JPS5915751B2 - 電子ビ−ム溶接装置 - Google Patents
電子ビ−ム溶接装置Info
- Publication number
- JPS5915751B2 JPS5915751B2 JP9629876A JP9629876A JPS5915751B2 JP S5915751 B2 JPS5915751 B2 JP S5915751B2 JP 9629876 A JP9629876 A JP 9629876A JP 9629876 A JP9629876 A JP 9629876A JP S5915751 B2 JPS5915751 B2 JP S5915751B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- welding
- current
- workpiece
- collector
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- Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は被溶接物を電子ビームを用いて溶接する電子
ビーム溶接装置に関するものである。
ビーム溶接装置に関するものである。
第1図は従来の回転物電子ビーム溶接装置を示10す断
面図である。図において、1は電子を放射する陰極フィ
ラメント、Vcは陰極フィラメント加熱に要するフィラ
メント電圧、2は陰極フィラメントから放射される電子
を制御するバイアス電極、VBはバイアス電圧、3は接
地されている陽極で15あV)6陰極−陽極間に加速電
圧VAを印加して電子を加速する。4はビームコラム、
5は電子ビームを収束させる電磁レンズ、6は電子ビー
ムを偏向させる偏向コイル、1は溶接作業室、8は電子
ビーム、9は回転形被溶接物、10は被溶接物をク0
回転移動させる溶接合、11は溶接合の回転駆動装置、
12は溶接作業室内の真空排気装置である。
面図である。図において、1は電子を放射する陰極フィ
ラメント、Vcは陰極フィラメント加熱に要するフィラ
メント電圧、2は陰極フィラメントから放射される電子
を制御するバイアス電極、VBはバイアス電圧、3は接
地されている陽極で15あV)6陰極−陽極間に加速電
圧VAを印加して電子を加速する。4はビームコラム、
5は電子ビームを収束させる電磁レンズ、6は電子ビー
ムを偏向させる偏向コイル、1は溶接作業室、8は電子
ビーム、9は回転形被溶接物、10は被溶接物をク0
回転移動させる溶接合、11は溶接合の回転駆動装置、
12は溶接作業室内の真空排気装置である。
回転形被溶接物9は溶接作業室1を通して接地され、陰
極は電流計13を介して接地されている。陰極フィラメ
ント1を加熱することにより電子ク5 が放出され、陰
極−陽極間に印加された加速電圧VAにより加速されて
、かつ磁気レンズ5で集束され被溶接物9上に照射され
る。ビーム電流の制御方法としては、陰極フィラメント
1の温度コントロールにより放出電子の量を制御するか
あるい90はバイアス電圧VBを変化させることにより
陰極−陽極間の負電界を変えて実効電子放射を制御する
方式がある。上記のような装置において、回動物の電子
ビーム溶接は最初微少電流のテストビームを駆動装置3
511によシ回転する溶接合10の上に設置された被溶
接物9に照射し、溶接線とビームとの位置合せを施した
後、電子ビーム電流を増加させ所定の電流値に維持して
6最後に徐々に重流を減少させて達成される。
極は電流計13を介して接地されている。陰極フィラメ
ント1を加熱することにより電子ク5 が放出され、陰
極−陽極間に印加された加速電圧VAにより加速されて
、かつ磁気レンズ5で集束され被溶接物9上に照射され
る。ビーム電流の制御方法としては、陰極フィラメント
1の温度コントロールにより放出電子の量を制御するか
あるい90はバイアス電圧VBを変化させることにより
