JPS5889743A - 電気接点清浄装置 - Google Patents
電気接点清浄装置Info
- Publication number
- JPS5889743A JPS5889743A JP18646581A JP18646581A JPS5889743A JP S5889743 A JPS5889743 A JP S5889743A JP 18646581 A JP18646581 A JP 18646581A JP 18646581 A JP18646581 A JP 18646581A JP S5889743 A JPS5889743 A JP S5889743A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrical contact
- cleaning device
- contact
- electrical
- electromagnetic relay
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/60—Auxiliary means structurally associated with the switch for cleaning or lubricating contact-making surfaces
- H01H1/605—Cleaning of contact-making surfaces by relatively high voltage pulses
Landscapes
- Keying Circuit Devices (AREA)
- Contacts (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電磁リレーにおける電気接点の清浄装置に関す
る。
る。
従来、電磁リレーの電気接点が長期間の使用によって汚
染された場合の電気、的清浄方法としては、グロー放電
あるいは比較的大きな電流の開閉によって生じるアーク
放電等を利用した方法が一般的に用いられていた。
染された場合の電気、的清浄方法としては、グロー放電
あるいは比較的大きな電流の開閉によって生じるアーク
放電等を利用した方法が一般的に用いられていた。
しかし、最近の電磁リレーは、絶縁部尋に高分子材料を
利用した密封構造のものが多く用いられるようＫなった
ため、電気接点は電磁リレー内部に充満する有機ガスに
よって一階汚染され、このような状況のもとて従来の電
気的清浄方法により電気接点の清浄を行なうと、第５図
（開閉アークによる場合）に示す如く、電気接点の局部
を清浄するものの、その周辺の接点面上における汚染皮
膜を加熱変色化させて絶縁皮膜を形成してしまうため、
清浄をしても電気接点の接触不良を起し接触信頼性が確
保できないといった欠点があった。
利用した密封構造のものが多く用いられるようＫなった
ため、電気接点は電磁リレー内部に充満する有機ガスに
よって一階汚染され、このような状況のもとて従来の電
気的清浄方法により電気接点の清浄を行なうと、第５図
（開閉アークによる場合）に示す如く、電気接点の局部
を清浄するものの、その周辺の接点面上における汚染皮
膜を加熱変色化させて絶縁皮膜を形成してしまうため、
清浄をしても電気接点の接触不良を起し接触信頼性が確
保できないといった欠点があった。
本発明は上記の欠点に鑑み、電気接点の閉成初期にステ
ップ状に大きくなるサージ電流あるいは次第に大きくな
るサージ電流によって接点間ショートアークを発生せし
め、このショートアークで汚染された電気接点を清浄さ
せることにより、高分子材料等を用いた電ｉｌｌ リレ
ーの電気接点の清浄効果を向上させ、高度の接触信頼性
を有する電気接点清浄装置の提供を目的とする。
ップ状に大きくなるサージ電流あるいは次第に大きくな
るサージ電流によって接点間ショートアークを発生せし
め、このショートアークで汚染された電気接点を清浄さ
せることにより、高分子材料等を用いた電ｉｌｌ リレ
ーの電気接点の清浄効果を向上させ、高度の接触信頼性
を有する電気接点清浄装置の提供を目的とする。
以下、図面に示ず実施例に基づいて本発明を説明する。
第１図は本発明の第１実施例における電気接点清浄装置
の回路図で、第２図は第１実施例の電気接点清浄装置の
