JPH044684A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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JPH044684A
JPH044684A JP2105902A JP10590290A JPH044684A JP H044684 A JPH044684 A JP H044684A JP 2105902 A JP2105902 A JP 2105902A JP 10590290 A JP10590290 A JP 10590290A JP H044684 A JPH044684 A JP H044684A
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charges
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Takeshi Mori
健 森
Tatsuo Nagasaki
達夫 長崎
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ダイナミックレンジを拡大することのできる
固体撮像素子に関する。
〔従来の技術〕
従来、固体撮像素子のダイナ、ミックレンジを拡大する
手段として、各種の装置が考えられている。
例えば特願昭63−201406号には、非破壊読出し
型の撮像素子から露光時間の異なる複数の画像を読出し
、撮像素子外に設けられた複数のメモリに記憶した後、
各画像を加算することによってダイナミックレンジの拡
大を図る撮像素子が記載されている。
この様な方式を通常のCODに適用した場合には、1枚
の広ダイナミツクレンジの画像を得るためには数フレー
ム分の時間が必要となる。例えば、露光時間を5回変え
て撮像すると、1枚の広ダイナミツクレンジの画像を得
るのに5フレ一ム分の時間が必要となり、画像を撮像素
子外へ読出すのに時間がかかるという欠点がある。
そこで、通常のテレビレートで露光時間の異なる複数の
画像を加算する方法として、例えば特開昭63−232
591号に提案されている駆動方法がある。
この駆動方法は、撮像素子に蓄積された電荷を読出すた
めのトランスファゲートに、第6図に示すタイミングの
駆動パルスを印加する。パルスφ。
で撮像素子をリセットし、パルスφ1によってtlの間
露光して蓄積された電荷、を垂直シフトレジスタへ転送
する。次に、t2の間露光しパルスφ2で垂直シフトレ
ジスタへ転送し、パルスφ1で転送された電荷とパルス
φ2で転送された電荷とを素子内に設けられた垂直シフ
トレジスタにて加算する。以後同様にして転送され、パ
ルスφ。
で最後の電荷が転送され垂直シフトレジスタで加算され
た後、その加算値がt。の間に素子外へ出力される。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述したように、従来の固体撮像素子はダイナミックレ
ンジを拡大するために読出された電荷を各画素毎に複数
回加算しているため、垂直シフトレジスタ等の加算部は
転送電荷を複数回加算しても飽和しない大容量の電荷蓄
積部が必要となる。
ところが、上記したように加算部は素子内に作り込む必
要があることから電荷蓄積部の面積を大きくとって大容
量化を図るのは極めて困難であり、多数回の加算にも飽
和しない大容量の加算部が望まれていた。
本発明は以上のような実情に鑑みてなされたもので、転
送電荷を複数回加算しても飽和することのない大容量の
電荷蓄積部を素子内に作り込むことができ、高精度に画
像を復元できる固体撮像素子を提供することを目的とす
る。
〔課題を解決するための手段および作用〕本発明の固体
撮像素子は、2次元状に配列された複数の光電変換素子
と、これら複数の光電変換素子のうち垂直方向に配列さ
れた各光電変換素子に蓄積される電荷を転送する第1の
垂直シフトレジスタと、この第1の垂直シフトレジスタ
によって転送される電荷を各画素毎に一時的に記憶する
第2の垂直シフトレジスタと、この第2の垂直シフトレ
ジスタから出力される電荷を累積する強誘電体で形成さ
れた電荷蓄積部と、この電荷蓄積部に蓄積された電荷を
加算値として出力する手段と、この出力手段に出力され
た加算値を出力バッファへ転送する水平シフトレジスタ
とを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、電荷蓄積部を強誘電体で形成したこと