陰極−陽極間の負電界を変えて実効電子放射を制御する
方式がある。上記のような装置において、回動物の電子
ビーム溶接は最初微少電流のテストビームを駆動装置3
511によシ回転する溶接合10の上に設置された被溶
接物9に照射し、溶接線とビームとの位置合せを施した
後、電子ビーム電流を増加させ所定の電流値に維持して
6最後に徐々に重流を減少させて達成される。
すなわち第2図はその溶接サイクルを示す図であV),
図に訃いて横軸は回転形被溶接物への電子ビーム照射時
間、縦軸は電子ビーム電流を示し.Aは位置合せのため
のテストビーム照射部分、Bはビーム電流増加部分、C
は所定の定常電流部分.Dはクレータ一処理のためのビ
ーム電流減少部分を示す。しかるに上記の装置では第2
図のBの部分すなわちビーム電流増加部分で、電子ビー
ム電流が増加するにともないビームの収束位置またはビ
ーム照射位置も変動する。
図に訃いて横軸は回転形被溶接物への電子ビーム照射時
間、縦軸は電子ビーム電流を示し.Aは位置合せのため
のテストビーム照射部分、Bはビーム電流増加部分、C
は所定の定常電流部分.Dはクレータ一処理のためのビ
ーム電流減少部分を示す。しかるに上記の装置では第2
図のBの部分すなわちビーム電流増加部分で、電子ビー
ム電流が増加するにともないビームの収束位置またはビ
ーム照射位置も変動する。
これらの現象は種々の溶接欠陥を引き起こすことにな抵
中・高炭素鋼6タブピッチ銅などガス生成成分を多く含
む被溶接材料に対して特に顕著である。このビーム電流
の立上9にともなう現象はバイアスコントロールあるい
は陰極フイラメントの温度コントロールのいずれの方法
でも完全には解消できないものである。すなわち.電子
銃.ビームコラム、電磁レンズ等の組立調整が不充分で
あるために起きるのであるが、それらの組立調線を完全
にすることは、技術的に極めて困難であり、ビーム電流
変化にともなうビーム照射位置またはビームの収束位置
の変動を防ぐことは不可能に近い。従来の装置ではビー
ム電流変化に伴うビーム照射位置またはビームの収束位
置の変動による溶接現象への影響を防ぐ方法として.一
般にバイアス電圧によるビーム電流制御方法がとられて
いる。すなわち従米方法によれば,電子ビーム電流が所
定の電流値に達するまでバイアス2の負電圧VBを大き
くかけて、陰極フイラメント1から放射電子ビーム電流
をゼロに制御し,しかる後バイアス負電圧を急激に小さ
くして所定のビーム電流を得ることによFO.ビーム電
流の立上力時間を短かくする方法である。しかし,この
方法では大電流の制御が困難であジ6しかも自動バイア
ス電圧制御装置が必要で洛接装置にかける費用が高くな
るという欠点がある。つぎに、回転物の溶接では溶接前
に微少電流のテストビームで、ビームと溶接線の位置合
せをしなければならない。すなわち第2図の溶接サイク
ルに}いて、A部分のテストビーム照射による位置合せ
を完了しなければ6次のB,C,D段階の本溶接作業に
進めず、A,B,C,Dの全溶接時間中に占めるA部分
の位置合せの時間の割合が大きなものであつた。また前
述の各要素の組立調整が不完全な場合、微少電流のビー
ム照射位置と所定の溶接電流によるビーム照射位置とが
ずれやすいため6溶接の目違いを生じやすく溶接欠陥が
発生しやすくなる。従来の装置によればこの問題を解決
する適当な方法がなかつた。さらに従来の装置では回転
形被溶接物に照射される電流として電子銃からの全放射
電流を測定しているが、実際に回転形被溶接物へ到達す
る真の入射電流は、電子銃からの全放射電流のうち陽極
やビームコラムなどの障害物でさえぎられた残Dの電流
である。
中・高炭素鋼6タブピッチ銅などガス生成成分を多く含
む被溶接材料に対して特に顕著である。このビーム電流
の立上9にともなう現象はバイアスコントロールあるい
は陰極フイラメントの温度コントロールのいずれの方法
でも完全には解消できないものである。すなわち.電子
