JPS5886610A - 偏向ユニツトの特性曲線の自動修正装置 - Google Patents
偏向ユニツトの特性曲線の自動修正装置Info
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- JPS5886610A JPS5886610A JP57183787A JP18378782A JPS5886610A JP S5886610 A JPS5886610 A JP S5886610A JP 57183787 A JP57183787 A JP 57183787A JP 18378782 A JP18378782 A JP 18378782A JP S5886610 A JPS5886610 A JP S5886610A
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- correction
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- output
- deflection unit
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/04—Automatically aligning, aiming or focusing the laser beam, e.g. using the back-scattered light
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- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
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- B23K26/042—Automatically aligning the laser beam
- B23K26/043—Automatically aligning the laser beam along the beam path, i.e. alignment of laser beam axis relative to laser beam apparatus
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
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- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は偏向ユニットの特性曲線を零点と勾配につい
て自動的に修正する装置に関する。
て自動的に修正する装置に関する。
−向ユニットは例えばレーザー記録器のレーザー元巌偏
向鏡のvI4!lIに必要とされているものである。こ
の場合現在値測定回路で検出された位f1M号が目標値
と比較され、偏向ユニツl制御する詞!!1器によって
位置信号を1!Ill値−に一致させる。
向鏡のvI4!lIに必要とされているものである。こ
の場合現在値測定回路で検出された位f1M号が目標値
と比較され、偏向ユニツl制御する詞!!1器によって
位置信号を1!Ill値−に一致させる。
しかし答量検g器を使用する通常の現在醸測定回、路は
温度ト°“ノットがあり゛偏向讐0現在位mカ”設定目
標値から外れることが認められている。こ懸によって記
録器の移動と寸法変化が起る。又温度ド。
温度ト°“ノットがあり゛偏向讐0現在位mカ”設定目
標値から外れることが認められている。こ懸によって記
録器の移動と寸法変化が起る。又温度ド。
リフトは偏向ユニットの特性面−の零点の移動だけでな
くその勾配をも変化させる。
くその勾配をも変化させる。
予め加熱するかあるいは手動操作によって修正される。
そのためには調整器に特性面ga調整用2ポテンショメ
ータが設け?れている。tl−し偏向ユ 二”イトを予
備゛加熱しても完全な修正線不可能である。手動的の修
正では温度誤差の補正が特定の動作温度に対してギは実
施される。 °。
ータが設け?れている。tl−し偏向ユ 二”イトを予
備゛加熱しても完全な修正線不可能である。手動的の修
正では温度誤差の補正が特定の動作温度に対してギは実
施される。 °。
この発明のム的は偏向ユニットの巌形声耘を修正する装
置を自動的の修正が付層われるように構成才る5とであ
る。この目的は特許請求の範囲第1項に%徴としで挙げ
念構成とすることによって達成される。
・ ′ この発明の装置にjれば特性自蔵の零点と勾配の双
方を自動的に修正するどとができる。し6かも修正社短
時間で遂行されるから周期的に行なうことも可能である
。従ってそれぞれの動作状態において自動的の修正が可
能と門る。
置を自動的の修正が付層われるように構成才る5とであ
る。この目的は特許請求の範囲第1項に%徴としで挙げ
念構成とすることによって達成される。
・ ′ この発明の装置にjれば特性自蔵の零点と勾配の双
方を自動的に修正するどとができる。し6かも修正社短
時間で遂行されるから周期的に行なうことも可能である
。従ってそれぞれの動作状態において自動的の修正が可
能と門る。
修正の開始に先立って第一と第二の記憶装置にくとこれ
らの記憶装置の^答の増大だけかへtわれるので有利で
ある。゛記憶fcTjtが一方向に変化するだけである
カ↑ら比較段では位置5111定信号が予め与えられて
いる値よりまだ小さいことだけを調べればよ、い。
らの記憶装置の^答の増大だけかへtわれるので有利で
ある。゛記憶fcTjtが一方向に変化するだけである
カ↑ら比較段では位置5111定信号が予め与えられて
いる値よりまだ小さいことだけを調べればよ、い。
修正目標値は第三の記憶装置に記憶させるのが効果的で
ある。この記憶装置のアドレス入力端には零脩正命令と
勾配修正命令を導き、その出力端線乗算器の稟−入力端
と比較器の第二人力端((結ぶ。(れによって同定修正
値を予めプログラムに組み込んでおくことができる。
ある。この記憶装置のアドレス入力端には零脩正命令と
勾配修正命令を導き、その出力端線乗算器の稟−入力端
と比較器の第二人力端((結ぶ。(れによって同定修正
