JPS5895562U - 走査電子顕微鏡用試料装置 - Google Patents

走査電子顕微鏡用試料装置

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JPS5895562U
JPS5895562U JP19069781U JP19069781U JPS5895562U JP S5895562 U JPS5895562 U JP S5895562U JP 19069781 U JP19069781 U JP 19069781U JP 19069781 U JP19069781 U JP 19069781U JP S5895562 U JPS5895562 U JP S5895562U
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JP
Japan
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sample
electron microscope
scanning electron
sample device
multiplexer
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Pending
Application number
JP19069781U
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English (en)
Inventor
田形 昭次郎
Original Assignee
日本電子株式会社
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Filing date
Publication date
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本考案の一実施例装置を示す略図で
ある。 1:試料、2:電子線、3:試料ホルダー、5:試料ス
テージ、6:試料室の壁、7:ケーブル、8:気密絶縁
端子、9:電源、10:測定装置、11:真空弁、12
:マルチプレクサ、13:デコーダ・ドライバー、14
ニドランスレータ、15:測定装置。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 試料内の複数個所に接続されるリード線と外部リー
    ド線との接続を切り換えるマルチプレクサを試料室内に
    設け、該マルチプレクサの電源°  ケーブルと制御ケ
    ーブル及び前記外部リード線を試料室の壁に設けられた
    気密絶縁端子を介して大気側に設けられる電源、制御回
    路及び測定装置に接続し得るように構成したことを特徴
    とする走査電子顕微鏡用試料装置。 2 前記マルチプレクサは前記試料のホルダーに組み込
    まれている実用新案登録請求の範囲第1項記載の走査電
    子顕微鏡用試料装置。
JP19069781U 1981-12-21 1981-12-21 走査電子顕微鏡用試料装置 Pending JPS5895562U (ja)

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JPS5895562U true JPS5895562U (ja) 1983-06-29

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ID=30104219

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