JPS5878262A - 欠点検出装置 - Google Patents
欠点検出装置Info
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- JPS5878262A JPS5878262A JP56176753A JP17675381A JPS5878262A JP S5878262 A JPS5878262 A JP S5878262A JP 56176753 A JP56176753 A JP 56176753A JP 17675381 A JP17675381 A JP 17675381A JP S5878262 A JPS5878262 A JP S5878262A
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- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、シート物等の被検査面を撮像装置により光
電的に走査して欠点を検出する装置に関する。
電的に走査して欠点を検出する装置に関する。
例えば第１図に示すように、撮像装置１と光源２との間
に紙やフィルム等のシート状の被検査物３を配し８、透
過光弐に被検査物３を走査し、ピンホール４の如き欠点
を検出する場合、基本的に次のような信号処理を行なう
。
に紙やフィルム等のシート状の被検査物３を配し８、透
過光弐に被検査物３を走査し、ピンホール４の如き欠点
を検出する場合、基本的に次のような信号処理を行なう
。
上記撮像素子１がｃｃｎ（電荷結合素子）等の半導体イ
メージセンサを用いて構成される場合、その映像信号は
第２図に例示するように高周波パルスの形で出力される
。この波形図は一走査分の映像信号ＶＳを示しておシ、
Ｅは被恰査物３の正常部分の明かるさに対応した地合レ
ベルであり、この地合レベルＩＫは周知のように種々の
要因により低周波数の変動が現れる。また、ｎは被検査
物３のピンホール４に対応する欠点信号で、ピンホール
４を通して強い光が撮像装置ＩＫ入射するため、欠点信
号ｎは地合レベルＥより高レベルの′パルス状の信号と
なる。
メージセンサを用いて構成される場合、その映像信号は
第２図に例示するように高周波パルスの形で出力される
。この波形図は一走査分の映像信号ＶＳを示しておシ、
Ｅは被恰査物３の正常部分の明かるさに対応した地合レ
ベルであり、この地合レベルＩＫは周知のように種々の
要因により低周波数の変動が現れる。また、ｎは被検査
物３のピンホール４に対応する欠点信号で、ピンホール
４を通して強い光が撮像装置ＩＫ入射するため、欠点信
号ｎは地合レベルＥより高レベルの′パルス状の信号と
なる。
この欠点信号ｎを弁別するために映像信号ｖｓを適宜な
しきい値で２値化する訳だが、浮動２値化として良く知
られているように映倫信号ｖｓを適宜に積分するととも
に適宜にレベルシフトすることによシ、映像信号ｖＳ中
の地合レベルＥの変動に追従するしきい値信号ＳＨを作
り、これで２値化を行、なっている。第３図はしきい値
信号８Ｈを得る回路の要部である上記積分回路の具体例
である。この回路において、映像信号ｖＳがダイオード
Ｄのカソード側に印加され、映像信号ｖ８の瞬時電圧が
コンデンサＣの充電電圧Ｖ ｅ （この回路の出力電圧
である）以上のとき、ダイオードＤおよび抵抗Ｒ１を通
してコンデンサＣへ充電電流が流れ、映像信号ＶＳの蝋
次電圧が電圧ｖｅ以下のとき、コンデンサＣから抵抗Ｒ
２ｔＣ放電電流が流れる。ここで抵抗Ｒ１およびＲ２を
適宜に選んで、コンデンサＣに対する充電経路の時定数
を比較的小さく、放電経路の時定数を比較的大きく設定
する。出力電圧Ｖｃは第２図に示すように地合レベルＥ
の低周波数の変動に追従し、かつパルス状の欠点信号ｎ
には余り応答しない波形となる。
しきい値で２値化する訳だが、浮動２値化として良く知
られているように映倫信号ｖｓを適宜に積分するととも
に適宜にレベルシフトすることによシ、映像信号ｖＳ中
の地合レベルＥの変動に追従するしきい値信号ＳＨを作
り、これで２値化を行、なっている。第３図はしきい値
信号８Ｈを得る回路の要部である上記積分回路の具体例