値を予めプログラムに組み込んでおくことができる。
第三メモリと乗算器の第一入力端の間に切換器を挿入し
、その第−入力端に偏向ユニットに対する目標値を導き
、第二人力端祉第三メモ゛りの出力端に結び、勾配修正
命令又鉱零修正命令が与えら ′れたとき第一入力端か
ら゛第二人力端に切り換えるようにすると効果的である
。これてよって偏向ユニットに予め与えられている目標
値が修勇過枚において自動的に予め与えられた修正目標
値に切り換えられる。
、その第−入力端に偏向ユニットに対する目標値を導き
、第二人力端祉第三メモ゛りの出力端に結び、勾配修正
命令又鉱零修正命令が与えら ′れたとき第一入力端か
ら゛第二人力端に切り換えるようにすると効果的である
。これてよって偏向ユニットに予め与えられている目標
値が修勇過枚において自動的に予め与えられた修正目標
値に切り換えられる。
第一と第二の記憶装置IItは・簡単、にカラ/りとし
て実現する仁とができる。この場合これらのカウンタの
内容増大入力端と内容低減入力端にはカランクロックパ
ルス発生器F14個のAND回974の第一入力端に結
んでおくことができる。この場合第一と第二のjkND
回路の第二人力端には零補正命令が導かれ、第三よ第四
のAND回路の第二人力端にhq配補正命令が導かれる
・又皆較段の第一出力端は第二と第四のAND回路の第
三入力端に結゛ばれ、比較段の第二−力端扛第一と第一
の第三入力端に結ばれる。爽に第−AND回路の出力端
は第二カウンタの内容増大入力端に結はれ1、第二A’
MD回絡の出力端は第二カウンタの内容低減入力端に結
−7・第三AN′D回路の出力端轄竺−カウンタの内容
増大入力端に結ばれ、第四A N 、D回路の出力端は
第一カウンタの内容低減入力端に結ばれる。こめam構
成により修正a能に必要な増大パルス又5は低減パルス
のカウンタへの送り込みが実施される。
て実現する仁とができる。この場合これらのカウンタの
内容増大入力端と内容低減入力端にはカランクロックパ
ルス発生器F14個のAND回974の第一入力端に結
んでおくことができる。この場合第一と第二のjkND
回路の第二人力端には零補正命令が導かれ、第三よ第四
のAND回路の第二人力端にhq配補正命令が導かれる
・又皆較段の第一出力端は第二と第四のAND回路の第
三入力端に結゛ばれ、比較段の第二−力端扛第一と第一
の第三入力端に結ばれる。爽に第−AND回路の出力端
は第二カウンタの内容増大入力端に結はれ1、第二A’
MD回絡の出力端は第二カウンタの内容低減入力端に結
−7・第三AN′D回路の出力端轄竺−カウンタの内容
増大入力端に結ばれ、第四A N 、D回路の出力端は
第一カウンタの内容低減入力端に結ばれる。こめam構
成により修正a能に必要な増大パルス又5は低減パルス
のカウンタへの送り込みが実施される。
第一乃至第三メモリをバッファメモリとすることも可能
である。このバッファメモリは71−クロア’oセッサ
又はコンピュータのデータ4巌を通して情報を受ける。
である。このバッファメモリは71−クロア’oセッサ
又はコンピュータのデータ4巌を通して情報を受ける。
これによって修正装置はマイク・プ・セッサ又は・ンピ
=−夕と共同して%KII単に制御することができる。
=−夕と共同して%KII単に制御することができる。
位置測定装置には偏向ユニットの軸に結合された平板腕
を含、ませ、これを・光発生−と位に測定信号を送9出
す受光器の間の光路内に置くことかできる。この腕には
偏向ユニットの零位置において光路内にある第一スリッ
ト絞りと、偏向ユニットの位置が第二修正目標値と合致
するとき光路内にある第二スリツ゛ト絞りが設けられ゛
る。このような位置測定装置を使用して修正点を簡単法
構造をもって捕えることができる。この位置測定J!f
fは更に両修正点においてその出:j′J信号が互に寺
しく。
を含、ませ、これを・光発生−と位に測定信号を送9出
す受光器の間の光路内に置くことかできる。この腕には
偏向ユニットの零位置において光路内にある第一スリッ
ト絞りと、偏向ユニットの位置が第二修正目標値と合致
するとき光路内にある第二スリツ゛ト絞りが設けられ゛
る。このような位置測定装置を使用して修正点を簡単法
構造をもって捕えることができる。この位置測定J!f
fは更に両修正点においてその出:j′J信号が互に寺
しく。
比較段は両修正点において同じ比較111をもって動作
可能であり切換の必要がないとい、う利点を持つ。゛受
光器は差動フォトダイオードと亥るのが有利である。こ
の差動フォトダイオードの出力信号は両修、正点におい
て零であるから補正に対しては単にI g 1信号°と
の比較だけか必要である。これによって比較段は限界′
値発生器どして簡略化される。
可能であり切換の必要がないとい、う利点を持つ。゛受
光器は差動フォトダイオードと亥るのが有利である。こ
の差動フォトダイオードの出力信号は両修、正点におい
て零であるから補正に対しては単にI g 1信号°と
の比較だけか必要である。これによって比較段は限界′
値発生器どして簡略化される。
・ この発明の実施例を第1図乃至第5図について詳細
に説明する。
に説明する。
第1図に偏向ユニットAに対する公知の制御装 、智を
示す。これ杖例えばレーザー記録器によく使用゛されて
いるも″の−である。偏向ユニツ)Aは一8pを揺動回
転させ、礎の現在位置は現在値測定回路Mで測定される
。この測定回路は例えば容量的の位置検出器を使用する
。現在位置の測定値は比較器Vで位置目標値L8と比較
され、I11整偏差は調整器Rに・導かれ、偏向ユニツ
)Aが制御される。
示す。これ杖例えばレーザー記録器によく使用゛されて
いるも″の−である。偏向ユニツ)Aは一8pを揺動回
転させ、礎の現在位置は現在値測定回路Mで測定される
。この測定回路は例えば容量的の位置検出器を使用する
。現在位置の測定値は比較器Vで位置目標値L8と比較
され、I11整偏差は調整器Rに・導かれ、偏向ユニツ
)Aが制御される。
偏向二二ツ)AH理想的には12図に示した特性曲線A
を持ち、目標値の一段は記録ビームの偏向量yでは0.
02m5に対応する。従って目標1亀が+2000段で
あればビームの偏向量は全体で士40aとなる。
を持ち、目標値の一段は記録ビームの偏向量yでは0.
