JPS59108344A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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Publication number
JPS59108344A
JPS59108344A JP57217715A JP21771582A JPS59108344A JP S59108344 A JPS59108344 A JP S59108344A JP 57217715 A JP57217715 A JP 57217715A JP 21771582 A JP21771582 A JP 21771582A JP S59108344 A JPS59108344 A JP S59108344A
Authority
JP
Japan
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region
electrode
type
solid
sub
Prior art date
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Pending
Application number
JP57217715A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Nakamura
力 中村
Junichi Nishizawa
潤一 西澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Corp, Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Corp
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Priority to US06/555,988 priority patent/US4616249A/en
Priority to DE19833345190 priority patent/DE3345190A1/de
Publication of JPS59108344A publication Critical patent/JPS59108344A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14679Junction field effect transistor [JFET] imagers; static induction transistor [SIT] imagers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光電変換作用及び光電荷増幅作用を併有する
静電誘導トランジスタ(5talo Induct −
1on Transistor 、以下SITという)
を利用した固体撮像素子に関するものである。
従来、固体撮像素子としては、COD等の電荷 □゛□
転送素子やMQS )ランジスタがあるが、これら素子
は電荷転送時に電荷の洩れがあること、光検出感度が低
いこと、集積度が上がらないなどの間顕があつ友。これ
ら問題を解決するものとして、最近、SITを用いた固
体撮像素子が提案されて 1いる。
SITを用いた代表的なゲートキャパシタ型の固体撮像
素子を第1−に示す。SITのソース領域を構成するn
型基板1上にn−型チャンネル領域2を形成し、このチ
ャンネル領域の表面にn型−・・・ドレイン領域8と戸
型信号蓄積ゲート領蛾4とを′設ける。チャンネル領域
z上には絶縁膜5を形成し、信号蓄積ゲート領域4上に
は、透明絶縁膜6を設け、この透明絶縁膜上に透明電極
7を設ける。
また、ドレイン領域B上に電極8を形成する。信号蓄積
ゲート端子4と透明絶縁膜6と透明電極7とによってゲ
ートコンデンサ9が形成される。
このような構造のゲートキャパシタ型の固体撮像素子に
おいて、チャンネル領域2は、光入力のない定常状態に
おいて既に空乏化されており、ソ゛−スートレイン間が
順方向にバイアスされてもソース−ドレイン間に電流が
流れないようになっている。
透明電極7および透明絶縁膜6全経て光IOが入射する
と、チャンネル領域2内に電子−正孔対1・が発生し、
このうち電子は接地されたソース領域1に流れ、正孔は
信号蓄積ゲート領域番に蓄積される。その結果、ゲート
コンデンサ9を充電し、信号蓄積ゲート端子11の電位
をΔV、だけ変化させる。ゲートコンデンサ9の容ii
:t−oGとし、光!・・入力によって発生され、信号
蓄積ゲート領域4に□蓄積された電荷をQ、とすると、
Δv、 = Qr、10Gである。成る蓄積時間が経過
した後、信号蓄積ゲート端子11にゲート読み出しパル
スが与えられると、ゲート電位はこのパルスの値にΔV
Gが加わったものとなり、信号蓄積ゲート領域4とドレ
イン領域8との間の電位は低下して、空乏層が減少しソ
ース−ドレイン間に光入力に対応したドレイン電流が流
れドレイン端子12から取り出される。このドレイン電
流はSITの増幅作用のためΔVGが増”1幅度倍され
たものとなり、大きなものとなる。
以上のような固体撮像素子は、構成が簡単であり、また
、SITによる増幅作用がある等の優れた特徴を有して
いる。この固体撮像素子において、信号蓄積ゲート領域
4に蓄積された電荷をリセツ1卜する方法としては、ゲ
ート端子】1に読み出しパルスを加えて同時にリセット
する方法や、蓄積電荷をスイッチングトランジスタを介
