JPS5897646A - 液体中の粒子濃度測定装置 - Google Patents

液体中の粒子濃度測定装置

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JPS5897646A
JPS5897646A JP20746882A JP20746882A JPS5897646A JP S5897646 A JPS5897646 A JP S5897646A JP 20746882 A JP20746882 A JP 20746882A JP 20746882 A JP20746882 A JP 20746882A JP S5897646 A JPS5897646 A JP S5897646A
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probe
globe
tube
measuring
liquid
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JP20746882A
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ピエ−ル−ホ−カン・ベルクストレム
ロ−ラント・アイナ−・イエルヴエスタム
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/53Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
    • G01N21/534Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke by measuring transmission alone, i.e. determining opacity

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は導管中を流れる液体中の粒子績度幽定装ff1
K関し、籍に管壁に液体に接触した状態で配置され九測
定グローブを備えた液体中の粒子一度@足装置に関する
デン今軒第382116号に与られるようなパルス赤外
麿【利用した欄光沃を用いることが知られている。
この先行技術の方法には、それ自体の適用限界があり、
本来それは実質的に一定の温度の静止状−の液体に適用
しりるものである。温度の変動がめる場合、この方法で
は、一定値にがなりの誤差を生じる。さらに、少時間便
用し友だけでもグローブをff11除して付層粒子を除
去する必簀があ妙、また例えばセルロース成業のパルプ
コンベヤーなとで送られる液体のような欠勤液体中の粒
子測定にこの方法を用いるためには、装置のかな妙な変
更補足を賛するという一点がある。
これらの欠点は、本願の特許請求の範囲第1項の%機部
に記載したような装置*成を採用することにより、これ
を解決することができる。
すなわち本発明の構成によれば、従来用いられているよ
うな測定プローブを用いて、管中を送られる粒子含有液
体について十分に一定を行うことができる。これまで当
業者の閾では、赤外−グローブτ用いて、例えば移動中
の製紙用パルプ中のファイバー濃度を測にすることは不
可能である力へないしは少くともグローブを絶えずクリ
ー二/グする必賛があると考えられていた。しかし、こ
の4見方は、本発明によって完全に打破されるところと
なつ九。すなわち管又は導管の断面を変化させることに
よ抄、液に面したプローブ#i!面を自動的に清#に保
つことができる。
また本発明に錬った装置では、プローブを電子回路に接
続し、この回路をさらに、献体を送る管又は導管と熱伝
導接触する参!ms定+寂を壱゛する参照装rIItに
接続しているので、従来解決困−とされていた、′fl
J配タイプの液の摺電回路の不安定性に関する間麺を防
止することができる。前記の参Ji1装置は、調定領域
のm〜或に一連した機能を有し、液を送る管とプローブ
とを囲むケーシングに収容されている。
重置f14に従った測定装置は、製造加工11i条のほ
か、上水道や下水道系での使用に適している。本装眞は
正確な刺度測定を意図したものであり、例えば製紙・セ
ルロース型巣では、加圧式スクリーンや1流式クリーナ