02m5に対応する。従って目標1亀が+2000段で
あればビームの偏向量は全体で士40aとなる。
前に述べたように現在値測定回路Mには温度ドリフトが
あり現在位置の測定値は実際の位置に合致しな、い。こ
の偏差には特性面−の平行移動とその勾配の変化が含ま
れ特性曲線Aは例えば第2図に示され゛ているBに移る
。従って+2000又は−2000の目標値に対してビ
ーム偏向値は杓子32)ul又は−42allとなる。
あり現在位置の測定値は実際の位置に合致しな、い。こ
の偏差には特性面−の平行移動とその勾配の変化が含ま
れ特性曲線Aは例えば第2図に示され゛ているBに移る
。従って+2000又は−2000の目標値に対してビ
ーム偏向値は杓子32)ul又は−42allとなる。
特性曲線Bを理想的の特性面wAに合せて修正するため
には位t11ム標値L8を適当に変えなければならない
。これによって偏向ユニットの特性曲線をI!準時特性
曲線合せることができる。この修正を行なうにr先づ特
性曲線−Bf平行移動により座祢系の原点を通る峙′性
曲−B′に移す。これは目標値L6に時定の値を加える
ことによって実′施される。続いて特性曲線B′を回転
させなければならないが、これは目標値に一定の係数を
乗することによって実施される。
には位t11ム標値L8を適当に変えなければならない
。これによって偏向ユニットの特性曲線をI!準時特性
曲線合せることができる。この修正を行なうにr先づ特
性曲線−Bf平行移動により座祢系の原点を通る峙′性
曲−B′に移す。これは目標値L6に時定の値を加える
ことによって実′施される。続いて特性曲線B′を回転
させなければならないが、これは目標値に一定の係数を
乗することによって実施される。
このような修正操作は二つの修正点即ち平行移動い修正
点について実行するのが効果的である。
点について実行するのが効果的である。
特性曲線の修正を自動的に行なう回路を第3図に示す。
入力端Elに到達した位置目標@tLLsは切換器6を
通して乗算器1の第一入力端に導かれる。乗算器lの第
二人力端り記憶装置lt3の出力端に結ばれ、これによ
って特性曲線の回転が行なわ 。
通して乗算器1の第一入力端に導かれる。乗算器lの第
二人力端り記憶装置lt3の出力端に結ばれ、これによ
って特性曲線の回転が行なわ 。
れる。乗il器lめ出力端は加算器2ρ第一入力端に結
ばれ、加算器の第二人力、端は第二や記憶装置4に結ば
れている。加算器2によって特性曲線の平行移動が行な
iれるから加算器の出力端に祉補正された目標値 、1
が現われる。
ばれ、加算器の第二人力、端は第二や記憶装置4に結ば
れている。加算器2によって特性曲線の平行移動が行な
iれるから加算器の出力端に祉補正された目標値 、1
が現われる。
次に説明する回路によって記憶装置3と4に修正に必要
な値が書き込まれる。この場合零修正と勾配修正との二
重の修正が必要である。入力端E4に零修正命令が到達
し第三記憶装置5のアドレッシングを行なう。入力4I
C4には二つのAND回路8と9の第二人力端と一つの
OR回路14の一つの入力端が結ばれている。ORIg
J路14の出を入力端E1か、らメモヂ5の出力端に切
り換える二メモリ5では零修正命令に従って山市する修
正目標値(この場合には零値)が選び出される。ここで
メ竺り4は記録ビームが実際に零位置にあるように[t
lillさt′L′−なけiばならない。そのために温
度ドリフト誤差を示さない菊殊な位置測定装置Ir13
が設けられる。己かしこの位置測定装置13け二つの点
即ち零点と1の修正点だけで光ビームの位置を検知すれ
ば−よいから次に述べるようにm墜に実現することがで
きる。位−11定装fi18の出力信号は比較器12に
尋か羨この比d器の比較入力端はメモリ5の出力端に結
ばれている。零略正命令の°場合メモリ5の出力端には
”01倍号が導かれているから位に測定1fc隨13の
位置測定信号は零信号と比較される。比較器12には二
つの出力端12aと12t)があシ、位置測定信号が比
較信号より大きいときは出力端12aK’l“信号が現
われ、゛位置測定信号が比較信号より小さいときは出力
端12bKI11血号が現われる。出力端12aはAN
D回路9の第三入力端と結ばれ、出力端12t+1AN
D回路8の第三入力端に結ば0″1(Ln7)、ii[
1AQD回路8・ 90第71力端は1にクロック先生
器7の出力端に結ばれ、ANDII21路8の出力端は
カウンタ4の増大入力瑞工VK。
な値が書き込まれる。この場合零修正と勾配修正との二
重の修正が必要である。入力端E4に零修正命令が到達
し第三記憶装置5のアドレッシングを行なう。入力4I
C4には二つのAND回路8と9の第二人力端と一つの
OR回路14の一つの入力端が結ばれている。ORIg
J路14の出を入力端E1か、らメモヂ5の出力端に切
り換える二メモリ5では零修正命令に従って山市する修
正目標値(この場合には零値)が選び出される。ここで
メ竺り4は記録ビームが実際に零位置にあるように[t
lillさt′L′−なけiばならない。そのために温
度ドリフト誤差を示さない菊殊な位置測定装置Ir13
が設けられる。己かしこの位置測定装置13け二つの点
即ち零点と1の修正点だけで光ビームの位置を検知すれ
ば−よいから次に述べるようにm墜に実現することがで
きる。位−11定装fi18の出力信号は比較器12に
尋か羨この比d器の比較入力端はメモリ5の出力端に結
ばれている。零略正命令の°場合メモリ5の出力端には
