JPS59121974A - 密着形イメ−ジセンサ - Google Patents

密着形イメ−ジセンサ

Info

Publication number
JPS59121974A
JPS59121974A JP57227621A JP22762182A JPS59121974A JP S59121974 A JPS59121974 A JP S59121974A JP 57227621 A JP57227621 A JP 57227621A JP 22762182 A JP22762182 A JP 22762182A JP S59121974 A JPS59121974 A JP S59121974A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
films
image sensor
islands
multilayer thin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57227621A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuyoshi Takagi
高城 信義
Kiyoshi Ozawa
清 小沢
Michiya Oura
大浦 道也
Koichi Hiranaka
弘一 平中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57227621A priority Critical patent/JPS59121974A/ja
Publication of JPS59121974A publication Critical patent/JPS59121974A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02327Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の技術分野 本発明はファクシミリ、光学文字読取装置などに用いら
れる密着型イメージセンサに関するものである。
(2)従来技術と問題点 従来よりファクシミリ、光学文字読取装置などには密着
型イメージセンサが用いられている。
第1図はこの密着型イメージセンサの構造を示す図であ
り、同図において1は光源、2は導光系、3は受光素子
アレイをそれぞれ示している。
この密着型イメージセンサにおいて、光源1から出た光
は、原稿4に照射され、白黒の模様を含んだ情報として
反射される。この原稿4カ・ら反射された光はライトフ
ォーカシングロッドレンズアレイと呼ばれる導光系2で
受光素子アレイ3に導かれそこに原稿面での王立同倍の
実像を結ぶ。受光素子アレイ3は受光した光量の大小を
光血流の大小に光変換し原稿の読取りを行なうのである
このような、ライトフォーカシングロッドレンズアレイ
を導光系として用いた密着型イメージセ/すは、ライト
フォーカシングロッドレンズアレイが光ファイバを用い
ているため、その屈折率変化を大きくすることができな
いことから開口率が小さく、また高価であるという欠点
があった。
(3)発明の目的 本発明は上記従来の欠点に鑑み、開口率が太きく光測用
効率の高い導光系を具備し、且つ安価な密着型イメージ
センサを提供することを目的とするものである。
(4)発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば、原稿サイズ2同じ大
きさを有する一次元の密着型イメージセンサにおいて、
透明基板の一方の面には受光素子アレイを形成し、他方
の面を入射光面とし、載面には、透光性の半球状の島を
受光素子と同じ間隔で配置し、かつ他の部分は非透光性
の膜を被着L7、さらに半球状の高上に屈折率を連続的
に変化させた多層Nt膜を形成したことを特徴とする密
着型イメージセンサを提供することによって達成される
(5)発明の実施例 以下本発明実施例を図面によって詳述する。
第2図は本発明の密着型イメージセ/すの構造を説明す
る念めの図である。同図において、10はガラス等の透
明基板、11は受光素子アレイの受光素子、12は透光
性の半球状の島、13は不透光性膜、14は屈折率を連
続的に変化させた多層薄膜をそれぞれ示す。なお15は
原稿、矢印16は光源よりの光を示す。
図により本発明の密着型イメージセンサの構成法を説明
すると、先ずガラス等の透明基板10の一方の面に等間
隔列状に受光素子11を形成して受光素子アレイを形成
する。次に基板10の他方の面に受光素子11と対応し
た位置に高屈折率透光性の半球状の島12を形成し他の
部分は不透光性の膜13を被着する。この場合不透光性
の膜13は金属の真空蒸着後、島12部分をエツチング
除去するか、あるいはリフトオフ法を用いる。
その後TiO2fxどの材料をスパッタ及びエツチング
して高屈折率透光性の半球状の島12を形成する。次に
この島12及び不透光性の膜13の上に屈折率を連続的
に変化させた多層薄膜14を形成する。この多層薄膜1
4はシランガスと酸素の混合ガス中でCVD法により形
成されるが、シランガスと酸素の混合比を変えることに
より5ioxのSrとOの混合比Xを変化させることが
できもそして透光性の島12に近い方を高屈折率とし順
次低屈折率へと変化せしめる。
このように構成された本実施例は多層薄膜14がレンズ
効果を有し、且つ透光性の島12もレンズとして作用す
るため開口率の大きな導光系を実現することができる、
例えば従来のライトフォーカシングロッドレンズアレイ
の開口率が0.1であるのに対し本発明の導光系の開口
率は約0.8と太きく、従来に比して著[2〈犬となる
。従って光測用効率が高くなる。またその価格は光ファ
イバを使用しないので安価となる。
(6)発明の効果 以上、詳細に説明したように本発明の密着型イメージセ
ンサはエツチング並びに薄膜技術を用いることにより光
測用効率が高く且つ安価な導光系を具備したものであり
ファクシミリ、光学文字読取装置等に使用し得るといっ
た効果大なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の密着型イメージセンサを説明するための
図、第2図は本発明による密着型イメージセンサを説明
するための図である。 図面において、10は透明基板、11は受光素子、12
は透光性の半球状の島、13は不透光性の膜、14は屈
折率を連続的に変化させた多層薄膜をそれぞれ示す。 特許出願人 富士通株式会社 特許出願代理人 弁理士 青 木   朗 弁理士 西 舘 和 之 弁理士 内 1)幸 男 弁理士 山 口 昭 之

