JPS59100646A - 誤り検査方式 - Google Patents
誤り検査方式Info
- Publication number
- JPS59100646A JPS59100646A JP57210404A JP21040482A JPS59100646A JP S59100646 A JPS59100646 A JP S59100646A JP 57210404 A JP57210404 A JP 57210404A JP 21040482 A JP21040482 A JP 21040482A JP S59100646 A JPS59100646 A JP S59100646A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- code
- decoder
- error
- bits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/004—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received by using forward error control
- H04L1/0045—Arrangements at the receiver end
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/004—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received by using forward error control
- H04L1/0056—Systems characterized by the type of code used
- H04L1/0057—Block codes
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/004—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received by using forward error control
- H04L1/0075—Transmission of coding parameters to receiver
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Error Detection And Correction (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Transmission Systems Not Characterized By The Medium Used For Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は伝送情報の誤り訂正を効果的に行い得る実用性
の高い誤り検査方式に関する。
の高い誤り検査方式に関する。
情報を伝送する場合、一般に伝送回線特性や雑音等に起
因するビット符号誤りを避けることができない。この為
、従来より種々の誤シ検出・訂正方式が検討されている
。第1図は従来一般的な誤シ検出・訂正方式で採用され
るデータのフレーム構成を示すもので、63ビツトから
なる1フレームを56ビツトのデータ部と7ビツトの検
査符号部とに分けた構造を有する。しかしてBCH方式
の検査法によれば、上記7ビ、トの検査符号を用いてデ
ータ部中の1ビツトの符号誤りを訂正することができ、
また2ビツトまでの符号誤りを検出するととができる。
因するビット符号誤りを避けることができない。この為
、従来より種々の誤シ検出・訂正方式が検討されている
。第1図は従来一般的な誤シ検出・訂正方式で採用され
るデータのフレーム構成を示すもので、63ビツトから
なる1フレームを56ビツトのデータ部と7ビツトの検
査符号部とに分けた構造を有する。しかしてBCH方式
の検査法によれば、上記7ビ、トの検査符号を用いてデ
ータ部中の1ビツトの符号誤りを訂正することができ、
また2ビツトまでの符号誤りを検出するととができる。
っまシ、2ビツトまでの誤シ検査能力を有することにな
る。またこのような誤シ検査能力を増すべく、第2図に
示すように検査符号部を13ビ、トとし、データ部を5
0ビツトとした場合には、2ビツトまでの符号誤シ訂正
、および3ビ、トまでの符号誤り検出が可能とhる。
る。またこのような誤シ検査能力を増すべく、第2図に
示すように検査符号部を13ビ、トとし、データ部を5
0ビツトとした場合には、2ビツトまでの符号誤シ訂正
、および3ビ、トまでの符号誤り検出が可能とhる。
然し乍ら、このようにして検査符号部のビット長を多く
してその誤シ検査能゛力を高めた場合、その反面データ
に対する冗長度が増加する上、誤り訂正・検出の為の処
理が大幅に複雑化して大損りな処理回路を必要とする。
してその誤シ検査能゛力を高めた場合、その反面データ
