JPS5915500Y2 - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS5915500Y2
JPS5915500Y2 JP7434478U JP7434478U JPS5915500Y2 JP S5915500 Y2 JPS5915500 Y2 JP S5915500Y2 JP 7434478 U JP7434478 U JP 7434478U JP 7434478 U JP7434478 U JP 7434478U JP S5915500 Y2 JPS5915500 Y2 JP S5915500Y2
Authority
JP
Japan
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line
external terminals
external terminal
wiring
package
Prior art date
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Expired
Application number
JP7434478U
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JPS54175239U (ja
Inventor
圭介 岡田
秀夫 松井
洋一 蔵満
Original Assignee
三菱電機株式会社
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Publication date
Application filed by 三菱電機株式会社 filed Critical 三菱電機株式会社
Priority to JP7434478U priority Critical patent/JPS5915500Y2/ja
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、半導体記憶装置に関し、特に半導体記憶集
積回路素子のプリント基板への装着密度の改善に関する
ものである。
従来から、電子計算機の半導体記憶装置として、プリン
ト基板に同一機能を有する多数の半導体記憶集積回路素
子を取付けたものが使用されている。
そしてこの記憶装置の半導体記憶集積回路素子としては
、一般に平形の外装を有し、且つその相対する両側面か
ら各々一列に並べられた複数の外部端子を導出する形式
のパッケージ、いわゆるデュアルインライン形パッケー
ジが使用されている。
このようなデュアルインライン形パッケージは、外部端
子が対向する両側面から導出される形式であるため比較
的製造しやすいが、取付に要する面積が大きくなるとい
う欠点がある。
一方、デュアルインラインパッケージに対してシングル
インラインパッケージと呼ばれ、パッケージの一方の側
面からのみ外部端子を導出した構造のパッケージがあり
、このパッケージは、前記テ゛ユアルインラインパッケ
ージよりも取付に要する面積が格段に小さくなるという
利点がある。
しかしながら、シングルインラインパッケージは、外部
端子が同数のデュアルインラインパッケージよりも外部
端子間ピッチが狭くなり、製造が困難になったり、はん
だ付の際ショート不良が発生するという問題がある。
以下第1図〜第3図を用いて従来のデュアルインライン
形半導体記憶集積回路素子を説明する。
第1図は、従来のデュアルインライン形半導体集積回路
素子を示す斜視図、第2図は従来の半導体記憶装置を示
す斜視図、第3図は、その配線を示す斜視図である。
図において1は互に対向する両側面から一列に複数の外
部端子が導出された平形の外装、いわゆるデュアルイン
ライン形半導体記憶集積回路素子本体である。
2a、2bはデュアルインライン形半導体記憶集積回路
素子本体1の互に対向する両側面から導出された複数の
外部端子であり、2aは素子選択用の第1外部端子、2
bは読み出し書き込み入力外部端子、番地指定外部端子
、情報出力外部端子、情報入力外部端子、電源外部端子
、接地外部端子等の第2外部端子である。
3は前記本体1、外部端子2a、2bからなるデュアル
インライン形半導体記憶集積回路素子(以下メモIJ
ICと呼ぶ)、4はメモリIC3がその外部端子2a、
2bを貫通穴4Cに挿入し、かつ各々のメモリIC3の
外部端子2 a 、2 bの配列方向に同一になるよう
に並設される絶縁基板である。
5a〜5Cは該絶縁基板4の第2の主面4bに形成され
