
と、(4)それぞれ導電層に接触し得る2つの接触部を
有し、基板内を第1の方向に延びる平行トンネル列と、
(5)このトンネル列の上にあって、バタン形成された
導電層内に配線路を決定するに用いる第2の方向のレー
ン用のスペースを有する第2の方向の道路とが含まれ、
その道路の両側に各トンネルの接触部がある。
この発明の推奨実施例によれば、第2の型の各配線路中
に第2の方向に延びる少なくとも1本の追加の径路があ
り、この追加の径路が内部領域の電力母線に接続する導
電層の電力母線用のもので、第1の径路からは離れてお
り、この追加の母線用径路と外周セルとの間には第2の
配線通路が設けられ、その通路の配線レーンはセル列の
径路で中断されず、各トンネルが追加の母線用径路の下
にあってそれから絶縁され、追加の母線径路のセル列側
の追加の接触部まで第1の方向に延びる部分を有し、そ
の追加の接触部もまたバタン形成された導電層に接触可
能である。この発明を用いて配列体をスケーリングする
ときは内部領域の構成の細部を外部領域の構成の細部か
ら切離す。
〔詳細な説明〕
第1図の平面図は従来法の自動化万能配列体100基本
的な地形学的特徴を示す。第2図はこの配列体の一部の
さらに詳細な平面図を示す。この配列体10は前述の報
告「vLSI用自動化設計手順」に記載された配列体で
ある。配列体10は破線13に清って衝合する中央領域
または内部領域12と外部領域14を有する基板11を
含み、内部領域12は複数個の同一の基本装置セル16
を含んでいる。各セル16は数個の半導体装置(図示せ
ず)を含み、それぞれ64個ずつ10本の列15に配置
されている。列15は第1の方向(図では水平方向)に
延びている。
基本装置セル16は上側の特製金属化バタン100に接
続するだめの接触ピン18(第2図)を有する。
第2図には例示の特製金属化バタン100の若干の配線
路(102,104,106,108)を示す。
内部領域12内には、各列15の間に複数本の内部配線
路20が設けられ、各配線路20が各列15を第2の(
垂直)方向に隔離している。2本のセル列15(例えば
第2図の列15a 、 15b )間の各配線路20は
接触部24を有する垂直方向の固定導電トンネル群22
を5列21含んでいる。各トンネル列21は図で垂直方
向の複数本の平行トンネルを含み、隣同志の列21の各
トンネルは互いに整合している(例えば第2図のトンネ
ル22a 、 22b 、 22 c参照)。第1図に
おいて最上端のセル列15の上と最下端のセル列15の
下の配線路にはそれぞれ3つのトンネル列しか含まれて
いない。この配列体10の各トンネルはその導電材料と
して多結晶シリコンを持ち、両端に1つずつ2つの接触
部を有する。このトンネルの接触部は特製金属化層10
0に導電的に接触し得る唯一の部分である。各トンネル
22は最終の特製金属化層100を付加するまでは他の
トンネルすべてから電気的に絶縁はれている。各列21
内の各トンネル22の上には第1の方向(図では水平方
向)に延びる通路23があり、各通路23は特製金属化
バタン100の水平方向の3本の内部領域導体112(
例えば第2図の導体112a、112 b 、1.12
 c参照)のだめのレーンを含んでいる。各レーン内の
導体は相互並びに下側のトンネルから絶縁材料の層によ
り絶縁でオしている。このような導体112はその導電
材料がそのトンネルの接触部の1つに結合したときだけ
下側の所定のトンネルに連絡し、導体112aとトンネ
ル22gはこのようにして結合される。
層100の例示回路結線102.104.106.10
8はそれぞれ固定トンネル22と特製金属化導体の直列
接続を含み、トンネル22はセル16に対する接続とセ
ル相互間の接続の列間(図の垂直方向)ルート作りを可
能ならしめる。第2図において、垂直電路102は垂直
導体114a 、 114b 、 114c、 114
d 、  1]、4e 、 114fと垂直トンネル2
2a 、 22b 、22c 、 22d 、 22e
から成っている。また112 a 、 112b、11
2Cのような水平導体は同じ列または異る列内で横にず