に対する冗長度が増加する上、誤り訂正・検出の為の処
理が大幅に複雑化して大損りな処理回路を必要とする。
この為、経済性が悪くなると言う不具合があった。
本発明はこのような事情を考慮してたされたもので、そ
の目的とするととろは、少ない冗長度の増加によって符
号誤シの検査能力を飛躍的に高めて効果的な誤シ訂正を
可能とする実用性の高い検査方式を提供することにある
。
の目的とするととろは、少ない冗長度の増加によって符
号誤シの検査能力を飛躍的に高めて効果的な誤シ訂正を
可能とする実用性の高い検査方式を提供することにある
。
本発明は所定の符号長からなる第1のデータに、この第
1のデータの有効データ部を示す第2のデータおよび少
なくとも上記第1のデータの伝送誤シを訂正または検出
する検査符号を付加して伝送し、受信部では上記第2の
データをを訂正したのち、前記検査符号を用いて前記第
1のデータ中の有効データ部における伝送符号誤シを訂
正または検出するようにしたものである。
1のデータの有効データ部を示す第2のデータおよび少
なくとも上記第1のデータの伝送誤シを訂正または検出
する検査符号を付加して伝送し、受信部では上記第2の
データをを訂正したのち、前記検査符号を用いて前記第
1のデータ中の有効データ部における伝送符号誤シを訂
正または検出するようにしたものである。
従って本発明によれば、第2のデータによって示される
第1のデータ中の非有効データ部の符号が実質的な意味
を有さないことから、これを所定の規則に従って簡易に
訂正したのち、有効データ部の符号誤りを検査符号に従
って訂正または検出することができるので、冗長の少な
い情報を有効に利用して効果的な符号誤シ検査を行うこ
とができる。しかも、その処理回路を簡易に実現するこ
とができ、実用上絶大なる効果が奏せられる。
第1のデータ中の非有効データ部の符号が実質的な意味
を有さないことから、これを所定の規則に従って簡易に
訂正したのち、有効データ部の符号誤りを検査符号に従
って訂正または検出することができるので、冗長の少な
い情報を有効に利用して効果的な符号誤シ検査を行うこ
とができる。しかも、その処理回路を簡易に実現するこ
とができ、実用上絶大なる効果が奏せられる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例につき説明する
。
。
第3図は実施例方式に係る伝送データのフォーマット例
を示すもので、ここでは符号長が16ビツトからなる第
1のデータXと、この第1のデータXの有効データ部を
示す2ビツトの第2のデータYおよび上記第1のデータ
Xに対する誤シ検査符号Cとから構成される。上記第1
のデータXは、例えばその符号ビット要素をXiとした
とき、 として示されるものである。この第1のデータXに対し
て、第2のデータYは例えば第2図に例示するように、
第1のデータXの有効ビット数が7ビツト以下のときO
,O,S〜10ビットのとき0,1.11〜13ビツト
のとき1゜0、そして14ビツト以上のとき1.1とし
て定義される。また前記誤シ検査符号Cとしては、例え
ばBCH符号等が用いられる。
を示すもので、ここでは符号長が16ビツトからなる第
1のデータXと、この第1のデータXの有効データ部を
示す2ビツトの第2のデータYおよび上記第1のデータ
Xに対する誤シ検査符号Cとから構成される。上記第1
のデータXは、例えばその符号ビット要素をXiとした
とき、 として示されるものである。この第1のデータXに対し
て、第2のデータYは例えば第2図に例示するように、
第1のデータXの有効ビット数が7ビツト以下のときO
,O,S〜10ビットのとき0,1.11〜13ビツト
のとき1゜0、そして14ビツト以上のとき1.1とし
て定義される。また前記誤シ検査符号Cとしては、例え
ばBCH符号等が用いられる。
即ち、符号長として16ビツト準備された第1のデータ
Xであると難ども、その値によっては上位ビットのデー
タは実質的な意味を持たず、従って上述した第2のデー
タYによって第1のデータXの有効データ部を示せば、
その非有効データ部を実質的に無視することができる。
Xであると難ども、その値によっては上位ビットのデー
タは実質的な意味を持たず、従って上述した第2のデー
タYによって第1のデータXの有効データ部を示せば、
その非有効データ部を実質的に無視することができる。
本方式はこの点に着目したもので、第3図に示すフォー
マ、トで伝送されたデータを受信したと5− き、先ず第2のデータYから第1のデータXの有効デー
タ部を識別し、これによって上記第1のデータXの非有
効データ部の符号誤シを所定の規則に従って訂正するも
のである。上記所定の規則は、例えば上記非有効データ
部は何ら意味を持たないから、その全てのビット符号が
「0」である等の規則から力るもので、これによシ、符
号誤りによって「1」となったビットを無条件に「0」
に置換する等して、その訂正処理が行われる。例えば第
5図(a) (b)に示すように第2のデータYが0,
1で示される場合、第1のデータXの有効データ部が1