銃.ビームコラム、電磁レンズ等の組立調整が不充分で
あるために起きるのであるが、それらの組立調線を完全
にすることは、技術的に極めて困難であり、ビーム電流
変化にともなうビーム照射位置またはビームの収束位置
の変動を防ぐことは不可能に近い。従来の装置ではビー
ム電流変化に伴うビーム照射位置またはビームの収束位
置の変動による溶接現象への影響を防ぐ方法として.一
般にバイアス電圧によるビーム電流制御方法がとられて
いる。すなわち従米方法によれば,電子ビーム電流が所
定の電流値に達するまでバイアス2の負電圧VBを大き
くかけて、陰極フイラメント1から放射電子ビーム電流
をゼロに制御し,しかる後バイアス負電圧を急激に小さ
くして所定のビーム電流を得ることによFO.ビーム電
流の立上力時間を短かくする方法である。しかし,この
方法では大電流の制御が困難であジ6しかも自動バイア
ス電圧制御装置が必要で洛接装置にかける費用が高くな
るという欠点がある。つぎに、回転物の溶接では溶接前
に微少電流のテストビームで、ビームと溶接線の位置合
せをしなければならない。すなわち第2図の溶接サイク
ルに}いて、A部分のテストビーム照射による位置合せ
を完了しなければ6次のB,C,D段階の本溶接作業に
進めず、A,B,C,Dの全溶接時間中に占めるA部分
の位置合せの時間の割合が大きなものであつた。また前
述の各要素の組立調整が不完全な場合、微少電流のビー
ム照射位置と所定の溶接電流によるビーム照射位置とが
ずれやすいため6溶接の目違いを生じやすく溶接欠陥が
発生しやすくなる。従来の装置によればこの問題を解決
する適当な方法がなかつた。さらに従来の装置では回転
形被溶接物に照射される電流として電子銃からの全放射
電流を測定しているが、実際に回転形被溶接物へ到達す
る真の入射電流は、電子銃からの全放射電流のうち陽極
やビームコラムなどの障害物でさえぎられた残Dの電流
である。
すなわち第3図は従来装置において,測定電流1Mと真
の入射電流1Tとの関係を示す図である。図に示すよう
に、回転形被溶接物に対する真の入射電流1Tは測定電
流ァよりも少ない。しかし、第1図に示すように、回転
形被溶接物9は溶接合10溶接作業室7を通して接地さ
れているので、従来装置では真の入射電流を測定できな
かつた。この発明はこのような点にかんがみてなされた
もので、所定の定常電流ビームを照射する際の立上9過
渡電流の溶接現象に及ぼす影響を解消し、溶接線と電子
ビームとの位置合せを容易にし、さらに被溶接物への真
の入射電流を測定することができる電子ビーム溶接装置
を提供するものである。
の入射電流1Tとの関係を示す図である。図に示すよう
に、回転形被溶接物に対する真の入射電流1Tは測定電
流ァよりも少ない。しかし、第1図に示すように、回転
形被溶接物9は溶接合10溶接作業室7を通して接地さ
れているので、従来装置では真の入射電流を測定できな
かつた。この発明はこのような点にかんがみてなされた
もので、所定の定常電流ビームを照射する際の立上9過
渡電流の溶接現象に及ぼす影響を解消し、溶接線と電子
ビームとの位置合せを容易にし、さらに被溶接物への真
の入射電流を測定することができる電子ビーム溶接装置
を提供するものである。
第4図はこの発明の一実施例を示す断面図であり61〜
12は上記従来装置と全く同一のものである。14はカ
ツプ状の本体と、この本体の下部に取付けられた絶縁物
よりなる突起物15を備えた電子ビームコレクタ、16
は導電線で電流計17を通して接地される。
12は上記従来装置と全く同一のものである。14はカ
ツプ状の本体と、この本体の下部に取付けられた絶縁物
よりなる突起物15を備えた電子ビームコレクタ、16
は導電線で電流計17を通して接地される。
18は水冷管を内包する可動アーム、19は可動アーム
駆動装置で、20はその1駆動ハンドルであジ,電子ビ
ームコレクタ14は可動アーム18と電気絶縁されてい
る。