により、転送電荷が累積されることにより蓄積電荷が大
きなものとなっても飽和することのない大容量の電荷蓄
積部を素子内に形成できる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について説明する。
第1図は実施例となる固体撮像素子の全体的な構成を示
す図である。この固体撮像素子は、マトリクス状に配列
された複数のフォトセンサ11と、これらのフォトセン
サ11の各々に設けられ読出し用の駆動パルスが印加さ
れるトランスファゲート12と、垂直方向に配列された
各フォトセンサ11の個々のトランスファゲート12に
沿って設けられフォトセンサ11から読出された電荷を
転送する複数の第1の垂直シフトレジスタ13とから受
光部が構成されている。
各垂直シフトレジスタ13の一端は、それぞれフローテ
ィング・デイフュージョン・アンプからなる受光部出力
バッファ14を介して信号処理回路15に接続されてい
る。各信号処理回路15の出力側は第2の垂直シフトレ
ジスタ16の一端に接続されている。第2の垂直シフト
レジスタ16は、各フォトセンサ11から読出された電
荷が画素毎に一時記憶される複数のレジスタからなり、
各ヒジスタは蓄積部トランスファゲート17を介して加
算部レジスタ18に接続されている。加算部レジスタ1
8は、第2の垂直シフトレジスタ16の各レジスタから
複数回にわたって読出される電荷を順次加算する電荷蓄
積部としての機能を有している。各加算部レジスタ18
の一端はそれぞれ水平シフトレジスタ19に接続されて
いて、この水平シフトレジスタ19で転送される電荷は
出力バッファ20から出力される構成となっている。
加算部シフトレジスタ18は、各画素毎に順次加算され
ていく電荷を記憶するのに十分な容量とするために、第
2図に示す構成となっている。すなわち、n形シリコン
基板21上に強誘電体層22が配置され、この強誘電体
層22上に複数のポリシリコン電極23が電荷転送方向
に沿って設けられている。なお、同図に示す例は三相C
CDの場合であり、三極ごとに出力手段、から同じ電圧
を印加するために、同図において左から1番目と4番目
、2番目と5番目、3番目と6番目の各電極が接続され
、出力手段によって各組錘にφ1〜φ3の転送パルスが
印加される構成となっている。
ここで、シリコン基板上に形成される酸化膜層22に強
誘電体を用いることにより電荷蓄積容量が増大すること
の基本概念について説明する。
電荷量をQ、容量をC2印加電圧をVとすると、Q−C
V       ・・・(1) といった関係が成り立つ。これは、容量Cと印加電圧を
増大すれば、蓄積電荷量が大きくなることを示している
。以下、三相CCDを例にして述べる。加算部レジスタ
の構造は第2図と同じものとする。この加算部レジスタ
の等価回路を第3図に示す。第3図において、COはn
形シリコン基板21上に形成されるシリコン酸化膜層2
2の単位面積当たりの容量を示し、Csはn形シリコン
基板21内の空乏層の単位面積当たりの容量を示す。
ポリシリコン電極23に印加する電圧を制御してCo、
Csに電荷を転送する。この時の、容量Cは次式で表さ
れる。
C−Co−Cs/ (Co十Cs)  −(2)ここで
、COとCsは次式で与えられる。
Co−(Ko ・co)/Xo    −(3)Cs 
−(Ks φεo)/Xd    −(4)なお、Ko
は酸化シリコンの比誘電率、Ksはn形シリコンの比誘
電率、C0は真空中の比誘電率、Xoは酸化シリコンの
厚み、Xdはn形シリコンの空乏層の厚みをそれぞれ示
している。
(1)より、転送電荷を増やすためには、(2)式にお
けるCの値と印加電圧を増大させれば良い。
容量Cを増大させるためには、CoとCsを増大させれ
ばよいが、Xdには次のような関係式が成り立つのが知
られている。
なお、voはゲート電圧、qは電子の電荷量、Naはn
形シリコン内の不純物濃度をそれぞれ示している。した
がって、Xdを減少させるためには、CoとNaを増大
させれば良いことがわかる。
よって、(1)式における容量Cを増大させるためには
、Coを増加させるのが最も効果的である。
また、強誘電体層22の比誘電率はシリコン酸化膜に比
べて数倍から数百倍になる。例えば、比誘電率がシリコ
ン酸化膜の50倍の材質のものを選んだとすると、第3
図に示すCoも50倍となる。また、Csは上記(4)
式、(5)式より次のように展開できる。