ーの前!R#での#IJJ足、・抄紙機のヘッドボック
スに送られる藺の紙料に閥しての1ムあるいは稀釈やフ
ァイバー回収の丸めの白水の摺足等に効果的に用いるこ
とができる。また、水道や下水の分野では、スラッジ含
有量中濁度の一定、また例えば遠心分離脱水機その他の
愼械的脱水装置からの排水中のm燭物質富有量の測定等
に本城皺を使用することかできる◇ この測定の原理は、粒子が光を吸収反射する能力を基鍵
としたものである。
縦大限の1造性を得るため、電子−路の一部を変fs―
に取付けた。画定は、画定距離20■にわ九って赤外線
で行う。赤外線は非常に短いパルスで送られるが、非常
に大きな光度を有しており、これは赤外線を極めて短い
パルスで、パルス間隔を長くして発振することによ抄得
られる。光度が非Ml大きいので、電子回路に組込んだ
増幅器を動作させるにけで種々異なった測定範囲を利用
できるという利点が祷られる。赤外−ダイオードから得
らjLる光ri湿温度大きく左右されるので、これは変
換器に組込まれた別の参照系を介して補償さnる。また
、これによって他の部分におけるドリフトや、ランダム
入射光が補償される。
変換器からの測定信号はパルスから成抄、その−嘱は濃
度に比例する。このパAスは、サンプリンク・保持回路
で直流電圧に変換して、同時に積分時間に接続すること
ができる。この積分時間は、七の槻芝櫨に−する一定比
亭と、一度の大きな変励を仰−するための−瞥比率とを
有している0サンプリング・保持回路のあと、信号社直
接又は対数増幅器を介して最高最低設定装置へ送られる
。出力段階の増−は、スイッチにより変更することがで
きる。ディジタル■定i*i示針は、選択され死出力信
号の如何にかかわらず、0〜100%の選択a囲を衆示
する。
以下、本発明の実施例について、添付図面に基づいて詳
細vc説明する。
装置1j11に従つ九一定装置は変換器(1ンを偏え、
第1図および第2図の好遍夾施例では、この変換器(1
)は測定、fveo粒子含有液体を送る測定管(2)を
有している。測定管(2)には、導−# (図示せず)
に連結するための接続手R(3) (4)か設けられて
いる。一定懺域では、測定管(2)の断面をその形状に
おいて異ならせているが、その断−槓においては同じで
あるのか好ましい。従□って、好j実施狗におηる測定
管(2)の横1fr面は、第 1図にみられるように、
接続部(3) (4)では通常の円形を呈し、これが実
質的に矩形#而(5)へと形状変化している。この円形
から小形N1面への移行は連続的であり、この形状変化
を侍るには幾つかの方法があるが、蝋も量率には円形の
管を圧縮することによって得られる。
測定管(2)の矩形wfr面部(5)内の対向壁(旬(
7)には、画定グローブ(8・4・9)を壇付けるため
の開口が設けられている。グローブ(8,9)は管壁(
6)(7)の開口を元金に埋め、送られる液に対面する
そのプローブ[[CIQ (lυは管壁(6) (7)
の内面とほぼ同じ平面にある。
矩形曾断面部(5)とプローブ(8,9)を含む測定領
域をケーシング(6)が包囲している。このケーシング
四は、好ましくは円筒状で、測定管(2)のmwiおよ
びグローブ(8,9)の形成する輪縁に垂直方向に伸嫌
する軸線を壱している。ケーシング四には、グローブ(
&、9)の挿入・横置用の開口が設けられている。探触
子は%Mのようにケーシング(ロ)の外へ突出させてよ
い。
ケーシング(6)は更に参照装置(13,14)を取囲
んでおり、参照装置11t(13,1番)はグローブ(
8,9)に対応した測定手段を令しているが、プローブ
(8,9)のように液の画定は行わず、ケー7/グ内の
無陣、#径路を#l1尾する。参照誠−(13,14)
は−足首(2)と熱伝導接触し、測定f (2)の下(
第2図に示すようK)、又は所1によっては#j定足首
2)の上に取付けられる。
ケーシング(2)Fiまた、グローブ(8,9)と参照
値[(13,lりから得た信号を処理する電子回路の少
くとも一部をJI2囲んでいる。本発明において、プロ
ーブならびに参照装置は、赤外−タイプ以外のもの、例
えば9夜光線又は超音波で動作するものでも使用で亀な
いことはないが、赤外線タイプのものを用いるのが有利
である。第3図を参照しながら以下に電子1i111%
