JPS5882499A - X線制御装置 - Google Patents

X線制御装置

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JPS5882499A
JPS5882499A JP18145781A JP18145781A JPS5882499A JP S5882499 A JPS5882499 A JP S5882499A JP 18145781 A JP18145781 A JP 18145781A JP 18145781 A JP18145781 A JP 18145781A JP S5882499 A JPS5882499 A JP S5882499A
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JP
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tube
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fluoroscopic
circuit
signal
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JP18145781A
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JPH0234159B2 (ja
Inventor
Kaoru Kurosaki
黒崎 馨
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/46Combined control of different quantities, e.g. exposure time as well as voltage or current

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 tl)  発明の技術分野 本発明は医用診断に用いら扛るX1mの制御装置に関す
るものである。
(2)従来技術 従来、被検体(患者)にX線を照射してそのときのX線
透過率を測定し、その結果得らnるXII摩に基づいて
診断を行なうxm診断装置が用いらnている。このよう
なX線診断装置にあって拡患者の安全性の面から診断の
ためのX*、被曝量は最小限にとどめなければ麦らない
。従来の装置では、透視診断時において最大透視管電圧
設定時を想定して透視管電流を制御して入射線量率を制
限したり、あるいは予め定格透視管電流を設定して入射
巌ii4を制限した多していた。
(3)従来技術の問題点 しかしながら、透視時の患者の被@線量、すなわち患者
への入射面での入射線量率は透視管電流のみならず透視
管電圧との関係、あるいはxm管と患者への入射面との
間の距離等とも深−関係にあることが知らnている。こ
のような関係を無視して管電流のみを制御する従来装置
にあっては適正な入射線量率の制限を行なうことができ
ず、±の結果患者の被曝線量の増加を招き安全性の面で
も問題が生じていた。
(4)発明の目的 本発明は前記問題点を解決するためになさnたものであ
う、管電流と、Xls管と患者との距離とを加味して透
視管電圧を制御すること、あるいは逆に管電圧とX線管
から患者迄め距離とを加味して透視管電流を制御するこ
とによシ入射線量率を制限し、もって患者のX線被@線
量を適正に保つことのできるX4!!制御装置を提供す
ることを目的とするものである。
(5)発明の構成 前記目的を達成するための本発明の構成は、X線管から
患者に向けて照射さyするxamを制御するX線制御装
置において、透視時の管電圧を制御する管電圧制御手段
と、透視時の管電流を制御する管電fifltlJ御手
段と、X線管と患者へのXl11入射面との間の距離を
検出する距離検出手段と、前記管電圧、管電fL、距1
1!!に基づいて決まる適正線量率との関係において現
在の入射線量率が適正線量率を越える場合に前記透視管
電流及び透視管電圧をそnf′t′L制限する過度照射
防止回路を有することを特徴とするものである。
(6)発明の実施例 第1図は本発明装置の一実施例を示す概略ブロック図で
ある。同図において1は透視管電流調整器であり2は透
視管電圧調整器であシ、いずn4図示しない制御盤上に
設けらnた設定ダイアル又はアナログスイッチ勢によっ
て術者が適宜選択設定できるLうになっている。6は自
動輝度制御装置の輝度調整器であシ、出力−に設けらn
た選択スイッチ6によって自動輝度調整器6の出力又値
前mlマニュアルの管電圧調整器2の出力のいず扛かが
選択さγしてその選択出力tが次段のサーボ回路11に
入力さjLるようになっている。尚、と扛ら各調整器1
,2.3は前段階での透視終了時に自動的に最低“値に
セットし直さnる機能(オートリセット機能)を備えて
いる。前記サーボ回路11の出カッによって次段の単巻
変圧器12のタッグが選択さt1単巻変圧器12の出力
電圧すが主変圧器13に印加さ扛、主変圧器13の2次
冑高電圧出力がX線管14の陽極P4C印加さnるよう
になっている。図中4はX@管と患者への入射面との間
の距離を検出する回路であり、検出信号Cを出力してい
る。この距離検出回路4F!、例えばX線管に取付けら
扛た超音波送受波器を用り友自動検出手段又は、予め手
動にて検出した距離を術者がアナログスイッチを用いて
入力し、そnを電気信号として出力する手段等のいずn
の構成であってもよい。5ti過度照射防止回路であシ
、前記透視管電流調整器1によって設定さ扛た透視管電
流信号α4と、前記単巻変圧器12からの出力電圧りと
、前記距離検出器4からの検出信号Cとを入力信号とし
て3種類の判別結果信号dl、 d、を出力するように
なっている。即ちこの過度照射防止回路5は例えば第2
図に示すように前記透視管電流信号α、単巻変圧器出力
電圧b゛、距離検出信号Cをそnぞ扛の共通入力とする
基準線量率設定回路5A。
管電流判別回路5B、管電圧判別回路5Cとによって楕
成さjしている。前記基準線量率設定回路5Aは各人力
信号α〜Cを演算して患者に対して入射可能な最大のX