れたセルの相互接続を可能にする。
(11) 隣同志の列の各トンネルは、一方の列のトンネル(22
d)の接触部(24a)を他方の列の斜陽のトンネル(
22e)の隣接する接触部(24b)に導体(114e
 )で接続し得るように垂直方向に光分離れている。こ
のトンネルと特製導体の組合せによって水平と垂直の導
体を所要の接続点以外で互いに絶縁することができ、こ
れによって1枚の導電層による特注回路の製造が可能に
なる。特製導体を形成する層100は適当なトンネルを
互いに接続すると共に適当なセルの接触ピンに接続し、
また導体114a、114fによるように電力母線30
,31.34.35を形成し、セル16を所要形式の論
理素子に特製する。しかしこの図にはセルを特製する導
体片は示されていない。
万能配列体に特製層を複数枚使用するより1枚だけ用い
る方がいくつかの理由で好ましい。第1に、配列体を金
属被着の終了まで製造して必要時まで保存し、必要なと
きに特製マスクにより金属化層にパタンを焼付け、選択
エツチングにより所要の特製導電パタンを残すことがで
きる。第2に、(12) 所要の回路に対して1枚しか特製マスクが不要のため、
特注製造が割安である。第3に、特製層を2枚以上形成
するより1枚だけ形成する方が工程が簡単で信頼度が高
い。第4に、この配列体は特製層1枚で充分なように構
成されている。
基板11の外部領域14は側部配線路40と外周回路ま
たは外周セル50を含む。外周セルは内部領域12を実
質的に包囲し、外部回路に対するインターフェースを与
える。基板の両側辺(図で垂直な辺)に清う外周セルは
側部配線路40により内部領域12から離されている。
側部配線路の一部を含む配列体の部分を第2図にさらに
拝承する。
外周セルはそれぞれその構体内の規定位置に接触ピン5
2を有する予め定められた構造の標準セルである。セル
50の全部が同じではないが、各形式がその形式のセル
に求められている機能を得るように特注製造し得る固定
半導体構体を有する。セル50は配列体の残部と同時に
導体層100により特注構成される。
右側の外周セルの上にはV□電力供給母線31が垂(1
3) 直方向に走っている。この垂直V工母線31は電圧■□
の電源を接続し得る外部端子に導線その他で結合するだ
めの接触パッド32に連絡している。各セル列15の上
には別の水平V□列電力供給母線3oがある。
この動電力母線30はそれぞれ関連するセル列に水平に
一致する点で垂直母線31に接続している。垂直母線3
1は電力をパッド32からセル列内の各回路とその母線
31の下側の外周回路に伝送する。
内部領域の各セルは一般に流れる電流が小でい。
これはそれがC,M OS回路を用いてサファイア上に
シリコンで形成されている場合特に言える。これに対し
外周回路は一般に内部領域のセルより実質的に電流が太
きい。この外周セルに流れる比較的大電流のため、セル
列間に著しい電圧差が生ずることがある。この差は母線
31内の電流の起す電圧降下に起因し、製造公差により
内部領域のセルがこの電圧差に高感度の動作をする配列
体の動作を阻害することがある。
左側の外周セルの上には(母線31と同様の)垂直方向
のv2電力供給母線35があり、V2電圧の外部/IA
X 電源に接続するための外部接触パッド36に連絡してい
る。各セル列上には別の水平のv2列電力供給母線34
があり、その列と水平方向に一致する点で垂直母線34
と接続している。四線35にも母線31と同様の電流ド
レンと電圧降下の問題がある。
与えられた列15の各セル16内の半導体装置の回路ハ
、その列の■、および■2電力供給母線30.34の間
に接続されている。電圧V□、v2の値は配列体10内
で用いられる回路の形式によって決捷る。各セルは各別
または群別に所要の基本論理回路を形成するような(層
100による)特製が可能なように設計されている。こ
のセル16の構造の細部は重要ではあるが、この発明の
理解には不要のため、説明を省略する。これは前記の報
告書に記載されている。
側部配線路40内には42のような水平トンネル群があ
