JPS5914562B2 - 内部汚染繭判別方法 - Google Patents
内部汚染繭判別方法Info
- Publication number
- JPS5914562B2 JPS5914562B2 JP56185277A JP18527781A JPS5914562B2 JP S5914562 B2 JPS5914562 B2 JP S5914562B2 JP 56185277 A JP56185277 A JP 56185277A JP 18527781 A JP18527781 A JP 18527781A JP S5914562 B2 JPS5914562 B2 JP S5914562B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- cocoon
- waveform
- normal
- internally contaminated
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 10
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 claims description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は面の長軸上を軟エツクス線で走査して得られた
エツクス線吸収波形の信号のなかから内部汚染面を判別
する方法に関する。
エツクス線吸収波形の信号のなかから内部汚染面を判別
する方法に関する。
従来、このようなーー次元パターンの識別には相関係数
を計算するなどの統計的方法が一般的と思われるが、こ
の方法は少々複雑な計算を必要とし、電子計算機の設置
、プログラムの開発等コスト的にも高価である。
を計算するなどの統計的方法が一般的と思われるが、こ
の方法は少々複雑な計算を必要とし、電子計算機の設置
、プログラムの開発等コスト的にも高価である。
本発明は従来このような繁雑な手間を要せず、安価で精
度が高く、簡易な内部汚染繭判別方法を提供することを
その目的とし、面の長軸上を軟エツクス線で走査した場
合、面を透過した軟エツクス線に対応するセンサの出力
信号の波形は、正常面のときには、中央部分に室上山型
の大きな吸収を示し、内部汚染面のときには大きな吸収
が一方に偏るか又は大きな吸収を示さないことを利用し
たものであつて、被測定波形の信号に正常面のエツクス
吸収波形又はこれに類似した波形の信号を同期的に加算
し、その加算結果の信号の最大値が大きくなつたときは
正常繭であり、大きくならな５ いときは内部汚染繭で
あることで判別することを特徴とする。
度が高く、簡易な内部汚染繭判別方法を提供することを
その目的とし、面の長軸上を軟エツクス線で走査した場
合、面を透過した軟エツクス線に対応するセンサの出力
信号の波形は、正常面のときには、中央部分に室上山型
の大きな吸収を示し、内部汚染面のときには大きな吸収
が一方に偏るか又は大きな吸収を示さないことを利用し
たものであつて、被測定波形の信号に正常面のエツクス
吸収波形又はこれに類似した波形の信号を同期的に加算
し、その加算結果の信号の最大値が大きくなつたときは
正常繭であり、大きくならな５ いときは内部汚染繭で
あることで判別することを特徴とする。
以下本発明の方法の一例を図面につき説明する。
第１図は、本発明の方法を実施するための装置の概略説
明図である。１０図において、１はエツクス線管、２は
測定される繭、３は繭２の長軸上に位置する孔４を有す
る鉛板、５はエツクス線のセンサでこれは加算回路６の
一方の入力端子６ａに接続される。
明図である。１０図において、１はエツクス線管、２は
測定される繭、３は繭２の長軸上に位置する孔４を有す
る鉛板、５はエツクス線のセンサでこれは加算回路６の
一方の入力端子６ａに接続される。
Ｔは繭２を矢印８に示す方向すなわちその長軸方向に移
動１５させる装置（図示せず）の作動に同期して正常面
のエツクス線吸収波形と類似した波形の信号を出力する
関数発生器であり、その出力は加算回路６の他の入力端
子６ｂに接続される。８は比較回路で、そのしきい値は
電源Ｖに接続されたボアシンク０ ヨメータ９により設
定され、正常面の信号の最大値に関数発生器□の出力信
号の最大値を加算して得られた値と、内部汚染面の信号
に関数発生器Ｔの出力信号を加算して得られた信号の最
大値との間の値になるようにする。
動１５させる装置（図示せず）の作動に同期して正常面
のエツクス線吸収波形と類似した波形の信号を出力する
関数発生器であり、その出力は加算回路６の他の入力端
子６ｂに接続される。８は比較回路で、そのしきい値は
電源Ｖに接続されたボアシンク０ ヨメータ９により設
定され、正常面の信号の最大値に関数発生器□の出力信
号の最大値を加算して得られた値と、内部汚染面の信号
に関数発生器Ｔの出力信号を加算して得られた信号の最
大値との間の値になるようにする。
１０は正常面の場合にク５ 点灯するランプ、１１は内
部汚染面の場合に点灯するランプである。
部汚染面の場合に点灯するランプである。
次にその動作を説明する。
正常繭２が矢印８に示すようにその長軸方向に移動する
と、エツクス線管１よりのエツクス線は３０繭２を照射
し、センサ５には正常繭２の長軸上の各点を透過したエ
ツクス線が鉛板３の孔４を経て経時的に入射する。
と、エツクス線管１よりのエツクス線は３０繭２を照射
し、センサ５には正常繭２の長軸上の各点を透過したエ
ツクス線が鉛板３の孔４を経て経時的に入射する。
したがつてセンサ５からこれに対応した信号が出力して
加算回路６の入力端子６ａに加わる。一方、正常繭２の
移動と同期して３５関数発生器７は正常繭と類似した波
形の信号を出力し、加算回路６の入力端子６ｂに加わる
。かくして加算回路６から第２図に示すような振幅の大
きな波形の加算信号ＷＡを出力する。この信号ＷＡの振
幅は、比較回路８のしきい値Ｌを超過するので、比較回
路８の出力に接続されたランプ１０はその出力により点
灯する。尚、同図において、Ｗａｌは関数発生器７から
加算回路６を経て出力した信号の波形、Ｗａ２はセンサ
５から加算回路６を経て出力した正常面の信号の波形で
ある。
加算回路６の入力端子６ａに加わる。一方、正常繭２の
