JPS59104544A - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置Info
- Publication number
- JPS59104544A JPS59104544A JP57214545A JP21454582A JPS59104544A JP S59104544 A JPS59104544 A JP S59104544A JP 57214545 A JP57214545 A JP 57214545A JP 21454582 A JP21454582 A JP 21454582A JP S59104544 A JPS59104544 A JP S59104544A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- peak
- center
- image screen
- scanning signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
不ＲｔＩＩｌ ｔま線引中心位置を衷示己せるｔＡにし
た質量分析装置に関する。
た質量分析装置に関する。
第１図は一般的な質量分析装置の概略を示したもので、
イオン源１で生じたイオンは加速電源２からの電圧によ
り加速され、加速スリット３．■ネルー１−−セレクタ
用電揚４を通過し、磁場５で質量電荷比に応じて分離さ
れる。該分離されたイオンはコレクタスリット６を通過
して検出器７に入り、陰極線管８のＹ １ｔｉｌｌｉに
送られる。９は走査信号発生回路で前記７Ｊｌ′Ｉ速電
源２と電場電［１０に、一定電圧信号に走査信号をｊＪ
口算して送り、加速電界及び電場４を同期して１吊引づ
るど同１１テに、前記陰極線管８のＸ軸にも同期して一
定電圧信号に走査イ之角をｔＪｆｔ ｇゴして送る。従
って前記陰極線管８の画面上には第２図に示す様に横軸
（Ｘ軸）に走査信ｇ強曵、縦軸（Ｙ引ｈ）にイオン強１
ヶを取るスペクトルが表示どれる。尚、この時の加速電
界の掃引にＬいｉｊ記一定電［１−信号値Ｖｏを中心に
して正会行う。
イオン源１で生じたイオンは加速電源２からの電圧によ
り加速され、加速スリット３．■ネルー１−−セレクタ
用電揚４を通過し、磁場５で質量電荷比に応じて分離さ
れる。該分離されたイオンはコレクタスリット６を通過
して検出器７に入り、陰極線管８のＹ １ｔｉｌｌｉに
送られる。９は走査信号発生回路で前記７Ｊｌ′Ｉ速電
源２と電場電［１０に、一定電圧信号に走査信号をｊＪ
口算して送り、加速電界及び電場４を同期して１吊引づ
るど同１１テに、前記陰極線管８のＸ軸にも同期して一
定電圧信号に走査イ之角をｔＪｆｔ ｇゴして送る。従
って前記陰極線管８の画面上には第２図に示す様に横軸
（Ｘ軸）に走査信ｇ強曵、縦軸（Ｙ引ｈ）にイオン強１
ヶを取るスペクトルが表示どれる。尚、この時の加速電
界の掃引にＬいｉｊ記一定電［１−信号値Ｖｏを中心に
して正会行う。
ざて、例えば分解能の測定を行う場合、第３図に示す様
にｆ９Ｊえば、質量数ＭＯど〜１ｏ−１の２本のビーク
の距離之と、各ピークにおける波高値５〜１０％の波形
幅＋１ 、 、 ｄ ２を油［定し、次の式から分解能
ＩＲを求める。
にｆ９Ｊえば、質量数ＭＯど〜１ｏ−１の２本のビーク
の距離之と、各ピークにおける波高値５〜１０％の波形
幅＋１ 、 、 ｄ ２を油［定し、次の式から分解能
ＩＲを求める。
λ
に−二ロー二〜×Ｋ
＜１＜は試料により決まる定数）
従って、分解能の測定を行う場合には、質量数＼’Ｉ
Ｏど１ＶＩｏ −１のピークが画面全面に表示される様
に、１′ＩＯ記走査信号発生回路９の走査信号の制御（
こより画面の中央の電圧値Ｖｏを中心とした（吊用幅を
小さくして加速電界を１吊引する。そこで、先ず、画面
」−を観察しなかも磁場５の強度を佑揚電源１１ににリ
コントロールして、質量数Ｍ ｃのピークの中心が画面
の中央に来る様にピークを移動させる。そして、画面の
中央の電圧値ＶＯを中心に棒引幅を小ざくして加速電界
を掃引する。しかし、両面の中央にピークの中心を助で
持って来ることは非常に慣（シい。ぞして、掃引幅を小
さくすると、ＭＯと’、、４ｃｍ１とのピーク間隔や各
々の振：ｊｌｊｌｊや波形幅が広がって行くので、質量
￥１Ｍｏの中心が掃引の中心に合っていないと、画面上
に分２Ｆ能測定可能な状態の〜１０と〜１ｏ−１のピー
クを表示出来ないことがある。この様な場合、再び前記
走査１ｒ３弓発生回路９をｉｌｉ制御して掃引幅を大き
くし−Ｃ第２８１（こ示す様にＮノ１ｏ と１ｖｉｃ−
１のピークを含む；Ｒ山のピークを画面に出し、磁場５
の強度を磁場°市源１１によりコントロールして、Ｍ、
のビータを左か右に適宜移動させ、再度（Ｗ川幅を小さ
くして所望のピークを拡大表示させる体にする。この時
、未だ第３図に示す如き表示が出来ないと、：）１］記