である。この回路において、映像信号ｖＳがダイオード
Ｄのカソード側に印加され、映像信号ｖ８の瞬時電圧が
コンデンサＣの充電電圧Ｖ ｅ （この回路の出力電圧
である）以上のとき、ダイオードＤおよび抵抗Ｒ１を通
してコンデンサＣへ充電電流が流れ、映像信号ＶＳの蝋
次電圧が電圧ｖｅ以下のとき、コンデンサＣから抵抗Ｒ
２ｔＣ放電電流が流れる。ここで抵抗Ｒ１およびＲ２を
適宜に選んで、コンデンサＣに対する充電経路の時定数
を比較的小さく、放電経路の時定数を比較的大きく設定
する。出力電圧Ｖｃは第２図に示すように地合レベルＥ
の低周波数の変動に追従し、かつパルス状の欠点信号ｎ
には余り応答しない波形となる。
この信号Ｖｅを適宜に増幅したり、あるいは一定電圧を
加算することによりレベルシフトし、地合レベルＥより
僅かに大きいしき１値信号ＳＨが得られるのである。
加算することによりレベルシフトし、地合レベルＥより
僅かに大きいしき１値信号ＳＨが得られるのである。
以上が浮動２値化方式による欠点弁別の基本である。と
ころで、撮像装置１の出力には周知のように各走査の間
で映像信号がなくなる期間（帰線期間に相当するもので
、ここではブランク期間と称す）が含まれる。このブラ
ンク期間において上記積分回路のコンデンサＣの充電電
荷が放電するため、積分出力Ｖｃは徐々に低下し、しき
い値信号８Ｈも低下する。このブランク期間でのしきい
値の低下による誤弁別を防ぐたやに、従来の多くの装置
では、上記コンデンサＣの充放電路にアナログスイッチ
を設け、上記ブランク期間にこのアナログスイッチをオ
フにして充電電圧（しきい値）を保持するように構成し
ている。しかし、ブランク期間が比較的長い場合にはこ
れでもコンデク亨′Ｃの放電を完全に防がず、ブランク
期間でのしきい値低下による誤弁別を完全になくす仁と
ができなかつ九〇 また、例えｄ第１図に示す検査態様において。
ころで、撮像装置１の出力には周知のように各走査の間
で映像信号がなくなる期間（帰線期間に相当するもので
、ここではブランク期間と称す）が含まれる。このブラ
ンク期間において上記積分回路のコンデンサＣの充電電
荷が放電するため、積分出力Ｖｃは徐々に低下し、しき
い値信号８Ｈも低下する。このブランク期間でのしきい
値の低下による誤弁別を防ぐたやに、従来の多くの装置
では、上記コンデンサＣの充放電路にアナログスイッチ
を設け、上記ブランク期間にこのアナログスイッチをオ
フにして充電電圧（しきい値）を保持するように構成し
ている。しかし、ブランク期間が比較的長い場合にはこ
れでもコンデク亨′Ｃの放電を完全に防がず、ブランク
期間でのしきい値低下による誤弁別を完全になくす仁と
ができなかつ九〇 また、例えｄ第１図に示す検査態様において。
被検査物３が非常に摩いかあるいは非透光性のものであ
り、ピンホール４のごとき欠点の部分でのみ光が透過す
るような場合、映像信号ｖＳの地合レベルＥはほとんど
零レベルとなり、その映倫信号ＶＳを上述した積分回路
で積分しても適切なしきい値信号を得ることができなく
なる。このような場合、上記積分回路によりしきい値信
号を得る浮動２値化方式ではなく、しきい値レベルを一
定値に固定して２値化する固定２値化方式の方が適当で
ある。
り、ピンホール４のごとき欠点の部分でのみ光が透過す
るような場合、映像信号ｖＳの地合レベルＥはほとんど
零レベルとなり、その映倫信号ＶＳを上述した積分回路
で積分しても適切なしきい値信号を得ることができなく
なる。このような場合、上記積分回路によりしきい値信
号を得る浮動２値化方式ではなく、しきい値レベルを一
定値に固定して２値化する固定２値化方式の方が適当で
ある。
そのために、従来の多くの欠点検出装置では。
浮動ｚ値化のための上記の積分回路の他に％固定２値化
の際の一定のしきい値を得るための基準電圧発生回路を
設け、また上記積分回路を使う浮動２値化が上記基準電
圧発生回路を使う固定２値化かを選択する切換回路を設
けている。しかし、この構成においては、固定２値化の
信頼性を得るために充分に安定な基準電圧発生回路が会
費であ抄、そのため回路コストが非常に高くなるという
欠点があった。