る。各トンネル群42は15本のトンネルを含み、それ
ぞわ、内部配線路20と水平に整合している。各トンネ
ル42は整合する配線路20の側端近傍から整合する外
周セル50の内縁近傍まで延び、両端に1(15) つずつ2つの接触部44を有する。42a 、 42b
 、 42Cで区別した水平トンネル42はそれぞれ図
示のように特製導電路104.106.108の一部と
して接続されている。トンネル42は垂直方向の金属化
レーン4本のスペースを持つ垂直方向の通路43用のス
ペースをその上に提供するだけの長さを有する。
各金属化1/−ンは1]8aのような垂直特製導体11
8で占めることができる。このような導体118は他の
レーンの導体(もしあれば)から絶縁される。
第2図において118 a 、 118 b、118C
のような特製導体は側部配線路内に設けられている。
水平vlまたは72列電力供給母線30または34は垂
直電力供給母線31または35からセル列内に延びる間
に右側または左側の側部配線路40を横切る。この横断
により側部通路43の各レーンが阻害されるのを防ぐ必
要があるが、これを防いで垂直側部配線路の特製導体が
動電力母線を横切る配線を可能ならしめるため、45の
ような垂直方向の導電トンネル列46が列15a 、1
5 b等に隣接してV□およびv2(16) 動電力供給母線の下を通っている。4.6a 、46b
で区別された垂直トンネル46は図示のようにそれぞれ
特製電路104.108の一部として接続されている。
予め定められた外周セル50はJCれぞれ1群の接触ピ
ン52と1つの外部接触パッド54(第2図にはない)
を有する。接触ピン52は外周セルの内縁に沿って配列
さ力1、接触パッド54は基板外周に清って配列されて
導線その他により外部リードに接続するようになってい
る。水平のセル動電力母線30(または34)は垂直母
線31(まよは35)に連絡するまでにその垂直母線3
1(またば35)が上を通る外周セル50の各ピン52
を結ぶ仮想線と交差する。
最終回路の適正動作を保証するためには、動電力母線3
0.34とピン52との接触を避ける必要がある。
内部領域のセル16と外周セル50を所要の回路に接続
するためには、特製導電層100が必要な外周ピン52
に(1)他のピンと短絡せず、(2)他の必要な電路を
阻害せず、またそれに阻害きれずに接触し得るような充
分なスペースが各外周ピン52に隣接してなければなら
ない。
側部配線路40内の垂直トンネル46とそのトンネルの
接触部48は、そのトンネルと水平方向に一致する外周
セルのピンへの特製電路の配線を阻害する。この問題を
解くため、相当な垂直寸法の領域56からピン52が除
かれている。セル50は予め定められた性質を持つため
、この領域56から除去する必要があるが、これによっ
て動電力母線(またはセル列)の位置と外周セルの許容
位置との間に直接関係ができ、この関係が外周セルの寸
法およびセル列の中心間距離と組合さって基板の側辺に
沿う隣接セル列間の外周セルの数を2個に制限する。
このような制限は地形学的なもので、外周セルの内部半
導体構体に直接関係することはない。
最終の特製金属化層は電力母線の導電材料、トンネル上
の導体、トンネルの相互接続用導体、セルに接続する導
体およびセルを特製用の導体を構成し、これらの導体1
はすべて1枚の金属化層100の部分として形成される
。多結晶シリコンのトンネルは金属導体(10μ)より
幅が広く(12μ)なければならないから、この配列体
−Fの水平格子は12μ単位、垂直格子は10μ単位と
なっている。中央領域の隣接水平導体の中心間隔は10
μ、側部配線路の水平トンネル42の隣同志の垂直中心
間隔は20μである。この導体の幅と間隔の差と、セル
列15と外周回路50の相互関係により、外周セルの数
、内部セル16の列数、内部配線路20の垂直幅および
セル列の垂直幅の間に明確な関係が生じる。この明確な
関係がこの配列体を拡張してセル列を増したりセル列の
間隔を変える試行を阻害して来た。
このような拡張はセル列の数を2つずつ増すことに限ら
れる。この拡張はまたその半導体配列の構造を新しくす