た複数の配線であり、5aは各メモリIC3の第1外部
端子2aに夫々接続される専用配線、5bは各メモリI
C3の複数の第2外部端子2bに夫々接続される引出し
配線、5Cは各メモリIC3に夫々接続された引出し配
線5bの互に対応するものを相互に接続する共通配線で
ある。
6は前記絶縁基板4、各配線5a〜5Cからなるプリン
ト基板である。
このような従来の半導体記憶装置はテ゛ユアルインライ
ンパッケージ形の複数のメモリIC3が、その主面3a
がプリント基板6の第1の主面4aに対して並行になる
ようにプリント基板6に装着されるので、メモリIC3
の一個単位のプリント基板6の占有面積は、大きくなり
、さらに各メモリIC3の複数の第2外部端子2bに夫
々、専用の引出配線5bを要することや、前記メモリI
C3のプリント基板6の占有面積が大きいことに起因し
て配線5が長くなり、またこれによりこの配線5のプリ
ント基板6の占有面積も大きくなる。
したがって従来の半導体記憶装置は半導体記憶集積回路
素子の収容能力が小さく、かつ配線が長くなることに起
因して高い繰返し周波数の信号による動作時に線間誘導
が生じ、信号に歪が生ずるという問題があった。
また、従来、デュアルインラインパッケージの装着密度
を向上できるようにしたものとして、特開昭51−49
683号公報に記載されているように、デュアルインラ
インパッケージの一辺に配設される端子群と、これど対
称位置の辺に配設される端子群とを、互に端子間隙の士
だけずらして配設したもので゛あったが、このようにし
てもパッケージ自体のプリント基板の占有面積は大きい
ままであり、上記装着密度はそれほど向上しないもので
あった。
この考案は上記のような従来の半導体記憶装置の問題を
取除くためになされたものであり、その一側面に複数の
外部端子が千鳥状に配設されたシングルインラインパッ
ケージを複数、絶縁基板上に各々主面が平行となり、か
つ対応する外部端子が直線上に位置するよう配設し、該
対応する外部端子を複数の直線配線により共通接続する
ことにより、製造、組立が困難となることなく、シング
ルインラインパッケージの装着密度を増大でき、かつ高
速動作を可能にする半導体記憶装置を提供するものであ
る。
第4図はこの考案の一実施例に使用されるシングルイン
ラインパッケージであるメモリICを示す斜視図、第5
図はこの考案の一実施例を示す斜視図、第6図は、該実
施例の配線を示す配線図である。
図において、11は一方の側面11 aのみから所定の
形状で複数の外部端子が導出されたシングルインライン
パッケージメモリICのパッケージ本体、12 a 、
12 bは、一方の側面11 aのみから一列に導出さ
れた複数の外部端子であり、該番外部端子12a、12
はメモリICが装着されるプリント基板の穴明は加工の
精度や、はんだ付の作業性を考慮して、互に隣接する外
部端子を逆方向に曲げることにより千鳥形を威すように
形成されている。
即ちより詳しくは上記外部端子12a、12bは、上記
側面11 aの中心線上の所定間隔毎の各点から交互に
第1.第2の主面13aに向かって相互に平行に導出し
て千鳥状に配設され、さらに該番外部端子12a、12
bは上記側面11 aの縁部において、これと直角に折
り曲げられている。
外部端子12 aは素子選択用の第1外部端子、外部端
子12 bは読み出し書き込み入力外部端子、番地指定
外部端子、情報出力外部端子、情報入力外部端子、電源
外部端子、接地外部端子等の第2の外部端子である。
13は前記パッケージ本体11.第1.第2外部端子1
2a、12bからなるメモリICである。
14は絶縁基板であり、該基板14にはその第1の主面
14aに互に隣接するメモリICl3がその外部端子1
2a、12bを貫通穴14Cに挿入し、かつ互の主面1
3aが相互に平行になり、さらに各々のメモリICl3
の対応する機能を有する外部端子12 a 、12 b
が同一直線上に位置するように、すなわちその配列方向
が同一になるよう植立されている。
15 a 、15 bは、プリント基板14の第2の主
面14 bに形成された複数の配線であり、第1外部端
子12 aのみに、各メモリICl3毎に専用配線15
aが与えられ、第2外部端子12bは隣接するメモリI
Cl3の対応する機能を有する第2外部端子12 bは
共通の直線配線15 bにより接続されている。
16は前記絶縁基板14.各配線15a〜15bからな
るプリント基板である。
このような本実施例では、メモリICl3がその一方の
側面11 aをプリント基板16の第1の主面14 a