接点現象を示し、第３図は本発明の第２実施例における
電気接点清浄装置の回路図で、！４図は本発明の電気接
点清浄装置で清浄した後の電気接点表面状態図を示して
いる。
の回路図で、第２図は第１実施例の電気接点清浄装置の
接点現象を示し、第３図は本発明の第２実施例における
電気接点清浄装置の回路図で、！４図は本発明の電気接
点清浄装置で清浄した後の電気接点表面状態図を示して
いる。
第１図に示す実施例において、１は電気接点２と駆動用
、コイル３を有する電磁リレーで、４は電気接点清浄装
置である。電気接点清浄装ｆｌｌｉ４は、その外部口出
し端子ａ、ｂの一方の端子ａｌｃ僧続された同軸ケーブ
ルＺｌ と、この終端に並列に接続された複数の同軸ケ
ーブルＺ２−１．・・°＋ Ｚｓ−ｎと、これら複数の
同軸ケーブルスト１．・・・＋Ｚｚ−ｎのうちの一抵抗
Ｒ１と、この可変抵抗Ｒ２の簀端に接続された可変電源
ｖ１と、前記外部口出し端子ａ、ｂの他方の端子ｂ［接
続された抵抗Ｒ１，並びに電磁リレーｌの駆動パルサ５
とその口出し端子ｃ、ｄとから構成されておシ、シかも
同軸ケーブルｚｌ。
、コイル３を有する電磁リレーで、４は電気接点清浄装
置である。電気接点清浄装ｆｌｌｉ４は、その外部口出
し端子ａ、ｂの一方の端子ａｌｃ僧続された同軸ケーブ
ルＺｌ と、この終端に並列に接続された複数の同軸ケ
ーブルＺ２−１．・・°＋ Ｚｓ−ｎと、これら複数の
同軸ケーブルスト１．・・・＋Ｚｚ−ｎのうちの一抵抗
Ｒ１と、この可変抵抗Ｒ２の簀端に接続された可変電源
ｖ１と、前記外部口出し端子ａ、ｂの他方の端子ｂ［接
続された抵抗Ｒ１，並びに電磁リレーｌの駆動パルサ５
とその口出し端子ｃ、ｄとから構成されておシ、シかも
同軸ケーブルｚｌ。
Ｚｚ−１，・・・＋Ｚｚ−ｎの外部導体と、可変電源ｖ
１と、抵抗ＲＩ Ｆｉすべて同一電位に接地されている
。なお、抵抗Ｒ１は並列に接続された複数の同軸ケーブ
ルＺ２−１．・・・、Ｚｚ−ｎの並列特性インピーダン
ス以上の小さい抵抗でよく、ま友高周波特性のよい可変
抵抗であって屯よい。さらに、可変抵抗Ｒ２は数キロオ
ーム以上の高抵抗とし、電ｉｌｌ ＩＪシレーの電気接
点２の開離時には殆んど影響しないよう圧する。
１と、抵抗ＲＩ Ｆｉすべて同一電位に接地されている
。なお、抵抗Ｒ１は並列に接続された複数の同軸ケーブ
ルＺ２−１．・・・、Ｚｚ−ｎの並列特性インピーダン
ス以上の小さい抵抗でよく、ま友高周波特性のよい可変
抵抗であって屯よい。さらに、可変抵抗Ｒ２は数キロオ
ーム以上の高抵抗とし、電ｉｌｌ ＩＪシレーの電気接
点２の開離時には殆んど影響しないよう圧する。
上記の如く構成からなる電気接点清浄装置の外部口出し
端子ａに電磁リレー１の汚染された電気接点２を接続し
、また口出し端子ｃ、ｄ［電磁リレーｌの駆動用コイル
３を接続すると、前記駆動パルサ５から駆動用コイル３
に駆動パルスが発せられ、帥記電気接点２を閉成し始め
てサージ電流１ａｔ−流す。
端子ａに電磁リレー１の汚染された電気接点２を接続し
、また口出し端子ｃ、ｄ［電磁リレーｌの駆動用コイル
３を接続すると、前記駆動パルサ５から駆動用コイル３
に駆動パルスが発せられ、帥記電気接点２を閉成し始め
てサージ電流１ａｔ−流す。
かかる閉成過程における接点現象は第２図に示すように
なる。すなわち電気接点のギャップが小さくなるとショ
ートアークが点弧し、サージ電流ｉａのうち第１のサー
ジ電流と第２のサージ電流が流れてショートアークが消
滅し、次に接点接触をする（ただし、ショートアークの
消滅と接点接触は必ずしもこの願とは限らない）。前記
アークの点弧条件は、主として接点ギャップと可変電源
ｖ１ の電圧に依存し、電圧が約１００ボルト以上の
ときは点弧率は１００％に近くなるが、それ以下では急
激に低下するので、アークの点弧を確実に行なうために
は電圧を高くしておく必要がある。
なる。すなわち電気接点のギャップが小さくなるとショ
ートアークが点弧し、サージ電流ｉａのうち第１のサー
ジ電流と第２のサージ電流が流れてショートアークが消
滅し、次に接点接触をする（ただし、ショートアークの
消滅と接点接触は必ずしもこの願とは限らない）。前記
アークの点弧条件は、主として接点ギャップと可変電源
ｖ１ の電圧に依存し、電圧が約１００ボルト以上の