駆動装置で、20はその1駆動ハンドルであジ,電子ビ
ームコレクタ14は可動アーム18と電気絶縁されてい
る。
第5図は電子ビームコレクタ14の下部に付属する電気
絶縁物よりなる突起物15と回転形被溶接物9の溶接線
21との関係を示す図であ沢22は電子ビームコレクタ
14の本体の縁に4か所設けられたスリツトである。ス
リツト22の中心点と突起物15の突起点とはビーム軸
に平行な同一線上にある。第6図は電子ビームコレクタ
の断面図で, 23は内壁に設置された水冷管を内包す
る金属蒸発遮蔽板であり、24は水冷管である。また、
第7図はこの発明装置を用いた場合の溶接サイクルを示
す図である。次に洛接の手順について述べる。
絶縁物よりなる突起物15と回転形被溶接物9の溶接線
21との関係を示す図であ沢22は電子ビームコレクタ
14の本体の縁に4か所設けられたスリツトである。ス
リツト22の中心点と突起物15の突起点とはビーム軸
に平行な同一線上にある。第6図は電子ビームコレクタ
の断面図で, 23は内壁に設置された水冷管を内包す
る金属蒸発遮蔽板であり、24は水冷管である。また、
第7図はこの発明装置を用いた場合の溶接サイクルを示
す図である。次に洛接の手順について述べる。
最初に前作業として、第4図に示す電子ビームコレクタ
14に電子ビームを照射する。次に電子ビームコレクタ
14を垂直移動させ所定の焦点にビームを設定する。そ
の後電子ビームコレクタ14に4か所設けられたスリツ
ト22の中心を電子ビーム軸に合わせる。次に第5図に
示すように,回転形被溶接物9を移動させることにより
その溶接線21ど電子ビームコレクタ14の突起物15
の突起点とを一致させる。これらの作業により、スリツ
ト22の中心点とその下の突起点とが一致しているので
電子ビームの中心軸と突起点すなわち溶接線とが一致す
ることになる。以上の前作業の後,被溶接物9を回転さ
せながら、電子ビーム8を電子ビームコレクタ14に照
射し,所定の定常電流に達するまで増加させ6しかる後
電子ビームコレクタ14を回転形被溶接物上から除去す
る。
14に電子ビームを照射する。次に電子ビームコレクタ
14を垂直移動させ所定の焦点にビームを設定する。そ
の後電子ビームコレクタ14に4か所設けられたスリツ
ト22の中心を電子ビーム軸に合わせる。次に第5図に
示すように,回転形被溶接物9を移動させることにより
その溶接線21ど電子ビームコレクタ14の突起物15
の突起点とを一致させる。これらの作業により、スリツ
ト22の中心点とその下の突起点とが一致しているので
電子ビームの中心軸と突起点すなわち溶接線とが一致す
ることになる。以上の前作業の後,被溶接物9を回転さ
せながら、電子ビーム8を電子ビームコレクタ14に照
射し,所定の定常電流に達するまで増加させ6しかる後
電子ビームコレクタ14を回転形被溶接物上から除去す
る。
これにより立上ジ過渡電流によるビーム収束点または照
射位置の変動の溶接現象に与える影響を解消することが
できる。また第5図に示すように電子ビーム軸と絶縁物
よジなる突起物15の突起点とが常に同軸上にあるよう
に固定されると回転形被溶接物を溶接合に設置する際、
突起点と溶接線21を合せるだけで電子ビーム軸と溶接
線21の位置合せが容易にでき,溶接後の目違い等の問
題も解消される。
射位置の変動の溶接現象に与える影響を解消することが
できる。また第5図に示すように電子ビーム軸と絶縁物
よジなる突起物15の突起点とが常に同軸上にあるよう
に固定されると回転形被溶接物を溶接合に設置する際、
突起点と溶接線21を合せるだけで電子ビーム軸と溶接
線21の位置合せが容易にでき,溶接後の目違い等の問
題も解消される。
また、電子ビーム8の照射位置が変動した場合、スリツ
ト22を通して観察することによりスリツト22の中心
をビーム軸と一致するよう移動させ,しかる後溶接線2
1と突起点とを一致させるだけで簡単に対応することが