るたびに電算機援用設計の配線ルート選定用ソフトウェ
アを特注で作り直す必要を生ずるが、この作り直しが複
雑になった回路に対する配列体10の適合性を著しく制
限する。
第3図はこの発明による万能配列体10’の平面図であ
る。この配列体10′は総シリコンのような半導体材料
の基体中またはサファイア上のシリコンのような絶縁基
板上の半導体材料中に形成する(19) ことができる。第4図は配列体10′の細部である。
配列体10′は配列体10と多くの対応部分が似ている
が、この発明により多くの点で異っている。この2つの
配列体の対応部分を同じ引用数字で示し、配列体10′
の部分の引用数字にダッシュ(′)を付して配列体10
の対応部分と区別する。配列体10.10′の内部領域
12.12′は同じのこともあるが、第3図および第4
図の内部領域12′は第1図および第2図の12とは下
達のように相当異っていることもある。
スケーリング性能に重要な配列体10.10′の差は主
として配列体10′の外部領域14′に見出される。こ
の差は配列体10の領域12に対して内部領域12′の
改善を容易にする。
第4図には第2図の配列体10に対して例示されたよう
に配列体10′に対する同様の特製電路102′、10
4′、106′、108′が例示されているが、第4図
の外部領域14′にある電路104′、106′、10
8′の部分は第2図の対応素子と異っている。この差は
この発明によって配列体の外部領域の構成を変え(20
) たことによるものである。例示のため、これらの電路の
第4図の内部領域12′内にある部分を第2図の内部領
域12と同じにした。
配列体10′では、垂直電力母線31′、35′は外周
セルの電力母線としてのみ働らく。追加の中央領域用垂
直電力母線33’ (V□)、37′(v2)は配列体
セル列15′の両側端に隣接している。これらの母線3
3′、37′は外周セル50′の上にも内部領域のセル
16′の上にもなく、母線33′は直接パッド32′に
接続し、母線37′は直接パッド36′に接続する。
これによってパッド32’、 36’の所以外外周母線
31’ 、35’から中央領域の母線が絶縁されるため
、中央領域内のセル列間電圧変化が極めて小さくな9、
与えられた1組の製造公差に対して、機能良好な装置の
歩留が配列体10を用いたときのそれに比して高くなる
配列体10′では、内部領域の垂直電力母線(33′ま
たは37′)用径路と水平に隣接する外周セルと(21
) の間に垂直方向の側部配線通路43′がある。この33
′等の垂直の内部領域用母線の配置により、動電力母線
30’ 、34.’はその側部通路43′と交差しない
。従ってこの通路43′の配線レーンは動電力母線に阻
害されないため、配列体10′の側部配線路40′内に
は垂直トンネルが不要である。このため配列体10′の
側部通路43′は、その各配線レーンが金属化層100
の一部である固定導体の形で障害なく(すなわち中断な
く)その配線路40′の全長に亘って延びるところまで
、配列体10の内部通路23と同様になる。各側部配線
路40′は中心間12μの等間隔で垂直に隔てられた水
平トンネル42′の列を含み、この水平トンネル列41
′は側部配線路40′の全長に及んでいる。これは側部
配線路内に一部の垂直トンネル(46)と水平トンネル
(42)とが交互に含まね、た従来法の配列体10と対
照的である。この結果、配列体10′では側部通路43
′内の1188’のような特製垂直導体が、配列体10
の特製導体118a、)ンネル46a、特製導体118
bの組合せと置換しており、同様に、配列体10′の特
製(22) 導体118 C’が配列体10の特製導体118C、ト
ンネル46b、特製導体118dの組合せと置換してい
る。
与えられた配列体はその性能をできるだけ太きくするた
め側部配線路40′に整列したトンネル列41′を1列
ないし9列(捷たはJCir′1.以」二)含めるよう
に設計して、との各列が配線レーン2本ないし9本のス
ペースを提供するようにする。
水平トンネル42′はそれぞれ内部母線径路33′(!