操作を繰り返づことｔこなる。この操作は非常に厄介で
あり、又、高分解能になる程、その度合は増す。
Ｏど１ＶＩｏ −１のピークが画面全面に表示される様
に、１′ＩＯ記走査信号発生回路９の走査信号の制御（
こより画面の中央の電圧値Ｖｏを中心とした（吊用幅を
小さくして加速電界を１吊引する。そこで、先ず、画面
」−を観察しなかも磁場５の強度を佑揚電源１１ににリ
コントロールして、質量数Ｍ ｃのピークの中心が画面
の中央に来る様にピークを移動させる。そして、画面の
中央の電圧値ＶＯを中心に棒引幅を小ざくして加速電界
を掃引する。しかし、両面の中央にピークの中心を助で
持って来ることは非常に慣（シい。ぞして、掃引幅を小
さくすると、ＭＯと’、、４ｃｍ１とのピーク間隔や各
々の振：ｊｌｊｌｊや波形幅が広がって行くので、質量
￥１Ｍｏの中心が掃引の中心に合っていないと、画面上
に分２Ｆ能測定可能な状態の〜１０と〜１ｏ−１のピー
クを表示出来ないことがある。この様な場合、再び前記
走査１ｒ３弓発生回路９をｉｌｉ制御して掃引幅を大き
くし−Ｃ第２８１（こ示す様にＮノ１ｏ と１ｖｉｃ−
１のピークを含む；Ｒ山のピークを画面に出し、磁場５
の強度を磁場°市源１１によりコントロールして、Ｍ、
のビータを左か右に適宜移動させ、再度（Ｗ川幅を小さ
くして所望のピークを拡大表示させる体にする。この時
、未だ第３図に示す如き表示が出来ないと、：）１］記
操作を繰り返づことｔこなる。この操作は非常に厄介で
あり、又、高分解能になる程、その度合は増す。
４〜発明はこの様な蝋に鑑みてな８れたもので、イηン
源、該イηン源からのイオンを加速Ｊ゛る為の加速電界
発生手段、加速されたイオンを買量電（ｉ：ｊ Ｌヒ（
、二応じて分１雄する為の手段、該分離されたイオンを
倹１ｊ；づろ為の検出手段、該検出信号を表示−！ｌＩ
’ ｈ為の表示手段、前記加速電界発生手段と表示−ｆ
ｊ）にｆ’ｉ ｊｊｌ シー（’ ”Ｂ３引ｉハ翼を送
る為の走査信号発生手段、及び経用１ｇ号の中心レベル
を検出する手段からなり、該線引信号の中心レベルを前
記表示手段に表示さゼる様（こした新規な質が分析装置
を提供するものである。
源、該イηン源からのイオンを加速Ｊ゛る為の加速電界
発生手段、加速されたイオンを買量電（ｉ：ｊ Ｌヒ（
、二応じて分１雄する為の手段、該分離されたイオンを
倹１ｊ；づろ為の検出手段、該検出信号を表示−！ｌＩ
’ ｈ為の表示手段、前記加速電界発生手段と表示−ｆ
ｊ）にｆ’ｉ ｊｊｌ シー（’ ”Ｂ３引ｉハ翼を送
る為の走査信号発生手段、及び経用１ｇ号の中心レベル
を検出する手段からなり、該線引信号の中心レベルを前
記表示手段に表示さゼる様（こした新規な質が分析装置
を提供するものである。
第４図は本発明の一実施例を示した質量分析装置の概略
図で、図中第１図にて用いた番号と同一番号の付された
ものは同一構成要素である。
図で、図中第１図にて用いた番号と同一番号の付された
ものは同一構成要素である。
図中１２は走査信号発生回路９が発生する一定電圧イ菖
＞’； ｌ１ｊｉ （＼／ｃ ）に走査（ｉ号を加算し
たものが、一定電ｌＴＩ信号値（Ｖｏ ）の０１、即ち
走査信号値が零の旧、輝喰変調信号を発して、該信号を
陰極線管８のグリッドへｊスる零検出回路である。該陰
極線質は該！揮１哀変調イ５舅が送られて来たＩｎ’７
、両面上の輝瓜を変化させる紅にする。
＞’； ｌ１ｊｉ （＼／ｃ ）に走査（ｉ号を加算し
たものが、一定電ｌＴＩ信号値（Ｖｏ ）の０１、即ち
走査信号値が零の旧、輝喰変調信号を発して、該信号を
陰極線管８のグリッドへｊスる零検出回路である。該陰
極線質は該！揮１哀変調イ５舅が送られて来たＩｎ’７
、両面上の輝瓜を変化させる紅にする。
！’Ｊｉ＜の如さ装置において、走査信号発生回路９か
らの信号により陰極線管８の画面上には、ｘＩｌｌｌｈ
に走査イニ冷強度、Ｙ ’＋’ｉｌｌにイオン強度を取
るスペクトルが表示される。この時、零検出回路１２は
前記走査信号発生回路９からの信号の内、走査信号のｉ
ｉｊ＋が零の詩に、前記陰極線管８に輝度変調（３号を
送るので、第５図に示す様に該陰極線質画面上には（１
ｊ１引中心位置を示す輝度マーカＭが表示される。そこ
−（、前記走査信号発生回路９からの信号の内、一定電
圧伯母１直（ＶＯ）を適宜高くして輝）哀マーカ１゛ソ
１を直１ｆ目の中心（第５シ１の破線）に移動ご（涜、
更に質量数へ１１０のピークが践画面の中心にｊＩｊ
）”Ｌンｉ′、、、′こマーカ上に来る様に、磁場電源
１７をコン［〜ロールする。ぞして、分解能を測定する
場合に、質Ｎ ’１１ Ｍ ｏのピークか位置覆る画面
の中心位置の電圧ｆｚ呂値（Ｖｏ′ ）を中心として適
宜な小（１１引幅で画面上及び加速電界とエネルキーセ
レクタ用電揚が掃引される様に前記走査信号発生回路９
の走査ｆＤ号をコントロールサれば、第３図に示り如さ