”01倍号が導かれているから位に測定1fc隨13の
位置測定信号は零信号と比較される。比較器12には二
つの出力端12aと12t)があシ、位置測定信号が比
較信号より大きいときは出力端12aK’l“信号が現
われ、゛位置測定信号が比較信号より小さいときは出力
端12bKI11血号が現われる。出力端12aはAN
D回路9の第三入力端と結ばれ、出力端12t+1AN
D回路8の第三入力端に結ば0″1(Ln7)、ii[
1AQD回路8・ 90第71力端は1にクロック先生
器7の出力端に結ばれ、ANDII21路8の出力端は
カウンタ4の増大入力瑞工VK。
AND回路9の出力端はその低減入力端工Rに結ばれそ
いる。
いる。
、従って零修正命令が与えられたとき位置測定信号を零
より小さいとクロック先生器7のクロック ′、
1 パルスはカウンタ4の増大入力端に導かれ1位置画定信
号が零より大きhと低減入力端に導かれる。
より小さいとクロック先生器7のクロック ′、
1 パルスはカウンタ4の増大入力端に導かれ1位置画定信
号が零より大きhと低減入力端に導かれる。
これによってカゲンタ4は目標Lm 10 ”が設定さ
れているとき記録ビー゛ムが実際に零位置を占める値に
移される。これはカウンタ4の計数値を刀日算器2にお
いて目m値に加え合せることによって実現する。これに
よって特性曲線の平行移動が実施され、零修正はこれで
修了する。
れているとき記録ビー゛ムが実際に零位置を占める値に
移される。これはカウンタ4の計数値を刀日算器2にお
いて目m値に加え合せることによって実現する。これに
よって特性曲線の平行移動が実施され、零修正はこれで
修了する。
続いて入力端E3に勾配修正命令が与えられると特性曲
線の回転が実施される。そのために入力端K 3i;i
0 R回路14の一つの入力端とメモリ5の別のアド
レッシング入力端とAND回%lU。
線の回転が実施される。そのために入力端K 3i;i
0 R回路14の一つの入力端とメモリ5の別のアド
レッシング入力端とAND回%lU。
l]の第二人力端にも結ばれている。メモリ6において
、は勾配修正命令に゛より零ではない修正目標値がアド
レスされる。OR@に114tt通して勾配゛修正命令
が到着したときも切換器6がメモ;ノ5の出力端に切り
換えられるからこの修正目標f―、が目1i1[kLs
に代って偏向ユニットに与えられる。史に修正目標値は
比較器12の比較入力端にも尋かれる。この場合位[Y
All定装置13は記録ビームを第二補正点で調整する
とき初期値として第、二補正目標値を供給するものとす
る。しかし位置測定装置13は次に述べる実施例で示す
ように第二補正点において初期値10mを与えることも
可能である。この場合比°較値としては当然零が与えら
れる。
、は勾配修正命令に゛より零ではない修正目標値がアド
レスされる。OR@に114tt通して勾配゛修正命令
が到着したときも切換器6がメモ;ノ5の出力端に切り
換えられるからこの修正目標f―、が目1i1[kLs
に代って偏向ユニットに与えられる。史に修正目標値は
比較器12の比較入力端にも尋かれる。この場合位[Y
All定装置13は記録ビームを第二補正点で調整する
とき初期値として第、二補正目標値を供給するものとす
る。しかし位置測定装置13は次に述べる実施例で示す
ように第二補正点において初期値10mを与えることも
可能である。この場合比°較値としては当然零が与えら
れる。
位置測定装置は第二補正点において任意の位置測定信号
をそれがメモIJKIF積されている眠り与えるとと可
能であハこの信号は第二出力端を通して比i器12の比
較入力端に導かれる。
をそれがメモIJKIF積されている眠り与えるとと可
能であハこの信号は第二出力端を通して比i器12の比
較入力端に導かれる。
比較器12は第二修正点においても送らへて来た位置測
定信号が比較値x9大きいかあるい拡小さいかを―べる
。カウンタ3をこれに応じ1て調整するため出力’41
2bはAND回路lOの第三入力端に、出力端12aは
ANIF回路11の第三入力端に結ばれる。又AND回
路lOの出力端は力゛ウンタ3の増大入力端IVK、A
ND回路1”lの出力端はカウンタの低減入力端に結ば
れる。AND回路8と9の第一入力端もクロック先生器
7の出力端に結ばれている。 ゛ クロック発生器7のクロックパルスによりカウンタaH
勾配修正命令が与えられているとき記録 、ビームの
位置が予め与えられている纂二補正目標値に一致するま
で1Ill!整される。この過程はカウンタ3の出力信
号が箪算器lの第二人力端に得かれることによって生ず
る。この乗算処理によシ特性曲m B’41特性曲−A
に合致するまで回転する。
定信号が比較値x9大きいかあるい拡小さいかを―べる
。カウンタ3をこれに応じ1て調整するため出力’41
2bはAND回路lOの第三入力端に、出力端12aは
ANIF回路11の第三入力端に結ばれる。又AND回
路lOの出力端は力゛ウンタ3の増大入力端IVK、A
ND回路1”lの出力端はカウンタの低減入力端に結ば
れる。AND回路8と9の第一入力端もクロック先生器
7の出力端に結ばれている。 ゛ クロック発生器7のクロックパルスによりカウンタaH
勾配修正命令が与えられているとき記録 、ビームの
位置が予め与えられている纂二補正目標値に一致するま
で1Ill!整される。この過程はカウンタ3の出力信
号が箪算器lの第二人力端に得かれることによって生ず
る。この乗算処理によシ特性曲m B’41特性曲−A
に合致するまで回転する。