に平行にして該プリント基板16に装着され、かつ各メ
モリICl3の第1外部端子12aにのみに専用配線1
5が与えられ、また第2外部端子12 bは隣接するメ
モリICl3の対応する機能を有する外部端子12 b
に各々共通の直線配線15bにより接続されているので
、プリント基板16に占めるメモリICl3および配線
15の占有面積は、従来の半導体記憶装置に比べて格段
に小さくなり、かつ配線15の長さも格段に短縮される
特にこのようなシングルインライン形パッケージの製造
技術は最近向上し、外部端子間長手方向ピッチを2.5
4mmから1.27mmと従来の÷に製造することが可
能になっている。
したがって例えば前記従来の半導体記憶装置に使用され
たデュアルインライン形メモリIC3の外形寸法を長さ
23mm、幅8mm、厚さ2mm、外部端子の長手方向
ピッチを2゜54 mmとし、一方、上記実施例になる
メモリICl3の外形寸法を長さ、幅、厚さともに上記
従来のデュアルインライン形メモリIC3と藺−とし、
外部端子の長手方向ピッチを1.27mm、外部端子の
幅方向のピッチを2.54mmとして、上記両メモリI
Cのプリント基板占有面積を比較すれば、本実施例によ
る半導体記憶装置は上記従来の半導体記憶装置よりもそ
の素子装着面積を約キに小さくできることがわかる。
以上のように、この考案になる半導体記憶装置によれば
、複数のシングルインラインパッケージを各々の一側面
に形成された複数の外部端子を介し、各々の主面が互に
平行になり、かつ対応する機能を有する外部端子が同一
直線上に位置するよう絶縁基板上に植立し、上記各シン
グルインラインパッケージの互に対応する機能を有する
外部端子を複数の直線配線により共通に接続するように
したので、製造および組立が困難になることなく、シン
グルインラインパッケージの装着密度を高めることがで
き、かつ高速の周波数での動作が可能になるという優れ
た効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図はデュアルインライン形メモリICを示す斜視図
、第2図は従来の半導体記憶装置を示す斜視図、第3図
はその配線を示す配線図、第4図はこの考案の一実施例
に使用されるメモリICを示す斜視図、第5図はこの考
案の一実施例を示す斜視図、第6図はこの一実施例の配
線を示す配線図である。 12a、12b・・・・・・外部端子、13・・・・・
・メモリIC(シングルインラインパッケージ)、14
・・・・・・プリント基板(絶縁基板)、15b・・・
・・・直線配線。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. その一側面に、複数の外部端子が該−側面の中心線上の
    所定間隔毎の各点から交互に第1.第2の主面に向かっ
    て相互に平行に導出されて千鳥状に配設され、該番外部
    端子は該−側面の縁部において該−側面と直角に折り曲
    げられてなるシングルインラインパッケージを複数絶縁
    基板上に各々の主面が平行となりかつ対応する機能を有
    する外部端子が直線上に位置するよう配設し、該対応す
    る機能を有する外部端子を複数の直線配線により共通接
    続したことを特徴とする半導体記憶装置。
JP7434478U 1978-05-30 1978-05-30 半導体記憶装置 Expired JPS5915500Y2 (ja)

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JP7434478U JPS5915500Y2 (ja) 1978-05-30 1978-05-30 半導体記憶装置

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JP7434478U JPS5915500Y2 (ja) 1978-05-30 1978-05-30 半導体記憶装置

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Publication Number Publication Date
JPS54175239U JPS54175239U (ja) 1979-12-11
JPS5915500Y2 true JPS5915500Y2 (ja) 1984-05-08

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