線入射線量率A′Ir算出して出力するようになってお
夛、管電流判別回路5B及び管電圧判別回路5Cはそn
ぞn前記設定入射線量率にとの関係において最大許容管
電流及び最大許容管電圧を設定し、この設定値と各回路
に入力さnる透視管電流及び透視管電圧の大小を判別し
、判別結果信号d!〜dsを出力するようになっている
。ここで、dlは透視管電流が基準値を越えている場合
に出力さnる管電流保持信号であ’)、d*はそのとき
の表示信号であ’)、4は透視管電圧が基準値を越λて
いる場合に出力さnるサーボ回路制限信号である07は
前記透視管電流信号−を所定時間遅延させた信号−を出
力するための遅延回路であ)、8は前記一度照射防止回
路5からの管電流保持信号d1によって制御さ扛る保持
回路であ)、入力信号C又はその直前に入力さrtfC
透視管電流信号fのいすIしかを出力するようになって
いる0ゾはフイラメント加熱制御回路であり前記保持回
路8がら送出さnる管電流信号に基づいて加熱制御信号
ダを出力し、この加熱制御信号yによってフィラメント
変圧器10のフィラメント加熱信号kを制御する。この
フィラメント変圧器10IfiX線管14のフィラメン
トFに接続さnている。尚、前記過度照射防止回路5の
表示信号d、の端子の先端には電源Bに接続さnた発光
ダイオード15が設けらCており、この発光ダイオード
15は図示しない操作盤面に目視可能に取付けられてい
る。そして、前記過度照射防止回路5の透視管電圧調整
器号d。
は前記サーボ回路11の制御端子に印加さ扛ており、最
大許容透視管電圧を越えた場合に自動的にタッグが増加
方向へ切換るのを制限するようになっている。
次に前記装置の動作を説明する。透視管電流調整器1工
9出力さ扛た透視管電流信号αは遅延回路7に伝達さn
るとともに過度照射防止回路5に伝達さ扛る。過度照射
防止回路5で社次のような動作が行わjLる。
今、透視管電流調整器1を最低値から順次増加させて行
き、透視管電流信号αが透視管電圧と、X勝管と患者へ
の入射面との間の距離とに工って算出さitたある入射
線量率に−(この値は術者の診断限界と患者の安全性を
考慮した結果決定さ扛る値である。ちなみに、U、S、
AのH,H,S規格では自動照射率制限装置iを有する
ものについて#110R/miへその装置を有しないも
のについては5ル’man  と規定さ7している)に
対応する最大透視管電流(最大yiA)を越えた場合に
は、透視管電流判別回路5Bから管電流保持信号d里と
表示信号d2が出力さnる。
この結果表示信号d:によって発光ダイオード15が点
灯し、術者にその旨を報知すると共に、前記保持信号d
+によって保持回路8が前回の管電流信号fを保持した
状態でこnを出力し続けることになる1、このとき遅延
回路7は過度照射防止回路5にて設定さrL 7’CX
線曝射条件がある入射線量率kを越えているか否かを判
定する時間だけ透視管電流信号aを遅延させて出方する
ような働きをする。
保持回路8では過度照射防止回路5がらの保持信号d1
が印加さ扛ない限シ遅延回路7の遅延透視管電流信号e
をそのままXi管のフィラメント加熱制御回路9に伝達
するが、保持信号d!を入力したときには前述のように
その直前の透視管電流信号fを出力し、そn以後保持信
号d1が解除さnない限り入力状態が変化しても出力を
保持し続ける。
次に、透視管電圧の制御動作を説明する6透視管電圧調
整器2又は自動輝度調整器3に工って設定さjした透視
管電圧信号tは自動か手動かの選択により選択スイッチ
6によっていずnかが選択さ扛てサーボ回路11に入力
さjLる。サーボ回路11は2系統に分子り、増加方向
と減少方向は独立しており、そ扛ぞtし外部信号によっ
て制限さnるような機能を備えている。
今、透視管電圧調整器又は自動輝度調整器3によってサ
ーボ劇路11に透視管′電圧を増加させる16号が伝達
さiLると、サーボ回路11の増加方向の回路が動作し
、巣巻変圧器12からの出力電圧6が増加する。こnを
受ける過度照射防止回路5は透視管電圧の増加を監視し
、この時点での透視管1!LtI1.と、X線管と患者
への入射面との間の距離とからある入射線量率h7越え
ない許容透視管電土の範囲を算出する。そして、設定さ
nた透視管電圧がこの許容範囲を越えた場合には過度照
射防止回路5から管電圧制限信号d3が出力され、サー
ボL1J路11の増加方向の回路に制止信号を伝達する
0この結果、透視管電圧は過度照射防止回路5e(工っ
て決定された許容範囲内に制御さnることVCなる。
以上のようにして患者への適正なX線照射が行なわjし
て透視が行なわ扛、診断1供さ扛る。
(1)発明の変形例 本発明は前□配実施例に限定さrbf種々の変形実施が
可能である。例えば過度照射防止回路の構成f′i前記
実施例に限定さnず、予め全てのX#!曝射条件に対応
する基準線量率が記憶さtしている記憶装置を設け、こ
n t−CPU等の演算処理装置によってプログラム処
理し、許容管電流及び許容管電圧と人力信号とを比較し
て判定を行なうような傳成とすることもできる0又、X
線線量率針を設置して目的線量率と現在の線量率1との
比較において管電流保持信号及び管電圧制限信号等を出
力する工うにしてもよい。
(8)発明の効果 以上詳述した工うに本発明によれば、透視管電圧と透視
管電流及びX線管、患者への入射面迄の距離との三つの
条件を自動的に調整することにL夛患者への過度の照射
を適確に防止することができるので最適の曝射条件にて
診断を行なうことができ安全性の面でも優扛た装置を提
供できる。しかも、その調整範囲は従来装置に比して極
めて広範囲のものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は木兄BA装置の一実施例を示す概略ブロック図
、第2図はそjLに用いら扛る過度照射防止回路の具体
的構成の一実施例を示すブロック図である0 1・・・透視管電流調整器、 2・・・透視管電圧11
141M器、 6・・・自動輝度調整器、 4・・・距
離検出器、5・・・過度照射防止回路、 14・・・X
IIfil管。 1.−4−一1、  イ+n