これによって勾配修正を終了する。切換器6は元に戻さ
れ、ll向ユニイトには再び位置目標値L8が与えられ
る。カウンタ3とjの計数レベルJd次の轡正過程まで
そのまtm持され、少くとも一つの特定の動作範囲内で
は偏向ユニットの特性曲線がその目標とする特性曲線に
合致する。修正過程は例えば二定の時間間隔毎に例えば
一定数のBピ大過程毎に4るいは要求に応じて実施する
□′こ゛とができる。
れ、ll向ユニイトには再び位置目標値L8が与えられ
る。カウンタ3とjの計数レベルJd次の轡正過程まで
そのまtm持され、少くとも一つの特定の動作範囲内で
は偏向ユニットの特性曲線がその目標とする特性曲線に
合致する。修正過程は例えば二定の時間間隔毎に例えば
一定数のBピ大過程毎に4るいは要求に応じて実施する
□′こ゛とができる。
クロックパルスの周期社二つのクロックパルスの間Vζ
常に偏向ユニットに発生した過渡現象が消滅するよう(
(選ぶ。
常に偏向ユニットに発生した過渡現象が消滅するよう(
(選ぶ。
上記の実施例では比較段12におりて1α置測定信号が
比較目標値iり大きいか小さいかを監視することが必要
である。従って比較段12°の二つの出力信号が処理さ
れなければならない。その代シにカラど夕3と4に比較
操作開始忙先立って修正後に予期される値よりも小さい
値を入れておくことができる。そのためには第3図に破
線で示した411Mを通してカウンタ3と4のセット入
力4BIIC結ばれている入力4端凡2にセット信号を
導く。カラ/り3と4に入れておく値はカウンタ3と4
の−予調整入力端ZIK4<。、この場合小さい信号だ
けが比較段12の出力端12Toで評価される。カウン
タ3と4°の計数レベルは安力端12bの信号が消滅す
るまで上昇する。カウンタ3と4のカウントレベルの低
下は不必要であるからAND回路9と11も必要無くな
る。
比較目標値iり大きいか小さいかを監視することが必要
である。従って比較段12°の二つの出力信号が処理さ
れなければならない。その代シにカラど夕3と4に比較
操作開始忙先立って修正後に予期される値よりも小さい
値を入れておくことができる。そのためには第3図に破
線で示した411Mを通してカウンタ3と4のセット入
力4BIIC結ばれている入力4端凡2にセット信号を
導く。カラ/り3と4に入れておく値はカウンタ3と4
の−予調整入力端ZIK4<。、この場合小さい信号だ
けが比較段12の出力端12Toで評価される。カウン
タ3と4°の計数レベルは安力端12bの信号が消滅す
るまで上昇する。カウンタ3と4のカウントレベルの低
下は不必要であるからAND回路9と11も必要無くな
る。
このように一方の側だけがら補正亀に近つく方法は両側
から近づく方法に比べていくらか長くなる。それはカウ
ンタ3と4を予め調整することによりその値が平均とし
て調整最終値からより遠く離れていることに基く。これ
に対して比較信号は一つだけ評価すればよく、修正点に
導く際の精度がいくらか高くなる。巣に−づの方向だけ
Kjl!]けばよい場合には偏向鏡8pが振動する危険
が低下する。
から近づく方法に比べていくらか長くなる。それはカウ
ンタ3と4を予め調整することによりその値が平均とし
て調整最終値からより遠く離れていることに基く。これ
に対して比較信号は一つだけ評価すればよく、修正点に
導く際の精度がいくらか高くなる。巣に−づの方向だけ
Kjl!]けばよい場合には偏向鏡8pが振動する危険
が低下する。
iイクロプロセツサ又は計11&を使用して行なう自動
補正方式を第4図に示す。この場!メモリ8乃至5扛バ
ツノアメモリとして構成されマイクロプロセッサ又は計
算機15によってデータ母線−l fj’4通して書き
込まれる。バッファ、メモリ3乃至5は同時にマイクロ
プロセッサのディ、ジタル信号をア、ナログ値に変換す
るDA変換器を含む。バックアメモリ6のDA変換器は
乗算変換器として構成されその乗算入力端はバッファメ
モリ3の出力端に結ばれている。比較器12の出力端1
2aと12b%バッファメモリ、1Bを通してデータ母
Iw164Ic結ばれる。第4図の実施例では位置測定
信号13の位置測定信号が総ての比較目標値において零
に達することが9となっている。従って比較器12は常
に位置測定信号を零と比較するから特別な比較電圧を予
め設定する必1IIFiない。比較器12はこの場合入
力信号が零点の両側に拡がる特定の帯域の外側にあると
きだけ端子12a又は121)から信号を送り出す窓列
別器とすることができる。
補正方式を第4図に示す。この場!メモリ8乃至5扛バ
ツノアメモリとして構成されマイクロプロセッサ又は計
算機15によってデータ母線−l fj’4通して書き
込まれる。バッファ、メモリ3乃至5は同時にマイクロ
プロセッサのディ、ジタル信号をア、ナログ値に変換す
るDA変換器を含む。バックアメモリ6のDA変換器は
乗算変換器として構成されその乗算入力端はバッファメ
モリ3の出力端に結ばれている。比較器12の出力端1
2aと12b%バッファメモリ、1Bを通してデータ母
Iw164Ic結ばれる。第4図の実施例では位置測定
信号13の位置測定信号が総ての比較目標値において零
に達することが9となっている。従って比較器12は常
に位置測定信号を零と比較するから特別な比較電圧を予
め設定する必1IIFiない。比較器12はこの場合入
力信号が零点の両側に拡がる特定の帯域の外側にあると
きだけ端子12a又は121)から信号を送り出す窓列
別器とすることができる。
マイクロプロセッサ又は計算+fi15は通常動作にお