ときは点弧率は１００％に近くなるが、それ以下では急
激に低下するので、アークの点弧を確実に行なうために
は電圧を高くしておく必要がある。
このような状況下でショートアークを点弧させると接点
ギャップが大きいので、第１のサージ電流が大きいとシ
ョートアークの長さが大きくなって熱輻射を大きくする
原因となる。したがって、同軸ケーブルＺｌ の特性
インピーダンスを比較的太きくして第１のサージ電流の
値を小さくシ、ショートアークを維持するＯＫ全必要最
小アーク電流とする。さらに１第１のサージ電流の持続
時間は同軸ケーブルＺｌ の長さＫよって決められるの
で、これによってショートアークを持続させ、次に、複
数のケーブルＺ２−１１・・・、Ｚｍ−ｎの長さによっ
て決められる第２のサージ電流を投入させる。この縞２
のサージ電流は、接点ギャップがきわめて小さい値とな
ったときに投入するので、ショートアークのアーク長さ
はきわめて短かく、前記電気接点２のカソードから出た
電子が直接アノード面を衝撃することとなり、接点の清
浄のためにのみエネルギが使われて熱−射が非常に小さ
い。すなわち、第２のサージを流は、複数の同軸ケーブ
ルＺ２−１ 、・・・、Ｚｚ−ｎによって尋価特性イン
ピーダンスを極端に小さくシ、シかも複数の同軸ケーブ
ルｚ２−Ｉｔ・・・、Ｚｚ−ｎ を短かくすることによ
りショート了−りを短時間とできるので、接点の電子衝
撃時の溶融反応による接点清浄作業は短時間に行なわれ
、溶融部周辺の熱伝導による汚染皮膜の変色はきわめて
少なく、絶縁皮膜を形成することがない。
ギャップが大きいので、第１のサージ電流が大きいとシ
ョートアークの長さが大きくなって熱輻射を大きくする
原因となる。したがって、同軸ケーブルＺｌ の特性
インピーダンスを比較的太きくして第１のサージ電流の
値を小さくシ、ショートアークを維持するＯＫ全必要最
小アーク電流とする。さらに１第１のサージ電流の持続
時間は同軸ケーブルＺｌ の長さＫよって決められるの
で、これによってショートアークを持続させ、次に、複
数のケーブルＺ２−１１・・・、Ｚｍ−ｎの長さによっ
て決められる第２のサージ電流を投入させる。この縞２
のサージ電流は、接点ギャップがきわめて小さい値とな
ったときに投入するので、ショートアークのアーク長さ
はきわめて短かく、前記電気接点２のカソードから出た
電子が直接アノード面を衝撃することとなり、接点の清
浄のためにのみエネルギが使われて熱−射が非常に小さ
い。すなわち、第２のサージを流は、複数の同軸ケーブ
ルＺ２−１ 、・・・、Ｚｚ−ｎによって尋価特性イン
ピーダンスを極端に小さくシ、シかも複数の同軸ケーブ
ルｚ２−Ｉｔ・・・、Ｚｚ−ｎ を短かくすることによ
りショート了−りを短時間とできるので、接点の電子衝
撃時の溶融反応による接点清浄作業は短時間に行なわれ
、溶融部周辺の熱伝導による汚染皮膜の変色はきわめて
少なく、絶縁皮膜を形成することがない。
上述した本発明の第ｉ実施例の電気接点清浄装置を聞い
て接点清浄作業を行なった場合の接点表面の状態は、第
４図に示す如く溶融ビット周辺の変色がきわめて少なく
、また溶融ビットが散在した状態となっている。したが
って、電気接点の接触可能な広い面の全面にわたって粗
面効果をもたらし、高い接触信頼性を得ることができる
。
て接点清浄作業を行なった場合の接点表面の状態は、第
４図に示す如く溶融ビット周辺の変色がきわめて少なく
、また溶融ビットが散在した状態となっている。したが
って、電気接点の接触可能な広い面の全面にわたって粗
面効果をもたらし、高い接触信頼性を得ることができる
。
第３図は、本発明の第２実施例の電気接点清浄装置を示
すもので、第１実施例における同軸ケーブルＺ １＊
Ｚｘ −１＋・・・、 Ｚｔ−ｎの分布定数回路を近似
的に集中定数に置換えたものであり、インダクタンスＡ
ｎとゴンデンサＣｎ との比（力いをｎが大きくＣｎ なる程小さく（例えば、ｔ１＋ｔ２＋・・・、ｔｎが一
定のときにＣ１＜Ｃ２＜・・・＜Ｃｎと）すれば′よい
。この第２実施例の電気接点清浄装置の機能は、第１寮
施例の電気接点清浄装置の機能と＃１とんど同じである
が、第２実施例の装置は、多量の同軸ケーブルに替えて
小型の集中定数を用いているので、装置の重量、大きさ
を小さくすることができる。