f、たけ37′)の内部領域側からその外周セル測寸で
延びる部分42“を含んでいる。この実施例では各トン
ネル42“の内部母線径路のその部分がそのトンネル4
2′の主要部と連続して、これらの各部が共に延長トン
ネルを形成している。この延長トンネルの大部分は特製
層に接続するように露出された3つの接触部を有するが
、15a′または15b′のようなセル列と整合したト
ンネル42′は2つの接触部しか持たない。これらの接
触部は第4図に最もよく示されている。44′のような
その接触部の2つはトンネル主要部42′の両端にあり
、垂直方向の内部母線(33′または37′)径路と外
周セ(23) ルとの間の側部配線路内に設けられている。配列体10
′において、これらの接触部の第1のものは外周回路に
隣接して設けられ、第2のものは内部電力母線(33′
または37′)に隣接して設けられている。各トンネル
の2つの接触部44′はそのトンネル上の配線通路43
′内の所要数(2ないし9またはそれ以上、好ましくは
4)の垂直金属化レーンのだめのスペースを与える距離
だけ離れている。各延長トンネル42′の3つの接触部
の第3のもの(44“)は内部母線のトンネル部42“
に接続され、内部電力母線(33′または37′)の内
部領域(セル列)側に設けられている。セル列の端部と
トンネル42′の第2の接触部44′の間の側部配線路
の領域は転換領域49′で、延長トンネルのこの転換領
域(第2の接触部44′と接触部44“の間)の部分に
より、内部電力母線33′または37′の下に水平電路
の配線が可能になる。接触部44“はセル列15に整合
するところでは不要で、これを省略することにより動電
力母線30’ 、34’が決して延長トンネルと接触し
なくなるため、その部分が省(24) 略されている。各トンネル42′は必要に応じて水平に
並んだ2つのトンネルに分割することができる(第2の
接触部を2つの接触部に分割し、一方をトンネル主要部
42′に、他方をトンネルの電力母線部分におく)が、
これは配線ルート選定の融通性を完全にするために必要
とは考えられない上、価値の高い半導体の表面積を不必
要に消耗することになる。
内部配線路の水平導体112′と側部配線路のトンネル
42′の間の不整合はすべて側部配線路の転換部49′
の特製金属化層100により適応されている(例えば第
4図の導体部分112b“参照)。
最終回路の動作速度を上げたければトンネルを形成する
多結晶シリコンの固定導体を金属の固定導体に置換すれ
ばよい。このとき特製金属化層は2回目の金属化層にな
り、最後の層だけ変えると異なる特性回路ができる。
側部トンネル42′の連続して中断のない配列により、
側部配線路の構成が配列体の内部領域12′の構成に細
かく依存する必要がなくなる。動電力(25) 母線は外周セルまで延びていないため、その位置が外周
セルの接触ピンの位置を制限することはなく、このため
50a′、50b′、50C′等の外周セルが相互分離
やセル列15a、15b 、15c等に対する所定の位
置関係を必要とせずに互いに隣接して配置される。これ
は第4図に最もよく示されている。
配列体10′の内部領域内の変化は、その内部領域の垂
直全長を変えないものであれば、側部トンネルまたは外
周セルの数または位置に影響しないが、その垂直全長を
変えるものの場合は、その配列体基板の垂直辺に適合す
る外周セルの数についてのみその外周セルに影響する。
後者のような内部領域の変化は、使用される側部トンネ
ルの数を変えることによシ外周セルに影響するが、その
相対位置または間隔に影響することはない。この無依存
性のため、配列体10′の内部領域は、側部配線路や外
周セルと特殊関係を保つ必要なく、所要の回路の複雑性
に適応するに適当な寸法の配列体が得られるように配置
を設計することができる。
このように、この発明は配列体10′から前述の961 ような配列体10の内外両領域間の拘束的構造関係をな
くするもので、この拘束がなくなると、予測される回路
条件に従う配列体10′の直接スケーリングの手続が簡
単になる。間接スケーリングの場合は、各部の寸法を独
立に定めて回路条件に合うようにするが、とのスケーリ
ングでは、セル列の数、セル列の幅、セル列の長さ、配
線路内のトンネル列の数およびトンネルの長さの全部捷
たは一部を変える。このようにしてスケーリングした配
列体を用いた実際の基板寸法は、それに適応するに要す
る基板寸法の最大な基板部分により決まり、他の基板部
分はその基板の総寸法により決まる。これは配列体10
のスケーリングではその基板の性質に対して詳細な考慮
が払われるのと対照的である。
この発明による配列体の側部配線路はそれぞれ2本ない
し9本の配線レーンを持つ通路43′を備えたトンネル
列41′を1本ないし9本含み、内部配線路はそれぞれ
2本ないし9本の配線レーンを持つ通路23′を備えた
トンネル列21′を(27) 3本ないし9本含むことが好ましい。各形式のトンネル
列のトンネル数と各配線路の配線レーン数は与えられ、
た配列体につきこれから作られる回路の形式およびその
結果予測される配線密度に基いて決定される。以上の考
え方から、例えば予測配線数が少ないときは、セル列1
5′を接近させることにより内部領域の所定面積のセル
(論理ゲート)の数を増すことができる。
」−述のようにこの発明を用いた配列体は従来法の配列
体に存在する制限に無関係のため、特製結線導体の設計
に用いる電算機援用設計ソフトウェアも細部に無関係で
ある。このソフトウェアは入力変数としてセルの接触ピ
ン、トンネル両端および外周セルの接触ピンの配列体内
の位置を必要とし、これらの変数と所要の論理回路を決
める変数により、このソフトウェアは各セルを結線して
所要の論理回路を形成するために用いる金属化バタン1
00の製造に用いられるマスクの画定を行う。この発明
によれば、配列体の緒特性がこのソフトウェアの変数と
して指(28) 定されているため、配列体の寸法が変るたびにソフトウ