いてバッファメモリ6に一向ユニットの位置目標値を入
れ偏向ユニットをそれに応じて調整する。修正操作に際
してマイクロプロセッサはまず零補正のための入力信号
零をバックアメモリ5に入れる。補正過程が一方IIミ
ら補正状態に近づくものであればマイクロプロセッサ1
5は更にパックアメモリ3と4に修正された状態で予期
される値よシも低い値を与える。それに続いてバッファ
メモリ18を4して1より小さい信号1が与えられてい
るかを比較段12の出力412bK間合わせる。もしそ
うであればバッファメモリ4の内容はlだけ上げられる
。こ仁であらためて比較器の出力端12 bKt72’
より小さい信号1が与えられているかを間合わせる。バ
ックアメモリ4の内容は比較器12の出力端12t+に
1より小さい信号1が消滅するまで上昇する。間合せ過
程の間に必要に応じて偏向鏡8pの振動過液時間をはさ
む。
いてバッファメモリ6に一向ユニットの位置目標値を入
れ偏向ユニットをそれに応じて調整する。修正操作に際
してマイクロプロセッサはまず零補正のための入力信号
零をバックアメモリ5に入れる。補正過程が一方IIミ
ら補正状態に近づくものであればマイクロプロセッサ1
5は更にパックアメモリ3と4に修正された状態で予期
される値よシも低い値を与える。それに続いてバッファ
メモリ18を4して1より小さい信号1が与えられてい
るかを比較段12の出力412bK間合わせる。もしそ
うであればバッファメモリ4の内容はlだけ上げられる
。こ仁であらためて比較器の出力端12 bKt72’
より小さい信号1が与えられているかを間合わせる。バ
ックアメモリ4の内容は比較器12の出力端12t+に
1より小さい信号1が消滅するまで上昇する。間合せ過
程の間に必要に応じて偏向鏡8pの振動過液時間をはさ
む。
これKよって零修正が遂行される。
続いてバッファメモリ5.に零と異る第二比較亀を与え
ておく。この値はできるだけ規Spの撮れの終点近(に
おくかそれと一致させる。バッファメモリ47)内容は
この場合不変である。ここでも比較器12の出力端12
bK1より小さい信号1の存在、が問い合わされ、バッ
ファメモリ3の内容は1より小さい信号1が消滅するま
で増大する。
ておく。この値はできるだけ規Spの撮れの終点近(に
おくかそれと一致させる。バッファメモリ47)内容は
この場合不変である。ここでも比較器12の出力端12
bK1より小さい信号1の存在、が問い合わされ、バッ
ファメモリ3の内容は1より小さい信号1が消滅するま
で増大する。
これによって修正操作が終了し、マイクロプロセッサ1
5は再び正規動作で偏向ユニツ)Aに対する位置目標値
を与えることができる。
5は再び正規動作で偏向ユニツ)Aに対する位置目標値
を与えることができる。
最後の第5図は位置測定f?、置13の一つの実施例を
示す。前に述べたようにこの装に社零点を含む二つの修
正点において偏向ユニツ)Aの位置を正確に決定するた
めのものであって現在+if fill定回路Mと異り
温度ドリフトは許されない。祉宵測定装置13は光発生
器18a例えば先光ダイオードを含む。光発生器13a
は支持体18b内で受光器18cと対向する。受光器1
8cは例えば二つのフォトダイオードが出力電圧を逆向
きにして接続されμ差動フォトダイオードとすることが
できる。光ビームが二つのダイオードの間の分msに当
るとこれらのダイオードは互に等しい強さで照射され出
力電圧が等しくなるから差動フォトダイオード全体の出
力!圧は零となる。光ビームが分離線から外れ“ると二
29フォトダイオードの照射量が異り偏向方向によって
正又は負の出力電圧が送り出される。
示す。前に述べたようにこの装に社零点を含む二つの修
正点において偏向ユニツ)Aの位置を正確に決定するた
めのものであって現在+if fill定回路Mと異り
温度ドリフトは許されない。祉宵測定装置13は光発生
器18a例えば先光ダイオードを含む。光発生器13a
は支持体18b内で受光器18cと対向する。受光器1
8cは例えば二つのフォトダイオードが出力電圧を逆向
きにして接続されμ差動フォトダイオードとすることが
できる。光ビームが二つのダイオードの間の分msに当
るとこれらのダイオードは互に等しい強さで照射され出
力電圧が等しくなるから差動フォトダイオード全体の出
力!圧は零となる。光ビームが分離線から外れ“ると二
29フォトダイオードの照射量が異り偏向方向によって
正又は負の出力電圧が送り出される。
光発生器13aと受光器13cの間の光路には偏向ユニ
ットAの軸に機械的に固定された平板腕18dが置かれ
、この腕には二つのスリット絞り13eと13fが設け
られている。これらのスリット絞りは両補正点のそれぞ
れにおいてその一方が精確に光発生器13aと両フォト
ダイオード間の分離線との間に置かれる。これによって
偏向ユニットAが両修正点のhずれか一方に達したとき
位置測定装rIt13の出力信号が零となる。
ットAの軸に機械的に固定された平板腕18dが置かれ
、この腕には二つのスリット絞り13eと13fが設け
られている。これらのスリット絞りは両補正点のそれぞ
れにおいてその一方が精確に光発生器13aと両フォト
ダイオード間の分離線との間に置かれる。これによって
偏向ユニットAが両修正点のhずれか一方に達したとき
位置測定装rIt13の出力信号が零となる。
これらの修正点特に零点の位置が調節できるようにする
ため光発生器18aと受光器18cの支持体18bを調