すもので、第１実施例における同軸ケーブルＺ １＊
Ｚｘ −１＋・・・、 Ｚｔ−ｎの分布定数回路を近似
的に集中定数に置換えたものであり、インダクタンスＡ
ｎとゴンデンサＣｎ との比（力いをｎが大きくＣｎ なる程小さく（例えば、ｔ１＋ｔ２＋・・・、ｔｎが一
定のときにＣ１＜Ｃ２＜・・・＜Ｃｎと）すれば′よい
。この第２実施例の電気接点清浄装置の機能は、第１寮
施例の電気接点清浄装置の機能と＃１とんど同じである
が、第２実施例の装置は、多量の同軸ケーブルに替えて
小型の集中定数を用いているので、装置の重量、大きさ
を小さくすることができる。
々お、上述の第１及び第２実施例の電気接点清浄装置で
は、電気接点のアノードとなる側のみしか接点清浄が行
なえないので、外部口出し端ａ。
は、電気接点のアノードとなる側のみしか接点清浄が行
なえないので、外部口出し端ａ。
ｂの間に極性を切換えるための同軸切換スイッチ等を内
蔵させるとよい。
蔵させるとよい。
以上の如く本発明によれば、電気接点の閉成時にステッ
プ状あるｈは次ｔｌＫ大きくなるサージ電流によってシ
ョートアークを発生せしめ、短時間のうちに接点の清浄
作業を行なうので汚染皮膜を加熱変色化して絶縁皮膜と
することがなく、非常に高い接触信頼性を得ることので
きる電′ｇｊＬ！ｉＩ点の清浄が可能となる。
プ状あるｈは次ｔｌＫ大きくなるサージ電流によってシ
ョートアークを発生せしめ、短時間のうちに接点の清浄
作業を行なうので汚染皮膜を加熱変色化して絶縁皮膜と
することがなく、非常に高い接触信頼性を得ることので
きる電′ｇｊＬ！ｉＩ点の清浄が可能となる。
なお、本発明は電磁リレーの電気接点に限らず、同種電
気接点の清浄にも使用することができる。
気接点の清浄にも使用することができる。
第１図は本発明の第１実施例における電気接点清浄装置
の回路図、第２図は第１実施例の電気接点清浄装置の接
点現象を示す縮図、第３図は本発明の第２実施例におけ
る電気接点清浄装置の回路図、第４図は本発明の電気接
点清浄装置で清浄した後の電気接点表面状態図、第５図
は従来の電気接点清浄装置で清浄した後の電気接点表面
状態図を示す。 １・・・電磁リレー ２・・・電気接点３・・・
駆動用コイル ４・・・電気接点清浄装置５・・・
駆動パルサ 出願人 日本電気株式会社 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 手続補正書（方式） ％式％ １、事件の表示 特願昭５６ − １８６４６５ 号 ２・ 発明の名称 電気接点清浄装置３、補正をする
者 事件との関係 特 許 出願人任 所 東
京都港区芝五丁目３３番１号、！、 ヶ （４２
３）日本電気株式金社４、 代 理 人 〒１
０７ 電話５８６−９２８７番６、補正の対象 第４図 第５図
の回路図、第２図は第１実施例の電気接点清浄装置の接
点現象を示す縮図、第３図は本発明の第２実施例におけ
る電気接点清浄装置の回路図、第４図は本発明の電気接
点清浄装置で清浄した後の電気接点表面状態図、第５図
は従来の電気接点清浄装置で清浄した後の電気接点表面
状態図を示す。 １・・・電磁リレー ２・・・電気接点３・・・
駆動用コイル ４・・・電気接点清浄装置５・・・
駆動パルサ 出願人 日本電気株式会社 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 手続補正書（方式） ％式％ １、事件の表示 特願昭５６ − １８６４６５ 号 ２・ 発明の名称 電気接点清浄装置３、補正をする
者 事件との関係 特 許 出願人任 所 東
京都港区芝五丁目３３番１号、！、 ヶ （４２
３）日本電気株式金社４、 代 理 人 〒１
０７ 電話５８６−９２８７番６、補正の対象 第４図 第５図
Claims (1)
- 電磁リレーの電気接点の汚染を清浄する電気接点清浄装
置において、前記電気接点と接続する外部口出し端子の
一方に電気接点閉成初期に大きくなるサージ電流を流す
回路を接続するとともに、前記外部口出し端子の他方に
抵抗を接続し、かつ前記電磁リレーの駆動用コイルと接
続する口出し端子に駆動パルサを接続したことを特徴と