できる。この際、電子ビームコレクタ14の内部を第6
図に示すような構造にすると、ビーム8の位置合せが容
易になる。すなわち電子ビーム8がaのように中心から
大きくはずれている時電子ビーム8は金属の輝光により
、全体にはつきD観察することは困難であるがbのよう
に電子ビーム8が電子ビームコレクタ14の本体の内壁
に設けられた金属蒸気遮蔽板23の中心部の透孔に照射
されると、金属の蒸気は金属蒸気遮蔽板23により止め
られるので電子ビーム8をはつきD観察できる。その後
の微細な位置合せは、電子ビームコレクタ14の縁の4
か所に設けられたスリツト22を通して行なう。すなわ
ち、電子ビーム8の位置合せは,金属蒸気遮蔽板23に
より粗調整を行ない,スリツト22を用いて微調整を行
なうことになる。以上のこの発明装置を用いた場合の溶
接サイクルを図示すると第7図のようにな楓従来の方法
(第2図)と比較した場合.第2図に}ける位置合せの
ためのA部分の時間が省略されて6溶接作業時間が大幅
に短縮されることになる。
ト22を通して観察することによりスリツト22の中心
をビーム軸と一致するよう移動させ,しかる後溶接線2
1と突起点とを一致させるだけで簡単に対応することが
できる。この際、電子ビームコレクタ14の内部を第6
図に示すような構造にすると、ビーム8の位置合せが容
易になる。すなわち電子ビーム8がaのように中心から
大きくはずれている時電子ビーム8は金属の輝光により
、全体にはつきD観察することは困難であるがbのよう
に電子ビーム8が電子ビームコレクタ14の本体の内壁
に設けられた金属蒸気遮蔽板23の中心部の透孔に照射
されると、金属の蒸気は金属蒸気遮蔽板23により止め
られるので電子ビーム8をはつきD観察できる。その後
の微細な位置合せは、電子ビームコレクタ14の縁の4
か所に設けられたスリツト22を通して行なう。すなわ
ち、電子ビーム8の位置合せは,金属蒸気遮蔽板23に
より粗調整を行ない,スリツト22を用いて微調整を行
なうことになる。以上のこの発明装置を用いた場合の溶
接サイクルを図示すると第7図のようにな楓従来の方法
(第2図)と比較した場合.第2図に}ける位置合せの
ためのA部分の時間が省略されて6溶接作業時間が大幅
に短縮されることになる。
さらに第4図において電子ビームコレクタ14に入射し
た電子ビーム電流は、被溶接物9と溶接室7と電気絶縁
されているので、電導線16を通り電流計17を経て接
地されることにより電流計17で被溶接物に照射される
真の入射電流1Tを検出することができる。
た電子ビーム電流は、被溶接物9と溶接室7と電気絶縁
されているので、電導線16を通り電流計17を経て接
地されることにより電流計17で被溶接物に照射される
真の入射電流1Tを検出することができる。
上記では回転形被溶接物について述べたがこの発明は電
子ビーム軸と,電子ビームコレクタ14下部の突起点を
結ぶ延長線上に溶接線21がある如何なる形状の被溶接
物にも適用できることはいうまでもない。
子ビーム軸と,電子ビームコレクタ14下部の突起点を
結ぶ延長線上に溶接線21がある如何なる形状の被溶接
物にも適用できることはいうまでもない。
この発明は以上説明した通ク、被溶接物上!/C電子ビ
ームコレクタを設けるという簡単な構造により,溶接線
と電子ビームとの手動による位置合せを容易にし、かつ
、被溶接物への真の入射ビーム電流を検出することがで
きる。
ームコレクタを設けるという簡単な構造により,溶接線
と電子ビームとの手動による位置合せを容易にし、かつ
、被溶接物への真の入射ビーム電流を検出することがで
きる。
しかも、テストビームによる位置合せが不要で作業工程
を迅速にすることができ、かつ立上ジ過渡電流の溶接現
象に及ぼす影響を解消し、良好な溶接結果が得られる効
果がある。
を迅速にすることができ、かつ立上ジ過渡電流の溶接現
象に及ぼす影響を解消し、良好な溶接結果が得られる効
果がある。