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、原稿サイズと同じ大きさを有する一次元の密着型イ
    メージセンサにおいて、透明基板の一方の面には受光素
    子アレイを形成し、他方の面を入射光面とし、該面には
    透光性の半球状の島を受光素子と同じ間隔で配置し、か
    つ他の部分は非透光性の膜を被着し、さらに半球状の高
    上に屈折率を連続的に変化させた多層薄膜を形成したこ
    とを特徴とする密着型イメージセンサ。
JP57227621A 1982-12-28 1982-12-28 密着形イメ−ジセンサ Pending JPS59121974A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57227621A JPS59121974A (ja) 1982-12-28 1982-12-28 密着形イメ−ジセンサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57227621A JPS59121974A (ja) 1982-12-28 1982-12-28 密着形イメ−ジセンサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59121974A true JPS59121974A (ja) 1984-07-14

Family

ID=16863796

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57227621A Pending JPS59121974A (ja) 1982-12-28 1982-12-28 密着形イメ−ジセンサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59121974A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0154962A2 (en) * 1984-03-12 1985-09-18 Hitachi, Ltd. Image sensor
JPS6135464U (ja) * 1984-07-31 1986-03-04 東北リコ−株式会社 ラインセンサ
WO1992006506A1 (en) * 1990-10-01 1992-04-16 Eastman Kodak Company Static control overlayers on opto-electronic devices
WO1997021301A3 (de) * 1995-12-06 1997-07-17 Deutsche Telekom Ag Bildaufnahmeeinrichtung

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0154962A2 (en) * 1984-03-12 1985-09-18 Hitachi, Ltd. Image sensor
US4689652A (en) * 1984-03-12 1987-08-25 Hitachi, Ltd. Image sensor
JPS6135464U (ja) * 1984-07-31 1986-03-04 東北リコ−株式会社 ラインセンサ
WO1992006506A1 (en) * 1990-10-01 1992-04-16 Eastman Kodak Company Static control overlayers on opto-electronic devices
WO1997021301A3 (de) * 1995-12-06 1997-07-17 Deutsche Telekom Ag Bildaufnahmeeinrichtung

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20000076247A (ko) 컴퓨터 시스템의 사용자 입력 장치
JPS60191548A (ja) イメ−ジセンサ
KR920006800A (ko) 마스크, 그 제조방법과 그것을 사용한 패턴 형성방법및 마스크 블랭크
JPH03157602A (ja) 画像伝送素子及びそれに用いる遮光板の製造方法
JPS582501B2 (ja) 受光素子
US11868050B2 (en) Non-telecentric light guide elements
JPH02301704A (ja) 基板間光学要素のマスクにてコントロールされた結合
US5046159A (en) Image transmitting element and process for producing same
US5074646A (en) Planar reflective optical devices
JPH02301703A (ja) フリースペースプレーナー光学要素の集積
KR970006788B1 (ko) 밀착형 이미지 센서
US4233506A (en) Photo-sensor
JPS59121974A (ja) 密着形イメ−ジセンサ
US5163117A (en) Image transmitting element comprising an array of photo-transmissible holes
JPH07301730A (ja) 導波路型縮小イメージセンサ
KR930001691Y1 (ko) 밀착형 이미지 센서기구
JPS59211261A (ja) 長尺密着型イメ−ジセンサ
JPS59122274A (ja) コンタクト方式原稿読取り装置
JP2584773B2 (ja) 画像読取装置
JPS609389B2 (ja) 固体走査光電変換装置
JPS6327871B2 (ja)
JP2637946B2 (ja) 直接読取り型ラインイメージセンサ
JPH02298072A (ja) 完全密着型イメージセンサ
JPH1051589A (ja) 光導波路型縮小イメージセンサ及びその製造方法
JPH0795792B2 (ja) 密着型イメ−ジセンサ