の際の一定のしきい値を得るための基準電圧発生回路を
設け、また上記積分回路を使う浮動２値化が上記基準電
圧発生回路を使う固定２値化かを選択する切換回路を設
けている。しかし、この構成においては、固定２値化の
信頼性を得るために充分に安定な基準電圧発生回路が会
費であ抄、そのため回路コストが非常に高くなるという
欠点があった。
この発明は上述した従来の問題点に鑑みなされたもので
あり、その目的は、映像信号の包絡線信号を得るための
回路にデジタル回路を採用し、浮動２値化時におけるブ
ランク期間でのしきい値レベルの低下を完全に＆＜Ｌ、
、−１た上記デジタル回路を利用することにより高級で
高価な基準電圧発生回路を用いずとも高い信頼性の固定
２値化が行なえるようにした欠点検出装置を提゛供する
ことにある。
あり、その目的は、映像信号の包絡線信号を得るための
回路にデジタル回路を採用し、浮動２値化時におけるブ
ランク期間でのしきい値レベルの低下を完全に＆＜Ｌ、
、−１た上記デジタル回路を利用することにより高級で
高価な基準電圧発生回路を用いずとも高い信頼性の固定
２値化が行なえるようにした欠点検出装置を提゛供する
ことにある。
以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第４図はこの発明に係る欠点検出装置の−実施例を示す
ブロック図であり、第５図はこの欠点検出装置の各部の
信号波形を示す。ＣＣＤイメージセンサ等からなる撮像
素子５け駆動回路１２からの制御信号を受けて動作し、
例えば第１図に示した態様で被検査物３上を光電的に繰
り返し走査する。
ブロック図であり、第５図はこの欠点検出装置の各部の
信号波形を示す。ＣＣＤイメージセンサ等からなる撮像
素子５け駆動回路１２からの制御信号を受けて動作し、
例えば第１図に示した態様で被検査物３上を光電的に繰
り返し走査する。
撮像素子５から出力されて増幅器６で増幅された映像信
号ＶＳは、欠点弁別用比較器１６において彼達のように
して得られるしきい値信号ＳＨとレベル比較され、これ
によシ２値化された弁別信号ＯＵＴが出力される。この
発明に偏る欠点検出装置は、アップダウンカウンタ１１
と、とのカウンタ１１のデジタル計数出力をアナログ信
号に変換するＤ／Ａ変換器１４と、このＤ ／ Ａ変換
器１４の出力信号すと上記映像信号ＶＳのレベル比較を
する比較器７と、十紀掃像素子５による走査期間中に上
Ｐカウンタ１１を上記比較器７の出力に応じてＶ Ｓ
＞ ｂのときは所定速度でアップカウントさせるととも
に、ｖｓ＜ｂのときは所定速度でダウンカウントさせる
アップダウン制御手段と。
号ＶＳは、欠点弁別用比較器１６において彼達のように
して得られるしきい値信号ＳＨとレベル比較され、これ
によシ２値化された弁別信号ＯＵＴが出力される。この
発明に偏る欠点検出装置は、アップダウンカウンタ１１
と、とのカウンタ１１のデジタル計数出力をアナログ信
号に変換するＤ／Ａ変換器１４と、このＤ ／ Ａ変換
器１４の出力信号すと上記映像信号ＶＳのレベル比較を
する比較器７と、十紀掃像素子５による走査期間中に上
Ｐカウンタ１１を上記比較器７の出力に応じてＶ Ｓ
＞ ｂのときは所定速度でアップカウントさせるととも
に、ｖｓ＜ｂのときは所定速度でダウンカウントさせる
アップダウン制御手段と。
所定の切換信号に応動して上記アップダウン制御手段の
動作を禁止するとともに、上記カウンタに所定のデジタ
ル数値データをプリセットする固定値設定モ其とを備え
、上記Ｄ ／ Ａ変換器１４の出力信号ｂｔ−増幅器１
５によって適宜に増幅して上記しきい値信号８Ｈを得る
ようにしている。
動作を禁止するとともに、上記カウンタに所定のデジタ
ル数値データをプリセットする固定値設定モ其とを備え
、上記Ｄ ／ Ａ変換器１４の出力信号ｂｔ−増幅器１
５によって適宜に増幅して上記しきい値信号８Ｈを得る
ようにしている。
上記固定値設定手段は、カウンタ１１にプリセットすべ
き一所定のデジタル数値を設定するデジタルスイッチ等
の設定器１７と、上記アップダウン制御手段の動作を禁
止するとともに、上記設定器１７の設定データをカウン
タ１１にプリセットする信号を発１するスイッチ１８と