の好ましい実施例を述べる。
第3図のブロック図かられかるように、ll触子L8)
 LQ)と参照装電脅鵠は、共に赤外線装置を備えてい
る。これには、qIIvC赤外瞼ダ赤外−ダイオード好
適である。また、グローブのエミッター−)蝶、参照装
置のエミッター(2)と共通のものとして図示しである
。従って、ダイオード(8,13)は、測定距1III
(J4ならびに参照距離@)、たとえば、ダイオードC
k3,1−5)VC接続する光ファイバーから発する異
なった光#遍路閣およびに)に対する共通エミッターと
して用いることができる。別の実鍬的な方法としては、
2つの全く同じ赤外−ダイオード(8)(2)を直列に
接続して、剣定距離閾のエンツタ−と参照距1111 
(R)のエミッターとに構成することもできる。
グローブの検知60Iは、参照装置の検知器(ロ)と同
様、別個のフォトダイオードである。これらのフォトダ
イオードは、共に同じタイプのものであり、全く同じ構
成の温度補償回路(15−18)と(19−22)[よ
り相互に接続されている。従Qて、フォトダイオード(
9)041の出力は、保持回路(至)#Jを通じて積分
器u7)りυに出力を供給する増@10優に接続されて
いる。積分信号は抵抗器−四を介して増幅−αft(I
Qの人力にフィードバックさrLる。ダイオードは相対
的に温度にパ依存するが、補償回路(15−18)、(
19−22)がこれを安定化させる機能を行うので、増
−器Oυ四からの出力信号レベルは、検出4 (W)(
ロ)周辺で生じる温度賀鯛、例えば粒子濃度の測定対象
である液体中や、蕪障害参照経路の空気中中、参Il鉄
匿と熱接触する宮中の龜度変動にかかわらず、一定に保
たれる。安定化砿1ヒは、また′!IjL出器(9)鵠
に入射する2ンダム先についても、これらの補償l1a
i路(15−’1B)、” −”) テill 行ii
! hる。従って、検出!(9罰◆からの緩かな各出方
信号の変化は補整され、増幅器(2)(至)の出力に関
して安定した参照レベルか得られる。
測定信号と参照信号を与える丸めに配置され良信号エミ
ッター(8,13)は、発#R器働から入力する。
この発振器は比較的長い間Mi1にあけて非fi[短時
間のパルス信号(8)を発生する。このため、赤外線ダ
イオード(8,13)が自己加熱による損傷を生じるこ
となく、非′itK尚い光度を得ることができる。
エミッタ−(8,13)も同じ様にダイオードから成る
ので、共に温度変化に敏感である。この温度変化は、比
較fiF−と検知器(2)と増*指(2)とから成る回
路(1−26)によ抄補償される。比較器■は発振器■
−からパルス1号(8) t 、そして参m装置、増幅
器に)から出力信号(8R)を受ける。この出方信号(
8R)もパルス信号であり、エミッター(8、13)か
ら―履距鳩(財))を経て送られた光パルスの大きさに
応じて変動する。エミッター(8,13)から送られる
元パルスの人ささは、比較器−と増幅器に)により1瞥
されるので、パルス信号(&I)と(aR)は同じ大き
さのものとなる。かくして、エミッター(8,13)で
の温度変化にかかわらず一定の値をもった光パルスが得
られる。エミッターが前述のように2つのダイオード(
8)(至)を有していても、ダイオード(8)とダイオ
ード(至)は直列に電気接続し、同じベースに機械的接
続していて、同じ温度変化の影響を受けるため、ダイオ
ード(8)とダイオード(至)からそれぞれ得られる尤
パルスは一定の鑞のものである。
エミッター(8,13)から送られる一定の儀の光パル
スは、また、測定距Ill!(34を:d通した後、す
なわち粒子を含んだ液体中を2!1liIkシた後、検
知器(9)によりf141捉される。粒子員度は変動が
あるので、検知器(9)が畑捉した光パルスも粒子の光
吸収性のために変動する。従って、検知器(9)の増幅
器(至)の出力信号(8M)は、液中の粒子濃度に応じ
て変動する。
検知器(9)(ロ)の温度補償回路(15−18)(1
9−22)が有効信号(bユ)(”M)によって影響さ
れないようにするたc、MU補偵回@ (lb −18
)(19−22)のそれぞtLo壇嘱器(至)四と積分
器側(ロ)との間に保持回路−両が接続されている。保
持回路−■は発振器(2)からの出力信号(8)により
