JP2000505589A - 質量選別器 - Google Patents
質量選別器Info
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- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.質量に応じて粒子のビームの中の粒子を選別するための質量選別器において 、その間に粒子のビームが通るための長手の第1の通路を形成する第1の電極対 と、使用中に、集束した粒子のビームが長手の第1の通路に沿って通るようにす るための粒子のビームを集束させる手段と、その間に選別した粒子が通るための 、前記第1の通路に平行な長手の第2の通路を形成し、かつ第1の電極対から、 第1の通路が伸長している方向を横断する方向に間隔をあけて配置された、第2 の電極対と、使用中に、前記長手の第1の通路の中を通っているビームの一部に ある粒子が、前記第1の通路に沿った動きの方向に対して横断する方向に加速さ れて前記第2の通路に向うように、前記第1の電極を横断して第1の電圧パルス をかけるための第1の加圧手段と、前記第2の電極を横断して第2の電圧パルス をかけ、使用中に、前記第1の電圧パルスによって加速されて前記第2の通路に 入った粒子が前記第2の通路に沿った動きの方向に対して横方向に減速されるよ うにするための第2の加圧手段と、前記第1の電圧パルスが実質的に一定の運動 量加速で前記ビームの一部にある粒子を加速し、前記第1の電圧パルスの後に、 前記第2の加圧手段が予め選択した時間間隔で実質的に一定の運動量減速で前記 第2の電圧パルスをかけて、選別した質量の粒子が、前記第1の通路に沿って通 過した時と実質的に同じ相互配列で前記第2の通路に沿って通過するように、第 1と第2の加圧手段を制御するための制御手段とを含むことを特徴とする質量選 別器。 2.第1と第2の通路の間に配設された第1と第2の電極が、使用中に第1の通 路から第2の通路に方向転換される粒子のビームの全長にわたって、粒子が透過 できる構造を有することを特徴とする、請求の範囲第1項に記載の質量選別器。 3.制御手段が、前記粒子のビームの最初の粒子が第1の通路を横断して離れる 前に前記第1の電圧パルスが停止するように第1の加圧手段を制御するように構 成されていることを特徴とする、請求の範囲第1項または第2項に記載の質量選 別器。 4.制御手段が、選別されたすべての粒子が第2の通路に入った時に前記第2の 電圧パルスをかけるように第2の加圧手段を制御するように構成されていること を特徴とする、前記請求の範囲のいずれか一項に記載の質量選別器。 5.制御手段が、長手の第1の通路が粒子のビームによって再充填された後に、 前記第1の電圧パルスと前記第2の電圧パルスが繰り返されるように、両方の加 圧手段を制御するように構成されていることを特徴とする、前記請求の範囲のい ずれか一項に記載の質量選別器。 6.制御手段が、第1と第2の通路の間の空間から動きの遅い粒子を除くため、 空にするためのパルスを同時にかけるように構成されていることを特徴とする、 請求の範囲第5項に記載の質量選別器。 7.一対の側板が前記空間の両側に配設され、使用中に、第2の電極と、同時に 前記一対の側板のうちの一方にかけた減速パルスによって、前記空にするための パルスがかけられることを特徴とする、請求の範囲第6項に記載の質量選別器。 8.第1の通路の中の粒子が集束手段によって集束される位置に対応する位置に 、第2の通路に沿って移動する減速された選別された粒子を集束するための手段 を設けていることを特徴とする、前記請求の範囲のいずれか一項に記載の質量選 別器。 9.質量に応じて粒子のビームの中の粒子を選別する方法において、前記方法が 、集束した粒子のビームを長手の第1の通路に沿って通過させ、前記第1の通路 を横断して第1の電圧パルスをかけて前記長手の第1の通路の中にある粒子のビ ームの粒子を、前記長手の第1の通路に実質的に平行な長手の第2の通路に向っ て、実質的に一定の運動量加速で横断するように加速し、第1の通路を通して前 記第1の電圧パルスを送った後に、予め選択した時間間隔で前記第2の通路を横 断して第2の電圧パルスをかける工程を含み、前記第2の電圧パルスは、実質的 に一定の運動量減速で、前記第1の電圧パルスで加速された粒子を減速し、選択 された質量の粒子を、第2の通路の中の集束された粒子のビームと実質的に同じ 相互配列で前記第2の通路に沿って通過させることを特徴とする方法。 10.前記粒子のビームの最初の粒子が第1の通路を横断して離れる前に前記第 1の電圧パルスが終了することを特徴とする、請求の範囲第9項に記載の方法。 11.選別されたすべての粒子が第2の通路に入った時に、前記第2の電圧パル スをかけることを特徴とする、請求の範囲第9項または第10項に記載の方法。 12.長手の第1の通路の中の空になった加速領域が粒子のビームで再充填され た後に、前記第1の電圧パルスと前記第2の電圧パルスが繰り返されることを特 徴とする、請求の範囲第9項、第10項または第11項に記載の方法。 13.空にするためのパルスが同時にかけられて、第1と第2の通路の間の区間 から動きの遅い粒子を除くことを特徴とする、請求の範囲第12項に記載の方法 。 14.第2の電極と、同時に、空間の両側に配設された一対の側板のうちの一つ に減速パルスをかけることによって、空にするためのパルスがかけられることを 特徴とする、請求の範囲第13項に記載の方法。 15.第1の通路の中の粒子が集束手段によって集束される位置に対応する位置 で、第2の通路に沿って動く、減速された選別された粒子が集束されることを特 徴とする、請求の範囲第9項乃至第14項のいずれか一項に記載の方法。
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