からなる。このスイッチ１８を図のようにオフしておく
と、スイッチ信号ｄはＨレベルとな）、これが２つのア
ントゲ−）９．１０に人力されるとともに、信号ｄをイ
ンバータ１９で反転した信号がカウンタ１１のプリセッ
ト制−檜号端子に印加され、該カウンタ１１はカウント
可能状態となる。これは上記アップダウン制御手段が動
作する状態で、このとき浮動２値化方式でもって本回路
が動作する。まず、この浮動２値化方式の動作から説明
する。
き一所定のデジタル数値を設定するデジタルスイッチ等
の設定器１７と、上記アップダウン制御手段の動作を禁
止するとともに、上記設定器１７の設定データをカウン
タ１１にプリセットする信号を発１するスイッチ１８と
からなる。このスイッチ１８を図のようにオフしておく
と、スイッチ信号ｄはＨレベルとな）、これが２つのア
ントゲ−）９．１０に人力されるとともに、信号ｄをイ
ンバータ１９で反転した信号がカウンタ１１のプリセッ
ト制−檜号端子に印加され、該カウンタ１１はカウント
可能状態となる。これは上記アップダウン制御手段が動
作する状態で、このとき浮動２値化方式でもって本回路
が動作する。まず、この浮動２値化方式の動作から説明
する。
実施例について詳述すると、タイミング回路１３からは
、躯動回＠１２にて作られる撮像素子５の走査クロック
信号と同期ｔた２相のクロック信号ＴＩ、Ｔ２が出力さ
れる。第５、図に示すように、クロック信号Ｔ２は映像
信号ｖｓ中に含まれている各絵素パルスの立ち下がり直
後に発生する極めて幅の狭いパルス信号であり、またク
ロック信号Ｔ１は、クロック信号Ｔ２より極く僅かに遅
れて発生するやはり輪の狭いパルス信号である。クロッ
ク信号ＴＩ、Ｔ２は撮像素子５の走査が行われている期
間にのみ発生し、各走査量のブランク期間ＢＬでは発生
しない。
、躯動回＠１２にて作られる撮像素子５の走査クロック
信号と同期ｔた２相のクロック信号ＴＩ、Ｔ２が出力さ
れる。第５、図に示すように、クロック信号Ｔ２は映像
信号ｖｓ中に含まれている各絵素パルスの立ち下がり直
後に発生する極めて幅の狭いパルス信号であり、またク
ロック信号Ｔ１は、クロック信号Ｔ２より極く僅かに遅
れて発生するやはり輪の狭いパルス信号である。クロッ
ク信号ＴＩ、Ｔ２は撮像素子５の走査が行われている期
間にのみ発生し、各走査量のブランク期間ＢＬでは発生
しない。
映像信号■ＳとＤ／Ａ変換器１４の出力信号すとをレベ
ル比較する比較器７の出力信号Ｃが７リツプフロツブ８
のセット入力側に印加され、上記クロック信号Ｄ１がこ
のツリツブフロラ１８のリセット入力側に印加される。
ル比較する比較器７の出力信号Ｃが７リツプフロツブ８
のセット入力側に印加され、上記クロック信号Ｄ１がこ
のツリツブフロラ１８のリセット入力側に印加される。
これにより、映ｇＩ！信号ｖＳ中のある絵素パルスのレ
ベルが信号すのレベルより大きい場合、第５図Ｃに示す
ように比較器７からパルス信号が生じ、この信号によっ
てフリップフロラ１８がセットされる。逆に映像信号ｖ
ｓ中のある絵素パルスのレベルが信号すより低い場合、
比較器７の出力信号ではＬレベルのままで、フリップフ
ロップ８はクロック信号Ｔ１によってリセットされたｉ
ｔとなる。フリップフロップ８０セツト出力Ｑはアンド
ゲート９に印加され、リセット出力頁はアンドゲート１
０に入力される。
ベルが信号すのレベルより大きい場合、第５図Ｃに示す
ように比較器７からパルス信号が生じ、この信号によっ
てフリップフロラ１８がセットされる。逆に映像信号ｖ
ｓ中のある絵素パルスのレベルが信号すより低い場合、
比較器７の出力信号ではＬレベルのままで、フリップフ
ロップ８はクロック信号Ｔ１によってリセットされたｉ
ｔとなる。フリップフロップ８０セツト出力Ｑはアンド
ゲート９に印加され、リセット出力頁はアンドゲート１
０に入力される。
２つのアンドゲート９，１０にはタイミング回路１３か
らの上記クロック信号Ｔ２が入力される。
らの上記クロック信号Ｔ２が入力される。
そして、アンドゲート９の出力信号がカウンタ１１のア
ップカウント入力となり、アンＹｌｌ−）１０の出力信
号がカウンタ１１のダウンカウント入力となる。