0ビ、ト以下であり、11〜16ビツトの符号が非有効
データであることが示される。この結果、この非有効デ
ータ部の各符号ビットを検査すればX1mが「1」であ
シ、符号誤りを生じていることがわかる。故に、このX
12をrOJに置換することによって、その訂正がなさ
れることになる。また第5図(b)に示すものでは第2
のデータYがo、oであることから、第1のデータXの
有効6− データ部が7ビツト以下であシ、従ってこの場合には非
有効データ部のX11tX13がそれぞれ符号誤シを生
じていることが判り、その訂正が可能となる。
マ、トで伝送されたデータを受信したと5− き、先ず第2のデータYから第1のデータXの有効デー
タ部を識別し、これによって上記第1のデータXの非有
効データ部の符号誤シを所定の規則に従って訂正するも
のである。上記所定の規則は、例えば上記非有効データ
部は何ら意味を持たないから、その全てのビット符号が
「0」である等の規則から力るもので、これによシ、符
号誤りによって「1」となったビットを無条件に「0」
に置換する等して、その訂正処理が行われる。例えば第
5図(a) (b)に示すように第2のデータYが0,
1で示される場合、第1のデータXの有効データ部が1
0ビ、ト以下であり、11〜16ビツトの符号が非有効
データであることが示される。この結果、この非有効デ
ータ部の各符号ビットを検査すればX1mが「1」であ
シ、符号誤りを生じていることがわかる。故に、このX
12をrOJに置換することによって、その訂正がなさ
れることになる。また第5図(b)に示すものでは第2
のデータYがo、oであることから、第1のデータXの
有効6− データ部が7ビツト以下であシ、従ってこの場合には非
有効データ部のX11tX13がそれぞれ符号誤シを生
じていることが判り、その訂正が可能となる。
このようにして非有効データ部の誤り訂正を行ったのち
、検査符号Cを用いて第1のデータXの誤り検査が行わ
れる。このとき、前述した7ビツトのBCH符号を用い
れば1ビ、トの誤り訂正と、2ビ、トまでの誤り検出を
行うことができるので、結局前記非有効データ部の誤り
訂正能力と結合して、相当数のビット符号訂正を行うこ
とが可能となる。つまυ、誤り検査能力を飛躍的に高め
ることが可能となる。即ち、BCH符号を有効データ部
に対してのみ働かせることが可能となる。
、検査符号Cを用いて第1のデータXの誤り検査が行わ
れる。このとき、前述した7ビツトのBCH符号を用い
れば1ビ、トの誤り訂正と、2ビ、トまでの誤り検出を
行うことができるので、結局前記非有効データ部の誤り
訂正能力と結合して、相当数のビット符号訂正を行うこ
とが可能となる。つまυ、誤り検査能力を飛躍的に高め
ることが可能となる。即ち、BCH符号を有効データ部
に対してのみ働かせることが可能となる。
第6図は上述した処理を実行する処理回路の構成例を示
すもので、前述したフォーマ、トのデータは、端子1よ
多入力される。この端子Jから、前記第2のデータYは
デコーダ2に入力され、他方第1のデータXおよび検査
符号はゲート回路3に導びかれる。デコーダ2は第1の
データYを解析して、上記第1のデータXの有効データ
部(有効ビット数)を検出しておシ、その情報をカウン
タ4に与えている。カウンタ4は、上記データの転送速
度に等しいクロ、り信号CKを入力して、上記デコーダ
2より与えられるビット数分だけ計数し、その期間前記
ゲート回路3を開成している。これによって、第1のデ
ータXの有効データ部と検査符号Cのみがゲート回路3
を介してBCH復号器5に供給される。そして、前記第
1のデータXの非有効データ部の転送時にはゲート回路
3が閉成されていることから、ゲート回路3からは上記
非有効データ部の全てのと、ト符号に代えて「0」デー
タが転送されることになる。これによって、符号誤りを
生じて「1」となった符号が「0」に訂正されてBCH
復号器5に与えられることになる。このようにして非有
効データ部の誤シ訂正を施したデータ系列(第1のデー
タX)に対して、BCH復号器5は検査符号に従って誤
シ訂正!たけ検出を行い、その出力データを端子6を介
して出力する。
すもので、前述したフォーマ、トのデータは、端子1よ
多入力される。この端子Jから、前記第2のデータYは
デコーダ2に入力され、他方第1のデータXおよび検査
符号はゲート回路3に導びかれる。デコーダ2は第1の
データYを解析して、上記第1のデータXの有効データ
部(有効ビット数)を検出しておシ、その情報をカウン
タ4に与えている。カウンタ4は、上記データの転送速
度に等しいクロ、り信号CKを入力して、上記デコーダ
2より与えられるビット数分だけ計数し、その期間前記
ゲート回路3を開成している。これによって、第1のデ
ータXの有効データ部と検査符号Cのみがゲート回路3
を介してBCH復号器5に供給される。そして、前記第
1のデータXの非有効データ部の転送時にはゲート回路
3が閉成されていることから、ゲート回路3からは上記
非有効データ部の全てのと、ト符号に代えて「0」デー