整ねじ18gKよって移動できるようにする°と有利で
ある。これによって第一間隙Leeの製作の寸法誤差又
は腕13(lの軸へのとりつけ位置の誤差を打消すこと
ができる。第二修正点に関係する両スリット絞4111
36と13fの間の間隔の製作誤差も次の方法で打消す
ことができる。即ち第二の補正点を始めから固定して定
めることをせず1位置測定装置が零電圧を測定する点を
求めこの点゛を第二の補正目標値に選ぶ。第二補正目標
値は一度だけ求めればよいものであり紋りを機械的に工
作する場合各製作ロットに対して常に等しくなる。
ため光発生器18aと受光器18cの支持体18bを調
整ねじ18gKよって移動できるようにする°と有利で
ある。これによって第一間隙Leeの製作の寸法誤差又
は腕13(lの軸へのとりつけ位置の誤差を打消すこと
ができる。第二修正点に関係する両スリット絞4111
36と13fの間の間隔の製作誤差も次の方法で打消す
ことができる。即ち第二の補正点を始めから固定して定
めることをせず1位置測定装置が零電圧を測定する点を
求めこの点゛を第二の補正目標値に選ぶ。第二補正目標
値は一度だけ求めればよいものであり紋りを機械的に工
作する場合各製作ロットに対して常に等しくなる。
第1図はレーザー記録装置等に使用されている公知の偏
向ユニットの構成図、 第2図社偏向ユニットの特性曲線、 第3図社偏向ユニットの特性曲線の自動修正回路のブロ
ック接続図、 第4図はマイクロプロセッサ又は計算機を使用する自動
補正回路のブロック接続図、 第5図はこの%明の装置に使用される位置測定装置の立
体図である。 第3図において1:乗算器、2:加′に器、3と4と5
:記憶装置、12:比較段、13:位置測定装置。
向ユニットの構成図、 第2図社偏向ユニットの特性曲線、 第3図社偏向ユニットの特性曲線の自動修正回路のブロ
ック接続図、 第4図はマイクロプロセッサ又は計算機を使用する自動
補正回路のブロック接続図、 第5図はこの%明の装置に使用される位置測定装置の立
体図である。 第3図において1:乗算器、2:加′に器、3と4と5
:記憶装置、12:比較段、13:位置測定装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)(a)偏向ユニット(A)に対する目標値が一つの
乗算器(1)の第一人力端に導かれ、その第二人力端は
4二記憶装置1t(8)の出力端に結ばれていること、
′ (b) 乗算器(1)の出力端が一つめ加に器(2)
の第一入力端に結ばれ、その第二人力端か第二記憶装置
(4)の出力端に峙ばれていること。 (c) 偏向ユニツ) (A)K対して位−測、定信
号を送り出す位m副定−tc電(13,lが比較 ・段
<12)の第一入力端に結ばれ、その第一 二人力端に
は零点修正分へか与えられてい。 るとき(1”0”が第一修正目標イ庫として導かれ、勾
配°修正命令か与えらnているとき第二修正目標値が導
かれること。 (d) 比較段、(12)は第一入力端(12c、
)に導かれた位置測定信号が第二仝万端に導かt″1″
号値1″も大きヅs*−asi*(12a’)から1ざ
号を送1.v出すこと。 ける−号rりも小さいとき一二出力#(。 、12b)から信号を送り出す′こと、(f) 零修
正の場容は偏向−=ニドにQする弓標値、として第一修
正目標値1glが与えられ、第二記憶装置(4)の内容
は比較段(12)の第一出力端(12a、)に信号が介
在するときは比較段の出や端のいずれにも。 ′信号が無くなるまで増大し続け、比較段の第二出力端
(12b)に信号が存在するときはそれまで減小し続け
ること、 ■ 勾配修正分“令が与えられているときは偏向二二ツ
) (A)に対する目11fllLとして第の内容は比
較段(12)の攬−出力端(12a)に信号が存在する
ときは比較段(12)の出力端のいずれにも信号が無く
なるまで増大し続け、比較段の奸二出力端(12b)に
信号が存在するときはそれまで減小し続けること を特徴とする偏向ユニット特性曲巌を零点と勾配に関し
て自製的に修正する装m。 2)、修正開始前に第一と第二の記憶装置(3゜、4)
に修正後に予想される値よりも小さい値刈入れられ、第
一と第二の記憶装置の内容の増大だけが行なわれること
を特徴とする特許請求の範囲第14記載、の装置。 3)修正目標値が第三の記憶−装置(5)に枦憶され、
そのアドレス入力端に零修正命蕃と勾配修正命令とが導
亡れ、−その出力端は乗III器(1)の第一入力端と
比較q、C12)の第二人力端に結ばれていることを特
徴とする特町隋求の範囲第1項又は第2項記載の装置。 4)”第三記憶装[(5)と乗算器(1)の第−合力趨
の間に切換器(6)が挿入され、その第一入力端に偏向
ユニツ)(A)に対する目標値(、Ls )赤導かれ、
その第二人力端は第三記憶装置の出力端に結ばれ、″勾
配修正命令又拡!点修正命令が与えられたとき第一入力
端・から第二人力端に切換えることを特徴とする特許M
求の範囲第」項乃至第3項お一つに二載の装置。 5)第一と第二の記憶装置がカウンタであり。 この第一セよび第二のカウンタの内容の増大ならび低べ
過程を計数パルスによ゛つて行なわせるクロック発生器
(7)が設けられている 。 ことを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項の一
つに記載の装置。 6)クロック発生器(,7)が4個のAND回路(8乃
至11)のそれぞれの第一入力端に結ばれてhること、
第一と第三のAND回路(8,9)の各第二人力端に!