して抜き出す方法(特開昭55−1.15229号公報
参照)袴が考案されている。しかし、ゲートにパルスヲ
加工・・・る方法では、読み出しとリセットが同時に行
なわ□れるという本質的な問題があるほか、パルスの条
件によっては充分なリセット動作が行わわない可能性が
あり、またスイッチングトランジスタを用いる方法では
リセットは確実に行われるが、構造□が複雑に々るので
高集積化に適さないという欠点があった。
本発明の目的は、集積度を損わず簡単な構成でゲート領
域に蓄積された電荷を確実にリセットできるように構成
した固体撮像素子を提供すること1パにある。
本発明は第1および第2主電極領域と、副電極領域と、
第1主電極領域と第2主電極領域との間のチャンネル領
域とを有する静電誘導トランジスタを具える固体撮像素
子において、前記副電極領1・域内に副電極領域とは異
なる導電型を有する領域を設けてpn接合を形成し、こ
のpn接合のバイアスを変化させることにより、前記副
電極領域に蓄積された電荷をリセットできるように構成
したことを特徴とするものである。
また、隣接するSITを互いに電気的に分離す □るた
めの分離ゲート領域を有する固体撮像素子においては、
サイリスタを構成しこのサイリスタをオンにすることに
よってゲート領域に蓄積さ11た電荷をリセットさせる
ことができる。
この他の本発明によれば、第1お工び第B主電する静電
誘導トランジスタを具える固体撮像素子において、第1
副電極領域内に、第1お↓び第2パ副電極領蛾とは異な
る導電型を有する領域を設けてpn接合を形成し、この
pn接合のバイアスを変化させることにより、第2副電
極領域に蓄積された電荷をリセットできるように構成し
たこと全特徴とする。
以下、本発明を図面に基いて説明する。
第2図は、本発明の一実施例を示す図である。
この図において、第1図と同じ要素には同じ番号を付し
て示す。
この固体撮像素子では、第1主電極領域をn+型ソース
領域lとし、このソース領域上にn−型”チャンネル領
域2を形成し、このチャンネル領域の表面に、第2主電
極領域としてn 型ドレイン領域8と、副電極領域とし
てP型信号蓄積ゲート領域4を設ける。このゲート領域
内に、このゲ−ト領域内導電型とは異なるn 型領域1
8を形成して、pn接合が得られるようにする。チャン
ネル領域z上には絶縁膜5を形成し、信号蓄積ゲート領
域4の一部上には透明絶縁膜6を設け、この透明絶縁膜
上に透明電極7を設ける。信号蓄積゛ゲート領域4と透
明絶縁膜6と透明電極7とによってゲートコンデンサ9
が形成される。
また、ドレイン領域B上に電極8を形成し、訂型領域】
8上に電極14f:形成する。
このような固体撮像素子において、n型領域118を、
信号蓄積ゲート番に電荷を蓄積している期間および読み
出し期間中は、フローティングしておくか、信号蓄積ゲ
ート領域4に対してn 型領域18を逆バイアスに設定
しておく。このような状態では、固体撮像素子の電荷蓄
積および読み−・・・出しの動作は、第1図に示す撮像
素子と同様であ′る。
リセット時には、n 型領域18と信号蓄積ゲート領域
4とによって構成されるpn接合をリセット端子15を
経て順方向にバイアスすることによって、ゲート領域4
に蓄積された電荷を、n+型領領域1B電極14および
端子11Sを経て抜きとることができる。そして固体撮
像素子は次の露光にそなえることができる。
本発明固体撮像素子によれば、リセット端子の1゛電位
を切換えるだけで確実なリセット動作が可能である。
第8図は、隣接するSIT t−互いに電気的に分離す
るための分離ゲート領域を有する固定撮像素子を示す。
この図において、第1図および第2図1・と同じ要素に
は同じ番号を付して示す。
この固体撮像素子では、第1主電極領蛾をn++ソース
領域1とし、このソース領域上にn−型チャンネル領域
2を形成し、このチャンネル領域の表面に、第2主電極
領域としてn型ドレイン−・・領域8を設ける。さらに
、第1副電極領域として1P 型分離ゲート領域16と
、第2副電極領域としてP+型信号蓄積ゲート領域4を
設ける。分離ゲート領域16内に、この分離ゲート領域
およびゲート領域4の導電型とは異なるn 型領域17
 ′を形成して、pn接合が得られるようにする。チャ
ンネル領域2上には絶縁膜5を形成し、信号蓄積ゲート
領域4上には透明絶縁[6を設け、この透明絶縁膜上に
透明電極7を設ける。信号蓄積ゲート領域4と透明絶縁
膜6と透明電極7とによつ1゛。
てゲートコンデンサ9が形成される。
また、ドレイン領域8上に電極8を、分離ゲート領域1
6の一部上に電極18を、n 型領域17上に電極19
を形成する。
この固体撮像素子の電気的等価回路を、第4図1・に示
す。ドレイン端子12とソース端子20との間には、2
個のSIT 21および22が並列に存在し、BIT 
21は信号電極ゲート領域4を有する方であり、5IT
2Bは分離ゲート領域16を有する方である。信号蓄積
ゲート領域4と、チャー・・ンネル領域2と、分離ゲー
ト領域16と、領域 ・17とによって、P−n−P−
n型のサイリスタが構成され、これを第4図の等何回路
において28で示す。
このような固体撮像素子において、n+型領領域17、
信月蓄積ゲート4に電荷を蓄積している期間および読み
出し期間中は、フローティングしておくか、分離ゲート
領域16に対してn+型領領域17逆バイアスに設定し
ておく。このような状態では、固体撮像素子の電荷蓄積
および読み出l・・しの動作は、第1因に示す撮像素子
と同様である。