゛質量数Ｍａ ’、Ｍｏ −１のピークが画面上ｔこ表
示される。
らの信号により陰極線管８の画面上には、ｘＩｌｌｌｈ
に走査イニ冷強度、Ｙ ’＋’ｉｌｌにイオン強度を取
るスペクトルが表示される。この時、零検出回路１２は
前記走査信号発生回路９からの信号の内、走査信号のｉ
ｉｊ＋が零の詩に、前記陰極線管８に輝度変調（３号を
送るので、第５図に示す様に該陰極線質画面上には（１
ｊ１引中心位置を示す輝度マーカＭが表示される。そこ
−（、前記走査信号発生回路９からの信号の内、一定電
圧伯母１直（ＶＯ）を適宜高くして輝）哀マーカ１゛ソ
１を直１ｆ目の中心（第５シ１の破線）に移動ご（涜、
更に質量数へ１１０のピークが践画面の中心にｊＩｊ
）”Ｌンｉ′、、、′こマーカ上に来る様に、磁場電源
１７をコン［〜ロールする。ぞして、分解能を測定する
場合に、質Ｎ ’１１ Ｍ ｏのピークか位置覆る画面
の中心位置の電圧ｆｚ呂値（Ｖｏ′ ）を中心として適
宜な小（１１引幅で画面上及び加速電界とエネルキーセ
レクタ用電揚が掃引される様に前記走査信号発生回路９
の走査ｆＤ号をコントロールサれば、第３図に示り如さ
゛質量数Ｍａ ’、Ｍｏ −１のピークが画面上ｔこ表
示される。
オ（発明１こよねば、非常に簡単に所望の質量数のピー
クを表示ざＬることが出来る。
クを表示ざＬることが出来る。
第１図は従来の質量分析装置の概略図、第２図及びり’
Ｈ３図（は質量分析スペクトルを示す図、第４図（よ本
発明の一実施例を示した質量分析装置の概略図、第５図
は本発明の詳細な説明を補足する為の図である。 １：イオン源、２：加速電源、５：磁場、７：検出器、
８：陰極線管、９：走査（８号発生回路、１２：零検出
回路。
Ｈ３図（は質量分析スペクトルを示す図、第４図（よ本
発明の一実施例を示した質量分析装置の概略図、第５図
は本発明の詳細な説明を補足する為の図である。 １：イオン源、２：加速電源、５：磁場、７：検出器、
８：陰極線管、９：走査（８号発生回路、１２：零検出
回路。
Claims (1)
- イオン河（、該イオン源からのイオンを加速する為の加
速電界発生手段、加速されたイオンを質量電動１ヒに応
じて万円１する為の手段、該分離されたイオンを検出す
る為の検出手段、該検出信号を表示する為の表示手段、
前記加速電界発生手段と表示手段に同期して１吊引侶号
を送る為の走査（厄号発生手設、及び線引信号の中心レ
ベルを（う２出づ−る手段からなり、該（帛引信号の中
心レベルを前記表示手段にテ、２示させる様にした質ｈ
）分析阜装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57214545A JPS59104544A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | 質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57214545A JPS59104544A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | 質量分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59104544A true JPS59104544A (ja) | 1984-06-16 |
Family
ID=16657510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57214545A Pending JPS59104544A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | 質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59104544A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54158990A (en) * | 1978-06-06 | 1979-12-15 | Jeol Ltd | Mass spectrograph for detecting multiple ions |
-
1982
- 1982-12-07 JP JP57214545A patent/JPS59104544A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54158990A (en) * | 1978-06-06 | 1979-12-15 | Jeol Ltd | Mass spectrograph for detecting multiple ions |
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