ップカウント入力となり、アンＹｌｌ−）１０の出力信
号がカウンタ１１のダウンカウント入力となる。
上記の構成において、映像信号ｖＳの各絵素ノ（ルスの
レベルがＤ／Ａ変換器１４の出力信号すより大き心、そ
のような絵素パルスが発生する度にフリップフロップ８
がセットされ、その度にアンドゲート９からパルス信号
ＵＰが出力され、その度にカウンタ１１が１づつアップ
カウントされる。そのため、カウンタ１１の出力をアナ
ログ変換してなる信号すのレベルも増加していく。上記
とは逆に映像信号ｖＳ中の絵素パルスのレベルが信号す
より低い場合、フリッププロップ８がリセットされたま
まとなり、その状態でクロック信号Ｔ２が発生するため
、このようなレベルの低い絵素パルスが発生する度にア
ンドゲート１０からパルス信号ＤＷが出力され、その度
にカウンタ１１が１づつダウンカウントされる。その結
果、カウンタ１１の出力をアナログ変換してなる信号す
のレベルも減少する。
レベルがＤ／Ａ変換器１４の出力信号すより大き心、そ
のような絵素パルスが発生する度にフリップフロップ８
がセットされ、その度にアンドゲート９からパルス信号
ＵＰが出力され、その度にカウンタ１１が１づつアップ
カウントされる。そのため、カウンタ１１の出力をアナ
ログ変換してなる信号すのレベルも増加していく。上記
とは逆に映像信号ｖＳ中の絵素パルスのレベルが信号す
より低い場合、フリッププロップ８がリセットされたま
まとなり、その状態でクロック信号Ｔ２が発生するため
、このようなレベルの低い絵素パルスが発生する度にア
ンドゲート１０からパルス信号ＤＷが出力され、その度
にカウンタ１１が１づつダウンカウントされる。その結
果、カウンタ１１の出力をアナログ変換してなる信号す
のレベルも減少する。
上記のようにして、映像信号ｖＳのレベルが信号すより
大きければ信号すのレベルが増加させられ、逆に信号す
より映像信号ＶＳのレベルが小さければ信号すのレベル
が減少させられる。この結果、Ｄ／Ａ変換器１４の出力
信号すは映像信号ＶＳの包絡線信号に略等しくなる。こ
こで注目すべきことは、タイミング回路１３からのクロ
ック信号Ｔｌ、Ｔ２は撮像素子５のブランク期間ＢＬで
は発生しないため、ブランク期間ＢＬではカウンタ１１
のカウント動作が禁止されている。従ってブランク期間
ＢＬでの信号すのレベル変化は全くなく、映像信号ＶＳ
の終了点のレベルが全く減する仁となく保持される。こ
の様子を第８図（ａ）に示している。しきい値信号８Ｈ
Ｆｉ、この信号ｂＫ基づいて作られるものであるから、
しきい値８Ｈのブランク期間ＢＬでのレベル減衰も全く
なくなる訳である。
大きければ信号すのレベルが増加させられ、逆に信号す
より映像信号ＶＳのレベルが小さければ信号すのレベル
が減少させられる。この結果、Ｄ／Ａ変換器１４の出力
信号すは映像信号ＶＳの包絡線信号に略等しくなる。こ
こで注目すべきことは、タイミング回路１３からのクロ
ック信号Ｔｌ、Ｔ２は撮像素子５のブランク期間ＢＬで
は発生しないため、ブランク期間ＢＬではカウンタ１１
のカウント動作が禁止されている。従ってブランク期間
ＢＬでの信号すのレベル変化は全くなく、映像信号ＶＳ
の終了点のレベルが全く減する仁となく保持される。こ
の様子を第８図（ａ）に示している。しきい値信号８Ｈ
Ｆｉ、この信号ｂＫ基づいて作られるものであるから、
しきい値８Ｈのブランク期間ＢＬでのレベル減衰も全く
なくなる訳である。
また、本欠点検出装置の動作を上述した浮動２値化方式
から固定２値化方弐に切換える場合、上記スイッチ１８
をオンにする。すると、スイッチ信号ｄがＬレベルにな
ってアントゲ−）９．１０の出力信号がともにＬレベル
に固定され、同時に信号ｄをインバータ１９で反転して
なる信号がＬレベルからＨレベルに変化し、これに応動
して設定器１７の設定データがカウンタ１１にプリセッ
トされる。この後フリップフロップ８の状態に関係なく
カウンタ１１は動作せず、Ｄ／Ａｉ換器１４にはプリセ
ットされた設定データが入力され続ける。従って、Ｄ／
Ａ変換器１４のアナログ出力すは設定器１７のデジタル
設定値に対応した一定値に固定される。つまり、しきい