リセット時には、ドレイン領域8の電位をフローティン
グしておき、信号蓄積ゲート領域4の電位に対し、分離
ゲート端子24を経て分離ゲート領域16を充分に低く
バイアスし、がっ、分離ゲト一ト領域16とn型領域1
7とで構成されるpn接合をリセット端子25を経て順
方向にバイアスすることによって、信号蓄積ゲート領域
4とチャンネル領域2と分離ゲート領域16とn+型領
領域17によって構成されるP+−n−P”−n+型の
 −・、。
サイリスタ28がオン状態となり、信号蓄積ゲー□ト領
域4に蓄積された電荷を、チャンネル領域2、分離ゲー
ト領域16、n型領域17および電極19を経て、リセ
ット端子25から抜きとるととができる。この場合、分
離ゲート領域16とn型領域17とで構成されるpn接
合が順方向にバイアスされているので、分離ゲート領域
16に蓄積されている電荷も抜きとることができるので
、分離ゲートのリセットも同時に完了する。そして、固
体撮像素子は次の露光にそなえることができるよ゛本発
明固体撮像索子によれば、集積度を損うことなく、サイ
リスタ動作により信号蓄積ゲートおよび分離ゲートのリ
セツ)を確実に行うことができる。
本発明は以上説明した実施例にのみ限定されるI・もの
ではなく、本発明の範囲内で種々の変更・変形が可能な
ことはもちろんである。たとえば、第1主電極領域をド
レイン領域とし、第2主電極領域をソース領域とするこ
とができる。また、本発明はゲートコンデンサを形成し
ない固体撮像素子!・・11− 25・・・リセット端子。
に本適用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のゲートキャパシタ型の固体撮像素子の
断面を示す図、 第2図は、本発明の固体撮像素子の断面を示す図、 第8図は、他の本発明の固体撮像素子の断面を示す図、 第4図は、第8図の固体撮像素子の等価回路図である。 1・・・ソース領域、    2・・・チャンネル領域
、8・・・ドレイン領域、   4・・・信号蓄積ゲー
ト領域、5・・・絶縁膜、      6・・・透明絶
縁膜、?・・・透明電極、    、8.14・・・電
極、9・・・ケートコンデン?、10・・・光、11・
・・信号蓄積ゲート端子、12・・・ドレイン端子、1
8・・・n型領域、    15・・・リセット端子、
16・・・分離ゲート領域、 17・・・n型領域、2
0・・・ソース端子、   21.22・・・SIT。 28・・・サイリスタ、   24・・・分離ゲートa
子、0(12) 特許出願人  オリンパス光学工業株式会社手続補正書 昭和59年 3 月 8 日 1、事件の表示 昭和57年 特 許 願第2.1.7715 号2、発
明の名称 固体撮像素子 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 +037)  オリンパス光学工業株式会社6、補正。 対象  明細書の「発明の詳細な説明」の欄7、補正の
内容 (別紙の通り) 1、明細書第8頁第14〜15行の[固定撮像素子iを
「固体撮像素子」に訂正する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第1および第2主電極領域と、副電極領域と、第1
    主電極領域と第2主電極領竣との間のチャンネル領域と
    を有する静電誘導トランジスタを具える固体撮像素子に
    おいて、前記副電極領域内に副電極領域とは異なる導電
    型を有する領域を設けてpn接合を形成し、このpn接
    合のバイアス全変化させることにより、前記副電極領域
    に蓄積された電荷をリセットできるように構成したこと
    を特徴とする固体撮像素子。 λ 第1および第2主電極領域と、第1および第2副電
    極領域と、第1主電極領域と第2主電極領域との間のチ
    ャンネル領域とを有する静電誘導トランジスタを具える
    固体撮像素子において、第1副電極領域内に、第1およ
    び第2副電極領域とは異なる導電型を有する領域を設け
    てpn接合を形成し、このpn接合。 のバイアスを変化させることにより、第2副□電極領域
    に蓄積された重荷をリセットできるように構成したこと
    を特徴とする固体撮像素子。
JP57217715A 1982-12-14 1982-12-14 固体撮像素子 Pending JPS59108344A (ja)

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JP57217715A JPS59108344A (ja) 1982-12-14 1982-12-14 固体撮像素子
US06/555,988 US4616249A (en) 1982-12-14 1983-11-29 Solid state image pick-up element of static induction transistor type
DE19833345190 DE3345190A1 (de) 1982-12-14 1983-12-14 Festkoerper-bildaufnahmewandlerelement

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JP (1) JPS59108344A (ja)
DE (1) DE3345190A1 (ja)

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