タが転送されることになる。これによって、符号誤りを
生じて「1」となった符号が「0」に訂正されてBCH
復号器5に与えられることになる。このようにして非有
効データ部の誤シ訂正を施したデータ系列(第1のデー
タX)に対して、BCH復号器5は検査符号に従って誤
シ訂正!たけ検出を行い、その出力データを端子6を介
して出力する。
このように本方式による符号誤りの検査処理は非常に簡
易に、且つ効果的に行われる。そして、処理回路の構成
も簡単であり、その実用的利点は非常に高い。
易に、且つ効果的に行われる。そして、処理回路の構成
も簡単であり、その実用的利点は非常に高い。
ところで上述した例は、第1のデータXの極性が定まっ
ている場合であるが、正負にまたがる数値を表わす場合
には、例えば第7図に示すように第2のデータYを定義
するようにすればよい。この例は負数を2の補数として
表わし、MSB (X t s )をサインビットシた
ものである。つまり第1のデータXは として示される。この場合、データXの有効長が7ビ、
ト以下の場合にはY=o、o、8〜10ビ、トの場合に
は0.1.11〜13ビツトの場合には1,0、そして
14ビ、ト以上の場合には1,1として与える。そして
、非有効データ部の符号がサインビットと同じ符号とな
ると9− どを利用して、非有効データ部の誤シ訂正を行うように
すればよい。
ている場合であるが、正負にまたがる数値を表わす場合
には、例えば第7図に示すように第2のデータYを定義
するようにすればよい。この例は負数を2の補数として
表わし、MSB (X t s )をサインビットシた
ものである。つまり第1のデータXは として示される。この場合、データXの有効長が7ビ、
ト以下の場合にはY=o、o、8〜10ビ、トの場合に
は0.1.11〜13ビツトの場合には1,0、そして
14ビ、ト以上の場合には1,1として与える。そして
、非有効データ部の符号がサインビットと同じ符号とな
ると9− どを利用して、非有効データ部の誤シ訂正を行うように
すればよい。
具体的にはその処理回路を第8図に示すようにし、MS
Bメモリ7を用いてIv!5B(xll)のビット符号
を格納する。そして、非有効データ部のビットデータ転
送時には上記MSBメモリ7に格納された符号をゲート
回路8を介して出力し、これをBCH復号器5に与える
ようにすればよい。
Bメモリ7を用いてIv!5B(xll)のビット符号
を格納する。そして、非有効データ部のビットデータ転
送時には上記MSBメモリ7に格納された符号をゲート
回路8を介して出力し、これをBCH復号器5に与える
ようにすればよい。
このように本方式は、正負にまたがるデータを取扱う場
合であっても有効に作用し、絶大なる効果が奏せられる
。
合であっても有効に作用し、絶大なる効果が奏せられる
。
伺、本発明は上記実施例に限定されるものではない。例
えば第1のデータXが負数を示す場合、非有効データ部
の符号が「1」となることから、このときには非有効デ
ータ部のデータに代えて「1」データを出力するように
しなければならないことは言うまでもない。また正負に
またがるデータを扱う場合、サインビットの符号誤シが
生じる虞れもあシ、第8図に示す処理回路では誤った訂
正処理が行われる虞れがある。
えば第1のデータXが負数を示す場合、非有効データ部
の符号が「1」となることから、このときには非有効デ
ータ部のデータに代えて「1」データを出力するように
しなければならないことは言うまでもない。また正負に
またがるデータを扱う場合、サインビットの符号誤シが
生じる虞れもあシ、第8図に示す処理回路では誤った訂
正処理が行われる虞れがある。
10−
従ってこのような場合には、非有効データ部のビット符
号を検査し、数の多い方のCツー)iy’<W々を用い
て訂正処理を行うようにすればよい。その信奉発明を実
施するに際しては、】フレームのビット構成数やフォー
マ、ト、検査符号の方式等、仕様に応じて定めればよい
。要するに本発明はその要旨を逸脱しカい範囲で種々変
形して実施することができる。
号を検査し、数の多い方のCツー)iy’<W々を用い
て訂正処理を行うようにすればよい。その信奉発明を実
施するに際しては、】フレームのビット構成数やフォー
マ、ト、検査符号の方式等、仕様に応じて定めればよい
。要するに本発明はその要旨を逸脱しカい範囲で種々変
形して実施することができる。
第1図および第2図はそれぞれ従来の検査符号を用いた
訂正方式のデータフォーマット例を示す図、第3図は本
発明の一実施例方式に係るデータフォーマ、トを示す図
、第4図は第1のデータの有効データ部の長さと第2の
データとの関係を示す図、第5図(a) (b)は本方
式による訂正処理の一例を示す図、第6図は本方式を実
施する処理回路の一例を示す構成図、第7図は本発明の
別の実施例を示す第1のデータの有効データ部の長さと
第2のデータとの関係を示す図、第8図は第7図に示す
実施例の処理回路の一例を示す構成図である。 1・・・端子、2・・・デコーダ、3・・・ゲート回路