制御されるため、有効信号(8R)(BM)は、それが
保持回路uocatで発生するとアースされるようにな
っている。有効信号(8R、8M )を増幅器(至)(
6)の入力にフィードバック接続しない理由は、1度補
償回路(15−18)(19−22)の機能が緩漫なた
めである。
かくて、検知@ (Q) Wこ関連する増−器(6)の
出力から取出され九有効信号(〜)は、管(2)を通る
液中の粒子一度の正確な尺度となる(第2図参照)。従
って、この信号(−)は、種々の工種において樵々異な
った目的に利用することができる。
一定の目的のみならず、他の用途にンいても、パルス出
方信号(13M)の代りに6滑に進行する出力匍号t−
得ることが!ILい場合がある。この場合には、発振器
に)の1d号(8)によって制御されるサンプリング・
保持回路(財)−に出方信号(8M)を送ることVCよ
り、対数的変動16号(Blog)が侍られる。また−
彫型f鯛佃号(Smin)を侍たい場合には、サンプリ
ング・保持回路(財)から得た信号”log)を対数増
−一(7)に供給する。スイッチ四を用いて、メーター
 HVC18号(Slog)又は信号(slin)を選
択的に供給することができる。
サンプリング・保持回路(財)としては電界効果トラン
ジスター(PET)が用いることができ、またメーター
…はディジタル指示計を用いることができる。また、検
知器(9)の増幅器からの出力信号を異なった抵抗器6
υを介して選択的にその入力側にフィードバック接続さ
せて、異なった測定に#IA中一群)を侍る工うにする
ことができる。例えば、4つのSなった測定範囲を設け
ることができる。第4図り(は、測定範囲を対数信号(
81゜8)とそれに対応する縁形1g号(S□in)と
についてどのように置換できるかをグラフで示した。図
中、範囲(1)は最i%抵抗mを* m !Q1のフィ
ードバックルーズに連関させたものを下し、範囲拍は出
力1i1号(8M)を増幅器o9の入力1#iilに直
接帰環させたものを示す。
以上の説−から明らかなように、ここでは本発明の好鳩
な一実施例をボしたのみでろって、本発明の概念に反す
ることなく、これts々に変更することが      
 −−−“   できる本のである。例えば、−尾管(
2)の一定領域の断面を矩形以外の形状に変更すること
ができるし、またこれを導管の断面積より大きいものと
すること40T!i@である。さらにまた、−尾管(2
)の断面を拡大させた上で挿入物を配設したり、あるい
は管壁に工夫を施こすことによってもwir圓積を変え
ることがOT能で、これにより液体流れに変化を与える
ことができる。測定グローブと参照装&については、既
に述べたように、亦外−の使用のみに@屋されるもので
はない0赤外巌装置ft(Q隠子回路も、不兄例の概念
を逸脱することなく櫨々に変史可馳である。例えば、回
路に、各グラフの一部、たとえば全欄足軛−の60〜7
0%の区間を検討するためのスイッチ手Rを設け゛るこ
とかできる。*に又、メーター(至)で安定な表示を祷
るため、積分時間を設定する制御手段を導入することも
可能である。
以F述べたように本発明の測定値[VCよれば、官甲X
vL動かつ崗度変化の伴う液体中の粒子一度倉便米と同
様の測定プローブを用いて正確に測定C8、しかも従来
のようにS素にグ′ローブを洗伊する必責がないので、
その型巣辷の意義は非常に大巻いものである。
【図面の簡単な説明】
弔1図は本発明の一実施例の測定装置を液体の流れる方
向の上流側からみた正面図、第2図は第1図の線」−N
断面図、第S図は測定装置のエミッターおよび検知器を
測定値ユニットに接続する好過鑞子回路を示すブロック
−1第番図は遺択変侠gf鍵な各攬糊足範囲を例示した
グラフ図である。 (2) ・・・1i1J定管、(i)・m形断+io、
(6) (7)−11411、(8,9)・・・−」定
グローブ、(8)・・・測定グローブのエミッター、(
リフ・・・測定クローブの検知器、lJ(#(ロ)・・
・プローブ圓、四・・・ケーシング、 (13,↓4)
・・・参JII装置、(2)・・・#&足ズブローフ検
知器、Q41−・・参照装置の検知器、(15−18)
・・・測定プローブの温度補償−路、(19−Sl+2
)・・・1#照装置の温度補償回路、(Si4−16)
