JPS5883237A - 粉体エ−ロゾル発生装置 - Google Patents
粉体エ−ロゾル発生装置Info
- Publication number
- JPS5883237A JPS5883237A JP18249481A JP18249481A JPS5883237A JP S5883237 A JPS5883237 A JP S5883237A JP 18249481 A JP18249481 A JP 18249481A JP 18249481 A JP18249481 A JP 18249481A JP S5883237 A JPS5883237 A JP S5883237A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- aerosol
- cyclone
- sample
- gas
- powder
- Prior art date
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- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/714—Sample nebulisers for flame burners or plasma burners
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は発光分光分析における粉体試料エーロゾル発
生装置にｌるものである。一般忙粉体試料を発光分光分
析する場合、まずフィーダーとよばれる霧化装置によシ
粉体エーロゾルを発生させる。発生したエーロゾルは化
学炎、ＤＣアークプラズマ、誘導結合プラズマ（工ＣＰ
）などの光源により励起され分析される。この分析法に
は次のような長所がある。粉体試料を直接発光光源に導
くことから、分析対象試料が粉体の場合前処理が不要で
瞬時分析が可能である。又絶縁物の固体試料で放電など
傾よシ試料エーロゾルができない場合にも粉砕という前
処理のみで分析ができる。
生装置にｌるものである。一般忙粉体試料を発光分光分
析する場合、まずフィーダーとよばれる霧化装置によシ
粉体エーロゾルを発生させる。発生したエーロゾルは化
学炎、ＤＣアークプラズマ、誘導結合プラズマ（工ＣＰ
）などの光源により励起され分析される。この分析法に
は次のような長所がある。粉体試料を直接発光光源に導
くことから、分析対象試料が粉体の場合前処理が不要で
瞬時分析が可能である。又絶縁物の固体試料で放電など
傾よシ試料エーロゾルができない場合にも粉砕という前
処理のみで分析ができる。
このような利点から工巣粉体をあっがう分野などからこ
の分析法の確立が熱望されてきた。しかし従来の方法で
は実用分析装置として使用する場合いくつかの欠点が指
運されていた。それを次に上げる。
の分析法の確立が熱望されてきた。しかし従来の方法で
は実用分析装置として使用する場合いくつかの欠点が指
運されていた。それを次に上げる。
（１）一般に分析にかけられる粉体は０がら数百ミクロ
ン以上に及ぶ粒径分布をもつ。このうち径の大きい粒子
は発光光源内では完全に原子化されないと考えられ４０
Ｌかも完全に原子化される粒子に較べて粒子数の比率
は少いが桁違いに多い原子数を持つ大径粒子が搬送後路
中滞留したり、原子化過程で不安定な動きをすることは
粒子数の比率は小さくとも測光強度を不安定にする要因
になる。
ン以上に及ぶ粒径分布をもつ。このうち径の大きい粒子
は発光光源内では完全に原子化されないと考えられ４０
Ｌかも完全に原子化される粒子に較べて粒子数の比率
は少いが桁違いに多い原子数を持つ大径粒子が搬送後路
中滞留したり、原子化過程で不安定な動きをすることは
粒子数の比率は小さくとも測光強度を不安定にする要因
になる。
従来の装置ではこのような粗大粒子もすべて発光光源内
に導入していたため分析結果が不安定で分析精度がよく
なかった。
に導入していたため分析結果が不安定で分析精度がよく
なかった。
（２）従来の装置では試料を霧化するための霧化部に流
したガスによシ粒子を搬送し、そのま＼発光光源に導入
する単一流路を用いていたため、霧化部、発光光源のガ
ス流量を独立に決定できなかった。又霧化部搬送管内に
付着した粒子を分析ごとに流量を増しておし出すパージ
操作をする際、流量の増加が発光光源の条件により制約
をうけ、完全に粒子を追い出すことができず前回試料の
影響が残る可能性が大きかった。
したガスによシ粒子を搬送し、そのま＼発光光源に導入
する単一流路を用いていたため、霧化部、発光光源のガ
ス流量を独立に決定できなかった。又霧化部搬送管内に
付着した粒子を分析ごとに流量を増しておし出すパージ
操作をする際、流量の増加が発光光源の条件により制約
をうけ、完全に粒子を追い出すことができず前回試料の
影響が残る可能性が大きかった。
この発明はエーロゾルの搬送管の末端すなわち発光光源
の直前にエーロゾル処理部をつけ、それに対応するガス
コントロール系をもうけることにより、上記の問題点を
解消するものである。上記（１）の対策については、搬
送後に微細粒子のみとり出すこととし、遠心分離器（サ