ェアを書きなおす必要がない。
この発明を用いた配列体10′では従来法の配列体10
では得られないセル列と配線路の数と寸法の選定の自由
が得られる上、この発明を用いると、特製回路の結線の
設計を迅速かつ自動的に行うこともできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来法の自動化万能配列体の一部の平面図、第
2図は第1図の従来法の配列体の一部のさらに詳細な平
面図、第3図はこの発明による自動化万能配列体の一部
の平面図、第4図は第3図の配列体の一部のさらに詳細
な平面図である。 10′・・・万能配列体、11′・・・基板、12′・
・・内部領域、13′・・・内部領域境界線、16・・
・セル、20′・・・第1の型の配線路、30’・・・
電力母線、33′・・・導電層電力母線、40′・・・
第2の型の配線路、41′・・・トンネル列、42′・
・・トンネル、43′・・・第2の方向の通路、44′
・・・(29) 接触部、44″・・・追加の接触部、100・・・バタ
ン構成の導電路。 % 許出171 人   アールシーニー コーポレー
ション代理人 清水 哲ほか2名 (30)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  バタン構成された導電層である特注適応形の
    電路により相互に接続されて所要の電気回路を構成する
    ようになっている複数個の回路部品をその上に有する基
    板を含む形式のものであって、その基板が、それぞれ上
    記回路部品のいくつかを含み、第1の方向に延びる複数
    の列を成して配置された複数個のセルと、上記第1の方
    向に延びる配線レーンを含み、上記セルの各列の間にあ
    ってその列を第2の方向に隔離する働らきをする複数の
    第1の型の配線路と、それぞれ各セルの列に沿って上記
    第1の方向に延び、上記第2の方向に延びる少なくとも
    1本の内部領域境界線と交差する各電力母線用のセル列
    径路とを含む内部領域、および上記内部領域境界線に近
    接してそれに平行に配置された第2の型の配線路と、そ
    れぞれ上記回路部品のいくつかを含み、上記第2の型の
    配線路によって上記内部領域から上記第2の方向に隔離
    された複数個の外周セルと、この外周セルに接続する外
    周母線用の少なくとも1本の第2の方向の第1の径路と
    、それぞれ上記基板内を上記第1の方向に延び、上記導
    電層に接触し得る2個の接触部を有する平行なトンネル
    の列と、このトンネルの列の上にあって回路の電路を敷
    設するための各第2の方向のレーン用のスペースを有す
    る第2の方向の通路とを含み、上記各トンネルの接触部
    が上記通路の両側に配置されて成る外部領域を含み、上
    記第2の型の配線路が、上記第1の径路から隔離されて
    上記第2の方向に延び、上記内部領域の電力母線に接続
    する導電層の電力母線に用いられる少なくとも1本の追
    加の径路を含み、上記通路が上記追加の径路と上記外周
    セルとの間に配置され、上記通路の配線レーンが上記セ
    ル列径路により中断されず、上記各トンネルが、上記追
    加の径路の下にあってそれから絶縁され、上記追加の母
    線用径路のセル列側の追加の接触部まで上記第1の方向
    に延びる部分を有し、上記追加の接触部もまた上記導電
    層に接触可能であることを特徴とする万能配列体。
JP59045326A 1983-03-11 1984-03-08 万能配列体 Pending JPS59172250A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/474,511 US4568961A (en) 1983-03-11 1983-03-11 Variable geometry automated universal array
US474511 1995-06-07

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59172250A true JPS59172250A (ja) 1984-09-28

Family

ID=23883843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59045326A Pending JPS59172250A (ja) 1983-03-11 1984-03-08 万能配列体

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4568961A (ja)
JP (1) JPS59172250A (ja)
CA (1) CA1206624A (ja)
DE (1) DE3408747A1 (ja)
FR (1) FR2542528A1 (ja)
GB (1) GB2137413B (ja)
IT (1) IT1178460B (ja)
SE (1) SE8401266L (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61244046A (ja) * 1985-04-22 1986-10-30 Nec Corp スタンダ−ドセルの周辺ブロツク配置方法
JPH0215656A (ja) * 1988-07-04 1990-01-19 Hitachi Ltd 半導体装置
JPH0230163A (ja) * 1988-07-20 1990-01-31 Fujitsu Ltd マスタスライス型半導体集積回路装置およびその製造方法
JPH0230164A (ja) * 1988-07-20 1990-01-31 Fujitsu Ltd マスタスライス型半導体集積回路装置およびその製造方法