、4・・・カウンタ、5・・・BCH復号器、6・・・
端子、7・・−MSBメモリ、8・・・ゲート回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦−275− 弓 、O 東京都渋谷区神南2丁目2番1
訂正方式のデータフォーマット例を示す図、第3図は本
発明の一実施例方式に係るデータフォーマ、トを示す図
、第4図は第1のデータの有効データ部の長さと第2の
データとの関係を示す図、第5図(a) (b)は本方
式による訂正処理の一例を示す図、第6図は本方式を実
施する処理回路の一例を示す構成図、第7図は本発明の
別の実施例を示す第1のデータの有効データ部の長さと
第2のデータとの関係を示す図、第8図は第7図に示す
実施例の処理回路の一例を示す構成図である。 1・・・端子、2・・・デコーダ、3・・・ゲート回路
、4・・・カウンタ、5・・・BCH復号器、6・・・
端子、7・・−MSBメモリ、8・・・ゲート回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦−275− 弓 、O 東京都渋谷区神南2丁目2番1
Claims (1)
- 所定の符号長からなる第1のデータに、この第1のデー
タの有効データ部を示す第2のデータおよび少なくとも
上記第1のデータの伝送誤りを訂正または検出する検査
符号を付加して伝送し、受信部では上記第2のデータを
解析して前記検査符号に従って前記第1のデータ中の伝
送誤シを訂正または検出してなることを特徴とする誤シ
検査方式。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57210404A JPS59100646A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 誤り検査方式 |
EP19830111843 EP0110352B1 (en) | 1982-11-30 | 1983-11-25 | Digital information transmitting system and digital information receiving apparatus |
DE8383111843T DE3381425D1 (de) | 1982-11-30 | 1983-11-25 | System zur uebertragung von digitalinformationen und empfangseinrichtung fuer digitalinformationen. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57210404A JPS59100646A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 誤り検査方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59100646A true JPS59100646A (ja) | 1984-06-09 |
JPH0259660B2 JPH0259660B2 (ja) | 1990-12-13 |
Family
ID=16588747
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57210404A Granted JPS59100646A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 誤り検査方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59100646A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6890802B2 (en) | 2002-08-14 | 2005-05-10 | Ltrim Technologies Inc. | Method for modifying the impedance of semiconductor devices using a focused heating source |
US7217986B2 (en) | 2002-08-14 | 2007-05-15 | Technologies Ltrim Inc. | Method for modifying the impedance of semiconductor devices using a focused heating source |
US7564078B2 (en) | 2006-01-19 | 2009-07-21 | Cadeka Microcircuits, Llc | Tunable semiconductor component provided with a current barrier |
-
1982