Cs = 1/ (A十v’ワ<”+B)  −(6)
ただし、A −1/ Co 、 B −2V c / 
(Q K s ・εoQNa)である。(6)式におい
て、AはCoの関数であるので、Coを50倍にすると
、Aは1150になる。しかし、BはCoをパラメータ
に含んでいないので、coを変化させてもBは変わらな
い。したがって、CsはCoを大きくするのに伴って太
き(なるが同程度には大きくならない。Bを小さくする
ためには、不純物濃度Naを大きくし、比誘電率Ksの
大きな半導体を用いることが効果的である。シリコンよ
りも比誘電率が大きな半導体としては、InAs、In
Pがあげられる。不純物濃度Naと比誘電率Ksを調整
して最適化を図ることにより、Bの値を小さくすること
ができる。よって、容量Co、不純物濃度Na、比誘電
率Ksの3つのパラメータを大きくすることにより、C
sを大きくすることができる。
そこで、本実施例では、不純物濃度Naの高いシリコン
基板21上に強誘電体層22を配置している。
また、本実施例では信号処理回路15が第4図に示すよ
うに構成されている。すなわち、信号処理回路15はそ
の入力端子24に受光部出力バッファ14の出力が印加
される。入力端子24は、2つのトランジスタの互いの
コレクタおよびエミッタを接続してなるスライストラン
ジスタ25の一方のベースにクランプコンデンサCを介
して接続されている。スライストランジスタ25の他方
のベースには過剰電荷をスライスする時のしきい値とな
るスライスレベルの電圧が印加されている。また、互い
に接続されたコレクタには定電圧Vccが印加されてい
る。スライストランジスタ25のエミッタに現われる電
位が第2の垂直シフトレジスタ16に出力される。なお
、信号処理回路15ではクランプレベルも設定される。
そのため、クランプトランジスタ26のベースに第5図
(b)に示すフィードスルークランプパルスが印加され
、エミッタにクランプレベルの電圧が印加され、コレク
タがスライストランジスタ25のベースに接続されてい
る。
次に、この様に構成された本実施例の作用について説明
する。
各フォトセンサ11に蓄積される電荷は各受光部トラン
スファゲート12に印加される読出しパルスによって順
次節1の垂直シフトレジスタ13に読出され、第1の垂
直シフトレジスタ13によって転送されて受光部出力バ
ッファ14に入力する。受光部出力バッファ14に入力
した電荷は電荷転送周期に同期して出力され順次信号処
理回路15に入力する。信号処理回路15に入力した信
号は、第5図(a)(b)に示すように、入力信号のフ
ィードスルー期間に合わせてクランプトランジスタ26
のベースにフィードスルークランプパルス(b)が印加
され、フィードスルーレベルがクランプトランジスタ2
6にて設定されているクランプレベルにクランプされる
。この様なりランプはフィードスルーレベルが現れる度
に行われる。この様にしてクランプされた信号は、スラ
イストランジスタ25によって、スライスレベルでスラ
イスされた後に、第2の垂直シフトレジスタ16に入力
される。
受光部から全ての電荷が第2の垂直シフトレジスタ16
へ転送されると、蓄積部トランスファゲート17に駆動
パルスが印加され、第2の垂直シフトレジスタ16の電
荷が加算部シフトレジスタ18へ転送されて蓄積される
。同様に、各フォトセンサ11から順次読出され、第2
の垂直シフトレジスタ16へ転送されてきた電荷が、加
算部レジスタ18へ転送され、そこで各画素毎に順次加
算されて蓄積される。これによってダイナミックレンジ
が拡大される。
加算部レジスタ18のさらに詳細な動作について説明す
る。例えば、第2図に示す第−相φ1のポテンシャルレ
ベルを下げると、第2の垂直シフトレジスタ16からφ
1の電極下に電荷が転送される。露光と加算部レジスタ
18への電荷転送を繰り返すことにより、第1相φ1の
電極下には各画素毎の電荷が順次加算されて蓄積される
。次に、第二相φ2のポテンシャルレベルを下げると同
時に第−相φ1のポテンシャルレベルを上げることによ
り、φ1の電極下の電荷(加算値)がφ2の電極下へ転
送され、順次電荷を図中左から右へ転送して水平シフト
レジスタ19へ導く。
そして、水平シフトレジスタ19に導かれた電荷は出力
バッファ20より映像信号として出力される。
この様に本実施例によれば、不純物濃度Naの高いn形
シリコン基板21上に強誘電体層22を配置し、この強
誘電体層22上に複数のポリシリコン電極23を設けて