JPH02278830A (ja) * 1989-04-20 1990-11-15 Fujitsu Ltd 半導体装置の配線方法
JPH04162649A (ja) * 1990-10-26 1992-06-08 Nec Corp 半導体集積回路

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59167049A (ja) * 1983-03-14 1984-09-20 Nec Corp 半導体装置
JPS60101951A (ja) * 1983-11-08 1985-06-06 Sanyo Electric Co Ltd ゲ−トアレイ
JPS6110269A (ja) * 1984-06-26 1986-01-17 Nec Corp 半導体集積回路
JPS6124250A (ja) * 1984-07-13 1986-02-01 Nippon Gakki Seizo Kk 半導体集積回路装置
IL86162A (en) * 1988-04-25 1991-11-21 Zvi Orbach Customizable semiconductor devices
CN1003549B (zh) * 1985-01-25 1989-03-08 株式会社日立制作所 半导体集成电路器件
US5165086A (en) * 1985-02-20 1992-11-17 Hitachi, Ltd. Microprocessor chip using two-level metal lines technology
DE3514266A1 (de) * 1985-04-19 1986-10-23 Nixdorf Computer Ag, 4790 Paderborn Baustein zur erzeugung integrierter schaltungen
JPH0785490B2 (ja) * 1986-01-22 1995-09-13 日本電気株式会社 集積回路装置
JPS6341048A (ja) * 1986-08-06 1988-02-22 Mitsubishi Electric Corp 標準セル方式大規模集積回路
US5367208A (en) 1986-09-19 1994-11-22 Actel Corporation Reconfigurable programmable interconnect architecture
JPS63102342A (ja) * 1986-10-20 1988-05-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置の配線構造
JPH079977B2 (ja) * 1987-02-10 1995-02-01 株式会社東芝 半導体集積回路装置
US4910574A (en) * 1987-04-30 1990-03-20 Ibm Corporation Porous circuit macro for semiconductor integrated circuits
JPH073840B2 (ja) * 1987-08-31 1995-01-18 株式会社東芝 半導体集積回路
US5185283A (en) * 1987-10-22 1993-02-09 Matsushita Electronics Corporation Method of making master slice type integrated circuit device
DE68929068T2 (de) * 1988-04-22 1999-12-23 Fujitsu Ltd Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung vom "Masterslice"-Typ
JP2668981B2 (ja) * 1988-09-19 1997-10-27 富士通株式会社 半導体集積回路
US4956602A (en) * 1989-02-14 1990-09-11 Amber Engineering, Inc. Wafer scale testing of redundant integrated circuit dies
US5073729A (en) * 1990-06-22 1991-12-17 Actel Corporation Segmented routing architecture
US5581098A (en) * 1995-05-05 1996-12-03 Circuit Integration Technology, Inc. Circuit routing structure using fewer variable masks
US5907254A (en) * 1996-02-05 1999-05-25 Chang; Theodore H. Reshaping periodic waveforms to a selected duty cycle
US6242767B1 (en) * 1997-11-10 2001-06-05 Lightspeed Semiconductor Corp. Asic routing architecture
JP3926011B2 (ja) * 1997-12-24 2007-06-06 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置の設計方法
US6613611B1 (en) 2000-12-22 2003-09-02 Lightspeed Semiconductor Corporation ASIC routing architecture with variable number of custom masks
US6885043B2 (en) * 2002-01-18 2005-04-26 Lightspeed Semiconductor Corporation ASIC routing architecture