イクロン）を用いた。上記（２）についてはサイクロン
部の入口部分、出口部分にそれぞれ、混合部２分流部を
作り、放電部２発光々源部にそれぞれ任意のガス流量を
選ぶことができるようにした。以下実施例によってこの
発明を説明する。
の直前にエーロゾル処理部をつけ、それに対応するガス
コントロール系をもうけることにより、上記の問題点を
解消するものである。上記（１）の対策については、搬
送後に微細粒子のみとり出すこととし、遠心分離器（サ
イクロン）を用いた。上記（２）についてはサイクロン
部の入口部分、出口部分にそれぞれ、混合部２分流部を
作り、放電部２発光々源部にそれぞれ任意のガス流量を
選ぶことができるようにした。以下実施例によってこの
発明を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す。Ｓは霧化部で、ここ
では粉体を常に一定量供給しつづける機構となっている
。即ち試料ｍはピストンｂのついたチューブＰ内に装入
され、ピストンｂは送りねじｆによりモータｄの回転に
つれて除々に押上げられチューブＴの上端に盛上る。チ
ューブＴの上端周囲に搬送ガス供給管Ｆから供給され名
搬送ガスによって吹き上げられエーロゾルとなる。ここ
で発生した試料ｍのエーロゾルはステンレス管Ｐ中を搬
送され、よ−どみ点のできないよう同軸二重構造とした
混合部Ｍの中心管ｐｍより流入する。
では粉体を常に一定量供給しつづける機構となっている
。即ち試料ｍはピストンｂのついたチューブＰ内に装入
され、ピストンｂは送りねじｆによりモータｄの回転に
つれて除々に押上げられチューブＴの上端に盛上る。チ
ューブＴの上端周囲に搬送ガス供給管Ｆから供給され名
搬送ガスによって吹き上げられエーロゾルとなる。ここ
で発生した試料ｍのエーロゾルはステンレス管Ｐ中を搬
送され、よ−どみ点のできないよう同軸二重構造とした
混合部Ｍの中心管ｐｍより流入する。
そして混合部の外管ｐｂより流入する稀釈用のガスと混
合され、サイクロンＣで必要な流入速度をもつガス流と
なる。このエーロゾルをサイクロンＣの外筒ｃｂ、内筒
Ｃ１の間に接線方向に流入させると試料粒子は旋回をし
ながら下にお夛てゆく。
合され、サイクロンＣで必要な流入速度をもつガス流と
なる。このエーロゾルをサイクロンＣの外筒ｃｂ、内筒
Ｃ１の間に接線方向に流入させると試料粒子は旋回をし
ながら下にお夛てゆく。
その時粒子は遠心力とストークスの抵抗をうけ外壁方向
にドリフトしてゆく。このドリフト速度は粒径に比例す
るため大きい粒子はど壁に到達する時間は短かい。壁に
到達した粒子はダストホールに落ち、到達しなかった微
細粒子だけが内筒を上がってゆく。内筒の上部は分流部
となっており、上昇した粒子はよどみ点ができないよう
に内筒に同軸型に挿入されたセンター管Ｃｍをとおり発
光光源部りに導入される。外筒ｃ’ｂからとり出された
エーロゾルは調節バルブｄを通し排出される。
にドリフトしてゆく。このドリフト速度は粒径に比例す
るため大きい粒子はど壁に到達する時間は短かい。壁に
到達した粒子はダストホールに落ち、到達しなかった微
細粒子だけが内筒を上がってゆく。内筒の上部は分流部
となっており、上昇した粒子はよどみ点ができないよう
に内筒に同軸型に挿入されたセンター管Ｃｍをとおり発
光光源部りに導入される。外筒ｃ’ｂからとり出された
エーロゾルは調節バルブｄを通し排出される。
このパルプＶｅを調節することにより発光々深部りに導
入するエーロゾル量を調節する。分析ごとに霧化装置Ｓ
内、搬送管Ｐ内を清掃する時は稀釈ガスとして混合部Ｍ
に流していたガスを霧化装置Ｓ内に流しこむ。これは分
析時のガス量に比べ数倍の量にあたり付着した粒子は実
用上問題にならない程度゛まで流し出される。
入するエーロゾル量を調節する。分析ごとに霧化装置Ｓ
内、搬送管Ｐ内を清掃する時は稀釈ガスとして混合部Ｍ
に流していたガスを霧化装置Ｓ内に流しこむ。これは分
析時のガス量に比べ数倍の量にあたり付着した粒子は実
用上問題にならない程度゛まで流し出される。
この場合も発光光源部りに流入するガス量は変化せず悪
影響はあたえない。
影響はあたえない。
実際に作製したサイクロン部の断面図を第２図に示す。
１は捕獲された粗大粒子のたまるダストホール、２はサ
イクロン外筒、３はサイクロン内筒である。４は混合部
、５は分流部である。
イクロン外筒、３はサイクロン内筒である。４は混合部
、５は分流部である。
この装置において処理後のエーロゾル粒径は、により従
来そのま＼発光光源内に導入していた粒度分布の広いエ
ーロゾルから微細粒子のみのエーロゾルを作ることに成
功した。又混合部２分流部をもうけだことにより放電室
と発光々深部のガス流量を独立して決定でき、分析の最
適条件を選ぶことが可能になり、大流量のガスによるパ
ージが可能になった。そのため従来のエーロゾル発生装
置の難点を解決することができ十分実用分析が可能とな
った。
来そのま＼発光光源内に導入していた粒度分布の広いエ
ーロゾルから微細粒子のみのエーロゾルを作ることに成
功した。又混合部２分流部をもうけだことにより放電室
と発光々深部のガス流量を独立して決定でき、分析の最
適条件を選ぶことが可能になり、大流量のガスによるパ