- 1982-11-30 JP JP57210404A patent/JPS59100646A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6890802B2 (en) | 2002-08-14 | 2005-05-10 | Ltrim Technologies Inc. | Method for modifying the impedance of semiconductor devices using a focused heating source |
US7217986B2 (en) | 2002-08-14 | 2007-05-15 | Technologies Ltrim Inc. | Method for modifying the impedance of semiconductor devices using a focused heating source |
US7564078B2 (en) | 2006-01-19 | 2009-07-21 | Cadeka Microcircuits, Llc | Tunable semiconductor component provided with a current barrier |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0259660B2 (ja) | 1990-12-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4447903A (en) | Forward error correction using coding and redundant transmission | |
US4670880A (en) | Method of error detection and correction by majority | |
EP0140381B1 (en) | Decoding method and system for doubly-encoded reed-solomon codes | |
US4077028A (en) | Error checking and correcting device | |
US4569050A (en) | Data communication system with fixed weight error correction and detection code | |
US4858236A (en) | Method for error correction in memory system | |
US4236247A (en) | Apparatus for correcting multiple errors in data words read from a memory | |
GB1400363A (en) | Processing binary coded information | |
EP0477377A1 (en) | Error detecting system | |
JPS59100646A (ja) | 誤り検査方式 | |
EP0146637A1 (en) | Method of detecting error | |
EP0650266A2 (en) | An error correction code decoder and a method thereof | |
US4078225A (en) | Arrangement and a method for error detection in digital transmission systems | |
KR100292788B1 (ko) | 에러검출 및 정정회로 | |
RU2163400C1 (ru) | Комбинированный универсальный способ исправления одиночных ошибок при передаче информации биимпульсным кодом манчестер ii | |
JPH0259661B2 (ja) | ||
RU2799892C1 (ru) | Способ восстановления цифровой телеметрической информации в условиях возможной инверсии сигнала | |
JPS6160618B2 (ja) | ||
SU560355A1 (ru) | Способ передачи данных -позиционны ми сигналами | |
JPH0312499B2 (ja) | ||
JPH06244741A (ja) | 誤り訂正方法 | |
JP3520308B2 (ja) | テレテキストデータの受信方法 | |
KR100215860B1 (ko) | 반도체 메모리 테스트회로 | |
JPS589449A (ja) | デ−タ・メツセ−ジ復号方式 | |
JPS58161049A (ja) | デ−タの復号化方式 |