加算部レジスタ18を構成したので、電荷蓄積容量を増
大でき、電荷の飽和を確実に防止できる。その結果、飽
和による画像の劣化を伴うことなくダイナミックレンジ
を拡大でき、高精度に画像を復元できる。
また、複数のフォトセンサ11から読出される電荷を信
号処理回路15に入力して、ここでクランプレベルを設
定すると共に、スライストランジスタ25により過剰電
荷をスライスレベルでスライスして読出された電荷に含
まれている過剰電荷をカットするようにしたので、各フ
ォトセンサ11から読出される電荷に固定パターンノイ
ズが含まれていてもそのノイズ成分をカットすることが
できる。
さらに、素子内部に設けられた加算部レジスタ18で、
複数の画像を加算するようにしたので、複数枚の画像を
素子外部に取り出してから加算するのに比べて読出し時
間を大幅に短縮できる。
〔発明の効果〕 以上詳記したように本発明によれば、転送電荷を複数回
加算しても飽和することのない大容量の電荷蓄積部を素
子内に作り込むことができ、高速の読出しを実現でき、
かつ高精度に画像を復元できる固体撮像素子を提供でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例となる固体撮像素子の構成図、
第2図は加算部レジスタの構成図、第3図は加算部レジ
スタの等価回路図、第4図は信号処理回路の構成図、第
5図は信号処理回路の動作説明図、第6図は従来の固体
撮像素子に印加された駆動パルスを示す図である。 11・・・フォトセンサ、13・・・第1の垂直シフト
レジスタ、15・・・信号処理回路、16・・・第2の
垂直シフトレジスタ、18・・・加算部レジスタ、19
・・・水平シフトレジスタ、20・・・出力バッファ、
21・・・n形シリコン基板、22・・・強誘電体層、
23・・・ポリシリコン電極。 出願人代理人 弁理士 坪井  淳 】!:l 第1図 第2図 笥3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  2次元状に配列された複数の光電変換素子と、これら
    複数の光電変換素子のうち垂直方向に配列された各光電
    変換素子に蓄積される電荷を転送する第1の垂直シフト
    レジスタと、この第1の垂直シフトレジスタによって転
    送される電荷を各画素毎に一時的に記憶する第2の垂直
    シフトレジスタと、この第2の垂直シフトレジスタから
    出力される電荷を累積する強誘電体で形成された電荷蓄
    積部と、この電荷蓄積部に蓄積された電荷を加算値とし
    て出力する手段と、この出力手段に出力された加算値を
    出力バッファへ転送する水平シフトレジスタとを備えた
    固体撮像素子。
JP2105902A 1990-03-26 1990-04-21 固体撮像素子 Expired - Lifetime JP2833825B2 (ja)

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US07/671,521 US5166800A (en) 1990-03-26 1991-03-19 Solid-state imaging device having a widened dynamic range

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0772254A (ja) * 1993-09-01 1995-03-17 Fuji Photo Film Co Ltd 放射線画像信号読出方法およびそれに用いられる放射線検出器
JP3966557B2 (ja) * 1995-08-11 2007-08-29 株式会社東芝 画像システム並びにそこで用いられる固体撮像装置半導体集積回路および差分出力方法
JP2008277797A (ja) * 2007-03-30 2008-11-13 Panasonic Electric Works Co Ltd 撮像素子
US11982492B2 (en) 2014-08-22 2024-05-14 Modine Manufacturing Company Heat exchanger, tank for heat exchanger, and method of making the same

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