第1図は従来の電子ビーム溶接装置を示す断面図、第2
図は従来の装置による溶接サイクルを示す図2第3図は
電子銃からの全放射ビーム電流1Mと実際に被溶接物に
照射される真の入射電流I との関係を示す図、第4図
はこの発明の一実T施例を示す断面図、第5図は電子ビ
ームと電子ビームコレクタおよび回転形被溶接物の溶接
物の醇接線との相対i係を示す図、第6図は電子ビーム
コレクタの一実施例を示す断面図、第7図は上記第4図
に示される電子ビーム洛接装置による溶接サイクルを示
す図である。 図において,8は電子ビーム、3は被溶接物、14は電
子ビームコレクタ..18は可動アーム、19は可動ア
ーム駆動装置である。
図は従来の装置による溶接サイクルを示す図2第3図は
電子銃からの全放射ビーム電流1Mと実際に被溶接物に
照射される真の入射電流I との関係を示す図、第4図
はこの発明の一実T施例を示す断面図、第5図は電子ビ
ームと電子ビームコレクタおよび回転形被溶接物の溶接
物の醇接線との相対i係を示す図、第6図は電子ビーム
コレクタの一実施例を示す断面図、第7図は上記第4図
に示される電子ビーム洛接装置による溶接サイクルを示
す図である。 図において,8は電子ビーム、3は被溶接物、14は電
子ビームコレクタ..18は可動アーム、19は可動ア
ーム駆動装置である。
Claims (1)
- 1 被溶接物に電子ビームを照射し溶接するものにおい
て、カップ状をなし、その内側を上記電子ビーム照射側
とし、下部を被溶接物との対向面側として、上記電子ビ
ームを遮断する上記被溶接物と電気的に絶縁された電子
ビームコレクタ本体と、上記本体の下部に設けられた上
記電子ビームの照射位置を指示する絶縁物からなる突起
物と、上記本体の縁に設けられ自身の中心点と上記突起
物の突起点とがビーム軸に平行な同一線上にあるスリッ
トと、上記本体の内壁に設けられ中心部に電子ビームを
通過させる透孔をあけた金属蒸気遮蔽板と上記本体と接
地間に接続された電流計とを有する電子ビームコレクタ
を備え、この電子ビームコレクタを上記被溶接物上に移
動自在にかつ取り外し可能に設けたことを特徴とする電
子ビーム溶接装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9629876A JPS5915751B2 (ja) | 1976-08-11 | 1976-08-11 | 電子ビ−ム溶接装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9629876A JPS5915751B2 (ja) | 1976-08-11 | 1976-08-11 | 電子ビ−ム溶接装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5321057A JPS5321057A (en) | 1978-02-27 |
| JPS5915751B2 true JPS5915751B2 (ja) | 1984-04-11 |
Family
ID=14161122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9629876A Expired JPS5915751B2 (ja) | 1976-08-11 | 1976-08-11 | 電子ビ−ム溶接装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5915751B2 (ja) |
-
1976
- 1976-08-11 JP JP9629876A patent/JPS5915751B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5321057A (en) | 1978-02-27 |
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