ージが可能になった。そのため従来のエーロゾル発生装
置の難点を解決することができ十分実用分析が可能とな
った。
第１図は本発明の一実施例装置の全体を示す配管区、第
２図は同じくサイクロン粒子分別部の縦断面図である。 Ｓ・・・試料霧化装置、Ｐ・・・搬送管、Ｍ・・・混合
部、Ｃ・・・サイクロン、Ｌ・・・試料原子化光源。 代理人 弁理士 縣 浩 介
２図は同じくサイクロン粒子分別部の縦断面図である。 Ｓ・・・試料霧化装置、Ｐ・・・搬送管、Ｍ・・・混合
部、Ｃ・・・サイクロン、Ｌ・・・試料原子化光源。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 粉体試料を霧化させる装置と、サイクロン型粒子分別装
置とよシなり、搬送ガスによって上記粉体試料を霧化さ
せる装置で発生した粉体エーロゾルを上記サイクロン型
粒子分別装置に移送させる構成で、上記試料を移送させ
る管がサイクロン型粒子分別装置の作動ガス供給管内に
挿入開口させてあり、上記サイクロン型粒子分別装置の
中心部上方から抽気するガス管を試料原子化部に導くと
共に上記抽気ガス管の外周に上記粒子分別装置の排気管
を設け、試料粉体を上記粉体試料霧化装置において粉体
エーロゾル圧するためのガスの流量と上記粒子分別装置
の動作ガス供給量及び排気ガス量を各別に調節できるよ
うＫした仁とを特徴とする粉体エーロゾル発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18249481A JPS5883237A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | 粉体エ−ロゾル発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18249481A JPS5883237A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | 粉体エ−ロゾル発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5883237A true JPS5883237A (ja) | 1983-05-19 |
Family
ID=16119263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18249481A Pending JPS5883237A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | 粉体エ−ロゾル発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5883237A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6098040U (ja) * | 1983-12-12 | 1985-07-04 | 株式会社島津製作所 | 溶液分析用噴霧装置 |
| US7387038B2 (en) * | 2005-07-29 | 2008-06-17 | Horiba Instruments, Inc. | Wide range constant concentration particle generating system |
| CN103940753A (zh) * | 2014-04-29 | 2014-07-23 | 北京理工大学 | 气溶胶成核脉冲发生器 |
-
1981
- 1981-11-13 JP JP18249481A patent/JPS5883237A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6098040U (ja) * | 1983-12-12 | 1985-07-04 | 株式会社島津製作所 | 溶液分析用噴霧装置 |
| JPH0318912Y2 (ja) * | 1983-12-12 | 1991-04-22 | ||
| US7387038B2 (en) * | 2005-07-29 | 2008-06-17 | Horiba Instruments, Inc. | Wide range constant concentration particle generating system |
| JP2009503507A (ja) * | 2005-07-29 | 2009-01-29 | 株式会社堀場製作所 | 広範囲定濃度粒子発生システム |
| EP1915605A4 (en) * | 2005-07-29 | 2015-05-20 | Horiba Ltd | SYSTEM FOR THE PRODUCTION OF PARTICLES WITH A WIDE SPECTRUM OF CONSTANT CONCENTRATIONS |
| CN103940753A (zh) * | 2014-04-29 | 2014-07-23 | 北京理工大学 | 气溶胶成核脉冲发生器 |
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