移動と同期して３５関数発生器７は正常繭と類似した波
形の信号を出力し、加算回路６の入力端子６ｂに加わる
。かくして加算回路６から第２図に示すような振幅の大
きな波形の加算信号ＷＡを出力する。この信号ＷＡの振
幅は、比較回路８のしきい値Ｌを超過するので、比較回
路８の出力に接続されたランプ１０はその出力により点
灯する。尚、同図において、Ｗａｌは関数発生器７から
加算回路６を経て出力した信号の波形、Ｗａ２はセンサ
５から加算回路６を経て出力した正常面の信号の波形で
ある。
これに対し内部汚染面の場合には、加算回路６から第３
図に示すような振幅の小さな波形の加算信号ＷＡ′を出
力する。
図に示すような振幅の小さな波形の加算信号ＷＡ′を出
力する。
この信号ＷＡ′の振幅は前記しきい値Ｌに達しないので
、比較回路８に接続されたランプ１０は点灯せず、他の
出力回路に接続されたランプ１１が点灯し、内部汚染繭
であることを表示する。尚同図において、Ｗａ２′はセ
ンサ５から加算回路６を経て出力した内部汚染面の信号
の波形である。
、比較回路８に接続されたランプ１０は点灯せず、他の
出力回路に接続されたランプ１１が点灯し、内部汚染繭
であることを表示する。尚同図において、Ｗａ２′はセ
ンサ５から加算回路６を経て出力した内部汚染面の信号
の波形である。
また、前記実施例では、関数発生器７にて正常面のエツ
クス線吸収波形に類似した波形の信号を得ているが、こ
の代りに、予め判つている正常面を被測定繭と同期して
移動させ、この正常面の長軸上を軟エツクス線によつて
連続的に点透視を行ない、これにより得られた信号を用
いてもよい。
クス線吸収波形に類似した波形の信号を得ているが、こ
の代りに、予め判つている正常面を被測定繭と同期して
移動させ、この正常面の長軸上を軟エツクス線によつて
連続的に点透視を行ない、これにより得られた信号を用
いてもよい。
このように本発明によるときは、面の長軸上を軟エツク
ス線によつて連続的に点透視を行ない、これにより得ら
れたエツクス線吸収波形の信号に、同様にして得られた
正常面のエツクス線吸収波形の信号又はこれに類似した
波形の信号を同期的に加算し、その加算結果の信号の最
大値が大あるいは小かによつて内部汚染面を判別するよ
うにしたので、この判別に繁雑な手間を必要としないと
ともに安価で且つ精度が高い等の効果を有する。
ス線によつて連続的に点透視を行ない、これにより得ら
れたエツクス線吸収波形の信号に、同様にして得られた
正常面のエツクス線吸収波形の信号又はこれに類似した
波形の信号を同期的に加算し、その加算結果の信号の最
大値が大あるいは小かによつて内部汚染面を判別するよ
うにしたので、この判別に繁雑な手間を必要としないと
ともに安価で且つ精度が高い等の効果を有する。
第１図は本発明の方法の一例を実施するための装置の概
略説明図、第２図及び第３図はいずれも第１図示の装置
の加算回路６から得られた加算信号及び単独の信号の波
形図で、第２図は正常面の場合、第３図は内部汚染面の
場合である。 １・・・・・・エツクス線管、２・・・・・・ 、３・
・・・・・鉛板、５・・・・・・センサ、６・・・・・
・加算回路、７・・・・・・関数発生器、８・・・・・
・比較回路、１０，１１・・・・・・ランプ。
略説明図、第２図及び第３図はいずれも第１図示の装置
の加算回路６から得られた加算信号及び単独の信号の波
形図で、第２図は正常面の場合、第３図は内部汚染面の
場合である。 １・・・・・・エツクス線管、２・・・・・・ 、３・
・・・・・鉛板、５・・・・・・センサ、６・・・・・
・加算回路、７・・・・・・関数発生器、８・・・・・
・比較回路、１０，１１・・・・・・ランプ。
Claims (1)
- １ 繭の長軸上を軟エツクス線によつて連続的に点透視
を行ない、これにより得られたエツクス線吸収波形の信
号に、同様にして得られた正常繭のエツクス線吸収波形
の信号又はこれに類似した波形の信号を同期的に加算し
、その加算結果の信号の最大値が大あるいは小かによつ
て内部汚染繭を判別する内部汚染繭判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56185277A JPS5914562B2 (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 内部汚染繭判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56185277A JPS5914562B2 (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 内部汚染繭判別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5887312A JPS5887312A (ja) | 1983-05-25 |
| JPS5914562B2 true JPS5914562B2 (ja) | 1984-04-05 |
Family
ID=16168008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56185277A Expired JPS5914562B2 (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 内部汚染繭判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5914562B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3494977B2 (ja) * | 2000-09-26 | 2004-02-09 | 株式会社イシダ | Ｘ線検査装置 |
-
1981
- 1981-11-20 JP JP56185277A patent/JPS5914562B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5887312A (ja) | 1983-05-25 |
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