値８Ｈも一定レベルに固定さノｌ、固定２値化方式で欠
点弁別が行なわれる。ここで注目すべきことは、固定２
値化のための一定のしきい値がデジタルスイッチ等の設
定器１７にてデジタル的に設定でき、従来のような安定
度の高い高価な基準電圧発生回路を必要とせず、極めて
信頼性の高い固定２値化方式の欠点弁別が行なえること
である。
から固定２値化方弐に切換える場合、上記スイッチ１８
をオンにする。すると、スイッチ信号ｄがＬレベルにな
ってアントゲ−）９．１０の出力信号がともにＬレベル
に固定され、同時に信号ｄをインバータ１９で反転して
なる信号がＬレベルからＨレベルに変化し、これに応動
して設定器１７の設定データがカウンタ１１にプリセッ
トされる。この後フリップフロップ８の状態に関係なく
カウンタ１１は動作せず、Ｄ／Ａｉ換器１４にはプリセ
ットされた設定データが入力され続ける。従って、Ｄ／
Ａ変換器１４のアナログ出力すは設定器１７のデジタル
設定値に対応した一定値に固定される。つまり、しきい
値８Ｈも一定レベルに固定さノｌ、固定２値化方式で欠
点弁別が行なわれる。ここで注目すべきことは、固定２
値化のための一定のしきい値がデジタルスイッチ等の設
定器１７にてデジタル的に設定でき、従来のような安定
度の高い高価な基準電圧発生回路を必要とせず、極めて
信頼性の高い固定２値化方式の欠点弁別が行なえること
である。
なお、上記の実施例では映像信号ｖＳの地合レベルＥよ
如レベルが大きくなる欠点信号の弁別について説明した
が、地合レベルＥよりレベルが下がる欠点信号の弁別に
ついても上記と同様であることは言うまでもない。
如レベルが大きくなる欠点信号の弁別について説明した
が、地合レベルＥよりレベルが下がる欠点信号の弁別に
ついても上記と同様であることは言うまでもない。
以上詳細に説明したように、この発明に係る欠点検出装
置にあっては、コンデンサを含む積分回ンタによってデ
ジタル的に映像信号の地合レベル信号に追従したデータ
を得、これをＤ ／ Ａ変換して包結線信号を得るよう
にし、これを基に浮動２値化用のしきい値信号を得るよ
うにしたので、ブランク期間でのしきい値レベルの低下
はまったくなく、これによる誤弁別は完全に防止できる
。また、上記アップダウンカウンタに所定の数値をプリ
セットすることで固定２値化用のしきい値信号を得るよ
うにしたので、極めて簡単な回路で信頼性の高い固定２
値化の欠点弁別が行なえる。
置にあっては、コンデンサを含む積分回ンタによってデ
ジタル的に映像信号の地合レベル信号に追従したデータ
を得、これをＤ ／ Ａ変換して包結線信号を得るよう
にし、これを基に浮動２値化用のしきい値信号を得るよ
うにしたので、ブランク期間でのしきい値レベルの低下
はまったくなく、これによる誤弁別は完全に防止できる
。また、上記アップダウンカウンタに所定の数値をプリ
セットすることで固定２値化用のしきい値信号を得るよ
うにしたので、極めて簡単な回路で信頼性の高い固定２
値化の欠点弁別が行なえる。
第１図は欠点検出装置の概要の説明図、第２図は映像信
号の波形例を示す図、第３図は従来のしきい値−号を得
るための回路の要部を示す図、笛４図は本発明による欠
点検出装置の一実施例のブロック図、第５図は第４図に
示す本発明の装置の各部の波形を示す図である。 ５・・・・・・・・・撮像素子 ７・・・・・・・・・比較器 １１・・・・・・アップダウンカウンタ１４・・・・・
・ Ｄ ／ Ａ変換器 １６・・・・・・欠点弁別用比較器 １７・・・・・・設定器 ＶＳ・・・・・・映倫信号 ＳＨ・・・・・・ しきい値信号 ＯＵＴ・・・・・・欠点弁別信号 特許出願人 立石電機株式会社 第２図 −第３図
号の波形例を示す図、第３図は従来のしきい値−号を得
るための回路の要部を示す図、笛４図は本発明による欠
点検出装置の一実施例のブロック図、第５図は第４図に
示す本発明の装置の各部の波形を示す図である。 ５・・・・・・・・・撮像素子 ７・・・・・・・・・比較器 １１・・・・・・アップダウンカウンタ１４・・・・・
・ Ｄ ／ Ａ変換器 １６・・・・・・欠点弁別用比較器 １７・・・・・・設定器 ＶＳ・・・・・・映倫信号 ＳＨ・・・・・・ しきい値信号 ＯＵＴ・・・・・・欠点弁別信号 特許出願人 立石電機株式会社 第２図 −第３図