−0,パワー増幅回路、曲(l1m−°°増嘱器、μり
両・・・保持回路、μ棒l・・・積分器、@・・・発振
器、−・・・比較器、■・・・サンプリング°保持ig
Iw&、(2)・・・対数増幅器、翰・・・メーター、
(財)・・・抵抗器、(Ml・・・測定距離、(■・・
・参照距離、<b>−・・発振器からのパルス信号、(
BM)・・・絢定信号、(軸)・・・参照信号、(8,
。g)・・・対数的変動信号、(S□in)・・・縁形
型変動信号

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 測定管の実質的に矩形断面を有する部分にある液体
    と接触するように測定グローブを管&に配設し、該グロ
    ーブを構成するエミッターと検知部を相互に対向するよ
    うに測定管の准体貞流部分の両@に配して、測定管内を
    通る液体中の粒子濃度を軸足する測定装置であって、プ
    ローブが堆付けられ九位置における測定管の断面積が該
    グローブのwjJ後におけるm定管の断面積と実質的に
    同じ大きさになるようにし、測定管のグローブが取付1
    られた部分をケーシング内に包み込み、該ケーシングに
    プローブと参照装置とを収納したことを籍−とする液体
    中の粒子員度−足装置。 2− 前記測定管の断面は円形断面から前記矩形斯囲へ
    と連続していることを特徴とする特許請求の4ii!−
    第1項に記載の測定装置。 3 藺1ケーシングは、円形断面を有すると共に、液体
    が流れる測定管の量中軸心およびプローブの長手軸心T
    lc垂直な細心を有する筒状体であって、前記グローブ
    はケーシングの外側から着脱可能であることを41g、
    とする特許請求の範囲g1項又は第2項に起部の−j定
    装置。 表 前記グローブは赤外線エミッターと赤外−検知器か
    ら成り、前記参照装置は赤外線工きツター餞と赤外巌検
    知器から成り、これらはいずれもグローブおよび参照装
    置ILWC4通のソースからパルスエネルギーを供給さ
    れるようにしたことを時値とする嗜ff1l?求の範咄
    第1項記載の欄だ装置1e。 巳 前記グローブは猷と接触子bプローブ面を有シ、該
    プローブ−1d Sr定管の内閣と一体化する如く形成
    されていることを特徴とする特!′F#求の範囲m1J
    JiないしlK4項のいずれかに記載の測定装置。 a 前記グローブおよび参mt装置#′i、液中の粒子
    一度に関し′L得たllj建櫨の正嫡なディジタル機示
    のため温度襦偵題子1g回路に接続されていることを特
    徴とする特許請求の範Is第1項又は第4項に記載の測
    定装置O 12前記プローブのエミッターおよび参照装置のエミッ
    ターは、粒子を含む液体を通してのグローブの検知器の
    励起と、参照経路を通しての参照装置の検知器の励起と
    を行いうるようにした共通の装置であることを特徴とす
    る#fF請求の範囲第4項に記載の測定装置。 a  前記パルスエネルギーのソースが、パワーJ1i
    l鴨回路を通じてプローブと参M装置とのエミッターに
    パルスエネルギーを供給するようにしてあり、こめパワ
    ー壇@回路は、前記ソースから送られたパルスエネルギ
    ーと、参照装置の検知器で発生されて#照装置に関連す
    る温度補償回路で欅暢さ−れた後に送られてくるパルス
    エネルギーとを比較するように適合された比較器を備え
    てお抄、この比較器の出力信号が、積分及び増幅された
    後にプループと参照装置とのエミッターに送られるよう
    にされており、プローブの検知器が該グローブに一連す
    る温度補償1gl路の壇櫂器に接続されており、濃度を
    示すm走信号が該増幅器から出力されるようにしたこと
    を特徴とするq#奸請求のに1第6項に記構の測定装置
JP20746882A 1981-11-25 1982-11-25 液体中の粒子濃度測定装置 Pending JPS5897646A (ja)

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