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  X4!管から患者に向けて照射されるX線量
    を制御するX線制御装置において、透視時の管電圧を制
    御する管電圧制御手段と、透視時の管電流を制御する管
    電流制御手段と、X線管と患者へのX線入射面との間の
    距離を検出する距離検出手段と、前記管電圧、管電流、
    距離に基づいて決まる適正線量率との関係において現在
    の入射線量率が適正線量率を越える場合に前記透視管電
    流及び透視管電圧をそれぞjL制限する過度照射防止回
    路を有することを特徴とするX線制御装置0(2)前記
    過度照射防止回路が透視管電流、透視管電圧、距離に対
    応する信号を入力する基準縁量率設定回路、′管電流判
    別回路及び管電圧判別回路とによって構成さfしている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のXaI−
    脚装置0
JP18145781A 1981-11-12 1981-11-12 X線制御装置 Granted JPS5882499A (ja)

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JPH0234159B2 JPH0234159B2 (ja) 1990-08-01

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008530750A (ja) * 2005-02-11 2008-08-07 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線システムにおける線量率の制御
JP4505101B2 (ja) * 2000-03-31 2010-07-21 東芝Itコントロールシステム株式会社 X線発生装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5678100A (en) * 1979-11-29 1981-06-26 Ikuro Morita X-ray irradiation controlling device

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