修正命令が導かれ第三と第四のAND回路(、jO,l
l )の各第二人力端に勾配修正命令が゛導かれるこ
と。 比較段(12)の第一出力端(12a)が第 ′、 二
、と第四のAN’D回路(9,11)の各竺゛三入力端
と結ばれ比較論の第二轡力端(1’2 b )が”第一
と第三のA’HD回路(8,10)の各第三入力端に結
ばれていること、第−AND回路(8)の出力端が第二
カウンp(4)の内容増大入力端(、Z V )に結ば
れ1M二AND回路(9)の出力端が第二カウンタ(4
)の内容低減入力端(IR)に結ばれ、第三″AND回
路(lO)の出力端が第一″カウンタ(3)の内容増大
入力端(IV)に結ばれJ第四AND回路(11)の出
力端が第一カラ/り(3)の内容低減入力端(IR)に
結ばれていることを特徴とする特許請求の範囲′M5項
記載の゛装置。 7)第一乃至第三記憶装置(,8,4,5,)がバッフ
ァメモリであってマイクロプロセッサ又はコンピュータ
のデータバスを通してテークを入れられることを特徴と
する特許請求の範囲第1項乃至第3項の一つに記載の装
置。′8)記憶装置(我、4.5)がり、−A変換器と
して構成さ0・第5記憶!置’(,5)と乗算器(1)
が呆算型D−A変換器としてまとめられて匹ることt特
徴とする特許請求の範囲第7項記載の装置。 9)゛位I11測定装置(13)が偏向ユニットの軸に
結合さハた平板腕(18d)を含み、この腕が光発箪器
(18a)と位置測定信号を送り出す受光器(18c)
の間の光路内に11か・れていること、平板腕(18(
1)に第一スリット絞り(18e)がありこの絞りが偏
向ユニットの零位−において光路円に置かれること、腕
jusa)に第二のスリト綾り ’itあって偏向ユニ
ットの位置が第二修正目標、値に一致するとき光路内に
置かれることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第
8項の一つに記載の装置。 10)受光器(13c)が差動光ダイオードであること
を特徴とする特許請求の範囲第9項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3142152A DE3142152C2 (de) | 1981-10-23 | 1981-10-23 | Vorrichtung zum automatischen Abgleich der Kennlinie einer Ablenkeinheit |
DE31421520 | 1981-10-23 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5886610A true JPS5886610A (ja) | 1983-05-24 |
Family
ID=6144732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57183787A Pending JPS5886610A (ja) | 1981-10-23 | 1982-10-21 | 偏向ユニツトの特性曲線の自動修正装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4493990A (ja) |
EP (1) | EP0077970B1 (ja) |
JP (1) | JPS5886610A (ja) |
AT (1) | ATE12600T1 (ja) |
DE (2) | DE3142152C2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1993001233A1 (en) * | 1991-07-10 | 1993-01-21 | Seiko Epson Corporation | Transparent plastic material |
JP2002090682A (ja) * | 2000-09-19 | 2002-03-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ガルバノメータ、ガルバノメータの位置補正方法、ガルバノメータを用いたレーザ加工装置、及びガルバノメータを用いたレーザ加工方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4652749A (en) * | 1985-03-21 | 1987-03-24 | Robotic Vision Systems, Inc. | Optical coordinate measuring system with dual path reflecting means |
DE3517671A1 (de) * | 1985-05-15 | 1986-11-20 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn | Vorrichtung zum bildpunktweisen erfassen der oberflaechengestalt eines entfernten objektes |
GB8911454D0 (en) * | 1989-05-18 | 1989-07-05 | Pilkington Plc | Hologram construction |
TWI235555B (en) | 2004-03-18 | 2005-07-01 | Mediatek Inc | DAC DC offset calibration method and related apparatus |
KR20090039042A (ko) * | 2007-10-17 | 2009-04-22 | 삼성전자주식회사 | 광 주사 장치를 가지는 화상 형성 장치 및 그 위치 정렬방법 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3814895A (en) * | 1971-12-27 | 1974-06-04 | Electroglas Inc | Laser scriber control system |
DE2335517C3 (de) * | 1973-07-12 | 1980-04-30 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zur Kompensation von Lageabweichungen eines Zifferblattes oder Schildes relativ zu einem Beschriftungsgerät |
FR2373819A1 (fr) * | 1976-12-09 | 1978-07-07 | Burroughs Corp | Installation et procede de positionnement notamment pour tetes de lecture de disque |
US4125755A (en) * | 1977-06-23 | 1978-11-14 | Western Electric Co., Inc. | Laser welding |
US4218606A (en) * | 1978-10-03 | 1980-08-19 | Olin Corporation | Apparatus for perforating webs with high intensity, coherent radiation |
US4264809A (en) * | 1979-05-02 | 1981-04-28 | Eastman Kodak Company | Servo control loop using optical feedback |
US4417330A (en) * | 1981-10-15 | 1983-11-22 | Burroughs Corporation | Optical memory system providing improved focusing control |
-
1981
- 1981-10-23 DE DE3142152A patent/DE3142152C2/de not_active Expired
-
1982
- 1982-09-28 US US06/425,909 patent/US4493990A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-10-11 EP EP82109396A patent/EP0077970B1/de not_active Expired
- 1982-10-11 AT AT82109396T patent/ATE12600T1/de not_active IP Right Cessation
- 1982-10-11 DE DE8282109396T patent/DE3263013D1/de not_active Expired
- 1982-10-21 JP JP57183787A patent/JPS5886610A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1993001233A1 (en) * | 1991-07-10 | 1993-01-21 | Seiko Epson Corporation | Transparent plastic material |
JP2002090682A (ja) * | 2000-09-19 | 2002-03-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ガルバノメータ、ガルバノメータの位置補正方法、ガルバノメータを用いたレーザ加工装置、及びガルバノメータを用いたレーザ加工方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3142152C2 (de) | 1984-05-24 |
EP0077970A1 (de) | 1983-05-04 |
EP0077970B1 (de) | 1985-04-10 |
US4493990A (en) | 1985-01-15 |
DE3263013D1 (en) | 1985-05-15 |
ATE12600T1 (de) | 1985-04-15 |
DE3142152A1 (de) | 1983-05-26 |
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