JPS5897245A - イオン源 - Google Patents

イオン源

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Publication number
JPS5897245A
JPS5897245A JP56195312A JP19531281A JPS5897245A JP S5897245 A JPS5897245 A JP S5897245A JP 56195312 A JP56195312 A JP 56195312A JP 19531281 A JP19531281 A JP 19531281A JP S5897245 A JPS5897245 A JP S5897245A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
argon
specimen
adsorbed
ion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56195312A
Other languages
English (en)
Inventor
Norihiro Naito
統広 内藤
Yoshihiro Naito
内藤 善博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd, Nihon Denshi KK filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP56195312A priority Critical patent/JPS5897245A/ja
Publication of JPS5897245A publication Critical patent/JPS5897245A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/14Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
    • H01J49/142Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers using a solid target which is not previously vapourised

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は質量分析装置に用いて好適なイオン源に関し、
%tC試料を高速の中性粒子−こよって衝撃しイオン化
するようにしたイオン11#c関する0近年ターデッド
上薯こ塗布した試料Iこ高速の中性粒子を衝突させ、該
試料をこの中性粒子のエネルギーlζよってたたき出し
、更ICイオン化する方式のイオン源が注目されている
。このイオン源は質量分析装置のイオン源として用いた
場合、イオン化のエネルギーが小さくソフトなイオン化
であること、正イオンばかりでなく負イオンの生成率も
高いこと、更には試料に中性粒子を***すること力)
らチャージアップがなく絶縁物試料でも容易にイオン化
ができる等多くの優れた峙蔑を有している0しかしなが
らこのイオン源では気体試料をイオン化することは困−
であった。
本発明はこの点に鑑みてなされたものであり、v:、科
ガスを吸′着性を有する部材に一旦吸着させ、該部材に
中性粒子をあてること1こよりイオン化することを特徴
としている。以下glrIBを用いて本発明を#iIP
説する。
第1弱は本発明の一実織岡の構成を示す新聞図であり、
図中1はアルゴンイオン銃である。該イオン銃1から発
生した高速度、のアルゴンイオンビームは内部lζ1ル
ゴンガスが満たされた衝突92内に入射し、その一部は
アルゴンガスとfr突して電荷を奪われ、高速のアルゴ
ン中性粒子となる〇この衝突W12の下部には静電偏向
板6が配電されでおり、該偏向板5によって衝突#L2
を通過したアルゴンイオンは偏肉されて取り除かれ、電
荷を持たないアルゴン中性粒子のみが該偏向板6の下部
に配置されたイオン化箱4内に導入される0該イオン化
箱4内1ζは岡えば鋼製のターデッド5が配置されてお
り、錬ターデッド5のtk面一ζは吸着性を有する部材
筒えば活性炭の粉末を固めた薄板6が取り付けられてい
る。そして該薄板のと方には導入−寸イブ7の吹出口が
近接して配置される〇鋏導入Iくイブ71こはガスクロ
7トグラフ8がキャIJ 7ガスを除去するためのセ/
くレータ9を介してIa続されているロ上記イオン化4
4及びターゲット5には電源10から岡えば3 K V
、’li度のイオン加速電圧が印加されており、j!+
ここの加速電圧は分圧器11で分圧され、スリット電極
群141c印加される〇 と述したKJi!!構成icおいてイオン銃1から発生
した高速のアルゴンイオンの内のかなりの部分は主とし
て衝突#112内においてアルゴン原子と衝突して電荷
を失う。従って該資央痙2からは中性の高速アルゴン原
子と衝央痙内で電荷を失わなかつ?:アルゴンイオンと
の混合ビームが得られ、このうちアルゴンイオンは偏向
板Sによって偏向されて取り除かれる。その結果中性の
アルゴン原子ビームのみがイオン化la4内の薄板6に
入射すること1ζなるが、該薄板6のAta6cは同時
湯ζガスクロマトグラフ8で分離されたg科ガスが吹き
つけられ、該試料ガスの一部は薄板を構成する活性炭に
吸着された状態となっている口そのためこの薄板6に^
遭のアルゴン原子ビームが入射すると、該アルゴン原子
のエネルギーにより吸着されている試料ガスは活性炭と
共にイオン化される0この嫌にして生成されたイオンは
スリット電極界14によって引出され、頁には加速され
て図示しない質量分析部へ導かれる。
尚吸着された試料ガスが離脱しやすいようにするために
薄板6を加熱する手段を設けることが好ましい。
試料ガスを吸着させる方法は土紀夷織例の4911こ表
面から吹き付けるだけでなく、第211ilに示す様に
導入−寸イプ7の先端に薄板6を取付け、1ルゴン原子
が入射する−の反対側から試料ガスを送り込んで吸着さ
せることも可能である◎第3図は2寸イブ7の先端部の
拡大図を示し、該先端部夢ζは多数の小穴があtすられ
たキャップ12が取り付けられ、その上面に薄板6が取
付けられている0ガスクロ7トグラフからのガスは上記
小穴を介して薄板6を通り抜tする関#CI&着され、
上方から入射するアルゴン原子台こよってイオン化され
る。
以上詳述した如く本発明:こよれば気体試料であっても
中性粒子でイオン化することが可能となる0
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実織例の構成を示す断面図であり、
第21!ll及びIIIk3図は他の実施例の要部新I
ii図である。 1:γルゴンイオン銃、2:衝突痙、6:静電偏向板、
6:薄板、7:導入I4イブ、8:ガスクロマトグラフ
、12:キャップ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 L 中性粒子ビームを作成する手段と、該中性粒子ビー
    ムの通路)+に配置される吸着性を持つ部剃と、該部材
    1こ吸着させる試料ガスを導入するための試料導入手段
    を備え、試料を吸着した前記部材Ic11111e中性
    粒子をあてて試料をイオン化するようにした仁とを特徴
    とするイオン源。 龜 ガスクロマトグラフを*g試料導入手段に接続した
    特許請求の範囲第1項記載のイオン源〇
JP56195312A 1981-12-04 1981-12-04 イオン源 Pending JPS5897245A (ja)

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JP56195312A JPS5897245A (ja) 1981-12-04 1981-12-04 イオン源

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JP56195312A JPS5897245A (ja) 1981-12-04 1981-12-04 イオン源

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JPS5897245A true JPS5897245A (ja) 1983-06-09

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6071065U (ja) * 1983-10-21 1985-05-20 日本電子株式会社 イオン源
JPS6361199A (ja) * 1986-08-29 1988-03-17 日本電気株式会社 粒子線発生装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6071065U (ja) * 1983-10-21 1985-05-20 日本電子株式会社 イオン源
JPH043386Y2 (ja) * 1983-10-21 1992-02-03
JPS6361199A (ja) * 1986-08-29 1988-03-17 日本電気株式会社 粒子線発生装置

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