Claims (1)
- （１）被検査面を撮像手段によシ光電的に走査し。 得られる映像値７号と適宜なしきい値信号とを欠点弁別
用比較器にてレベル比較することｋより、被検査面の欠
点を検出する装置であって、アップダウンカウンタと、
このカウンタのデジタル計数出力を記憶するためのメモ
リと／上記カウンタのデジタル計数出力をアナログ信号
に費換するＤ ／ Ａ変換器と、このＤ ／ Ａ ｌｊ
換器の出力信号すと上記映像信号ａのレベル比較をする
比較器と、上記撮像手段の走査期間中に上記カウンタを
上記比較器の出力に応じてａ ＞ ｂのときは所定速度
でアップカウントさせるとともに、ａ（ｂのときは所定
速度でダウンカウントさせるアップダウン制御手段と、
所定の切換信号に応動して上記アップダウン制御手段の
動作を禁止するとともに、上記カウンタに所定のデジタ
ル数値データをプリセットする固定値設定手段とを備え
、上記Ｄ ／ Ａ変換器の出力信号を適宜に増幅または
減衰またはレベルシフトすることによって上記しきい値
信号を得ることを特徴とする欠点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56176753A JPS5878262A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 欠点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56176753A JPS5878262A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 欠点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5878262A true JPS5878262A (ja) | 1983-05-11 |
| JPH0346871B2 JPH0346871B2 (ja) | 1991-07-17 |
Family
ID=16019200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56176753A Granted JPS5878262A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 欠点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5878262A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58175403U (ja) * | 1982-05-18 | 1983-11-24 | 光吉 信也 | ２点接触式直角測定器 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5591079A (en) * | 1978-12-29 | 1980-07-10 | Fujitsu Ltd | A/d converter |
-
1981
- 1981-11-04 JP JP56176753A patent/JPS5878262A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5591079A (en) * | 1978-12-29 | 1980-07-10 | Fujitsu Ltd | A/d converter |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58175403U (ja) * | 1982-05-18 | 1983-11-24 | 光吉 信也 | ２点接触式直角測定器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0346871B2 (ja) | 1991-07-17 |
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