する電気接点清浄装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18646581A JPS5889743A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 電気接点清浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18646581A JPS5889743A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 電気接点清浄装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5889743A true JPS5889743A (ja) | 1983-05-28 |
| JPS649694B2 JPS649694B2 (ja) | 1989-02-20 |
Family
ID=16188938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18646581A Granted JPS5889743A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 電気接点清浄装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5889743A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0696637A (ja) * | 1992-07-30 | 1994-04-08 | Yazaki Corp | スイッチの腐食防止回路 |
| JP2009181885A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Jtekt Corp | リレー回路導通判定方法及びリレー回路導通判定装置 |
| JP2013105550A (ja) * | 2011-11-11 | 2013-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 負荷制御装置、負荷制御装置のためのリレー接触不良防止方法、リレー装置 |
| JP2022547314A (ja) * | 2019-09-11 | 2022-11-11 | アーク サプレッション テクノロジーズ | 電力接点電極表面のプラズマセラピー |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5532364U (ja) * | 1978-08-21 | 1980-03-01 |
-
1981
- 1981-11-20 JP JP18646581A patent/JPS5889743A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5532364U (ja) * | 1978-08-21 | 1980-03-01 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0696637A (ja) * | 1992-07-30 | 1994-04-08 | Yazaki Corp | スイッチの腐食防止回路 |
| JP2009181885A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Jtekt Corp | リレー回路導通判定方法及びリレー回路導通判定装置 |
| JP2013105550A (ja) * | 2011-11-11 | 2013-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 負荷制御装置、負荷制御装置のためのリレー接触不良防止方法、リレー装置 |
| JP2022547314A (ja) * | 2019-09-11 | 2022-11-11 | アーク サプレッション テクノロジーズ | 電力接点電極表面のプラズマセラピー |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS649694B2 (ja) | 1989-02-20 |
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