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57211248A (en) * 1981-06-22 1982-12-25 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit device
JPS5835963A (ja) * 1981-08-28 1983-03-02 Fujitsu Ltd 集積回路装置
DE3276284D1 (en) * 1981-09-10 1987-06-11 Fujitsu Ltd Semiconductor integrated circuit comprising a semiconductor substrate and interconnecting layers
IT1280853B1 (it) * 1995-04-07 1998-02-11 Fiat Auto Spa Sedile posteriore multiposizione per un veicolo.

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61244046A (ja) * 1985-04-22 1986-10-30 Nec Corp スタンダ−ドセルの周辺ブロツク配置方法
JPH0215656A (ja) * 1988-07-04 1990-01-19 Hitachi Ltd 半導体装置
JPH0230163A (ja) * 1988-07-20 1990-01-31 Fujitsu Ltd マスタスライス型半導体集積回路装置およびその製造方法
JPH0230164A (ja) * 1988-07-20 1990-01-31 Fujitsu Ltd マスタスライス型半導体集積回路装置およびその製造方法
JPH02278830A (ja) * 1989-04-20 1990-11-15 Fujitsu Ltd 半導体装置の配線方法
JPH04162649A (ja) * 1990-10-26 1992-06-08 Nec Corp 半導体集積回路

Also Published As

Publication number Publication date
SE8401266L (sv) 1984-09-12
FR2542528A1 (fr) 1984-09-14
DE3408747A1 (de) 1984-09-27
GB2137413B (en) 1986-10-15
GB2137413A (en) 1984-10-03
CA1206624A (en) 1986-06-24
IT8419985A0 (it) 1984-03-09
IT1178460B (it) 1987-09-09
SE8401266D0 (sv) 1984-03-07
US4568961A (en) 1986-02-04
GB8405973D0 (en) 1984-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS59172250A (ja) 万能配列体
EP0175870B1 (en) Wafer scale integrated circuit device
EP0469728B1 (en) Programmable interconnect architecture
US4458297A (en) Universal interconnection substrate
KR100676980B1 (ko) 집적 회로 및 집적 회로의 도전체 레이아웃 설계 방법
US5191241A (en) Programmable interconnect architecture
KR0142570B1 (ko) 반도체 집적회로 장치 및 그 제조방법
KR100384745B1 (ko) 반도체집적회로장치
JPH0727968B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPS59163837A (ja) 半導体集積回路
US5229629A (en) Semiconductor integrated circuit having improved cell layout
US4649413A (en) MOS integrated circuit having a metal programmable matrix
EP0021661B1 (en) Semiconductor master-slice device
EP0069762B1 (en) Universal interconnection substrate
EP0135019B1 (en) Interconnection of elements on integrated cirrcuit substrate
JPS5866343A (ja) 半導体集積回路装置
US5434436A (en) Master-slice type semiconductor integrated circuit device having multi-power supply voltage
US4746965A (en) Integrated semiconductor circuit device
JPS63275141A (ja) 個性化可能な半導体チップ
USH512H (en) Automated universal array
US6855967B2 (en) Utilization of MACRO power routing area for buffer insertion
JPH03274764A (ja) 半導体集積回路装置
JPH03145743A (ja) 半導体集積回路装置
JPS59132144A (ja) 半導体集積回路装置の製造方法
JPH11135724A (ja) 半導体集積回路、その自動配置設計方法および製造方法